JPS63241366A - 光部品 - Google Patents
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- JPS63241366A JPS63241366A JP62075530A JP7553087A JPS63241366A JP S63241366 A JPS63241366 A JP S63241366A JP 62075530 A JP62075530 A JP 62075530A JP 7553087 A JP7553087 A JP 7553087A JP S63241366 A JPS63241366 A JP S63241366A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/03—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
- G02F1/0305—Constructional arrangements
-
- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、光部品、特に光を用いた電圧センサである光
センサに関するものであり、更に詳しくは、電気光学効
果を利用した光方式電圧検出装置に関するものである。
センサに関するものであり、更に詳しくは、電気光学効
果を利用した光方式電圧検出装置に関するものである。
(背景技術)
従来から、電気光学効果を利用した光部品は、リチウム
・ナイオベート(L i N b 03)、Bi、!S
t Ozo単結晶等のポッケルス素子を電気光学素子
として用い、それに電圧印加電極を設け、それら電極に
電圧を印加することにより、かかる電気光学素子、内に
電界を発生せしめる一方、光ファイバー等により導かれ
た光を偏光子によって直線偏光せしめた後、上記電気光
学素子内で電界に応じて、位相変調を受けさせた後、検
光子によって、その位相変化が光強度変化に変えられ、
そして出射された光をフォトダイオード等で検出するよ
うになっている。
・ナイオベート(L i N b 03)、Bi、!S
t Ozo単結晶等のポッケルス素子を電気光学素子
として用い、それに電圧印加電極を設け、それら電極に
電圧を印加することにより、かかる電気光学素子、内に
電界を発生せしめる一方、光ファイバー等により導かれ
た光を偏光子によって直線偏光せしめた後、上記電気光
学素子内で電界に応じて、位相変調を受けさせた後、検
光子によって、その位相変化が光強度変化に変えられ、
そして出射された光をフォトダイオード等で検出するよ
うになっている。
しかしながら、このような電気光学効果を利用した光部
品は、上記のように電気光学素子内に生じる電界を利用
するものであるところから、電圧印加電極によって発生
した電界以外の電界、即ち外部の電界に対しても電気光
学効果を生じ、これによって検出光量が変化してしまう
といった問題を内在していたのである。
品は、上記のように電気光学素子内に生じる電界を利用
するものであるところから、電圧印加電極によって発生
した電界以外の電界、即ち外部の電界に対しても電気光
学効果を生じ、これによって検出光量が変化してしまう
といった問題を内在していたのである。
(解決課題)
ここにおいて、本発明は、かかる事情を背景として為さ
れたものであって、その目的とするところは、外部電界
の影響により特性の変化しない光部品を提供することに
ある。
れたものであって、その目的とするところは、外部電界
の影響により特性の変化しない光部品を提供することに
ある。
(解決手段)
すなわち、本発明は、かかる目的を達成するために、印
加電圧に応じて透過光を変調する電気光学素子を含む光
部品において、少なくとも該電気光学素子部分を外部電
界から遮蔽する手段を設けたことを特徴とする光部品を
、その要旨とするものである。
加電圧に応じて透過光を変調する電気光学素子を含む光
部品において、少なくとも該電気光学素子部分を外部電
界から遮蔽する手段を設けたことを特徴とする光部品を
、その要旨とするものである。
なお、かかる本発明の好ましい一実施態様によれば、前
記導電体は、電気光学素子に対する電圧印加端子の一端
に接続されたり、接地されたりされ、これによって、外
部電界がより効果的に遮蔽されることとなる。
記導電体は、電気光学素子に対する電圧印加端子の一端
に接続されたり、接地されたりされ、これによって、外
部電界がより効果的に遮蔽されることとなる。
また、本発明にあっては、前記導電体は、電気光学素子
を少なくとも収容する、密閉されたハウジングの実質的
に全面に亘って形成された導電層、例えば導電性塗料の
塗布によって形成される塗膜等にて構成されたり、電気
光学素子を少なくとも収容する、金属導体からなるケー
ス自体にて構成されることとなる。
を少なくとも収容する、密閉されたハウジングの実質的
に全面に亘って形成された導電層、例えば導電性塗料の
塗布によって形成される塗膜等にて構成されたり、電気
光学素子を少なくとも収容する、金属導体からなるケー
ス自体にて構成されることとなる。
(実施例)
以下に、本発明の幾つかの実施例を示し、本発明を更に
具体的に明らかにすることとするが、本発明がそのよう
な実施例の記載によって、何等の制約をも受けるもので
ないことは、言うまでもないところである。
具体的に明らかにすることとするが、本発明がそのよう
な実施例の記載によって、何等の制約をも受けるもので
ないことは、言うまでもないところである。
また、本発明には、以下の実施例の他にも、本発明の趣
旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づいて
種々なる変更、修正、改良等を加え得るものであって、
それらが、何れも本発明の範晴に属するものであること
が、理解されるべきである。
旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づいて
種々なる変更、修正、改良等を加え得るものであって、
それらが、何れも本発明の範晴に属するものであること
が、理解されるべきである。
先ず、第1図及び第2図には、それぞれ、反射型と透過
型の光電圧センサにおけるセンサ本体部分の構成が示さ
れ、また第3図には、光変調器の構成が示されている。
型の光電圧センサにおけるセンサ本体部分の構成が示さ
れ、また第3図には、光変調器の構成が示されている。
それらの図において、1は、光伝送路としての光ファイ
バーであって、図示されていない光源(光送信器)から
の光をセンサ本体部分に導くようになっている。そして
、この光ファイバー1を通じて導かれた光は、その先端
部に設けられたロンドレンズ2を通じて偏光子3に入射
せしめられ、ここで直線偏光とされた後、電気光学結晶
からなる電気光学素子4に導かれるのである。
バーであって、図示されていない光源(光送信器)から
の光をセンサ本体部分に導くようになっている。そして
、この光ファイバー1を通じて導かれた光は、その先端
部に設けられたロンドレンズ2を通じて偏光子3に入射
せしめられ、ここで直線偏光とされた後、電気光学結晶
からなる電気光学素子4に導かれるのである。
ところで、かかる電気光学素子4は、例えばLiNb0
s(リチウム・ナイオベート) 、L tTags
(リチウム・タンタベート)、 Bi、。
s(リチウム・ナイオベート) 、L tTags
(リチウム・タンタベート)、 Bi、。
SiO□。、Bt+□Gem、。等の単結晶からなるポ
ッケルス素子にて構成され、印加電圧に応じて透過光を
位相変調して楕円偏光とするものであって、そのような
電圧の印加のために、第1図に示される例にあっては、
電気光学素子4の光路方向に一致した対向面に所定の電
極5.5が設けられ、それら電極5.5間に、リード線
6.6を通じて測定されるべき電圧が印加せしめられる
ようになっており、また第2図に示される例にあっては
、かかる電気光学素子4の光路方向に直角な相対向する
面にそれぞれ電極5.5が設けられ、それら電極間に測
定電圧が印加せしめられるようになっているのである。
ッケルス素子にて構成され、印加電圧に応じて透過光を
位相変調して楕円偏光とするものであって、そのような
電圧の印加のために、第1図に示される例にあっては、
電気光学素子4の光路方向に一致した対向面に所定の電
極5.5が設けられ、それら電極5.5間に、リード線
6.6を通じて測定されるべき電圧が印加せしめられる
ようになっており、また第2図に示される例にあっては
、かかる電気光学素子4の光路方向に直角な相対向する
面にそれぞれ電極5.5が設けられ、それら電極間に測
定電圧が印加せしめられるようになっているのである。
また、第3図に示される例にあっては、かかる電気光学
素子4の光方向に直角に相対向する面にそれぞれ電極5
.5が設けられ、それら電極間に信号電圧が印加せしめ
られるようになっているのである。
素子4の光方向に直角に相対向する面にそれぞれ電極5
.5が設けられ、それら電極間に信号電圧が印加せしめ
られるようになっているのである。
そして、第1図に示された反射型の光電圧センサにあっ
ては、かかる電気光学素子4を通過して楕円偏光となっ
た光は、波長板(λ/4板)7を通過した後、ミラー8
にて反射され、再び波長板7、電気光学素子4を通って
、検光子を兼ねる偏光子3を通過し、その楕円率に応じ
て光量が変化せしめられ、そしてロッドレンズ2から光
ファイバー1を通じて取り出され、更に図示しない、該
光ファイバー1の途中に設けられた分岐器より取り出さ
れて、光受信器に導かれ、その光量を測定することによ
って、それに対応する被測定電圧(電気光学素子4に設
けた電極5.5に印加される電圧)が測定されるのであ
る。
ては、かかる電気光学素子4を通過して楕円偏光となっ
た光は、波長板(λ/4板)7を通過した後、ミラー8
にて反射され、再び波長板7、電気光学素子4を通って
、検光子を兼ねる偏光子3を通過し、その楕円率に応じ
て光量が変化せしめられ、そしてロッドレンズ2から光
ファイバー1を通じて取り出され、更に図示しない、該
光ファイバー1の途中に設けられた分岐器より取り出さ
れて、光受信器に導かれ、その光量を測定することによ
って、それに対応する被測定電圧(電気光学素子4に設
けた電極5.5に印加される電圧)が測定されるのであ
る。
同様に、第2図に示される透過型の光電圧センサにあっ
ては、電気光学素子4を通過して楕円偏光となった光は
、波長板7及び検光子9を通過して、その楕円率に応じ
て光量が変化せしめられた後、受光用のロッドレンズ1
0及び光ファイバー1)を通じて取り出され、図示しな
い光受信器にて、その光量が測定されることによって、
被測定電圧が求められるのである。また、第3図に示さ
れる光変調器にあっては、信号電圧の振幅に応じて透過
光の強度が変化され、図示しない光受信器によってその
光量が測定されることによって、その信号が取り出され
るのである。
ては、電気光学素子4を通過して楕円偏光となった光は
、波長板7及び検光子9を通過して、その楕円率に応じ
て光量が変化せしめられた後、受光用のロッドレンズ1
0及び光ファイバー1)を通じて取り出され、図示しな
い光受信器にて、その光量が測定されることによって、
被測定電圧が求められるのである。また、第3図に示さ
れる光変調器にあっては、信号電圧の振幅に応じて透過
光の強度が変化され、図示しない光受信器によってその
光量が測定されることによって、その信号が取り出され
るのである。
本発明は、このような第1図、第2図及び第3図に示さ
れる如き、光部品を構成する電気光学素子4に関して、
その電気光学効果(結晶に電界をかけることにより、そ
の結晶の光学特性が変化する現象)が外部電界により悪
影響を受けないように、例えば第4図乃至第8図に示さ
れる如く、少なくとも、かかる電気光学素子4部分を導
電体にて取り囲み、外部電界から遮蔽するようにしたの
である。
れる如き、光部品を構成する電気光学素子4に関して、
その電気光学効果(結晶に電界をかけることにより、そ
の結晶の光学特性が変化する現象)が外部電界により悪
影響を受けないように、例えば第4図乃至第8図に示さ
れる如く、少なくとも、かかる電気光学素子4部分を導
電体にて取り囲み、外部電界から遮蔽するようにしたの
である。
因みに、第4図に示される本発明に従う実施例にあって
は、第1図に示される反射型の光電圧センサにおけるセ
ンサ本体部分12(ロッドレンズ2、検光子兼偏光子3
、電気光学素子4、波長板7及びミラー8を含む)が、
銅板等の導電性の金属板からなる、導電体としての金属
製ケース13内に密閉された状態で収容されており、ま
たこの金属製ケース13が、外部電圧を、センサ本体部
分を構成する電気光学素子4の電極5に導くリード線6
に電気的に接続されている。
は、第1図に示される反射型の光電圧センサにおけるセ
ンサ本体部分12(ロッドレンズ2、検光子兼偏光子3
、電気光学素子4、波長板7及びミラー8を含む)が、
銅板等の導電性の金属板からなる、導電体としての金属
製ケース13内に密閉された状態で収容されており、ま
たこの金属製ケース13が、外部電圧を、センサ本体部
分を構成する電気光学素子4の電極5に導くリード線6
に電気的に接続されている。
また、第5図に示される例においては、第1図に示され
る如き、反射型の光電圧センサのセンサ本体部分を収容
する、密閉されたハウジング14の表面が、実質的に全
面に亘って形成された導電層(導電体)15にて覆われ
、外部電界から電気的に遮蔽されるようになっている。
る如き、反射型の光電圧センサのセンサ本体部分を収容
する、密閉されたハウジング14の表面が、実質的に全
面に亘って形成された導電層(導電体)15にて覆われ
、外部電界から電気的に遮蔽されるようになっている。
なお、この導電層15は、ハウジング14の表面に、金
属粉末や炭素粉末等の導電性物質を公知の方法にて所定
厚さに付着せしめたり、金属箔等の導電板を張り付けた
り、或いはメッキを施したすすること等によって形成さ
れるが、一般に前記導電性物質を混入せしめた導電性塗
料の塗布によって塗膜を形成することにより、目的とす
る導電層15が有利に形成されることとなるのである。
属粉末や炭素粉末等の導電性物質を公知の方法にて所定
厚さに付着せしめたり、金属箔等の導電板を張り付けた
り、或いはメッキを施したすすること等によって形成さ
れるが、一般に前記導電性物質を混入せしめた導電性塗
料の塗布によって塗膜を形成することにより、目的とす
る導電層15が有利に形成されることとなるのである。
そして、このような導電層15は、また、ハウジング1
4内に収容される電気光学素子4に対して電圧を印加せ
しめるためのリード線6に対して電気的に接続されてい
るのである。
4内に収容される電気光学素子4に対して電圧を印加せ
しめるためのリード線6に対して電気的に接続されてい
るのである。
さらに、第6図に示される例にあっては、第2図に示さ
れる如き透過型の光電圧センサに対して本発明が適用さ
れたものであって、そこにおいては、上記第5図の例と
同様に、光電圧センサにおけるセンサ本体部分(ロッド
レンズ2、偏光子3、電気光学素子4、波長板7、検光
子9及び受光側ロッドレンズ10を含む)を収容する、
密閉されたハウジング14の全表面に亘って、導電体と
しての導電層15が設けられており、またこの導電層1
5は、前例と同様に、リード線6の一つに電気的に接続
されているのである。
れる如き透過型の光電圧センサに対して本発明が適用さ
れたものであって、そこにおいては、上記第5図の例と
同様に、光電圧センサにおけるセンサ本体部分(ロッド
レンズ2、偏光子3、電気光学素子4、波長板7、検光
子9及び受光側ロッドレンズ10を含む)を収容する、
密閉されたハウジング14の全表面に亘って、導電体と
しての導電層15が設けられており、またこの導電層1
5は、前例と同様に、リード線6の一つに電気的に接続
されているのである。
なお、これらの実施例では、何れも、光電圧センサにお
けるセンサ本体部分(12)の全ての構成要素が、導電
性のケース13や導電層15を設けたハウジング14内
に収容され、外部電界から遮蔽された構造となっている
が、本発明では、かかるセンサ本体部分(12)を構成
する電気光学素子4部分が、少なくとも、そのような導
電体にて囲まれて、外部電界から遮蔽された構造であれ
ば、如何なる構造であっても良いのである。
けるセンサ本体部分(12)の全ての構成要素が、導電
性のケース13や導電層15を設けたハウジング14内
に収容され、外部電界から遮蔽された構造となっている
が、本発明では、かかるセンサ本体部分(12)を構成
する電気光学素子4部分が、少なくとも、そのような導
電体にて囲まれて、外部電界から遮蔽された構造であれ
ば、如何なる構造であっても良いのである。
そして、このように、光部品の少なくとも電気光学素子
4部分を導電体によって外部電界から遮蔽することによ
って、かかる電気光学素子4における電気光学効果は、
電圧印加電極5.5によって発生せしめられる電界のみ
によって生じることとなり、以てそのような電気光学効
果に基づいて、正確な測定電圧或いは信号電圧を検出し
得ることとなったのである。
4部分を導電体によって外部電界から遮蔽することによ
って、かかる電気光学素子4における電気光学効果は、
電圧印加電極5.5によって発生せしめられる電界のみ
によって生じることとなり、以てそのような電気光学効
果に基づいて、正確な測定電圧或いは信号電圧を検出し
得ることとなったのである。
なお、上記の第4図乃至第6図に示された実施例にあっ
ては、それぞれの導電体(13,15)が電圧印加端子
(6)の一端に接続されているが、これに代えて、第7
図や第8図に示されている如く、そのような導電体(1
3,15)を接地することも有利に実施され、このよう
な電圧印加端子(6)の一端に対する接続や接地によっ
て、外部電界の遮蔽効果をより効果的に奏せしめ得るの
である。
ては、それぞれの導電体(13,15)が電圧印加端子
(6)の一端に接続されているが、これに代えて、第7
図や第8図に示されている如く、そのような導電体(1
3,15)を接地することも有利に実施され、このよう
な電圧印加端子(6)の一端に対する接続や接地によっ
て、外部電界の遮蔽効果をより効果的に奏せしめ得るの
である。
ところで、上記した本発明の効果は、例示の装置を用い
て行なった試験の結果からも、明らかなところである。
て行なった試験の結果からも、明らかなところである。
試験例 1
電気光学素子(4)として、Z軸が光路方向と一致し、
且つかかる光路と平行になる4 *x X 5 n+面
に電極(5)を設けた2龍x4gx5.の大きさのLi
Nb0+単結晶を用いて、第1図に示される反射型の光
電圧センサを作製した。なお、この光電圧センサのセン
サ本体部分から取り出される透過光は、図示しないフォ
トダイオードで受光し、そしてそのフォトダイオード出
力を電圧に直した後、直流成分と交流成分とに分け、更
に交流成分を直流成分で除算した後、検出器出力とする
ような演算回路を用い、伝送損失等の影響がなくなるよ
うにした。また、このセンサに50v、60Hzの交流
信号を印加したときの検出器出力は、500mVであっ
た。
且つかかる光路と平行になる4 *x X 5 n+面
に電極(5)を設けた2龍x4gx5.の大きさのLi
Nb0+単結晶を用いて、第1図に示される反射型の光
電圧センサを作製した。なお、この光電圧センサのセン
サ本体部分から取り出される透過光は、図示しないフォ
トダイオードで受光し、そしてそのフォトダイオード出
力を電圧に直した後、直流成分と交流成分とに分け、更
に交流成分を直流成分で除算した後、検出器出力とする
ような演算回路を用い、伝送損失等の影響がなくなるよ
うにした。また、このセンサに50v、60Hzの交流
信号を印加したときの検出器出力は、500mVであっ
た。
この状態において、電極(5)面及び光路に対し垂直な
方向に、外部から静電界を加えたとき、検出器出力は下
記第1表のようになった。
方向に、外部から静電界を加えたとき、検出器出力は下
記第1表のようになった。
第1表
一方、かかるセンサを、第3図に示されるように、シー
ルドした。即ち、そのようなセンサのセンサ本体部分(
12)を100μ厚の銅板からなるケース(13)内に
密封し、また電圧印加端子(6)の一方を該ケースを構
成する銅板に接続して、センサに50V、60Hzの交
流信号を印加した上、上記の如き各種の静電界を加えた
ところ、検出器の出力変化は何等認められなかった。
ルドした。即ち、そのようなセンサのセンサ本体部分(
12)を100μ厚の銅板からなるケース(13)内に
密封し、また電圧印加端子(6)の一方を該ケースを構
成する銅板に接続して、センサに50V、60Hzの交
流信号を印加した上、上記の如き各種の静電界を加えた
ところ、検出器の出力変化は何等認められなかった。
また、上記の如き銅板によるシールドに代えて、第4図
に示される如く、センサパッケージ(ハウジング14)
に銀混入導電性エポキシ樹脂を所定厚さに塗布して、導
電層(15)を形成した状態下において、センサに50
V、60Hzの交流信号を印加せしめ、更に上記と同様
にして、各種の静電界を作用せしめたところ、検出器の
出力変化は何等認められなかった。
に示される如く、センサパッケージ(ハウジング14)
に銀混入導電性エポキシ樹脂を所定厚さに塗布して、導
電層(15)を形成した状態下において、センサに50
V、60Hzの交流信号を印加せしめ、更に上記と同様
にして、各種の静電界を作用せしめたところ、検出器の
出力変化は何等認められなかった。
試験例 2
電気光学素子(4)として、4n×7龍x5゜の大きさ
を有し、光路と垂直な7 *m X 5 璽mの面に透
明電極(5,5)を設けたBi、□Sin、。結晶を用
い、第2図に示される光電圧センサを作製した。また、
検出回路は、試験例1と同じ構成のものを用いた。そし
て、この電圧センサに100V、60Hzの交流信号を
印加したところ、検出器出力は1.50 Vであった。
を有し、光路と垂直な7 *m X 5 璽mの面に透
明電極(5,5)を設けたBi、□Sin、。結晶を用
い、第2図に示される光電圧センサを作製した。また、
検出回路は、試験例1と同じ構成のものを用いた。そし
て、この電圧センサに100V、60Hzの交流信号を
印加したところ、検出器出力は1.50 Vであった。
かかる状態において、電極(5)面に垂直で、光路に平
行に外部から静電界を加えたところ、検出器出力は、下
記第2表のようになった。
行に外部から静電界を加えたところ、検出器出力は、下
記第2表のようになった。
第2表
一方、かかる光電圧センサを、第5図に示される如く、
シールドした。なお、ここでは、導電層(15)の形成
されたハウジング(14)に代えて、100μ厚の銅板
からなる密閉可能なケース(13)を用い、その中にセ
ンサ本体部分を収容すると共に、そのようなケースと電
圧印加端子(6)の一端とを電気的に接続せしめた。
シールドした。なお、ここでは、導電層(15)の形成
されたハウジング(14)に代えて、100μ厚の銅板
からなる密閉可能なケース(13)を用い、その中にセ
ンサ本体部分を収容すると共に、そのようなケースと電
圧印加端子(6)の一端とを電気的に接続せしめた。
そして、そのような状態下において、上記と同様にして
各種の静電界を加えたところ、かかる静電界による検出
器出力の変化を認めることが出来なかった。
各種の静電界を加えたところ、かかる静電界による検出
器出力の変化を認めることが出来なかった。
(発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明は、光部品を構
成する少なくとも電気光学素子部分を、所定の導電体に
より、外部電界からシールドするようにしたものであっ
て、これにより、静電気等の外部電界に影響されること
なく、測定電圧或いは信号電圧を高精度に測定すること
が可能となったものであり、そこに、本発明の大きな工
業的意義が存するのである。
成する少なくとも電気光学素子部分を、所定の導電体に
より、外部電界からシールドするようにしたものであっ
て、これにより、静電気等の外部電界に影響されること
なく、測定電圧或いは信号電圧を高精度に測定すること
が可能となったものであり、そこに、本発明の大きな工
業的意義が存するのである。
第1図及び第2図は、それぞれ、光電圧センサのセンサ
本体部分を示す構成図であり、第3図は光変調器の構成
を示す説明図であり、また第4図乃至第8図は、それぞ
れ、本発明に従う光電圧センサの異なる構成の例を示す
説明図である。 1:光ファイバー 2:ロソドレンズ3:偏光子
4:電気光学素子5:電圧印加電極 6
:リード線 7:波長板 8:ミラー 9:検光子 10:受光側ロッドレンズ 1):受光側光ファイバー
本体部分を示す構成図であり、第3図は光変調器の構成
を示す説明図であり、また第4図乃至第8図は、それぞ
れ、本発明に従う光電圧センサの異なる構成の例を示す
説明図である。 1:光ファイバー 2:ロソドレンズ3:偏光子
4:電気光学素子5:電圧印加電極 6
:リード線 7:波長板 8:ミラー 9:検光子 10:受光側ロッドレンズ 1):受光側光ファイバー
Claims (9)
- (1)印加電圧に応じて透過光を変調する電気光学素子
を含む光部品において、少なくとも該電気光学素子部分
を外部電界から遮蔽する手段を設けたことを特徴とする
光部品。 - (2)前記手段が、導電体で遮蔽した特許請求の範囲第
1項記載の光部品。 - (3)前記導電体が、前記電気光学素子に対する電圧印
加端子の一端に接続されている特許請求の範囲第2項記
載の光部品。 - (4)前記導電体が、接地されている特許請求の範囲第
2項記載の光部品。 - (5)前記導電体が、前記電気光学素子を少なくとも収
容する、密閉されたハウジングに形成された導電層にて
構成される特許請求の範囲第2項乃至第4項の何れかに
記載の光部品。 - (6)前記導電層が、導電性塗料の塗布によって形成さ
れた塗膜である特許請求の範囲第5項記載の光部品。 - (7)前記導電体が、前記電気光学素子を少なくとも収
容する、金属導体からなるケースにて構成される特許請
求の範囲2項乃至第4項の何れかに記載の光部品。 - (8)前記光部品が、光センサの一部を構成する特許請
求の範囲第1項乃至第7項の何れかに記載の光部品。 - (9)前記光部品が、光変調器の一部を構成する特許請
求の範囲第1項乃至第7項の何れかに記載の光部品。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62075530A JPH0721512B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 光センサ用光部品 |
EP88302722A EP0285348A1 (en) | 1987-03-27 | 1988-03-28 | Optical unit having means for electrically shielding electrooptical element |
US07/433,457 US5083221A (en) | 1987-03-27 | 1989-11-09 | Optical unit having means for electrically shielding electrooptical |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62075530A JPH0721512B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 光センサ用光部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63241366A true JPS63241366A (ja) | 1988-10-06 |
JPH0721512B2 JPH0721512B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=13578868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62075530A Expired - Lifetime JPH0721512B2 (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 光センサ用光部品 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5083221A (ja) |
EP (1) | EP0285348A1 (ja) |
JP (1) | JPH0721512B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995002191A1 (fr) * | 1993-07-07 | 1995-01-19 | Tokin Corporation | Capteur optique de champ electrique |
JP2002340953A (ja) * | 2001-05-16 | 2002-11-27 | Nec Tokin Corp | 電界センサ |
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US5892357A (en) * | 1995-12-08 | 1999-04-06 | Lockheed Martin Idaho Technologies Company | Electro-optic voltage sensor for sensing voltage in an E-field |
US5939711A (en) * | 1995-12-11 | 1999-08-17 | Lockheed Martin Idaho Technologies Company | Electro-optic voltage sensor head |
US5805329A (en) * | 1996-04-10 | 1998-09-08 | The Regents Of The University Of California | Minimizing radiation damage in nonlinear optical crystals |
US6211991B1 (en) * | 1998-06-16 | 2001-04-03 | Photon Dynamics, Inc. | Modulator manufacturing process and device |
US6151153A (en) * | 1998-06-16 | 2000-11-21 | Photon Dynamics, Inc. | Modulator transfer process and assembly |
US6388434B1 (en) | 2000-01-17 | 2002-05-14 | Bechtel Bwxt Idaho, Llc | Electro-optic high voltage sensor |
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JPS62293168A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光方式電圧センサ |
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US3823998A (en) * | 1972-06-01 | 1974-07-16 | Sanyo Electric Co | Light valve |
DE2737499C3 (de) * | 1977-08-19 | 1981-10-22 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen | Faseroptisches Schaltungselement |
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US4428873A (en) * | 1980-08-30 | 1984-01-31 | Kureha Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Electrooptical element |
JPS5897669A (ja) * | 1981-12-07 | 1983-06-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 磁界−光変換器 |
JPS58109859A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-06-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光による電圧・電界測定器 |
JPS612371A (ja) * | 1984-06-14 | 1986-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体受光装置 |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP62075530A patent/JPH0721512B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-28 EP EP88302722A patent/EP0285348A1/en not_active Ceased
-
1989
- 1989-11-09 US US07/433,457 patent/US5083221A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
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JPS62293168A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光方式電圧センサ |
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JP2002340953A (ja) * | 2001-05-16 | 2002-11-27 | Nec Tokin Corp | 電界センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5083221A (en) | 1992-01-21 |
JPH0721512B2 (ja) | 1995-03-08 |
EP0285348A1 (en) | 1988-10-05 |
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