JPS63255841A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、情報記録担体に記録された情報を光学的に
読み出し、または、その情報記録担体にに情報を書き込
むための光ピックアップ装置に関するものである。

［従来の技術］ 第２図は従来の光ピックアップ装置を示す概要図であり
、図において、（１）は光源としてのレーザー光源、（
２）はレーザー光源（１）よりの出射光束、（３）は出
射光束（２）と反射光束（６）を分離するためのハーフ
ミラ−である平行平板素子、（４）は出射光束（２）を
情報記録担体（５）上に集光するための集光レンズ系、
（７）は光軸が上記反射光束（６）の主光線とほぼ一致
している単レンズからなるセンサレンズ、（８）は光検
知器、（９）は光検知器（８）の保護層である。

次に動作について説明する。レーザー光源（１）よりの
出射光束（２）は、平行平板素子（３）によって反射さ
れ、集光レンズ系（４）によって情報記録担体（５）上
に集光される。この出射光束（２）は情報記録担体（５
）上に記録された情報によって変調反射される。

反射光束（６）は再び集光レンズ系（４）に入射し、平
行平板素子（３）およびセンサレンズ（７）を透過して
光検知器（８）に至る。この反射光束（６）は光検知器
（８）によって電気信号に変換され、図示しない回路に
よって、例えばオーディオビデオ信号、あるいは、デジ
タルデータとして利用される。

上記情報記録担体（５）は一般に円盤状であって、その
中心を支点に回転しており、面振れ等によりたえず移動
している。従って、出射光束（２）の集光位置は記録密
度を高めるため、正しく情報記録担体（５）上に位置さ
せる必要がある。

そこで光検知器（８）の信号によって、情報記録担体（
５）と反射光束（２）の集光位置とのずれを変位信号と
して検出し、サーボ機構（図示せず）によって集光レン
ズ系（４）を駆動し、たえず、反射光束（２）の集光位
置を情報記録担体（５）上に保持させている。

［発明が解決しようとする問題点］ 従来の光ピックアップ装置は以上のように構成されてい
るので、保護層を透過して光検知器に入射した光の一部
は、その入射面で反射されて、保護層の入射部に至り、
ここで再び反射されて光検知器に至るため、光検知器の
スポット上で干渉が生じる。例えば温度変化等により、
保護層の屈折率が変化することによって、干渉状態が変
化し、光検知器の出力信号のレベルが変化する。また、
光が平行平板素子を透過することにより、光検知器上の
スポットにコマ収差が発生するため、安定した変位信号
が得られないなどの問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、光検知器内での光束の干渉を防止できるとと
もにコマ収差の発生を防止し、安定した変、位信号を得
る光ピックアップ装置を得ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る光ピックアップ装置は、センサレンズの
光軸と反射光束の光軸をずらせて配設したものである。

［作用］ この発明における光ピックアップ装置は、センサレンズ
の光軸と反射光束の光軸をずらせて配設したことにより
、光検知器内での光束の干渉が防止されるとともに反射
光束のコマ収差も補正され、安定した変異信号が得られ
る。

［発明の実施例コ 以下、この発明の一実施例を前記第２図と同一部分に同
一符号を付した第１図について説明する。

第１図において、センサレンズ（７）はその光軸が反射
光束（６）の光軸とずらせて配設されている。

次に動作について説明する。反射光束（６）の光軸がセ
ンサレンズ（７）の光軸とずれているため、センサレン
ズ（７）に対して像高をもって入射する。このため、平
行平板素子（３）によって発生したコマ収差が補正され
、コマ収差のない良好なスポットが光検知器（８）上に
形成され、安定した変位信号が得られる。

上記反射光束（６）は保護層（９）を透過して光検知器
（８）に至り、その一部は光検知器（８）によって吸収
される。しかし、残りは光検知器（８）の入射面（８ａ
）で反射されて保護層（９）の入射面（９ａ）に至り、
ここで再び反射されて光検知器（８）へ戻る。

ところが、反射光束（６）はセンサレンズ（７）に像高
をもって入射するために、反射光束（６）の方向が変え
られ、光検知器（８）およびその保護層（９）に対して
斜に入射する。このため、光検知器（８）へ戻る反射光
束（６）は、最初に形成されたスポットとは異なる位置
にスポットを形成し、光検知器（８）での反射光束（６
）の干渉が防止される。

なお、明細なシュミレーションによれば、センサレンズ
（７）が両凹レンズで構成されている場合、第１図にお
いて、Ｌ、　Ｄ、側（１）より見て、センサレンズ（７
）の光軸が反射光束（６）の光軸よりも外側にある時に
、平行平板素子（４）によるコマ収差が補正される。

［発明の効果コ 以上のように、この発明によれば、反射光束の光軸に対
し、センサレンズの光軸をずらせて配設したので、光検
知器内の光束の干渉が防止され、光検知器の入射面上に
コマ収差のない良好なスポットが形成され、安定した変
位信号が得られる光ピックアップ装置を得ることができ
る効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による光ピックアップ装置
を示す概要図、第２図は従来の光ピックアップ装置を示
す概要図である。 図において、（１）はレーザー光源、（２）は出射光束
、（３）は平行平板素子、（４）は集光レンズ系、（５
）は情報記録担体、（６）は反射光束、（７）はセンサ
レンズ、（８）は光検知器である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。 第１図 ２：出射光束 ３：平行平板素子 ７：センサレンズ ８：光検知器

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源よりの出射光束を情報記録担体に集光する集
   光レンズ系と、前記情報記録担体よりの反射光束を前記
   出射光束より分離する平行平板素子と、前記反射光束中
   に配置された単レンズを透過した前記反射光束を受光す
   る光検知器を有する光ピックアップ装置において、前記
   単レンズはその光軸が前記平行平板素子の法線と前記反
   射光束の光軸を含む平面内にあり、かつ、前記反射光束
   の光軸と異なる位置に配設されていることを特徴とする
   光ピックアップ装置。
2. （２）前記単レンズは両面凹レンズにより構成されてお
   り、光源側より見て、前記単レンズの光軸が前記反射光
   束の光軸よりも外側にあることを特徴とする特許請求の
   範囲第（１）項記載の光ピックアップ装置。