JPS63243805A - 物体形状検査装置 - Google Patents

物体形状検査装置

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JPS63243805A
JPS63243805A JP7866187A JP7866187A JPS63243805A JP S63243805 A JPS63243805 A JP S63243805A JP 7866187 A JP7866187 A JP 7866187A JP 7866187 A JP7866187 A JP 7866187A JP S63243805 A JPS63243805 A JP S63243805A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shape
light beam
wire loop
image
loops
Prior art date
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Pending
Application number
JP7866187A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumiaki Uchida
内田 文明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS63243805A publication Critical patent/JPS63243805A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は物体の形状を検査する物体形状検査装置に関
し、特に半導体装置のボンディングワイヤのような3次
元形状を検査するために使用される物体形状検査装置に
関する。
(従来の技術) ボンディング工程の検査には、大きく別けてワイヤール
ープ検査とボール検査の2つがある。
ボール検査については、同一平面上にボールが形成され
るために2次元形状として考えることができ、比較的そ
の形状検査は容易であり自動化が進められている。
しかしながら、ワイヤーループの形状検査の方は3次元
形状を対象とするため、自動化が困難あり、目視による
抜取り検査が実状である。
検査作業者による目視検査では、その判定基準に個人差
があることや、ワイヤーループ形状を上方からしか見る
ことができないため、正確な検査を行なうのは非常に困
難である。また、抜取り検査であるため、その検査の信
頼性にはおのずと限界がある。また、この目視検査は、
半導体装置の全組立て工程の自動化の大きな妨げになっ
ている。
(発明が解決しようとする問題点) この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、従来
では目視による形状検査であったため充分な検査の信頼
性を得ることができなかった点を改善し、検査の自動化
を図ることによって判定基準を定量化し、信頼性の高い
形状検査を行なうことができる物体形状検査装置を提供
することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段と作用)この発明による
物体形状検査装置にあっては、被検査対象物となるワイ
ヤーループにくさび状光束を照射する光束照射手段と、
前記くさび状光束が照射されることにより前記ワイヤー
ループ上に写し出される明暗をff1li!するWi像
手段と、この撮像手段によって得られた画像データに基
づいて前記ワイヤーループの形状を求め、この求めた形
状と基準形状とを比較して前記ワイヤーループ形状の良
否判定を行なう画像処理手段とを具備したものである。
前記ワイヤーループ上に写し出される明暗の形状はその
ワイヤーループの高さ変化に対応するので、その明暗を
前記撮像手段によってl1il像し、そのm像した画像
データを処理することによってワイヤーループの高さ変
化を求めることができる。
したがって、従来では目視により行なっていたワイヤー
ループの形状検査を自動化することが可能となり、その
良否の判定基準を定量化でき、信頼性の^い形状検査が
可能となる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の詳細な説明する。
第1図にこの発明に係わる物体形状検査装置の形状測定
の原理を示す。まず、第1図(A)に示すような焦点を
同じとする複数のくさび状光束1を用い(ここで、2は
光束間の暗部)、このくさび状光束1をワイヤー3.4
へ照射する。この結果、その光束1が照射された部分5
.6が光り(黒く図示)、上から見ると、第1図(B)
に示すように明と暗の連続したワイヤー画像となる。
この画像における明部の長さ、およびその相対的な位置
関係が、ワイヤーループの^さ変化を表わすことになる
。すなわち、ワイヤー3は高い位置にあり、くさび状光
束1の幅の広い部分を横切るので光が照射される部分5
は長く、またワイヤー4の中央部は低い位置にありくさ
び状光束1の幅の狭い部分を横切るので光の照射される
部分6は短くなる。
尚、ワイヤー3.4にくさび状光束1を確実に照射する
ために、くさび状光束1は紙面と垂直の方向に充分な厚
みを有する光束とする。
第1図(A)に示したようなくさび状光束1は、例えば
第2因に示すような光学系を用いることによって発生さ
せることができる。
まずレーザ光源7よりレーザビーム8を発生させ、この
レーザビーム8をポリゴンミラー9により扇状に広げる
。次に凸レンズ10で板状の平行光束を作った後、スリ
ット11によりその光束を格子状にし、その格子状光束
を凸レンズ12で一方向に広げる。そして、凸レンズ1
3によってその光束を再び一方向に絞ることにより、複
数のくさび状の光束1を得ることができる。
第3図は、このようにして得られるくさび状光束1を用
いた物体形状検査装置の全体図である。
この検査装置は、ハーフミラ−17を用いてくさび状光
束1をビーム分割し、その分割した光束を被検査対象、
すなわちペレット18表面に配線されたワイヤ−ループ
3a〜3e全体に照射して、その反射光をカメラ16に
よって撮像する構成である。この場合、ハーフミラ−1
7を用いていることにより、くさび状光束1の照射方向
と同じ方向からカメラ16が見る形になっているので、
正確な観測が可能となる。
したがって、カメラ16には第4図に示すような破線状
のワイヤー画像が入力され、この画像デー夕が画像処理
装置19で演算処理されて、ワイヤーループの形状の良
否が判断される。
画像処理装置19では、まずカメラ16で得られた画像
を2値化回路(図示せず)により2値画像とし、その2
1画像データに基づいて、次のような演算でワイヤーの
高さを求める。
くさび状光束1の断面境界線は、それぞれ焦点距離等の
光学系のパラメータにより次のような一次方程式で表わ
される。
Y−aN−XN+bN ここで、a N z b NはN番目の断面境界線に対
する光学系で決まる定数、XNはカメラ16によって得
られた画像データの明部と暗部との分岐点のX座標値で
ある。
第5図はこの内容を説明したもので、例えば1番目の光
束1の断面境界線1aと、ワイヤー3との交点20の高
さYlは、 Yl −al @Xt +bt となる。同様の演算をすることにより、各点のワイヤー
高さを求めることができる。
画像処理装置19は、以上のようにして得たワイヤール
ープの形状と、予め設定されている基準形状とを比較し
て、ワイヤループ形状の良否判定を行なう。この判定で
は、例えば、測定したワイヤーループ形状が基準形状よ
りも低い場合にはそのワイヤーは不良とみなされ、高い
場合には正常とみなされる。
尚、上記説明では複数のくさび状光束を用いてワイヤー
ループの形状を調べたが、1つのくさび状光束でも複数
のワイヤーループの相対的な高さ1関係を知ることは出
来るので、基準データとの比較によりその良否判断を行
なうことが可能である。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、判定基準の定量化が可
能となり、信頼性の高い形状検査が可能となる。また、
検査を自動的に行なえることで、全数検査が可能となる
と共に1.上位コンピュータと接続することにより、統
計的に検査データを管理することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係わる物体形状検査装置
の原理を説明する図、第2図は上記装置で使用されるく
さび状光束を発生させるための光学系を説明する図、第
3図は上記物体形状検査装置全体を説明する構成図、第
4図は第3図に示した物体形状検査装置に入力される画
像データを示す図、第5図はワイヤーループ形状の演算
方法を説明するための図である。 1・・・くさび状光束、3.4・・・ワイヤーループ、
16・・・カメラ、17・・・ハーフミラ−119・・
・画[IL理装置。 出願人代理人  弁理士 鈴江武彦 (A) 弓 第 1 図 第 2 図 第 3UIJ 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査対象物となるワイヤーループにくさび状光
    束を照射する光束照射手段と、 前記くさび状光束が照射されることにより前記ワイヤー
    ループ上に写し出される明暗を撮像する撮像手段と、 この撮像手段によって得られた画像データに基づいて演
    算処理を行ない前記ワイヤーループの形状を求め、この
    求めた形状と基準形状とを比較して前記ワイヤーループ
    形状の良否判定を行なう画像処理手段とを具備すること
    を特徴とする物体形状検査装置。
  2. (2)前記画像処理手段は、前記くさび状光束の断面境
    界線を表わす1次方程式と、前記撮像手段で得られた画
    像データの明部と暗部との各分端点の座標とから前記ワ
    イヤーループの形状を演算して求めることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の物体形状検査装置。
JP7866187A 1987-03-31 1987-03-31 物体形状検査装置 Pending JPS63243805A (ja)

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JP7866187A JPS63243805A (ja) 1987-03-31 1987-03-31 物体形状検査装置

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JPS63243805A true JPS63243805A (ja) 1988-10-11

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ID=13668043

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220115253A1 (en) * 2020-10-14 2022-04-14 Emage Equipment Pte. Ltd. Loop height measurement of overlapping bond wires

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220115253A1 (en) * 2020-10-14 2022-04-14 Emage Equipment Pte. Ltd. Loop height measurement of overlapping bond wires
US11721571B2 (en) * 2020-10-14 2023-08-08 Emage Vision Pte. Ltd. Loop height measurement of overlapping bond wires

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