JPS63238487A - ポジトロンｃｔ装置 - Google Patents
ポジトロンｃｔ装置Info
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- JPS63238487A JPS63238487A JP7263087A JP7263087A JPS63238487A JP S63238487 A JPS63238487 A JP S63238487A JP 7263087 A JP7263087 A JP 7263087A JP 7263087 A JP7263087 A JP 7263087A JP S63238487 A JPS63238487 A JP S63238487A
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- Japan
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- rings
- ring
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- Granted
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 20
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 abstract 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000941 radioactive substance Substances 0.000 description 1
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、ポジトロン放出性核種を被検者の体内に投
与し、その分布状態を表す断層像を得るポジトロンＣＴ
装置の改良に関する。
与し、その分布状態を表す断層像を得るポジトロンＣＴ
装置の改良に関する。
【従来の技術１
ポジトロンＣＴ装置では、被検者のある断面上において
体内から周囲に放射される放射線を検出し、収集したデ
ータを画像再構成処理することによってその断面におけ
る放射性物質の分布画像を再構成するため、被検者の周
囲３６０°において放射線を検出する必要があり、その
ため、多数の放射線検出器をリング型に配置してなる検
出器リングを用いる。 このような検出器リングを用いるポジトロンＣＴ装置に
あっては、画像の空間分解能が検出器リングを形成する
各検出器の大きさく配列密度）により制約される。すな
わ′ち、第５図に示すようにこの検出器リングにおける
各検出器５の円周方向の幅をＤとすると、対向する検出
器５間での同時計数により得なデータは図の実線上に放
射性物質が位置しているということを表すものであるか
ら、中心部分でＤ／２のサンプリング間隔ということに
なって、それ以上にサンプリング間隔を細かくできない
。 そのため、サンプリング間隔をより細かくして画（象の
空間分解能を向上させるため、従来より、いわゆるつオ
ブル（ｗｏｂｂｌｅ、ゆすり運動）が行われている。こ
れは、検出器リングの全体を被検体に対して小さな半径
の回転運動をさせて被検体に対する各検出器の位置を相
対的に往復移動させ、その回転運動のある角度毎にサン
プリングを行うことによりサンプリング位置を増やし、
サンプリング間隔を細かくするというものである。 【発明が解決しようとする問題点】 しかし、上記のようなウォブルでは、機械的に検出器リ
ングを運動させる機構が必要である上に記憶容量の大き
なメモリが必要となり、また、サンプリング間隔が不均
一になるのでその等間隔化のためなどに複雑な演算処理
が必要となる。 この発明は、機械的な運動機構などが不要で、しかも複
雑な演算処理の必要もなく、画像の空間分解能を高める
ことができる、ポジートロンＣＴ装置を提供することを
目的とする。
体内から周囲に放射される放射線を検出し、収集したデ
ータを画像再構成処理することによってその断面におけ
る放射性物質の分布画像を再構成するため、被検者の周
囲３６０°において放射線を検出する必要があり、その
ため、多数の放射線検出器をリング型に配置してなる検
出器リングを用いる。 このような検出器リングを用いるポジトロンＣＴ装置に
あっては、画像の空間分解能が検出器リングを形成する
各検出器の大きさく配列密度）により制約される。すな
わ′ち、第５図に示すようにこの検出器リングにおける
各検出器５の円周方向の幅をＤとすると、対向する検出
器５間での同時計数により得なデータは図の実線上に放
射性物質が位置しているということを表すものであるか
ら、中心部分でＤ／２のサンプリング間隔ということに
なって、それ以上にサンプリング間隔を細かくできない
。 そのため、サンプリング間隔をより細かくして画（象の
空間分解能を向上させるため、従来より、いわゆるつオ
ブル（ｗｏｂｂｌｅ、ゆすり運動）が行われている。こ
れは、検出器リングの全体を被検体に対して小さな半径
の回転運動をさせて被検体に対する各検出器の位置を相
対的に往復移動させ、その回転運動のある角度毎にサン
プリングを行うことによりサンプリング位置を増やし、
サンプリング間隔を細かくするというものである。 【発明が解決しようとする問題点】 しかし、上記のようなウォブルでは、機械的に検出器リ
ングを運動させる機構が必要である上に記憶容量の大き
なメモリが必要となり、また、サンプリング間隔が不均
一になるのでその等間隔化のためなどに複雑な演算処理
が必要となる。 この発明は、機械的な運動機構などが不要で、しかも複
雑な演算処理の必要もなく、画像の空間分解能を高める
ことができる、ポジートロンＣＴ装置を提供することを
目的とする。
【問題点を解決するための手段】
この発明によるポジトロンＣＴ装置では、多数の放射線
検出器をリング型、に配列してなる検出器リングを複数
個積層するとともに、各検出器の円周方向位置が検出器
リング毎にずれるように配置したことが特徴となってい
る。
検出器をリング型、に配列してなる検出器リングを複数
個積層するとともに、各検出器の円周方向位置が検出器
リング毎にずれるように配置したことが特徴となってい
る。
ポジトロンが消滅するとき、１８０°方向に２つのγ線
を放出するので、検出器リングの２つの検出器にγ線が
同時入射したことを検出すれば、その同時入射した２つ
の検出器を結ぶ線上に核種が存在していることが分かり
、放射性物質の位置に関するデータが得られる。１つの
検出器リングによりこのデータを収集したとすれば、デ
ータのサンプリング間隔は上に説明したよ・うにＤ／２
（Ｄは検出器の円周方向の幅）である。ところが、上記
のように検出器の円周方向位置がずれた２つの検出器リ
ングを用いてデータ収集すれば、スライス面内でのサン
プリング間隔を細かくすることができる。 すなわち、１つの検出器リングにおける検出器の位置と
もう１つの検出器リングにおける検出器の位置とを、た
とえばＤ／２だけ円周方向にずらしたとすると、この２
つの検出器リング間での同時計数を求めれば、サンプリ
ング間隔をＤ／４にすることができる。このようにして
求めたデータは、一方の検出器リングだけで求めたデー
タに対して、検出器リングの積層方向（スライス厚さ方
向）に、Ｌ／２（Ｌは検出器のスライス厚さ方向の幅）
だけ異なった位置のものであるため、まず一方の検出器
リングでデータ収集した後、被検体に対して２つの検出
器リングをスライス厚さ方向にＬ／２だけ移動させて２
つの検出器リング間で。 の同時計数によるデータを収集する。こうすれば、この
スライス厚さ方向での位置ずれが避けられ、同一スライ
ス厚さ方向位置のスライス面に関するサンプリング密度
の高いデータを収集することができ、このスライス面に
関する画像の空間分解能を向上させることができる。
を放出するので、検出器リングの２つの検出器にγ線が
同時入射したことを検出すれば、その同時入射した２つ
の検出器を結ぶ線上に核種が存在していることが分かり
、放射性物質の位置に関するデータが得られる。１つの
検出器リングによりこのデータを収集したとすれば、デ
ータのサンプリング間隔は上に説明したよ・うにＤ／２
（Ｄは検出器の円周方向の幅）である。ところが、上記
のように検出器の円周方向位置がずれた２つの検出器リ
ングを用いてデータ収集すれば、スライス面内でのサン
プリング間隔を細かくすることができる。 すなわち、１つの検出器リングにおける検出器の位置と
もう１つの検出器リングにおける検出器の位置とを、た
とえばＤ／２だけ円周方向にずらしたとすると、この２
つの検出器リング間での同時計数を求めれば、サンプリ
ング間隔をＤ／４にすることができる。このようにして
求めたデータは、一方の検出器リングだけで求めたデー
タに対して、検出器リングの積層方向（スライス厚さ方
向）に、Ｌ／２（Ｌは検出器のスライス厚さ方向の幅）
だけ異なった位置のものであるため、まず一方の検出器
リングでデータ収集した後、被検体に対して２つの検出
器リングをスライス厚さ方向にＬ／２だけ移動させて２
つの検出器リング間で。 の同時計数によるデータを収集する。こうすれば、この
スライス厚さ方向での位置ずれが避けられ、同一スライ
ス厚さ方向位置のスライス面に関するサンプリング密度
の高いデータを収集することができ、このスライス面に
関する画像の空間分解能を向上させることができる。
検出器リングが４層に積層されている実施例について説
明することにする。第１図において、４層に積層されて
いる検出器リング１〜４の各々は、検出器５を多数リン
グ型に配列したものからなる。 ここで、説明の便宜のため、検出器リング１〜４の積層
方向をＺ方向、２方向と直角な方向をＸ方向、Ｙ方向と
する。すなわち、検出器リング１〜４の各々はＸ−Ｙ平
面に平行に配置されており、断層像が作られるスライス
面はこのＸ−Ｙ平面に平行となり、Ｚ方向がスライス厚
さ方向となる。 通常、このＺ方向が被検体の体軸方向となる。また、説
明の便宜のため、１つの検出器５の円周方向の幅をり、
Ｚ方向の幅をＬとする。 まず、これら４つの検出器リング１〜４のそれぞれに属
する検出器５の間での同時計数データを収集する。する
と、この各データは第２図Ａに示すように、それぞれ検
出器リング１〜４のＺ方向位置Ｚｌ、Ｚ２．Ｚ３．Ｚ４
に対応しているスライス面に関するものとなる。 つぎに検出器リング１〜４に対して被検体を乗せたベッ
ドを移動させるか逆に検出器リング１〜４の方を移動さ
せて、検出器リング１〜４の被検体に対するＺ方向位置
を第２図Ａの矢印に示すようにＬ／２だけ動かす。する
と、位置関係は第２図Ｂのようになる。この状態のとき
、隣接する検出器リング１と２．２と３．３と４の間で
同時計数データを収集する。すると、中心位置では、先
と同じＺ方向位置Ｚｌ、Ｚ２等でのデータが収集できる
。 第２図Ａ、Ｂの各場合に得られるデータはＸ−Ｙ平面方
向ではどのようなものであるかを第３図を参照しながら
考えてみる。ここでは、Ｚｌで収集されたデータに限っ
て考える。第２図Ａの場合は、Ｚｌに関しては検出器リ
ング１でデータを得ることになるので、実線で描かれた
検出器５の間を結ぶ第３図の実線のようなものとなる。 これに対して、第２図Ｂの場合は、検出器リング１と２
との間の同時計数が求められるので、実線で描かれた検
出器リング１の検出器５と点線で描かれた検出器リング
２の検出器５との間を結ぶ点線で示した方向・位置を表
すデータが得られる。後者の場合、検出器リングｌの検
出器５の位置と検出器リング２の検出器５の位置とは、
円周方向にＤ／２だけずれていることに着目すれば、中
心付近において、データサンプリング位置が点線と実線
とでＤ／４の間隔となっていることが分かる。 これらのデータは上記したようにいずれもＺ方向のＺｌ
に位置するスライス面に関して得たものであるから、結
局、同一のスライス面に関して細かなサンプリング間隔
のデータが得られたことになり、ナイキストのサンプリ
ング定理からサンプリング間隔をＤ／４にしたことによ
り検出器５の固有分解能Ｄ／２が実現できたことになる
。 そしてこれらのデータはＺｌに位置する１つのスライス
面に関して収集するだけでよいので、１つのスライス面
に対応するデータ収集メモリに蓄えていけばよく、メモ
リを大きくする必要はない。 第４図は検出器リング１〜４を被検体に対し、Ｚ方向に
Ｌ／４ずつ移動させて、その各々の位置でデータ収集す
る場合を示すものである。この場合は、同一検出器リン
グ内での同時計数データ（実線）も、隣接する検出器リ
ング間での同時計数データ（点線）もＺ方向にはＬ／４
の間隔で得られ、ある実線のデータと、これとＬ／２だ
け離れた点線のデータとを同一スライス面に関するデー
タとして収集すれば、第３図で説明したと同じにスライ
ス面内ではサンプリング間隔がＤ／４となったデータを
得ることができる。したがって、スライス面内方向にサ
ンプリング間隔を細かくするとともに、スライス面に直
角な方向にもサンプリング間隔を細かくしてデータ収集
することができる。そのため、Ｚ方向に平行な面、たと
えば、サジタル面、コロナル面の空間分解能の高い画像
を得ることができるなど、３次元的に画像作成する際に
サンプリング間隔が１つの方向で粗いことによる不都合
を避けることができる。 なお、上記では検出器リングは円周方向に連続のものと
して説明したが、必ずしも連続でなくてもよく、ブロッ
クに分割されたようなものでもよい。
明することにする。第１図において、４層に積層されて
いる検出器リング１〜４の各々は、検出器５を多数リン
グ型に配列したものからなる。 ここで、説明の便宜のため、検出器リング１〜４の積層
方向をＺ方向、２方向と直角な方向をＸ方向、Ｙ方向と
する。すなわち、検出器リング１〜４の各々はＸ−Ｙ平
面に平行に配置されており、断層像が作られるスライス
面はこのＸ−Ｙ平面に平行となり、Ｚ方向がスライス厚
さ方向となる。 通常、このＺ方向が被検体の体軸方向となる。また、説
明の便宜のため、１つの検出器５の円周方向の幅をり、
Ｚ方向の幅をＬとする。 まず、これら４つの検出器リング１〜４のそれぞれに属
する検出器５の間での同時計数データを収集する。する
と、この各データは第２図Ａに示すように、それぞれ検
出器リング１〜４のＺ方向位置Ｚｌ、Ｚ２．Ｚ３．Ｚ４
に対応しているスライス面に関するものとなる。 つぎに検出器リング１〜４に対して被検体を乗せたベッ
ドを移動させるか逆に検出器リング１〜４の方を移動さ
せて、検出器リング１〜４の被検体に対するＺ方向位置
を第２図Ａの矢印に示すようにＬ／２だけ動かす。する
と、位置関係は第２図Ｂのようになる。この状態のとき
、隣接する検出器リング１と２．２と３．３と４の間で
同時計数データを収集する。すると、中心位置では、先
と同じＺ方向位置Ｚｌ、Ｚ２等でのデータが収集できる
。 第２図Ａ、Ｂの各場合に得られるデータはＸ−Ｙ平面方
向ではどのようなものであるかを第３図を参照しながら
考えてみる。ここでは、Ｚｌで収集されたデータに限っ
て考える。第２図Ａの場合は、Ｚｌに関しては検出器リ
ング１でデータを得ることになるので、実線で描かれた
検出器５の間を結ぶ第３図の実線のようなものとなる。 これに対して、第２図Ｂの場合は、検出器リング１と２
との間の同時計数が求められるので、実線で描かれた検
出器リング１の検出器５と点線で描かれた検出器リング
２の検出器５との間を結ぶ点線で示した方向・位置を表
すデータが得られる。後者の場合、検出器リングｌの検
出器５の位置と検出器リング２の検出器５の位置とは、
円周方向にＤ／２だけずれていることに着目すれば、中
心付近において、データサンプリング位置が点線と実線
とでＤ／４の間隔となっていることが分かる。 これらのデータは上記したようにいずれもＺ方向のＺｌ
に位置するスライス面に関して得たものであるから、結
局、同一のスライス面に関して細かなサンプリング間隔
のデータが得られたことになり、ナイキストのサンプリ
ング定理からサンプリング間隔をＤ／４にしたことによ
り検出器５の固有分解能Ｄ／２が実現できたことになる
。 そしてこれらのデータはＺｌに位置する１つのスライス
面に関して収集するだけでよいので、１つのスライス面
に対応するデータ収集メモリに蓄えていけばよく、メモ
リを大きくする必要はない。 第４図は検出器リング１〜４を被検体に対し、Ｚ方向に
Ｌ／４ずつ移動させて、その各々の位置でデータ収集す
る場合を示すものである。この場合は、同一検出器リン
グ内での同時計数データ（実線）も、隣接する検出器リ
ング間での同時計数データ（点線）もＺ方向にはＬ／４
の間隔で得られ、ある実線のデータと、これとＬ／２だ
け離れた点線のデータとを同一スライス面に関するデー
タとして収集すれば、第３図で説明したと同じにスライ
ス面内ではサンプリング間隔がＤ／４となったデータを
得ることができる。したがって、スライス面内方向にサ
ンプリング間隔を細かくするとともに、スライス面に直
角な方向にもサンプリング間隔を細かくしてデータ収集
することができる。そのため、Ｚ方向に平行な面、たと
えば、サジタル面、コロナル面の空間分解能の高い画像
を得ることができるなど、３次元的に画像作成する際に
サンプリング間隔が１つの方向で粗いことによる不都合
を避けることができる。 なお、上記では検出器リングは円周方向に連続のものと
して説明したが、必ずしも連続でなくてもよく、ブロッ
クに分割されたようなものでもよい。
この発明のポジトロンＣＴ装置によれば、きわめて簡単
な構成によりスライス面内でのデータサンプリング間隔
を細かくできる。データ集収用のメモリも少なくできる
とともにサンプリング間隔が均等であるため複雑な演算
処理も不要である。 また、スライス厚さ方向でのサンプリング間隔を細かく
することも容易であるから、３次元的な画像作成やサジ
タル像やコロナル像などの作成に効果が大である。
な構成によりスライス面内でのデータサンプリング間隔
を細かくできる。データ集収用のメモリも少なくできる
とともにサンプリング間隔が均等であるため複雑な演算
処理も不要である。 また、スライス厚さ方向でのサンプリング間隔を細かく
することも容易であるから、３次元的な画像作成やサジ
タル像やコロナル像などの作成に効果が大である。
Claims (2)
- （１）多数の放射線検出器をリング型に配列してなる、
複数個の積層された検出器リングを有し、各検出器リン
グの検出器の円周方向配列位置が、各検出器リング毎に
ずれていることを特徴とするポジトロンＣＴ装置。 - （２）上記の検出器配列位置のずれ量は各検出器の円周
方向の幅の１／２であることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のポジトロンＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62072630A JP2550978B2 (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 | ポジトロンｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62072630A JP2550978B2 (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 | ポジトロンｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63238487A true JPS63238487A (ja) | 1988-10-04 |
| JP2550978B2 JP2550978B2 (ja) | 1996-11-06 |
Family
ID=13494896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62072630A Expired - Lifetime JP2550978B2 (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 | ポジトロンｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2550978B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07253470A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Hamamatsu Photonics Kk | ポジトロンエミッションｃｔ装置 |
| JP2010197095A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Shimadzu Corp | 放射線断層撮影装置 |
| JP2012098273A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Toshiba Corp | ガンマ線検出システム、ポジトロン放射断層撮影（ｐｅｔ）システム及び非一時的コンピュータ可読記憶媒体 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636065A (en) * | 1979-08-27 | 1981-04-09 | Thompson Christopher John | Position disappearance emission type image piackup device |
| JPS5636064A (en) * | 1979-08-27 | 1981-04-09 | Thompson Christopher John | Position disappearance emission type image piackup device |
-
1987
- 1987-03-26 JP JP62072630A patent/JP2550978B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636065A (en) * | 1979-08-27 | 1981-04-09 | Thompson Christopher John | Position disappearance emission type image piackup device |
| JPS5636064A (en) * | 1979-08-27 | 1981-04-09 | Thompson Christopher John | Position disappearance emission type image piackup device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07253470A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Hamamatsu Photonics Kk | ポジトロンエミッションｃｔ装置 |
| JP2010197095A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Shimadzu Corp | 放射線断層撮影装置 |
| JP2012098273A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Toshiba Corp | ガンマ線検出システム、ポジトロン放射断層撮影（ｐｅｔ）システム及び非一時的コンピュータ可読記憶媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2550978B2 (ja) | 1996-11-06 |
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