JPS63244202A - 加工線テイ−チング方法 - Google Patents

加工線テイ−チング方法

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JPS63244202A
JPS63244202A JP7610487A JP7610487A JPS63244202A JP S63244202 A JPS63244202 A JP S63244202A JP 7610487 A JP7610487 A JP 7610487A JP 7610487 A JP7610487 A JP 7610487A JP S63244202 A JPS63244202 A JP S63244202A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
weaving
axis direction
singular
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP7610487A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Taguchi
田口 弘一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS63244202A publication Critical patent/JPS63244202A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ウィービング動作により特異線を倣いなが
ら計測点を検出する加工線ティーチング方法に関し、特
に計測点における加工面の形状を検出できる加工線ティ
ーチング方法に関するものである。
[従来の技術] 従来より、レーザ光等を用いてワークを切断加工又は溶
接加工する装置はよく知られており、一般に、ワーク上
の加工線を予めティーチングしておいてその通りに加工
するティーチングプレイバック方式が用いられている。
このティーチングを行うため、従来は、オペレータの手
動制御により加工ヘッドを加工線に沿って駆動しながら
、加工ヘッドの位置及び姿勢を1ポイントずつ入力して
いるが、この作業は、加工線の長さにもよるが、数時間
かかるのが普通である。
[発明が解決しようとする問題点] 従来の加工線ティーチング方法は以上のように、オペレ
ータの手動作業により行なっていたので、多くの時間及
び労力を要するという問題点があつた。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、自動的且つ短時間で確実に加工線のティーチ
ングが行なえる加工線ティーチング方法を得ることを目
的とする。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る加工線ティーチング方法は、加工機本体
のアーム先端部に設けられたセンサヘッドをウィービン
グ動作させて、ワークの加工線に沿って設けられた特異
線を倣うと共に、ウィービング動作により順次検出され
る特異線上の計測点の座標ベクトルからX軸方向を決定
する第1ステップと、このX軸方向と特異線の両端部の
座標ベクトルとの外債から特異線に垂直なZ軸方向を決
定する第2ステップと、このZ軸方向とX軸方向との外
積からY軸方向を決定する第3ステップとを設けたもの
である。
[作用] この発明においては、ウィービング動作により特異線を
倣い計測する際に、計測点における局所座標系を算出す
る。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例が適用される加工装置を示すブ
ロック図である。
図において、Tはワークの加工線に沿って設けられた特
異線であり、例えば0.4mm幅の無反射性の黒色テー
プからなっている。 (10)は3次元移動可能な加工
機本体であり、特異線Tを倣って移動するアーム先端部
(10a)と、アーム先端部(loa)を駆動するため
の複数(例えばX〜Z、α及びβの5軸に対応した5個
)のモータ(図示せず)とを備え、各モータの回転位置
に基づいてアーム先端部(10a)の位置及び姿勢を示
す位置検出信号りを出力している。
(20)はアーム先端部(10a)に取り付けられたセ
ンサヘッドであり、赤外線のレーザ光(破線参照)を放
射する半導体レーザと、ワークの表面で乱反射されたレ
ーザ光を受光する受光素子とを有する周知の光学式セン
サからなり、ワークまでの高さ表わす高さ検出信号H及
び特異線Tの存在を示す特異線検出信号りを出力してい
る。
(30)は加工機本体(10)を駆動するための駆動信
号Mを出力するNC11111部である。(40)はア
ーム先端部(10a)を特異線Tに倣ってウィービング
動作させるための倣い計測演算部であり、位置検出信号
L、高さ検出信号H及び特異線検出信号りに基づいて、
特異線Tの座標を示す計測点データからなる特異線位置
姿勢信号Cを出力すると共に、ウィービング動作に用い
られるウィービング座標信号WをNC制御部(30)に
出力するようになっている。
(50)は特異線位置姿勢信号Cに基づく加ニブログラ
ムRを生成してNC制御部(30)に入力するデータ処
理部、(60)は加工機本体(10)の駆動時の初期設
定指令及び動作指令等をNC制御部(30)に入力する
操作盤、(70)は加工機本体く10)の駆動指令等を
NC制御部(30)に入力するティーチングボックスで
ある。
次に、ウィービング動作を示す第2図の説明図、計測点
検出動作を示す第3図の説明図及び局所座標系算出プロ
グラムを示す第4図のフローチャート図を参照しながら
、第1図の加工装置に適用されるこの発明の一実施例に
ついて説明する。
まず、ワークの加工線上に特異&lTを形成し、アーム
先端部(10a)に光学式のセンサヘッド(2o)を取
り付けると共に、操作51(80)を介してNC制御部
(30)をティーチングモードにする。
次に、ティーチングボックス()0)を介して特異線T
の始点ps、方向指示点PD及び終点P、を入力すると
共に、ウィービング幅−D(通常、101程度)及びウ
ィービング動作用のピッチ1(通常、数−)を初期設定
する。そして、操作盤(60)を介してNC制御部(3
0)を起動させ、第2図に示すような自動ティーチング
用の倣い計測(ウィービング動作)を実行させる。
まず、センサヘッド(20)からのレーザ光の照射点を
始点Psから方向指示点Poに対して直角方向に移動さ
せ、特異線Tとの交点即ち計測点P1を検出してから所
定量移動した点を第1のウィービング点Q、とする0次
に、始点Psと第1のウィービング点Q、とを結ぶ直線
に沿って折り返しく図面では、便宜的に離間させて示す
が、計測点P1′は計測点P、と一致する)、所定i(
ウィービング幅WDに相当する)移動した点を第2のウ
ィービング点Q2とする。
続いて、レーザ光の光スポットを方向指示点PDに向か
って所定ピッチ2だけ傾斜させながら、第3のウィービ
ング点Q、に移動し、以下、ウィービング点q1、・・
・へと順次折り返す、こうして、特異線Tを追跡しなが
ら終点PEの近傍に到達するまで計測点P +−P n
を検出していく。
これら特異線T上の各計測点P、〜Pnの座標は、特異
線Tが光を反射しないため、直接検出することはできな
い、従って、実際には、第3図に示すように、ウィービ
ング点Qi〜Q:+lの間で計測される特異線Tの両端
部Ts及びTBの中点座標を計測点Piとしている。又
、特異線Tの縁部においては光スポットの反射光が乱れ
るため、両端部Ts、T、の各座標としては、特異線T
の縁部かられずかに離間したワーク上の点を用いている
同時に、倣い計測演算部(40)は、第4図に示すプロ
グラムに基づいて、計測点Piにおける局所座標系(9
0)を求める。この局所座標系(90)のXY平面は計
測点Piにおける加工面を表わし、Zは法線を表わして
いる。
まず、前回の計測点P i−+と今回の計測点Piの間
のベクトルをX軸方向とする(第1ステップS1)。
ここで、計測点P i−+の座標を(xi−1+yi−
+ 、zi−+)、計測点Piの座標を(xi、yi、
zi)とし、Lx=xi−Xi−++L、y=yi−y
i−1、Lz=zi−Zi−IL 、: (Lx2+ 
Ly2+ Lz2)””とすれば、X軸方向の単位ベク
トルe x(ul +’2 、u3)の各成分は、 u 1 =L x / L +、u2 = L y/ 
L 1、L13=LZ/L。
で表わされる。
次に、今回検出された両端部Ts及びTHE間のベクト
ルとX軸方向のベクトルとの外債をZ軸方向とする(第
2ステップS2)。
ここで、両端部Ts及びT、の座標をそれぞれ、(xs
、ys、zs)、(xe、ye、ze)とし、qx=x
e−xs+ qy=ye−ys+ qz=ze−zsL
2=[(qzLy  qyLz)2+(qxLz−qz
Lx)2’  + (qyLx−qxLy)2]”2と
すれば、Z軸方向の単位ベクトルez(’+ +”2 
、w=)の各成分は、 w+=(qzLy−qyLz)/ L2w2=(qxL
z−qzLx)/ L2ws=(qyLx  qxLy
)/L2で表わされる。
if&に、X軸方向のベクトルとZ軸方向のベクトルの
外債をY軸方向とする(第3ステップS3)。
ここで、Y軸方向の単位ベクトルe y(vl 、v2
 、v3)の各成分は、 v1ニー2uコー−コu2 v2=w3ul−+11u3 V)=111112   W2ul で表わされる。
このように、ウィービング動作に伴って、各計測点P1
〜Pnにおける局所座標系(90)が順次求められるの
で、起動時に、始点PSにおける初期局所座標系を設定
すれば、自動的に加工面の姿勢を倣って計測することが
できる。
即ち、倣い計測演算部(40)は、特異線検出信号D、
高さ検出信号H1位置検検出量し、局所座標系(90)
及び予め設定されたウィービングパターンに基づいて、
次のウィービング点Qi++の座標及び姿勢を演算し、
これをウィービング座標信号WとしてNC制御部(30
)に出力する。
N C!II m 部(30)Gi、センサヘット(2
0)ヲ、ワークまでの高さを一定に保ち且つ光軸Aがワ
ーク面に対し常にほぼ垂直となるように駆動する。従っ
て、光学式センサヘッド(20)の裕度角辺内、且つセ
ンサヘッド(20)の計測レンジ内で確実にウィービン
グ動作を続けることができる。尚、裕度角とは、センサ
ヘッド(20)が正確に機能できる許容角のことであり
、この場合、ワーク面に垂直となる線に対し約15°以
内である。
こうして、倣い計測が−通り終了すると、一連の計測点
データからなる特異線位置姿勢信号Cはデータ処理部(
50)に伝送され、データ処理部(50)は、特異線位
置姿勢信号C内の各計測点データに基づいてワーク加工
用の加ニブログラムRを演算し、これをNC制御部(3
0)に伝送する。
そして、アーム先端部(10a)に加工ヘッド(図示せ
ず)が取り付けられ、所定の加工が行なわれる。
尚、上記実施例では、アーム先端部(10a)にセンサ
ヘッド(20)を設けたが、加工ヘッドの近傍に受光部
のみを配置して、加工ヘッドからティーチング用のレー
ザ光を放射するようにしてもよい、この場合、センサヘ
ッド(20)の取り付は動作は不要となる。
[発明の効果コ 以上のようにこの発明によれば、ウィービング動作によ
り順次検出される特異線上の計測点の座標ベクトルから
X軸方向を決定する第1ステップと、このX軸方向と特
異線の両端部の座標ベクトルとの外積から特異線に垂直
なZ軸方向を決定する第2ステップと、このZ軸方向と
X軸方向との外積からY軸方向を決定する第3ステップ
とを備え、特異線を倣い計測する際に、計測点における
局所座標系を算出するようにしたので、自動的且つ雉時
間で確実な加工線ティーチング方法が得られる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例が適用される加工装置を示
すブロック図、第2図はこの発明によるウィービング動
作を示す説明図、第3図はこの発明による計測点検出動
作を示す説明図、第4図はこの発明による加工面座標系
算出プログラムを示すフローチャート図である。 (10)・・・加工機本体   (10a)・・・アー
ム先端部(20)・・・センサヘッド  (90)・・
・局所座標系T・・・特異線      P1〜Pn・
・・計測点Ts、’r、・・・両端部   Sl・・・
第1ステップS2・・・第2ステップ   S3・・・
第3ステップ尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を
示す。 罠2図 ○n 罵4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 加工機本体のアーム先端部に設けられたセンサヘッドを
    ウィービング動作させて、ワークの加工線に沿って設け
    られた特異線を倣うと共に、前記ウィービング動作によ
    り順次検出される前記特異線上の計測点の座標ベクトル
    からX軸方向を決定する第1ステップと、 このX軸方向と前記特異線の両端部の座標ベクトルとの
    外積から前記特異線に垂直なZ軸方向を決定する第2ス
    テップと、 このZ軸方向と前記X軸方向との外積からY軸方向を決
    定する第3ステップと、 を備え、前記計測点における局所座標系を算出する加工
    線ティーチング方法。
JP7610487A 1987-03-31 1987-03-31 加工線テイ−チング方法 Pending JPS63244202A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60195617A (ja) * 1984-03-16 1985-10-04 Shin Meiwa Ind Co Ltd ロボツトにおける自動テイ−チング方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60195617A (ja) * 1984-03-16 1985-10-04 Shin Meiwa Ind Co Ltd ロボツトにおける自動テイ−チング方法

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