JPS63243266A - スパツタリング・タ−ゲツト - Google Patents
スパツタリング・タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS63243266A JPS63243266A JP7674187A JP7674187A JPS63243266A JP S63243266 A JPS63243266 A JP S63243266A JP 7674187 A JP7674187 A JP 7674187A JP 7674187 A JP7674187 A JP 7674187A JP S63243266 A JPS63243266 A JP S63243266A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- sputtering
- film
- rare earth
- sputtering target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば磁気光学素子に用いられる重希土類金
属−鉄系合金磁性薄膜作成に用いるスパッタリング・タ
ーゲットに関するものである。
属−鉄系合金磁性薄膜作成に用いるスパッタリング・タ
ーゲットに関するものである。
従来、重希土類金属−鉄系合金薄膜の成膜には一般に真
空蒸着、スパッタリング等が用いられる、中でも、スパ
ッタリング法は他の成膜法に較べて、磁気的に優れた膜
が得られる点や、マグネトロンスパッタリング法の進歩
により量産性が著しく向上したことなどの理由で、今日
では最も広く利用されている。
空蒸着、スパッタリング等が用いられる、中でも、スパ
ッタリング法は他の成膜法に較べて、磁気的に優れた膜
が得られる点や、マグネトロンスパッタリング法の進歩
により量産性が著しく向上したことなどの理由で、今日
では最も広く利用されている。
スパッタリングにより2種以上の元素からなる合金薄膜
を作成する方法は、スパッタリング・ターゲットの構成
により次のように分類できる。
を作成する方法は、スパッタリング・ターゲットの構成
により次のように分類できる。
■複合ターゲットを用いる方法
■複数のターゲットを用いる多元同時スパッタ法■合金
ターゲットを用いる方法 複合ターゲットには、ある金属ターゲット上に異種金属
チップを配置した、いわゆるチップオンターゲットと、
母金属に異種金属を埋め込んだ埋め込みターゲットがあ
る。複合ターゲツト法は、ターゲット表面での異種元累
間の面積比を制御することによって、合金薄膜組成をコ
ントロールする方法である。したがってチップπフタ−
ゲット法ではターゲット消耗に伴いベレット面積が減少
し、膜の組成が変化してしまうので、長時間に亘っての
成膜には適していない。この欠点を改良したものが埋め
込みターゲットである。このターゲットは消耗してもタ
ーゲット上での各元素の領域の面積比がほとんど変化し
ないので、長時間戊辰を行っても一定の組成の膜を得る
ことができる。
ターゲットを用いる方法 複合ターゲットには、ある金属ターゲット上に異種金属
チップを配置した、いわゆるチップオンターゲットと、
母金属に異種金属を埋め込んだ埋め込みターゲットがあ
る。複合ターゲツト法は、ターゲット表面での異種元累
間の面積比を制御することによって、合金薄膜組成をコ
ントロールする方法である。したがってチップπフタ−
ゲット法ではターゲット消耗に伴いベレット面積が減少
し、膜の組成が変化してしまうので、長時間に亘っての
成膜には適していない。この欠点を改良したものが埋め
込みターゲットである。このターゲットは消耗してもタ
ーゲット上での各元素の領域の面積比がほとんど変化し
ないので、長時間戊辰を行っても一定の組成の膜を得る
ことができる。
ところが、複合ターゲット共通に、ターゲット表面での
各元素の配置が膜面内での組成の揺らぎに帰するという
欠点を有している。
各元素の配置が膜面内での組成の揺らぎに帰するという
欠点を有している。
■の多元同時スパッタ法は、異る材料からなる複数のタ
ーゲットに各々独立に高周波電力又はiば流電力を投入
し、基板上で合金化した膜を得る方法で、長所は投入電
力を変えることにより合金組成を容易に変え得る点にあ
る。反面、スパッタリング用電源を複数用意する必要が
あること、ターゲット間の高周波電力の干渉に対する対
策な斐するなどの欠点がある。さらに各ターゲットから
の膜堆積速度や膜厚分布が膜の組成に直接影響を与える
ため、ターゲットの消耗に伴う堆f[度、膜厚分布の変
化により、一定の組成の均一な膜を長時間に亘って得る
ことが困難である。
ーゲットに各々独立に高周波電力又はiば流電力を投入
し、基板上で合金化した膜を得る方法で、長所は投入電
力を変えることにより合金組成を容易に変え得る点にあ
る。反面、スパッタリング用電源を複数用意する必要が
あること、ターゲット間の高周波電力の干渉に対する対
策な斐するなどの欠点がある。さらに各ターゲットから
の膜堆積速度や膜厚分布が膜の組成に直接影響を与える
ため、ターゲットの消耗に伴う堆f[度、膜厚分布の変
化により、一定の組成の均一な膜を長時間に亘って得る
ことが困難である。
■の合金ターゲットは、巨視的には厚さ方向、面内方向
のいずれにおいても均一な組成のものが得られるため、
スパッタリングを多数回繰り返し行っても、これによっ
て得られた膜の組成は一定で均一なものとなる。
のいずれにおいても均一な組成のものが得られるため、
スパッタリングを多数回繰り返し行っても、これによっ
て得られた膜の組成は一定で均一なものとなる。
合金ターゲットは、その製造法から焼結ターゲット鋳造
ターゲットに分けることができる。焼結ターゲットは、
比較的大面積のものを材料によらず作ることができるが
、不純物である酸素、窒素含有量を各々2000 pp
m 以下に抑えるためには特殊な技術を要するため、純
度の高い合金薄膜を作るのには不都合である。一方、所
望の組成の溶融金属を不活性ガス中、或いは真空中で鋳
造して得られる鋳造ターゲットは含有不純物ガス濃度を
500 ppm 以下にすることが可能であり、高純度
の合金薄膜を得ることができる。
ターゲットに分けることができる。焼結ターゲットは、
比較的大面積のものを材料によらず作ることができるが
、不純物である酸素、窒素含有量を各々2000 pp
m 以下に抑えるためには特殊な技術を要するため、純
度の高い合金薄膜を作るのには不都合である。一方、所
望の組成の溶融金属を不活性ガス中、或いは真空中で鋳
造して得られる鋳造ターゲットは含有不純物ガス濃度を
500 ppm 以下にすることが可能であり、高純度
の合金薄膜を得ることができる。
以上に述べたように、合金#膜の工業的生産には、鋳造
ターゲットを用いたスパッタリング法が最も適している
。
ターゲットを用いたスパッタリング法が最も適している
。
しかし、重希土類金属と鉄は多種の金属間化合物を形成
するため、インゴットは脆く、ターゲット形状に加工す
ることはもちろん、大面積のインゴットを得ることすら
困難である。そこで本発明はこのような問題点を解決す
るもので、その目的と、するところは、大面積で加工性
の良い重希土類金属−鉄系合金を提供することにより、
高純度の合金ターゲットを供することにある。
するため、インゴットは脆く、ターゲット形状に加工す
ることはもちろん、大面積のインゴットを得ることすら
困難である。そこで本発明はこのような問題点を解決す
るもので、その目的と、するところは、大面積で加工性
の良い重希土類金属−鉄系合金を提供することにより、
高純度の合金ターゲットを供することにある。
本発明のスパッタリング・ターゲットは、スパッタリン
グ法により重希土類金属および鉄を主たる成分とする磁
性薄膜の成膜に用いるスパッタリング・ターゲットが、
軽希土類元素を成分として含有し、かつP(1、Pt
、Ag 、Auの少くとも1種以上の元素を含有する鋳
造物であることを特徴としている。
グ法により重希土類金属および鉄を主たる成分とする磁
性薄膜の成膜に用いるスパッタリング・ターゲットが、
軽希土類元素を成分として含有し、かつP(1、Pt
、Ag 、Auの少くとも1種以上の元素を含有する鋳
造物であることを特徴としている。
以下、実施例に基づいて本発明の詳細な説明する1本実
施例に用いたスパッタリング・ターゲットは特に断らな
い限りすべて、純度9 q、 cp ′%以上の高純度
金属の原料を、誘導加熱炉にて真空中で加熱・溶解した
後アルゴン雰[気で鋳造したものを、直径15 cm
、厚さ5gの円盤上に加工し、さらに銅板からなるバッ
キングプレートにインジウム系ハンダで接合し用いた。
施例に用いたスパッタリング・ターゲットは特に断らな
い限りすべて、純度9 q、 cp ′%以上の高純度
金属の原料を、誘導加熱炉にて真空中で加熱・溶解した
後アルゴン雰[気で鋳造したものを、直径15 cm
、厚さ5gの円盤上に加工し、さらに銅板からなるバッ
キングプレートにインジウム系ハンダで接合し用いた。
また以下に示す組成は、原子比である。
実施例1
組成を、(NdcDyx−x)y(]1Feo、ao0
oo、4o)too−y−z Pdzと表したとき第1
表に表す組成で合金ターゲットの製造を試みた。その結
果、本発明の実施例である試料1〜7はいずれも良好な
スパッタリング・ターゲットとすることができたが、比
較例1および2は鋳造時に、比較例3は加工時に割れた
ためスパッタリング・ターゲットとすることはできなか
った。なおPctのかわりにPt、Ag、Auを用いて
も全く同じ結果を得た。
oo、4o)too−y−z Pdzと表したとき第1
表に表す組成で合金ターゲットの製造を試みた。その結
果、本発明の実施例である試料1〜7はいずれも良好な
スパッタリング・ターゲットとすることができたが、比
較例1および2は鋳造時に、比較例3は加工時に割れた
ためスパッタリング・ターゲットとすることはできなか
った。なおPctのかわりにPt、Ag、Auを用いて
も全く同じ結果を得た。
第 1 表
実施例2
スパッタリング・ターゲットの組成を
(NdxTbx−x)zz(?eo、asOoo、ts
)ys Fds と表したとき、Xの値が(L05.
(L20.[L40.(L60゜0−80の組成で鋳造
ターゲットの製作を試みたところ、いずれの組成につい
てもスパッタリング・ターゲットとして加工することが
できた0次にこれらを用いて、初期真′空度L OX
10−’ Torr以下にチャ/バー内を排気した後、
キャリアーガスとしてArを2×10″″” Torr
導入し、350Wの高rに波電力をカソードに印加して
、ガラス基板上に50rLrrLの膜厚で成膜した。な
お保護層としてアルミニウム膜を磁性層の成膜に連続し
て1003m形成した。第1図は、こうして得た膜のカ
ーループから得た保磁力をNd置換ixでプロットした
ものである。Xが06を越えると急激に保磁力が低下し
、充分な磁気特性が得られなくなることがわかる。Pd
の代りにPt、Ag、Auを用いた場合も全く同様の結
果が得られた。
)ys Fds と表したとき、Xの値が(L05.
(L20.[L40.(L60゜0−80の組成で鋳造
ターゲットの製作を試みたところ、いずれの組成につい
てもスパッタリング・ターゲットとして加工することが
できた0次にこれらを用いて、初期真′空度L OX
10−’ Torr以下にチャ/バー内を排気した後、
キャリアーガスとしてArを2×10″″” Torr
導入し、350Wの高rに波電力をカソードに印加して
、ガラス基板上に50rLrrLの膜厚で成膜した。な
お保護層としてアルミニウム膜を磁性層の成膜に連続し
て1003m形成した。第1図は、こうして得た膜のカ
ーループから得た保磁力をNd置換ixでプロットした
ものである。Xが06を越えると急激に保磁力が低下し
、充分な磁気特性が得られなくなることがわかる。Pd
の代りにPt、Ag、Auを用いた場合も全く同様の結
果が得られた。
実施例3
スパッタリング・ターゲットの組成を
(NdO,2SGd0,25Dy0.80)!!!(?
a0.70Dy0.30)7B−z MZ(但しMはP
d、Pt、Ag、Auの各元素の1つ)と表したとき、
各Vについてz=1.5,10.15.20の組成の鋳
造ターゲットの製作を試みたところ、すべての試料をス
パッタリング・ターゲットとして使用することができた
0次に、これらのターゲットを用いて実施例2と同じ方
法でガラス基板上に成膜した。第2図はカー回転角を、
第3図は磁気異方性定数を、M添加量2に対してプロッ
トしたものである。2が15を越えるとカー回転角、磁
気異方性定数のいずれも急激に減少するため°、離性膜
としては好ましくないが、zく15での変化は許容でき
る範囲のものであり、訃しろP(1,Ptのように磁気
特性を改善するものである。
a0.70Dy0.30)7B−z MZ(但しMはP
d、Pt、Ag、Auの各元素の1つ)と表したとき、
各Vについてz=1.5,10.15.20の組成の鋳
造ターゲットの製作を試みたところ、すべての試料をス
パッタリング・ターゲットとして使用することができた
0次に、これらのターゲットを用いて実施例2と同じ方
法でガラス基板上に成膜した。第2図はカー回転角を、
第3図は磁気異方性定数を、M添加量2に対してプロッ
トしたものである。2が15を越えるとカー回転角、磁
気異方性定数のいずれも急激に減少するため°、離性膜
としては好ましくないが、zく15での変化は許容でき
る範囲のものであり、訃しろP(1,Ptのように磁気
特性を改善するものである。
実施例4
鋳造法で得た本発明のスパッタリング・ターゲットと焼
結法で碍た従来のスパッタリング・ターゲットの比較を
行った。組成はいずれも(N(io、22D70.78
)25(78G、60000.40)71 Pd4であ
る。これらのターゲットを用いて実施例2と同じスノく
ツタ条件で成膜を行った。ここでは磁性膜の膜厚を40
rLrILとし保護層には窒化シリ:l :/ (Si
3N4 )100+zmを用いた。第2表はこれらの膜
の7アラデ一回転角θF、保硼力Ha、異方性定数Ku
、さらに熱分解法で得た各ターゲットの酸素含有[0(
0)を比較して示したものである。磁気特性、磁気光学
特性のいずれも、本発明の実施例の方が優れているが、
これはターゲット中に含まれる酸素量の差に起因するも
のである。
結法で碍た従来のスパッタリング・ターゲットの比較を
行った。組成はいずれも(N(io、22D70.78
)25(78G、60000.40)71 Pd4であ
る。これらのターゲットを用いて実施例2と同じスノく
ツタ条件で成膜を行った。ここでは磁性膜の膜厚を40
rLrILとし保護層には窒化シリ:l :/ (Si
3N4 )100+zmを用いた。第2表はこれらの膜
の7アラデ一回転角θF、保硼力Ha、異方性定数Ku
、さらに熱分解法で得た各ターゲットの酸素含有[0(
0)を比較して示したものである。磁気特性、磁気光学
特性のいずれも、本発明の実施例の方が優れているが、
これはターゲット中に含まれる酸素量の差に起因するも
のである。
第2表
〔発明の効果〕
上述したように本発明によれば、重希土類−鉄系薄膜の
成膜に用いるスパッタリング・ターゲットを鋳造法で容
易に得ることができ、かつ、本発明のスパッタリング・
ターゲットは酸素量が少いため、スパッタ法で得た膜の
磁気特性が向上するという効果を有する。さらに、高価
で希少な重希土類元素を、安価で豊富な資源量を誇る軽
希土類元素で置換することができるため、原料コストを
低くすることができる。
成膜に用いるスパッタリング・ターゲットを鋳造法で容
易に得ることができ、かつ、本発明のスパッタリング・
ターゲットは酸素量が少いため、スパッタ法で得た膜の
磁気特性が向上するという効果を有する。さらに、高価
で希少な重希土類元素を、安価で豊富な資源量を誇る軽
希土類元素で置換することができるため、原料コストを
低くすることができる。
ナオ実施例で示した組合せだけでなく、N40代りにC
θ、Pr、Smを単独、或いは複数組合せて用いても上
述の効果が同様に得られること・およびGd、Tb、D
yの組合せ、Pd、Pt。
θ、Pr、Smを単独、或いは複数組合せて用いても上
述の効果が同様に得られること・およびGd、Tb、D
yの組合せ、Pd、Pt。
Ag p A uの2種以上の組合せについても同様な
効果が得られることが確認された。
効果が得られることが確認された。
第1図は本発明を説明するために
(NdXTbl−X) 22(11e0,60C!00
,40)73 F(15なる組成式で表される組成のス
パッタリング・ターゲットから作製した膜の保磁力とX
の関係を示した図。 第2図および第3図は (NdOJ5Gc10.2+1Dy(L50 >2s(
yeo、roaoo、3o ) ys−i Mz(但し
MはPd、Pt、Ag、Au)なる組成式で表された組
成のスパッタリング・ターゲットか1、(、
,40)73 F(15なる組成式で表される組成のス
パッタリング・ターゲットから作製した膜の保磁力とX
の関係を示した図。 第2図および第3図は (NdOJ5Gc10.2+1Dy(L50 >2s(
yeo、roaoo、3o ) ys−i Mz(但し
MはPd、Pt、Ag、Au)なる組成式で表された組
成のスパッタリング・ターゲットか1、(、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)スパッタリング法により重希土類金属および鉄を
主たる成分とする磁性薄膜の成膜に用いるスパッタリン
グターゲットが、軽希土類金属を成分として含有し、か
つPd、Pt、Ag、Auの少くとも1種以上の元素を
含有する鋳造物でであることを特徴とするスパッタリン
グ・ターゲット。 (2)前記重希土類金属(HR)および軽希土類金属(
LR)が各々、Gd、Tb、DyおよびCe、Pr、N
d、Smから選ばれた1種以上の元素であり、前記スパ
ッタリングターゲットの組成を、原子比で {(LR)x(HR)_1_−_x}_yA_1_0_
0_−_y_−_zM_zと表すとき(但しMはPd、
Pt、Ag、Auから選ばれた1種以上の元素、Aは鉄
を含む(LR)、(HR)、M以外の元素を表す)、x
、y、zが各々 0.05≦x≦0.60 10≦y≦50 0<z≦15 の範囲にあることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のスパッタリング・ターゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7674187A JPS63243266A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | スパツタリング・タ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7674187A JPS63243266A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | スパツタリング・タ−ゲツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63243266A true JPS63243266A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13614028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7674187A Pending JPS63243266A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | スパツタリング・タ−ゲツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63243266A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104540977A (zh) * | 2012-08-10 | 2015-04-22 | 三井金属矿业株式会社 | 烧结体以及溅射靶 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP7674187A patent/JPS63243266A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104540977A (zh) * | 2012-08-10 | 2015-04-22 | 三井金属矿业株式会社 | 烧结体以及溅射靶 |
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