JPS6327083A - エキシマレ−ザ装置 - Google Patents
エキシマレ−ザ装置Info
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- JPS6327083A JPS6327083A JP61170420A JP17042086A JPS6327083A JP S6327083 A JPS6327083 A JP S6327083A JP 61170420 A JP61170420 A JP 61170420A JP 17042086 A JP17042086 A JP 17042086A JP S6327083 A JPS6327083 A JP S6327083A
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- laser
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/02—Constructional details
- H01S3/03—Constructional details of gas laser discharge tubes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
この発明は、エキシマレーザ装置に関するものである。
B、従来の技術
従来のエキシマレーザ装置の概略を第5図に示す。
レーザガスが封入され紙面と垂直方向(以下。
長手方向)に延在するレーザガスチャンバ1内には、主
放電電極2,3と、スパークギャップGを形成する予i
1電離電極4〜7と、ピーキングキャパシタ8,9と、
チャンバ1内でレーザガスを循環させる循環ファン10
と、レーザガスを冷却する熱交換器11とが収容されて
いる。そして、チャンバ1内には、レーザガスガイド壁
12によって区画されレーザガスを貯留するガス溜め部
13が設けられている。一方の主放電電極2は、サイラ
トロンTH,ストレージキャパシタC,インダクタLか
ら成り高電圧電源HVから高電圧が印加される高電圧制
御回路14と接続され、他方の主放電電極3は接地され
ている。
放電電極2,3と、スパークギャップGを形成する予i
1電離電極4〜7と、ピーキングキャパシタ8,9と、
チャンバ1内でレーザガスを循環させる循環ファン10
と、レーザガスを冷却する熱交換器11とが収容されて
いる。そして、チャンバ1内には、レーザガスガイド壁
12によって区画されレーザガスを貯留するガス溜め部
13が設けられている。一方の主放電電極2は、サイラ
トロンTH,ストレージキャパシタC,インダクタLか
ら成り高電圧電源HVから高電圧が印加される高電圧制
御回路14と接続され、他方の主放電電極3は接地され
ている。
高電圧電源HVから充電用インダクタLを通し充電され
たストレージキャパシタCの電荷は、トリガ信号によっ
てサイラトロンT Hを閉成することにより、スパーク
ギャップGでの火花放電により充電回路が形成されたピ
ーキングキャパシタ8゜9に移行するにの時、スパーク
ギャップGの火花放電により発生した紫外線が主放電電
極2.3間のレーザガスを予備的に電雛し主放電電極2
゜3間のガスインピーダンスを低下させるので、ピーキ
ングキャパシタ8,9の充電電圧がレーザガスのブレー
クダウン電圧に達すると、主放電電極2,3間で放電し
、レーザガスを励起してレーザ発振に至る。
たストレージキャパシタCの電荷は、トリガ信号によっ
てサイラトロンT Hを閉成することにより、スパーク
ギャップGでの火花放電により充電回路が形成されたピ
ーキングキャパシタ8゜9に移行するにの時、スパーク
ギャップGの火花放電により発生した紫外線が主放電電
極2.3間のレーザガスを予備的に電雛し主放電電極2
゜3間のガスインピーダンスを低下させるので、ピーキ
ングキャパシタ8,9の充電電圧がレーザガスのブレー
クダウン電圧に達すると、主放電電極2,3間で放電し
、レーザガスを励起してレーザ発振に至る。
主放電電極2,3間での放電により劣化し昇温したレー
ザガスは循環ファン10により熱交換器Uに送られ冷却
されガス溜め部13に4かれ、新しいガスが主放電電極
2,3間に供給される。
ザガスは循環ファン10により熱交換器Uに送られ冷却
されガス溜め部13に4かれ、新しいガスが主放電電極
2,3間に供給される。
従って、レーザガスチャンバ1の総容積が小さいと放電
により発生する不純物の濃度が短期間で高くなりレーザ
ガスの劣化が早くなるので、レーザガスの寿命を長くす
るためガス溜め部13の容積をできるだけ大きくする必
要がある。
により発生する不純物の濃度が短期間で高くなりレーザ
ガスの劣化が早くなるので、レーザガスの寿命を長くす
るためガス溜め部13の容積をできるだけ大きくする必
要がある。
C0発明が解決しようとする問題点
従来のこのようなエキシマレーザ装置では、高電圧電源
HV、高電圧制御回路14およびレーザガスチャンバ1
を一体にして筐体に収容したり、あるいは高電圧制御回
路14およびレーザガスチャンバ1を一体とし高電圧電
源HVをそれらと別体にしている。このため、出力レー
ザ光を露光装置、レーザメスあるいはレーザ切断機等、
他の装置に利用すべく、エキシマレーザ装置を他の装置
に併置する際、その配置が著しく制約を受ける。
HV、高電圧制御回路14およびレーザガスチャンバ1
を一体にして筐体に収容したり、あるいは高電圧制御回
路14およびレーザガスチャンバ1を一体とし高電圧電
源HVをそれらと別体にしている。このため、出力レー
ザ光を露光装置、レーザメスあるいはレーザ切断機等、
他の装置に利用すべく、エキシマレーザ装置を他の装置
に併置する際、その配置が著しく制約を受ける。
例えば、第6図に示すように、露光光学装置21にレー
ザ光を上方より導入する場合、エキシマレーザ装置22
を架台23に載置し、出力レーザ光を反射鏡24で反射
させて露光光学装置21に入力させる。
ザ光を上方より導入する場合、エキシマレーザ装置22
を架台23に載置し、出力レーザ光を反射鏡24で反射
させて露光光学装置21に入力させる。
また、第7図に示すように、レーザ光が垂直方向に射出
するエキシマレーザ装置25の場合には、2枚の反射3
326.27を用いて露光光学装!21にレーザ光を導
く。
するエキシマレーザ装置25の場合には、2枚の反射3
326.27を用いて露光光学装!21にレーザ光を導
く。
このように、反射@ 24 、26 、27を用いると
、特に微細パターンを露光するステッパなどの露光光学
系に対しては、反射鏡の僅かな調整誤差が露光精度を低
下させる原因となり好ましくない。
、特に微細パターンを露光するステッパなどの露光光学
系に対しては、反射鏡の僅かな調整誤差が露光精度を低
下させる原因となり好ましくない。
この発明の目的は、少なくとも主放電電極と予備電離電
極とを含むレーザ出力部の配置自由度を向上させて使い
勝手を向上させたエキシマレーザ装置を提供することに
ある。
極とを含むレーザ出力部の配置自由度を向上させて使い
勝手を向上させたエキシマレーザ装置を提供することに
ある。
09間厘点を解決するための手段
この発明に係るエキシマレーザ装置は、レーザガスのガ
ス溜め部36を別体に設け、ここからレーザガスを供給
するように構成される。
ス溜め部36を別体に設け、ここからレーザガスを供給
するように構成される。
E0作用
ガス溜め部36から主放電電極等を含むレーザ出力部の
部位へレーザガスが供給され、電曝間で放電を終えたレ
ーザガスは、レーザ出力部とは別体になっているガス溜
め部36に送出される。ガス溜め部36にて熱交換器等
によりレーザガスを冷却したりレーザガスを精製するの
が好ましい。
部位へレーザガスが供給され、電曝間で放電を終えたレ
ーザガスは、レーザ出力部とは別体になっているガス溜
め部36に送出される。ガス溜め部36にて熱交換器等
によりレーザガスを冷却したりレーザガスを精製するの
が好ましい。
F、実施例
第1図にこの発明に係るエキシマレーザ装置の実施例を
示す。レーザヘッド(レーザ出力部) 31は、上述し
た主放電電極2,3、予備電離電極4〜7、ピーキング
キャパシタ8,9.高電圧制御回路14およびレーザを
発振させるための反射鏡と出力鏡とを有シ5.給電路3
2によって高電圧電源33から高電圧が印加されるとと
もに、レーザガス供給管34とレーザガス排気管35と
を介して、レーザガス循環用ポンプと熱交換器とが内蔵
されたガス溜め部36と連通されている。
示す。レーザヘッド(レーザ出力部) 31は、上述し
た主放電電極2,3、予備電離電極4〜7、ピーキング
キャパシタ8,9.高電圧制御回路14およびレーザを
発振させるための反射鏡と出力鏡とを有シ5.給電路3
2によって高電圧電源33から高電圧が印加されるとと
もに、レーザガス供給管34とレーザガス排気管35と
を介して、レーザガス循環用ポンプと熱交換器とが内蔵
されたガス溜め部36と連通されている。
レーザヘッド31内で放電が終了したレーザガスは、ガ
ス溜め部36内のポンプでレーザガス排気管35を通し
て吸引されガス溜め部36内に送り込まれる。そして、
ガス溜め部36内で熱交換器によって冷却されたレーザ
ガスが、ポンプによってレーザガス供給管34を通って
レーザヘッド31に供給されるので、レーザガス劣化に
伴う発振効率の低下が防止される。なお、レーザヘッド
31からは、第1図中矢印Pで示すようにレーザ光が出
力される。
ス溜め部36内のポンプでレーザガス排気管35を通し
て吸引されガス溜め部36内に送り込まれる。そして、
ガス溜め部36内で熱交換器によって冷却されたレーザ
ガスが、ポンプによってレーザガス供給管34を通って
レーザヘッド31に供給されるので、レーザガス劣化に
伴う発振効率の低下が防止される。なお、レーザヘッド
31からは、第1図中矢印Pで示すようにレーザ光が出
力される。
第2図に示す実施例は、レーザガス精製機41を送気管
42と供給管43とを介してガス溜め部36と接続した
ものである。レーザヘッド31からガス溜め部36に送
り込まれたレーザガスは、ガス溜め部36内のポンプで
レーザガス精製機41に送られ、レーザガス中の不純物
がレーザガス精製機41内で除去され、供給管43を通
ってガス溜め部36に送出される。レーザガス精製機4
1をレーザガス供給管34またはレーザガス排気管35
中に設けてもよい。
42と供給管43とを介してガス溜め部36と接続した
ものである。レーザヘッド31からガス溜め部36に送
り込まれたレーザガスは、ガス溜め部36内のポンプで
レーザガス精製機41に送られ、レーザガス中の不純物
がレーザガス精製機41内で除去され、供給管43を通
ってガス溜め部36に送出される。レーザガス精製機4
1をレーザガス供給管34またはレーザガス排気管35
中に設けてもよい。
第3図は、この発明に係るエキシマレーザ装置を露光光
学装[50に組み合わせた実施例を示している。露光光
学袋[50の上部には、レーザ光が直接入射するようレ
ーザヘッド31が搭載され、このレーザヘッド31とは
別体の高電圧電源33から給電路32を介して給電され
、ガス溜め部36からレーザガス供給管34を介してレ
ーザガスが供給されると共に、レーザガス排気管35を
介してレーザガスがガス溜め部36に戻される。
学装[50に組み合わせた実施例を示している。露光光
学袋[50の上部には、レーザ光が直接入射するようレ
ーザヘッド31が搭載され、このレーザヘッド31とは
別体の高電圧電源33から給電路32を介して給電され
、ガス溜め部36からレーザガス供給管34を介してレ
ーザガスが供給されると共に、レーザガス排気管35を
介してレーザガスがガス溜め部36に戻される。
このように、このエキシマレーザ装置では、レーザヘッ
ド31を露光光学装置30に取り付けてレーザ光を直接
入射するようにしたので、反射鏡が不要となるので光路
調整の不良に起因した露光精度の低下を防止できる。
ド31を露光光学装置30に取り付けてレーザ光を直接
入射するようにしたので、反射鏡が不要となるので光路
調整の不良に起因した露光精度の低下を防止できる。
第4図に示す実施例は、単一の高電圧電源33および単
一のガス溜め部36に複数のレーザヘッド31a〜31
fを接続したものである。レーザヘッド31a〜31f
へは高電圧電源33から給電路32a〜32fを介して
給電され、また、レーザガス供給管34a〜34fを介
してレーザガスがガス溜め部36から送り込まれ、放電
を終了したレーザガスがレーザガス排気管35a〜35
fを通ってガス溜め部36に戻る。
一のガス溜め部36に複数のレーザヘッド31a〜31
fを接続したものである。レーザヘッド31a〜31f
へは高電圧電源33から給電路32a〜32fを介して
給電され、また、レーザガス供給管34a〜34fを介
してレーザガスがガス溜め部36から送り込まれ、放電
を終了したレーザガスがレーザガス排気管35a〜35
fを通ってガス溜め部36に戻る。
このように単一のガス溜め部36に複数のレーザヘッド
31a〜31fを接続して使用すると、各レーザヘッド
31a〜31fに供給されるレーザガスの品質が均一と
なり、これらのレーザヘッド31a〜31fから出力さ
れるレーザ光の特性が均一となり1例えば各レーザヘッ
ドに接続された露光光学装置での露光品質も均一となる
。また、高電圧電源33も単一であり、各レーザヘッド
31a〜31fに供給される電圧も均一となり、レーザ
光の特性をより均一にすることができる。
31a〜31fを接続して使用すると、各レーザヘッド
31a〜31fに供給されるレーザガスの品質が均一と
なり、これらのレーザヘッド31a〜31fから出力さ
れるレーザ光の特性が均一となり1例えば各レーザヘッ
ドに接続された露光光学装置での露光品質も均一となる
。また、高電圧電源33も単一であり、各レーザヘッド
31a〜31fに供給される電圧も均一となり、レーザ
光の特性をより均一にすることができる。
G0発明の詳細
な説明したように、この発明に係るエキシマレーザ装置
では、大容積を占めるガス溜め部をレーザ出力部や高電
圧電源とは別体にしたから、レーザ出力部が小型化され
その配置自由度が向上し使い勝手がよくなる。また、レ
ーザ出力部から露光光学装置等に直接レーザ光を入力で
き、反射鏡による光量損失がなく、光路調整も不要とな
り所望の露光精度が容易に保たれる。
では、大容積を占めるガス溜め部をレーザ出力部や高電
圧電源とは別体にしたから、レーザ出力部が小型化され
その配置自由度が向上し使い勝手がよくなる。また、レ
ーザ出力部から露光光学装置等に直接レーザ光を入力で
き、反射鏡による光量損失がなく、光路調整も不要とな
り所望の露光精度が容易に保たれる。
加えて、最も交換頻度の高いレーザ出力部だけが簡単に
交換でき、連続的に使用する生産ラインにおいて、補修
時間の短縮化に寄与する。
交換でき、連続的に使用する生産ラインにおいて、補修
時間の短縮化に寄与する。
第1図はこの発明に係るエキシマレーザ装置の概略構成
図、第2図は同じく他の実施例の概略構成図、第3図は
エキシマレーザ装置の使用状態の一実施例を示す概略構
成図、第4図は同じく他の実施例を示す概略構成図、第
5図は従来のエキシマレーザ装置の全体構成を示す図、
第6図および第7図は従来のエキシマレーザ装置の使用
状態を説明する図である。 31:レーザヘッド 32:給電路33:高電圧
電源 34:レーザガス供給管 35:レーザガス排気管 36:ガス溜め部特許出願
人 日本光学工業株式会社 −て′、−・ 代理人弁理士 永 井 冬 紀′、′・1:、パ、
i’”7” ’
図、第2図は同じく他の実施例の概略構成図、第3図は
エキシマレーザ装置の使用状態の一実施例を示す概略構
成図、第4図は同じく他の実施例を示す概略構成図、第
5図は従来のエキシマレーザ装置の全体構成を示す図、
第6図および第7図は従来のエキシマレーザ装置の使用
状態を説明する図である。 31:レーザヘッド 32:給電路33:高電圧
電源 34:レーザガス供給管 35:レーザガス排気管 36:ガス溜め部特許出願
人 日本光学工業株式会社 −て′、−・ 代理人弁理士 永 井 冬 紀′、′・1:、パ、
i’”7” ’
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 主放電電極を備えレーザガスを包含するエキシマレーザ
装置に置いて、 前記レーザガスのガス溜め部を別体に設け、ここからレ
ーザガスを供給するように構成したことを特徴とするエ
キシマレーザ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61170420A JPS6327083A (ja) | 1986-07-20 | 1986-07-20 | エキシマレ−ザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61170420A JPS6327083A (ja) | 1986-07-20 | 1986-07-20 | エキシマレ−ザ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6327083A true JPS6327083A (ja) | 1988-02-04 |
Family
ID=15904592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61170420A Pending JPS6327083A (ja) | 1986-07-20 | 1986-07-20 | エキシマレ−ザ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6327083A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5718197A (en) * | 1994-09-28 | 1998-02-17 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Cylinder block structure of vertical type multi-cylinder engine |
US7799662B2 (en) | 2005-11-14 | 2010-09-21 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Power semiconductor device with soft switching characteristic and manufacturing method for same |
-
1986
- 1986-07-20 JP JP61170420A patent/JPS6327083A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5718197A (en) * | 1994-09-28 | 1998-02-17 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Cylinder block structure of vertical type multi-cylinder engine |
US7799662B2 (en) | 2005-11-14 | 2010-09-21 | Fuji Electric Systems Co., Ltd. | Power semiconductor device with soft switching characteristic and manufacturing method for same |
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