JPS63261435A - Parity error check system - Google Patents
Parity error check systemInfo
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- JPS63261435A JPS63261435A JP62095287A JP9528787A JPS63261435A JP S63261435 A JPS63261435 A JP S63261435A JP 62095287 A JP62095287 A JP 62095287A JP 9528787 A JP9528787 A JP 9528787A JP S63261435 A JPS63261435 A JP S63261435A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 101100087530 Caenorhabditis elegans rom-1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 101100305983 Mus musculus Rom1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 5
- 101001106432 Homo sapiens Rod outer segment membrane protein 1 Proteins 0.000 description 3
- 102100021424 Rod outer segment membrane protein 1 Human genes 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は例えば64にビットのパリティ用RAMの1ビ
ツト×64にのRAMではなく、8ビ・7ト×8にのR
AMを利用し従来ランダムロジックを用いて作られてい
たパリティチェック及びパリティの更新の回路をマスク
ROMを用いて構成したものである。8ビツト×8にの
パリティRAMを用いる場合には、例えばアドレス0の
8ビツトのO〜7までの各ビットには主記憶RA Mの
アドレス0〜7までのデータに対する各パリティが格納
される。主記憶RAMのアドレス0のデータに対するパ
リティはパリティRAMのアドレスOの8ビツトのうち
の最下位ビットだけである。[Detailed Description of the Invention] [Summary] The present invention is a RAM for parity of 8 bits, 7 bits x 8, rather than a 1 bit x 64 RAM for example.
This circuit uses AM to construct a parity check and parity update circuit, which was conventionally created using random logic, using a mask ROM. When using an 8-bit x 8 parity RAM, each of the 8 bits 0 to 7 of address 0 stores each parity for data at addresses 0 to 7 of the main memory RAM. The parity for the data at address 0 in the main memory RAM is only the least significant bit of the 8 bits at address O in the parity RAM.
前記マスクROMのアドレスには前記パリティRAMの
8ビツト出力データ、前記8ビツトのうちの1ビツトを
指定する3ビツトのアドレス情報、パリティ発生回路か
らの出力ビット及びリードまたはライトの指定信号であ
る。前記パリティRAMの読み出しモードにおいて、前
記パリティRAMの出力8ビツトのうち前記アドレス情
報で指定される1ビツトと前記パリティ発生回路の出力
ビットとの検査結果を前記マスクROMから出力する。The address of the mask ROM includes 8-bit output data of the parity RAM, 3-bit address information specifying one of the 8 bits, an output bit from the parity generation circuit, and a read or write specification signal. In the parity RAM read mode, the mask ROM outputs a test result of one bit specified by the address information among the eight output bits of the parity RAM and the output bit of the parity generation circuit.
また、前記パリティRAMの書込みモードにおいては、
前記パリティRAMから出力される8ビツトのうち前記
アドレス情報によって指定される1ビツトを前記パリテ
ィ発生回路から出力される論理で置換し、前記アドレス
情(’11で指定されない他の7ビツトはそのまま前記
マスクROMから出力される。そして、1ビツトのみが
更新された8ビツトの出力データは前記パリティRA
Mに再び書込まれる。Furthermore, in the write mode of the parity RAM,
Of the 8 bits output from the parity RAM, 1 bit specified by the address information is replaced with the logic output from the parity generation circuit, and the other 7 bits not specified by the address information ('11) are used as is. The 8-bit output data, in which only 1 bit has been updated, is output from the mask ROM.
M is written again.
本発明によれば、1ビツト×64にのRAMよりも低価
格な8ビツト×8にのRAMを用いてしかもデータが8
ビツトである場合には、主記憶RAMやパリティRAM
の8皿が増加しても64にのマスクROM1つで構成で
き、しかも回路規模を減少させることができる。According to the present invention, an 8-bit x 8 RAM, which is cheaper than a 1-bit x 64 RAM, is used, and data can be stored in 8 bits.
If it is a bit, main memory RAM or parity RAM
Even if the number of 8 disks increases, it can be configured with one 64 mask ROM, and the circuit scale can be reduced.
本発明は、主記憶装置の信頼度の向上を図るため、主記
憶RAMの読み書き情報に対する誤りの検出方式に係る
。特に、本発明は、主記憶RAMに入力される書込みデ
ータのパリティをパリティRAMに書込み、パリティを
読み出してパリティチェックを行う場合、前記パリティ
のチェック及びパリティの更新に関するロジックをマス
クROMを用いて実行するパリティチェック方式に関す
る。The present invention relates to an error detection method for read/write information in a main memory RAM in order to improve the reliability of the main memory device. Particularly, in the present invention, when writing the parity of write data input to the main memory RAM to the parity RAM and reading the parity to perform a parity check, the logic related to the parity check and parity update is executed using a mask ROM. Regarding the parity check method.
情報システムの高性能化及び大規模化に伴って各装置の
一層の高信頼化の技術の必要性が高まってきた。特に中
央演算装置の動作に必要なプログラムやデータを蓄積す
る主記憶装置は記憶している情報に信頼性をよりもたせ
ることが重要で、読み書き情報等に対し、誤りがないか
どうかの検出或いは誤りの訂正を行う誤りの検出訂正技
術の方式は橿めて重要となる。BACKGROUND ART As information systems become more sophisticated and larger in scale, the need for technology to make each device even more reliable has increased. In particular, it is important to ensure the reliability of the stored information in the main memory that stores programs and data necessary for the operation of the central processing unit. The method of error detection and correction technology that corrects errors becomes increasingly important.
誤りの検出ではなく、誤りの訂正を行う技術は一般に多
(の冗長ビットを必要とし、さらに誤り訂正のための符
号化の技術或いは訂正のだめの論理回路の増加或いは訂
正の時間等の条件がある。Techniques that perform error correction rather than error detection generally require a large number of redundant bits, and there are also conditions such as encoding technology for error correction, an increase in the number of logic circuits for correction, and correction time. .
例えば主記憶装置では高速性が要求されることから単−
誤り検出方式或いは単−誤り訂正二重誤り検出符号が用
いられている。誤り検出方式は高信頼化の基本であり、
故障或いは誤動作の発生に対してその誤りを見過さない
ことが重要である。For example, main memory requires high speed, so
An error detection scheme or a single error correction double error detection code is used. Error detection method is the basis of high reliability.
It is important not to overlook errors in the occurrence of failures or malfunctions.
一般に1ビツトの誤り検出方式にはパリティチェック方
式が利用されている。パリティチェック符号化方式はN
ビットの情報ビットに1ビツトのパリティビットをつけ
て全情報とし、その情報中の論理1となるビット数を偶
数または奇数にする方法である。主記憶RAMを対象と
する場合には書込みデータの排他的論理和をパリティビ
ットとし、このビットを付加して前記主2(1,RA
Mに書込み、出力されるデータに対して同様に排他的論
理和回路でパリティのチェックを行う。Generally, a parity check method is used to detect errors in one bit. The parity check encoding method is N
This is a method in which one parity bit is added to each information bit to obtain all information, and the number of bits that are logical 1 in the information is set to an even number or an odd number. When targeting the main memory RAM, the exclusive OR of write data is used as a parity bit, and this bit is added to the main memory RAM (1, RA).
The parity of data written to M and output is similarly checked using an exclusive OR circuit.
書込データに対して、パリティを付加する場合、各デー
タに対して1ビツトのパリティが付加されるため、書込
まれるパリティの必要客足は主記憶RAMのアドレスの
数に等しくメモリの大容量化に伴いパリティを格納する
領域も大きくなる。パリティを格納する領域を前記主記
憶RAMとは別に設け、パリティ用RAMとして設置し
、ランダムロジックを用いて、パリティの更新及びチェ
ックを行う方式が実用化されている。When parity is added to write data, 1 bit of parity is added to each data, so the required number of parities to be written is equal to the number of addresses in main memory RAM, which increases the memory capacity. Accordingly, the area for storing parity also increases. A method has been put into practical use in which an area for storing parity is provided separately from the main memory RAM, and is installed as a parity RAM, and the parity is updated and checked using random logic.
メモリの大容量化に伴いパリティRAMの価格が問題と
なっている。例えば、データが8ビツトであり、主記憶
RAMが64にバイトを用いる場合にパリティRAMは
64にのRAMを使う必要がある。一般に1ビツト×6
4にのRAMよりも8ビツト×8にのRAMの方が低1
i1i格となるため、従来8ビツト×8にのRAMを用
いてパリティRAMを構成し、パリティの更新及びチェ
ックを行うパリティ回路をランダムロジックを用いて構
成していた。しかし、ランダムロジックによると回路規
模が増大し、実装密度が増大するという欠点があった。As the capacity of memory increases, the price of parity RAM becomes a problem. For example, if the data is 8 bits and the main memory RAM uses 64 bytes, the parity RAM needs to use 64 bytes. Generally 1 bit x 6
8-bit x 8 RAM is lower than 4-bit RAM.
Since the parity is i1i, a parity RAM has conventionally been constructed using an 8-bit×8 RAM, and a parity circuit for updating and checking parity has been constructed using random logic. However, random logic has the drawbacks of increased circuit scale and increased packaging density.
本発明はこのような従来の欠点を除去し、8ピツ)X8
にのパリティRAMを用いるパリティ回路において、従
来ランダムロジックを用いていた回路の一部をマスクR
OMに置き換えることにより、コス)・を低減し、更に
回路規模を減少することを可能とするパリティチェック
方式を提供する。The present invention eliminates such conventional drawbacks and
In the parity circuit using the parity RAM of
To provide a parity check method that can reduce cost and further reduce circuit scale by replacing with OM.
本発明のパリティチェック方式の構成ブロック図を第1
図に示す。パリティRAMl0は8ビツト×8にのRA
Mで、例えば、アドレス0の8ビツトのO〜7までの各
ビットには主犯iQ RA MのアドレスO〜7までの
各データに対する各パリティがそれぞれ格納される。マ
スクROM12は、前記パリティRAMl0から読み出
される8ビツトのパリティデータ11及び主記憶RAM
から読み出し、または主記憶RAMへの書き込みデータ
(Do−D7)に対してパリティを生成するパリティ発
生回路13からの出力ビット及び前記パリティRへMI
Oから読み出される8ビツトのパリティのどこが有効で
あるかを指定するパリティアドレス(A2.八1.AO
)の3ビツト及びリードライト制御信号120の1ビツ
トの合計13ビツトをアドレスとして入力する。マスク
ROM12は、前記パリティRAMl0の読み出しモー
ドでは、前記パリティRAM (10)の出力バリティ
データのうちの前記パリティアドレス(A2.AI、A
O)で指定される1ビツトと前記パリティ発生回路13
からの出力ビットとの比較を行い、比較結果を出力する
。書込みモードにおいては、マスクROM12は、前記
パリティアドレス(A2、AI、AO)で指定される前
記パリティRAMl0の8ビツトの出力バリティデータ
11の1旨定された1ビツトを前記パリティ発生回路1
3からの出力ビットで置換し、前記パリティアドレスで
指定されない他の7ビツトは不変のまま出力する。更新
されたデータは前記パリティRAMl0に書き込まれる
。The configuration block diagram of the parity check method of the present invention is shown in the first diagram.
As shown in the figure. Parity RAM10 has 8 bits x 8 RAM
For example, in each of the 8 bits 0 to 7 of address 0, each parity for each data of addresses 0 to 7 of the main iQ RAM is stored. The mask ROM 12 stores the 8-bit parity data 11 read from the parity RAM 10 and the main memory RAM.
The output bit from the parity generation circuit 13 that generates parity for the data read from or written to the main memory RAM (Do-D7) and the MI to the parity R
Parity address (A2.81.AO) that specifies which part of the 8-bit parity read from O is valid.
) and 1 bit of the read/write control signal 120, a total of 13 bits, are input as an address. In the read mode of the parity RAM 10, the mask ROM 12 reads the parity address (A2.AI, A
1 bit specified by O) and the parity generation circuit 13
The comparison result is compared with the output bit from . In the write mode, the mask ROM 12 transfers one bit defined as 1 of the 8-bit output parity data 11 of the parity RAM 10 specified by the parity address (A2, AI, AO) to the parity generation circuit 1.
The other 7 bits not designated by the parity address are output unchanged. The updated data is written to the parity RAM10.
前記読み出しモードにおいては、前記パリティアドレス
(八2.AI、 八〇)で1旨定されるビット位置に
おける比較結果のビットをパリティエラーランチプリン
プフロソプ14にセントする。In the read mode, the bit of the comparison result at the bit position specified as 1 by the parity address (82.AI, 80) is sent to the parity error launch printer 14.
本発明は例えば64にビットのパリティRAMl0を1
ビツト×64にのRAMではなく、8ビツトX8にのR
AMを利用し、従来ランダムロジックを用いて作られて
いたパリティチェック及び更新の回路をマスクROM1
2を用いて構成したものである。In the present invention, for example, the parity RAM 10 of 64 bits is set to 1.
RAM is 8 bits x 8 instead of 64 bits RAM.
Using AM, the parity check and update circuit, which was conventionally created using random logic, has been replaced with mask ROM1.
2.
前記マスクROMのアドレスには前記パリティRAMの
8ビツトの出力バリティデータ、前記8ビツトのうちの
1ビツトを指定する3ビツトのアドレス情報(A2.A
I、AO) 、パリティ発生′1′:
回路13からの出力ビット及びリードまたはライトの制
御信号120である。読み出しモードでは、前記パリテ
ィRAMl0の出力8ビツトのうち前記アドレス情報で
指定される1ビツトと前記バリティ発生回路の出力ビッ
トとの検査結果を前記マスクROM12から出力する。The address of the mask ROM includes 8-bit output parity data of the parity RAM, and 3-bit address information (A2.A) specifying 1 bit of the 8 bits.
I, AO), parity generation '1': Output bit and read or write control signal 120 from the circuit 13. In the read mode, the mask ROM 12 outputs the test result of 1 bit specified by the address information among the 8 bits output from the parity RAM 10 and the output bit of the parity generation circuit.
また、書込みモードにおいては、前記マスクROM12
は前記パリティRAMl0から出力される8ビツトのう
ち前記アドレス情報によって指定される1ビツトを前記
パリティ発生回路13から出力される論理で置換する。In addition, in the write mode, the mask ROM 12
replaces 1 bit specified by the address information among the 8 bits output from the parity RAM 10 with the logic output from the parity generation circuit 13.
前記アドレス情報で指定されない他の7ビツトはそのま
ま前記マスクROMから出力され、1ビツトのみが更新
された8ビツトの出力データは前記パリティRAMl0
に再び書込まれる。The other 7 bits not specified by the address information are output as is from the mask ROM, and the 8-bit output data with only 1 bit updated is stored in the parity RAM 10.
will be written again.
本発明によれば、主記憶RAMやパリティRAMの容量
が増加しても64にのマスクROM1つでパリティ回路
を構成でき、しかも回路規模を減少させることができる
。According to the present invention, even if the capacity of the main memory RAM and parity RAM increases, a parity circuit can be configured with one 64-bit mask ROM, and the circuit scale can be reduced.
次に本発明のパリティチェック方式を図面を参照して説
明する。Next, the parity check method of the present invention will be explained with reference to the drawings.
本発明では、64にビットのパリティ用RAMl0を1
ビツト×64にのRAMではな(,8ビツトX8にのR
AMを用いる。そして、従来、ラングムロシックを用い
て作られていた回路の一部をマスクROM12に置き換
えることにより回路規模を少な(したものである。In the present invention, 64-bit parity RAM 10 is set to 1
Not a 64-bit RAM (, 8-bit RAM
Use AM. The circuit size is reduced by replacing a part of the circuit conventionally made using Langmurosic with a mask ROM 12.
本発明のパリティチェック方式の構成ブロック図を第1
図に示す。主記憶RAMのデータが8ピントである場合
には、1バイトのデータに対してパリティが1ビツト付
加される。主記憶RAM(図示せず)が64にバイトで
ある場合には64にビットのパリティが必要となり、パ
リティRAMl0は64にのチップが必要となる。64
にピノ1のパリティを格納する64 K RA Mにお
いて、1ビツト×64にのRAMよりも8ビツトX8に
のRA Mの方が1115格で比較した場合に数倍の開
きがあり、8ビツトX8にのRAMの方が低価格となる
。The configuration block diagram of the parity check method of the present invention is shown in the first diagram.
As shown in the figure. When the data in the main memory RAM is 8 pins, 1 bit of parity is added to 1 byte of data. If the main memory RAM (not shown) has 64 bytes, 64 bits of parity are required, and the parity RAM 10 requires 64 chips. 64
In 64K RAM that stores the parity of Pino 1 in RAM is cheaper.
8ビツトX8にのRAMを用いる場合に、例えばアドレ
スOの8ビットのOから7までの各ピノ1−には主記憶
RAMのアドレスO〜7までのデータに対する各パリテ
ィが格納される。ビットOは主2f、!RA Mのアド
レスOのデータのパリティで、ビット1には主記憶RA
Mのアドレス1のパリティが格納される。同様に、ビッ
ト7には主記憶RAMのアドレス7のパリティが格納さ
れる。パリティRAMl0のアドレス1の8ビツトデー
タにおいてはOビット目が主記憶RAMのアドレス8に
対するパリティが格納される。以下、同様である。即ち
、主記憶RAMの連続する8 (VAのアドレス分のパ
リティがパリティRAMの1ワードのパリティデータと
なる。When using an 8-bit x 8 RAM, for example, each pin 1- of 8 bits 0 to 7 of address O stores each parity for data of addresses O to 7 of the main memory RAM. Bit O is main 2f,! Parity of data at address O of RAM, bit 1 is the main memory RA
The parity of address 1 of M is stored. Similarly, bit 7 stores the parity of address 7 of the main memory RAM. In the 8-bit data at address 1 of parity RAM10, the Oth bit stores the parity for address 8 of main memory RAM. The same applies hereafter. That is, the parity for 8 (VA) consecutive addresses in the main memory RAM becomes one word of parity data in the parity RAM.
主記憶RAMのアドレスOのデータに対するパリティは
パリティRAMl0のアドレスOの8ビツトのうちの最
下位ビットだけである。そのため、パリティRAMl0
のアドレスOが指定された場合に、主記憶RAMのアド
レス0に対するパリティは最下位ビットのみ必要となる
。最下位ビット以外の上位7ビツトはパリティの更新或
いは主2ifi RA Mのアドレス0のデータに対す
るパリティチェ7りに対しても必要とならない。主記憶
RAMのデータに対するパリティチェック、即ち読み出
しモードの場合には、パリティRAMl0も読み出しモ
ードとなる。読み出しモードでは、出力される8ビツト
のパリティのうち必要となる最下位ビットのパリティの
みを用いて主記憶RAMのアドレス0のデータに対して
パリティチェックが行われる。そして、その最下位ビッ
トのパリティは再びパリティRAMl0にそそのまま書
込まれる。また、主記憶RAMアドレスOの内容を更新
する場合には、パリティRAMl0のアドレスOの最下
位にあるパリティビットも更新される。これが書込みモ
ードである。書込みモードにおいては、主記憶RAMの
アドレスOにパリティ以外のデータを書込むと同時に、
そのデータを入力するパリティ発生回路13から生成さ
れたパリティはマスクROM12を介してパリティRA
Ml0のアドレスOの最下位ピント即ちビット0に書込
まれる。他のビット1からビット7までのパリティデー
タはパリティRAMl0から出力されマスクROM12
を介して、そのまま同じパリティデータとしてパリティ
RAMl0に書込まれる。即ち、書込みモードにおいて
はパリティRAMl0の各アドレスの内容のうち必要な
1ビツトのみが更新され、他の7ビツトは更新されず、
そのままパリティRAMl0に書込まれる。The parity for the data at address O in the main memory RAM is only the least significant bit of the 8 bits at address O in parity RAM10. Therefore, parity RAMl0
When address O is specified, only the least significant bit is required as parity for address 0 of the main memory RAM. The upper 7 bits other than the least significant bit are not required for parity update or parity check for the data at address 0 of the main 2ifi RAM. When parity checking is performed on data in the main memory RAM, that is, in the read mode, the parity RAM 10 is also in the read mode. In the read mode, a parity check is performed on the data at address 0 of the main memory RAM using only the required least significant bit parity of the output 8-bit parity. Then, the parity of the least significant bit is written directly to the parity RAM 10 again. Furthermore, when updating the contents of main memory RAM address O, the lowest parity bit of address O of parity RAM 10 is also updated. This is write mode. In write mode, at the same time as writing data other than parity to address O of main memory RAM,
The parity generated from the parity generation circuit 13 inputting the data is sent to the parity RA via the mask ROM 12.
It is written to the least significant pinto, ie, bit 0, of address O of M10. Other parity data from bit 1 to bit 7 is output from parity RAM 10 and mask ROM 12.
The parity data is written to the parity RAM 10 as is as the same parity data. That is, in the write mode, only the necessary 1 bit of the contents of each address in the parity RAM 10 is updated, and the other 7 bits are not updated.
It is written as is into the parity RAM 10.
このようなパリティRAMl0の読み出し及び書込みに
対する動作をハードウェアで実行する回路は、従来、ラ
ンダムロジックで実現されていた。Conventionally, a circuit that executes operations for reading and writing the parity RAM 10 using hardware has been implemented using random logic.
しかし、本発明では、第1図に示すように、マスクRO
Mτ2を前記ランダムロジックに置き換える。このこと
により回路規模を少さくでき、実装面積も減少化し、価
格も減少する。However, in the present invention, as shown in FIG.
Replace Mτ2 with the random logic. This allows the circuit scale to be reduced, the mounting area to be reduced, and the cost to be reduced.
マスクROM12のアドレス入力は、パリティRAMl
0の出力バリティデータ11の8ビツト、パリティ発生
回路13の出力130である1ビツト、パリティRAM
l0の各アドレスのパリティデータの8ビツトのうちの
1ビツトを1旨定するためのアドレスAO−A2の3ビ
ツト・、及び読み出しモードであるか書込みモードであ
るかを指定するリードライト制御信号120の1ビツト
である。The address input of the mask ROM 12 is the parity RAM 1.
8 bits of output parity data 11 of 0, 1 bit of output 130 of parity generation circuit 13, parity RAM
3 bits of addresses AO-A2 for setting 1 bit of 8 bits of parity data of each address of l0 as 1, and a read/write control signal 120 for specifying whether the mode is read mode or write mode. This is 1 bit.
マスクROM12のアドレス線は、合計13ビツトであ
る。パリティ発注回路13の入力は書込みモード時には
中央演算装置(CPU)等から主記憶RAMへの書込み
データ(DO−D7)で読出しモード時には主記憶RA
Mから読み出される8ビツトデータ(Do−D7)であ
る。パリティ発生回路13は、この8ビツトデータに対
するパリティを排他的論理和により発生し、出力線13
0に出力する。The address lines of the mask ROM 12 have a total of 13 bits. The input of the parity ordering circuit 13 is the write data (DO-D7) from the central processing unit (CPU) etc. to the main memory RAM in the write mode, and the main memory RA in the read mode.
This is 8-bit data (Do-D7) read from M. The parity generation circuit 13 generates parity for this 8-bit data by exclusive OR, and outputs the parity to the output line 13.
Output to 0.
読出しモードのパリティ検査時においては、パリティ発
生回路13の出力130のピントはパリティRAMl0
から出力されるパリティデータの8ビツトのうちのアド
レスAO−A2で指定される1ビットと比較される。そ
の比較結果は、マスクROM12内にすでに作成されて
いる。マスクROM12の出力121には8ビツトデー
タが出力されるが、そのうちの1ビツトが前記比較結果
である。読み出しモードでは、リードライト制御信号1
20はOである。パリティRAMl0のパリティデータ
の8ビツトのうち例えばOビット目が八〇からA2で1
旨定される場合には、3ビツトのアドレス(A2.Al
、’AO)は(000)である。During the parity check in the read mode, the output 130 of the parity generation circuit 13 is focused on the parity RAM10.
It is compared with 1 bit specified by address AO-A2 out of 8 bits of parity data output from . The comparison result has already been created in the mask ROM 12. 8-bit data is output to the output 121 of the mask ROM 12, one bit of which is the comparison result. In read mode, read/write control signal 1
20 is O. For example, the O bit of the 8 bits of parity data in parity RAM 10 is 1 from 80 to A2.
If specified, the 3-bit address (A2.Al
, 'AO) is (000).
例えば、第2図(A)に示すように、マスクROM12
のアドレス7からOにパリティRAMl0から出力され
たデータ(01010101)が入力され、アドレス1
0,9.8はそれぞれ、A2、At、AOに対応して、
0,0.0が入力される。またアドレス12はリードモ
ードを指定する論理Oが入力され、アドレス11には、
パリティ発生回路13の出力の論理1が入力される。主
記憶RAMのアドレスOの内容が正常でパリティ発生回
路13の出力130が1である場合には、パリティRA
M10のアドレスOのパリティデータ8ビツトの最下位
ビットも1となる。従って、このとき、第2図(B)に
示すように、マスクROM12の出力データは上位7ビ
ツトがOで最下位ビットが1となる。この論理1はコン
ベアチェックOKの信号を意味する。しかし、主記憶R
AMのアドレス0の内容が異常でパリティ発生回路12
の出力がOとなり、パリティRAMl0のアドレスOの
最下位ビットが1である場合がある。For example, as shown in FIG. 2(A), the mask ROM 12
The data (01010101) output from parity RAM 10 is input from address 7 to O, and address 1
0, 9.8 correspond to A2, At, AO, respectively,
0,0.0 is input. In addition, a logic O specifying the read mode is input to address 12, and address 11 is inputted to
The logic 1 output from the parity generation circuit 13 is input. If the contents of address O of the main memory RAM are normal and the output 130 of the parity generation circuit 13 is 1, the parity RA
The least significant bit of the 8 bits of parity data at address O of M10 also becomes 1. Therefore, at this time, as shown in FIG. 2(B), the output data of the mask ROM 12 has the upper 7 bits set to 0 and the least significant bit set to 1. This logic 1 means a conveyor check OK signal. However, main memory R
The contents of AM address 0 are abnormal and the parity generation circuit 12
The output of the parity RAM 10 may be O, and the least significant bit of the address O of the parity RAM 10 may be 1.
例えば、第2図(A′)に示すように、マスクROM1
2のアドレス7からOにはパリティRAM10から出力
されたデータが入力されるが、このデータは(A)と同
じとする。また、A2.AI。For example, as shown in FIG. 2(A'), the mask ROM1
The data output from the parity RAM 10 is input to addresses 7 to O of 2, and this data is assumed to be the same as in (A). Also, A2. A.I.
AOに対応するアドレス10,9.8も(A)と同じ(
0,0,0)が入力され、アドレス12もリードモード
を指定する論理0が入力される。しかし、パリティ発生
回路13の出力線130から入力されるアドレス11は
(A)と異なり論理1とする。このとき、コンベアチェ
ックの結果が不一致を意味するので、マスクROM12
は第2図(B′)に示すように、最下位ビットがOで他
の7ビソトも0となる。すf6わち、ALL Oの8ビ
ツトを出力線121に出力する。コンベアチェックの結
果、一致しない場合には、パリティエラーランチフリッ
プフロップ14にエラーフラグがランチされる。Addresses 10, 9.8 corresponding to AO are also the same as (A) (
0, 0, 0) is input, and address 12 is also input with a logic 0 specifying the read mode. However, the address 11 input from the output line 130 of the parity generation circuit 13 is set to logic 1, unlike in (A). At this time, since the result of the conveyor check means a mismatch, the mask ROM 12
As shown in FIG. 2 (B'), the least significant bit is 0 and the other 7 bits are also 0. f6, that is, 8 bits of ALLO are output to the output line 121. As a result of the conveyor check, if they do not match, an error flag is launched in the parity error launch flip-flop 14.
一方、ライトモードにおいても、パリティRAMl0の
アドレスOの8ビツトパリテイデータはマスクROM1
2のアドレスに入力される。一方、新しいパリティは、
パリティ発生回路13の出力である。この場合、パリテ
ィRAMl0から出力されたアドレス0の最下位ビット
を前記パリティ発生回路13の出力論理に置き換え、他
の上位7ビツトのパリティデータに°関しては、そのま
まにする必要がある。パリティアドレスの八2〜AOは
同様で、パリティRAMl0から出力された8ビツトの
有効なパリティを指定する。例えば、マスクROM12
はA2からAOをALL OにすればパリティRAMl
0の出力のOビット目をパリティ発生回路13の出力論
理で置き換えるようにデータ変換を実行する。そして、
他のエピノド目から7ビツト目までの合計7ビツトは不
変にするようにマスクROM12の内容が決められてい
る。On the other hand, even in write mode, the 8-bit parity data at address O of parity RAM 10 is stored in mask ROM 1.
It is input to address 2. On the other hand, the new parity is
This is the output of the parity generation circuit 13. In this case, it is necessary to replace the least significant bit of address 0 outputted from the parity RAM 10 with the output logic of the parity generation circuit 13, and leave the other upper 7 bits of parity data as is. Parity addresses 82 to AO are similar and designate the 8-bit valid parity output from parity RAM 10. For example, mask ROM12
If you set AO to ALL O from A2, parity RAMl
Data conversion is performed so that the O-th bit of the output of 0 is replaced with the output logic of the parity generation circuit 13. and,
The contents of the mask ROM 12 are determined so that a total of 7 bits from the other epinodes to the 7th bit remain unchanged.
従って、ライトモードでは(A2.Al、AO)= <
0.0.O)のときはマスクROM12の出力線121
の8ビツトは上位7ビツトはアドレス線11の上位7ビ
ソトと同じであるが最下位ビットのみがパリティ発生回
路13の出力論理と同じ嘉命理となる。Therefore, in light mode (A2.Al, AO) = <
0.0. O), the output line 121 of the mask ROM 12
The upper 7 bits of the 8 bits are the same as the upper 7 bits of the address line 11, but only the least significant bit has the same logic as the output logic of the parity generation circuit 13.
例えば、第3図はライトモードにおけるマスクROM1
2に入力されるアドレス情+8(A’)と出力データ(
B″)を表わす。第3図(八″)に示すように、アドレ
ス7からOはパリティRへM10の出力バリティデータ
(01010101)で最下位ビットが1とする。アド
レス10,9゜8はΔ2.AI、AOにそれぞれ対応し
、前記パリティデータの最下位ビットを指定する(0,
0゜0)が入力され、アドレス11はパリティ発生回路
13から出力される新しいパリティで論理0が入力され
る。この論理Oは、アドレスOに入力される論理工と異
なる。また、アドレス12はライトモードを表現する論
理1が入力される。(A″)に示されるアドレス情報が
マスクROM12に入力されると、その出力は第3図(
B#)に示すように、上位から(OI O10100)
となり、上位7ビツトはアドレス7から1までと同じt
i tEfで最下位ビットのみがアドレスOの論理1と
異なる論理Oとなる。最下位ビットのみが更新されたデ
ータは、再びパリティRAMl0のアドレスOに書込ま
れる。For example, FIG. 3 shows mask ROM1 in write mode.
Address information input to 2 +8 (A') and output data (
As shown in FIG. 3 (8), addresses 7 to O are output parity data (01010101) of M10 to parity R, and the least significant bit is 1. Address 10,9°8 is Δ2. Corresponding to AI and AO, respectively, specify the least significant bit of the parity data (0,
0°0) is input, and address 11 is a new parity output from the parity generation circuit 13, and logic 0 is input. This logic O is different from the logic input to address O. Furthermore, a logic 1 representing write mode is input to address 12. When the address information shown in (A″) is input to the mask ROM 12, its output is shown in FIG.
From the top (OI O10100) as shown in B#)
The upper 7 bits are the same as from addresses 7 to 1.
In itEf, only the least significant bit becomes logic O, which is different from logic 1 at address O. The data in which only the least significant bit has been updated is written to address O of parity RAM 10 again.
このように、リード時にはマスクROM12はパリティ
チェックの論理を行い、ライト時には指定されたビット
をパリティ発生回路13の出力130の論理に更新させ
、他の7ビツトはそのままにする動作を実行する。マス
クROM12に入力する13ビツトのアドレス情報に対
応する正しい8ピント出力データ121は全てマスクR
OMI2内に格納される。即ち、13ビツトのアドレス
に対する全ての答の論理がマスクROM12に格納され
る。このようにマスクROM12を用いれば、64にの
マスクROM1個でパリティチェックとパリティの更新
の論理動作が実行でき、どんな容量の主記憶RAMに対
してもデータが8ビ・ノドの場合には64にのマスクR
OM1個でよい。すなわち、主記憶RAMやパリティR
AMl0の容量がどんなに大きくなってもデータは8ビ
ツトであるから、マスクROM12のアドレス0から7
は8ビツトとなる。即ち、マスクROM12のアドレス
は合計は13本必要となり、データが8ビツトであるか
らマスクROMの大きさは64にとなる。In this way, when reading, the mask ROM 12 performs parity check logic, and when writing, the designated bit is updated to the logic of the output 130 of the parity generation circuit 13, while the other 7 bits are left unchanged. The correct 8-pin output data 121 corresponding to the 13-bit address information input to the mask ROM 12 is all mask R.
Stored in OMI2. That is, the logic of all answers to the 13-bit address is stored in the mask ROM 12. If the mask ROM 12 is used in this way, logical operations such as parity check and parity update can be performed with a single 64-bit mask ROM, and if the data is 8-bit data in the main memory RAM of any capacity, the 64-bit mask ROM can be used. Nino Mask R
One OM is enough. In other words, main memory RAM and parity R
No matter how large the capacity of AM10 becomes, the data is 8 bits, so addresses 0 to 7 of mask ROM12
is 8 bits. That is, a total of 13 addresses are required for the mask ROM 12, and since the data is 8 bits, the size of the mask ROM is 64.
主記憶RAMやパリティRAMl0のメモリの容量には
無関係となる。It has no relation to the memory capacity of the main memory RAM or parity RAM10.
次に、本発明のパリティチェック方式に従う第1図の回
路のリードモード及びライトモードにおけるタイミング
を説明する。Next, the timing in read mode and write mode of the circuit of FIG. 1 according to the parity check method of the present invention will be explained.
それぞれのタイミングチャートは第4図及び第5図に示
される。−格上のEクロックは主記憶RAM及びパリテ
ィRAMl0の読み出しまたは書込みする場合の同期ク
ロンク信号である。以下、RAMという言葉は主記憶R
AM及びパリティRAMを意味する。The respective timing charts are shown in FIGS. 4 and 5. - The E clock on the top is a synchronous clock signal when reading or writing to the main memory RAM and parity RAM 10. Hereinafter, the word RAM refers to main memory R.
AM and parity RAM.
リードモードにおける第4図のタイミングチャートにお
いて、RD倍信号立下りはRAMのリード状態を示す信
号である。Do−D7は主記憶RAMからのデータであ
る。PC出力はパリティ回路13の出力信号である。A
O〜A15までの信号はRAMに対するアドレス線で、
このうちAO〜A2までの3ビツトは、マスクROMの
アドレス8,9.10にそれぞれ入力される。また、π
l〕、PG比出力マスクROMに入力され、RDのリー
ド信号はゲート回路16を介してマスクROM12のア
ウトプットイネーブルに入力され、RD=Oのとき、マ
スクROM12はイネーブルされる。AO〜A2、RD
、PG比出力が全て定まった後マスクROM12のアド
レス入力が決定される。その後、マスクROM12の遅
延時間分だけ経ってマスクROM12の出力信号が出力
される。マスクROM12の出力データのタイミングは
タイミングチャートの一番下に示されている。In the timing chart of FIG. 4 in the read mode, the falling edge of the RD double signal is a signal indicating the read state of the RAM. Do-D7 is data from the main memory RAM. The PC output is an output signal of the parity circuit 13. A
The signals from O to A15 are address lines for RAM.
Of these, three bits AO to A2 are input to addresses 8, 9 and 10 of the mask ROM, respectively. Also, π
l], the PG ratio output is input to the mask ROM, and the RD read signal is input to the output enable of the mask ROM 12 via the gate circuit 16, and when RD=O, the mask ROM 12 is enabled. AO~A2,RD
, PG ratio output are all determined, the address input of the mask ROM 12 is determined. Thereafter, the output signal of the mask ROM 12 is output after a delay time of the mask ROM 12 has elapsed. The timing of output data from the mask ROM 12 is shown at the bottom of the timing chart.
RAMのリード信号RDはEクロックの立上がりから4
Or+s後に論理0になり、RAMの読み出しが行われ
る。RDの立上がりにおいて、パリティのチェックが行
われ、パリティエラーランチフリソプフロノプ14にそ
の結果の論理がラッチされる。The read signal RD of the RAM is 4 times from the rising edge of the E clock.
After Or+s, it becomes a logic 0 and reading from the RAM is performed. At the rising edge of RD, a parity check is performed, and the resulting logic is latched into the parity error lunch front panel 14.
データDO−D7はEクロックの立上がりから15Qn
s後に出力される。DO−’D7までのデータがパリテ
ィ発生回路13に入力され、50 ns後にPC出力が
決定される。PC出力決定後においてはすでにマスクR
OM12のアドレス入力は全て決定されている。PC出
力決定の後、100 n3の遅延を持ってマスクROM
12が出力される。そのため、RD信号の立上がり即ち
、パリティエラーのフリップフロップ14にラッチする
タイミングまでにはα−100nsの余裕があり、リー
ドモードにおけるタイミングは正確に実行される。Data DO-D7 is 15Qn from the rising edge of E clock.
Output after s. Data up to DO-'D7 is input to the parity generation circuit 13, and the PC output is determined 50 ns later. After determining the PC output, the mask R has already been set.
All address inputs of OM12 have been determined. After determining the PC output, the mask ROM is processed with a delay of 100 n3.
12 is output. Therefore, there is a margin of α-100 ns before the rise of the RD signal, that is, the timing at which the parity error is latched into the flip-flop 14, and the timing in the read mode is accurately executed.
次にfJS5図を用いてライトモードにおけるタイミン
グを説明する。ライト時にはパリティ発生回路13のP
G比出力パリティRAMl0の8ビツト出力バリテイデ
ークのうちAOからΔ2で指定されるビットと置き換え
、再びパリティRAM10に書込む必要がある。そのた
め、ライトモードにおけるタイミングはり−ドモードに
おけるタイミングより厳しい状態にある。特に、ライト
モードにおいては、マスクROM12の読み出しが遅い
ため、問題となるが、それでもタイミング上の問題はな
いことを以下に示す。Next, the timing in the light mode will be explained using the fJS5 diagram. When writing, P of the parity generation circuit 13
It is necessary to replace it with the bit specified by Δ2 from AO among the 8-bit output validity data of the G ratio output parity RAM10 and write it into the parity RAM10 again. Therefore, the timing in the light mode is more severe than the timing in the read mode. Particularly in the write mode, reading from the mask ROM 12 is slow, which poses a problem, but it will be shown below that there is no timing problem.
アドレスAO−A15まではEクロックの立下がりから
190 r+sの後に指定され、WR倍信号ち、ライト
指定の信号が立下がるのはEクロ、りの立上がりから4
003後となる。また、アドレスが決まり、ライトモー
ドが指定された後、CPUデータDo−I)7が決定さ
れるのは、Eクロックの立上がりから160 nsO後
である。DO〜D7のまでのデータが決定された後、パ
リティ発生回路13のPC出力は22n3後に決定され
る。パリティ発生回路13のPG比出力決定時点におい
てマスクROM12のアドレスは全て決定される。マス
クROM12のアクセスタイムが100 nsであるな
らば、PC出力後100 ns後にマスクROM12の
出力が決定される。一方、パリティRAMl0の書込み
はWRの信号が立上がる時点である。この立上がりはE
・クロックの次の立下がりから20ns後である。Addresses AO-A15 are specified after 190 r+s from the falling edge of the E clock, and the WR multiplication signal, the write designation signal, falls 4 times after the rising edge of the E clock.
It will be after 003. Further, after the address is determined and the write mode is designated, the CPU data Do-I)7 is determined 160 nsO after the rise of the E clock. After the data from DO to D7 are determined, the PC output of the parity generation circuit 13 is determined 22n3 later. All addresses of the mask ROM 12 are determined at the time when the PG ratio output of the parity generation circuit 13 is determined. If the access time of the mask ROM 12 is 100 ns, the output of the mask ROM 12 is determined 100 ns after the output from the PC. On the other hand, writing to the parity RAM 10 occurs when the WR signal rises. This rise is E
- 20ns after the next falling edge of the clock.
パリティRAMl0に書込まれるデータはWR倍信号立
上がりにおいては、既に決定されていなくてはならない
。上記の例では、Eクロックの次の立下がりから980
3前にマスクROM12の出力は決定されている。従っ
てWR倍信号立上りから11F3 ns前にマスクRO
M12の出力は決定されていることになる。従って、パ
リティRAM1.0へのデータの書込は可能となる。パ
リティRAM12はWR倍信号立上がりから50ns前
にはデータが決まっていないといけないとしてもパリテ
ィRAM12への書込みは可能となる。The data written to the parity RAM 10 must already be determined at the rising edge of the WR multiplication signal. In the above example, from the next falling edge of the E clock, 980
The output of the mask ROM 12 has been determined three times before. Therefore, 11F3 ns before the rise of the WR double signal, the mask RO
This means that the output of M12 has been determined. Therefore, data can be written to parity RAM 1.0. Even though the data in the parity RAM 12 must be determined 50 ns before the rise of the WR multiplication signal, writing to the parity RAM 12 is possible.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のパリティチェック方式の構成ブロック
図、
第2図はリードモードにおける本発明のパリティチェッ
ク方式のマスクROMの入出力データの実施例図、
第3図はライトモードにおける本発明のパリティチェッ
ク方式のマスクROMの入出力データの実施例図、
第4図は本発明のパリティチェック方式に従う第1図の
回路に対する読み出しモード時におけるタイミングチャ
ート図、
第5図は本発明のパリティチェック方式に従う第1図の
パリティ回路の書込みモード時におけるタイミングチャ
ート図である。
10・ ・ ・パリティRAM。
11・・・パリティデータ、
12・・・マスクROM。
13・・・パリティ発生回路、
14・・・パリティエラーフラグランチフリソプフ1コ
ツプ、
15.16・・・ゲート回路、
130・・・パリティ発生回路の出力ビット())G出
力)、
Δ0〜A2・・・パリティアドレス、
120・・・リードライト制御信号。
特許出願人 富士通機電株式会社
第2図[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a block diagram of the structure of the parity check method of the present invention, Fig. 2 is an example of input/output data of a mask ROM using the parity check method of the present invention in read mode, and Fig. 3 4 is a diagram showing an example of input/output data of a mask ROM using the parity check method of the present invention in write mode; FIG. 4 is a timing chart diagram of the circuit of FIG. 1 according to the parity check method of the present invention in read mode; FIG. 2 is a timing chart of the parity circuit of FIG. 1 in a write mode according to the parity check method of the present invention. FIG. 10... Parity RAM. 11... Parity data, 12... Mask ROM. 13...Parity generation circuit, 14...1 parity error flag lunch stopper, 15.16...Gate circuit, 130...Output bit of parity generation circuit ())G output), Δ0 to A2 ...Parity address, 120...Read/write control signal. Patent applicant Fujitsu Kiden Ltd. Figure 2
Claims (3)
タに対するパリテイを生成するパリテイ発生回路(13
)と、 前記主記憶RAMへの書込みデータに対するパリテイを
前記主記憶RAMの連続する複数のアドレス数に対応す
るビット幅から構成されるパリテイデータを格納するパ
リテイRAM(10)と、前記パリテイRAM(10)
から出力される前記パリテイデータ、前記パリテイ発生
回路(13から出力されるパリテイビット、前記パリテ
イデータのうち有効とするビット位置を指定するパリテ
イアドレス、リードまたはライトを指定する信号をアド
レスとして入力し、読み出しモードにおいて、前記パリ
テイ発生回路(13)から出力されるパリテイ論理と前
記パリテイデータのうち前記パリテイアドレスで指定さ
れるビットとの比較結果を少なくとも出力し、書込みモ
ードにおいては、前記パリテイRAM(10)から読み
出される前記パリテイデータのうち前記パリテイアドレ
スで指定されるビットのパリテイを前記パリテイ発生回
路(13)から出力されるパリテイで置換し前記パリテ
イアドレスで指定されない位置のビットは不変のまま前
記パリテイRAM(10)への書込みデータを形成する
読み出し専用メモリ(12)とを有することを特徴とす
るパリテイチェック方式。(1) Parity generation circuit (13) that generates parity for write data and read data to main memory RAM
), a parity RAM (10) that stores parity data for write data to the main memory RAM having a bit width corresponding to the number of consecutive addresses of the main memory RAM; (10)
The parity data output from the parity generation circuit (13), the parity bit output from the parity generation circuit (13), the parity address that specifies the bit position to be valid in the parity data, and the address signal that specifies read or write. In the read mode, at least the comparison result between the parity logic output from the parity generation circuit (13) and the bit specified by the parity address of the parity data is output, and in the write mode, , replacing the parity of the bit specified by the parity address among the parity data read from the parity RAM (10) with the parity output from the parity generation circuit (13), which is not specified by the parity address. A parity check system comprising: a read-only memory (12) for forming write data to the parity RAM (10) with bits at positions unchanged.
Mで形成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載のパリテイチェック方式。(2) The read-only memory (12) has a mask RO
The parity check system according to claim 1, characterized in that it is formed of M.
数は主記憶RAMの読み書きデータのビット幅に等価と
し、前記読み出し専用メモリ(12)は前記データ幅に
等しいビット幅のパリテイデータをアドレスとして入力
することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のパリ
テイチェック方式。(3) The number of bits of each word of the parity RAM (10) is equivalent to the bit width of read/write data in the main memory RAM, and the read-only memory (12) addresses parity data with a bit width equal to the data width. The parity check method according to claim 1, wherein the parity check method is input as follows.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62095287A JPS63261435A (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Parity error check system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62095287A JPS63261435A (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Parity error check system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63261435A true JPS63261435A (en) | 1988-10-28 |
Family
ID=14133559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62095287A Pending JPS63261435A (en) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | Parity error check system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63261435A (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57117198A (en) * | 1981-01-13 | 1982-07-21 | Omron Tateisi Electronics Co | Memory system with parity |
-
1987
- 1987-04-20 JP JP62095287A patent/JPS63261435A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57117198A (en) * | 1981-01-13 | 1982-07-21 | Omron Tateisi Electronics Co | Memory system with parity |
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