JPS63233586A - 半導体発光装置 - Google Patents

半導体発光装置

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JPS63233586A
JPS63233586A JP62068698A JP6869887A JPS63233586A JP S63233586 A JPS63233586 A JP S63233586A JP 62068698 A JP62068698 A JP 62068698A JP 6869887 A JP6869887 A JP 6869887A JP S63233586 A JPS63233586 A JP S63233586A
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semiconductor light
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芳信 関口
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Seiichi Miyazawa
宮沢 誠一
Toshitami Hara
利民 原
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    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体発光素子を、接着層を介して放熱体に
結合して成る半導体発光装置に関する。
〔従来技術〕
通常、AeGaAg %InGaAsP等の多元化合物
半導体の活性層を有するレーザダイオードやLEDなど
の半導体発光素子は、発光の際の素子の温度上昇を抑制
する為、放熱体と接着されている。ここで、これらの素
子は、高電流密度で動作するので、低い熱抵抗で放熱体
と接着しなければならない。一方、動作中に応力が加わ
ると活性層での転位増殖を促進し、発光素子としての寿
命を縮めることがある。
熱抵抗を小さくするためには、発光素子の活性層に近い
面を放熱体に接着する方法がとられるので、発光素子と
放熱体の熱膨張係数が異ると、大きな応力が活性層に加
わるととになる。
従来、上記の如き応力を緩和する方法として、シリコン
やダイヤモンド等の比較的熱膨張係数の近似した放熱体
材料を用いる方法及び工nやs’n等の軟い金属密接着
層にして塑性変形による応力緩和をねらう方法が知られ
ていた。
しかしながら、前者の方法は、材料選択の範囲が限定さ
れ構造上の自由度が少く、また後者の方法は、放熱体材
料の限定は少゛ないけれど、接着金属の性質によって使
用温度範囲が制限され、接着時の作業温度、時間、ある
いは雰囲気などにも特別の注意が必要となる問題点があ
った。
〔発明の概要〕
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、放熱
体材料の選択の範囲が広く、しかも信頼性及び生産性の
高い半導体発光装置を提供することにある。
本発明の上記目的は、半導体発光素子を、接着層を介し
て放熱体に結合して成る半導体発光装置において、前記
接着層として鉛−アンチモン−スズ系の軟質合金を用い
ることによって達成される。
〔実施例〕
以下に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明をレーザーダイオードに応用した一例を
示す断面図である。ここで、1は熱伝導の良い銅(Cu
)で形成された放熱体で、この上面には、鉛(pb) 
s s%、アンチモン(sb) 1+、s%、スズ(S
n) 3.5%の組成を有する軟質合金層2が、蒸着法
またはメッキ法によシ2〜3μmの厚さに被着されてい
る。AlGaAs系のレーザダイオード3には、発熱部
である活性層4に近い方の表面にTl−Pt−Auのオ
ーミック用金属層5が蒸着されておシ、反対面にはAu
Ge −Auのボンディング用金属層6が蒸着されてい
る。レーザダイオード3を、活性層側を下にして放熱体
1に密着させておいて、窒素雰囲気中で放熱体1を23
9℃に加熱すれば、軟質合金層2が溶解し、オーミック
用金属層5に融着されて、熱的及び電気的な接着が行な
われる。
放熱体1は、第1図に部分的に示した容器7の所望の位
置に、Sn 65%、pbss%の組成の半田8を用い
て、183〜185℃の温度で融着固定されている。そ
して、ボンディング用金属層6とリード9の間は、Au
のボンティング線10にょシ接続されている。ここで、
リード9とステム7との間に電流を流すと、レーザダイ
オード3の活性層4よシ、レーザ光11が発する。
本実施例においては、放熱体としてCUを用いたので、
Moや81を用いた場合に比べ10%以上低い熱抵抗が
得られた。また、接着層Cとしてp b −s b −
s n系合金を用いたので、AeGaAθ結晶とCUと
の熱膨張係数が大きく異なるにもかかわらず、104〜
10’時間の寿命特性が得られ、従来の81放熱体にS
nで融着した場合と何ら差異は認められなかった。また
Pb−8b−an系合金の融点が高いので、従来のOu
放熱体にInで融着した場合に比し耐熱性が改善され、
後工程でのスクリーニングがよシ確実に行える利点が得
られた。さらにPb−8b−8n系の合金は溶解時の流
れ性が良く、表面酸化膜やスラグの発生も少いため融着
後の熱抵抗のばらつきが少く、水素雰囲気を用いる必要
がないため作業性が改善された。
以上レーザーダイオードの例について説明したが、基板
裏面に光取シ出し窓を設けたhgGaAs発光ダイオー
ド(IPCD)の場合も全く同様の構成で実施すること
ができ、全く同様の効果を得ることができる。また発光
素子結晶についてはkl GaAsのほかに、IHGa
AsPを始めとする■v族化合物混晶や■■族化合物混
晶など放熱と熱膨張に対する考慮を必要とする発光素子
結晶に適用できる。
接着層として用いるPb−8b−8n系合金の組成につ
いては、発光素子結晶の種類、オーミックおよびボンデ
ィング用金属層の組成、後工程で要求される熱処理温度
などの諸条件を考慮して、必要な融点が得られるような
組み合せを、合金状態図又は成分表にょシ容易に求める
ことができる。例えば、Pb:40〜90%、Ell)
 : 2.5〜12%、Sn:3.O〜60%の範囲で
合金の組成を選択することにょシ180〜300℃の所
望の融点を有する接着層が得られる。
上記実施例では放熱体と容器が分離している場合につい
て示したが、容器が放熱体を兼ねてあらかじめ一体化さ
れている場合にも本発明を適用でき、この場合は前述の
239℃の融着のみですむため後工程において200℃
を越える熱処理にも耐える発光素子が得られ、より一層
の高信頼性が実現できる。また放熱体材料にはOu以外
にMo、Feその他の金属材料やSl、サファイヤ、ベ
リリヤダイヤモンド等の非金属材料も使用できる。放熱
体が、Pb−8b−8n系合金となじみが悪い材料の場
合は、T1やCrなどの密着力の強い金属とNi。
Mo 、 PtなどP’b−8b−8nになじみが良く
且つ溶解されにくい金属を2層に重ねて放熱体の表面に
蒸着法などで被着した上にPb−81)−8n系合金を
被着すればよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は従来の半導体発光装置に
おいて、接着層としてpb−sb−8n系軟質合金を用
いたので、以下に示すような種々の効果が得られる。
1)合金層が軟かく塑性変形し易いため、放熱体と発光
素子の結晶との熱膨張係数の差異が緩和されるので、放
熱体材料に対する制限が少なくなる。
2)均一性の良い安定な融着が出来る。
3)耐熱性が向上する。
4)熱抵抗のばらつきが減少する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示す略断面図である
。 1・・・放熱体 2・・・Pb−8b−an系軟質合金層3・・・レーザ
ダイオード 7・・・ステム 8・・・半田 9・・・リード 10・・・ポンディング線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体発光素子を、接着層を介して放熱体に結合
    して成る半導体発光装置において、前記接着層として鉛
    −アンチモン−スズ系 の軟質合金を用いたことを特徴とする半導体発光装置。
JP62068698A 1987-03-23 1987-03-23 半導体発光装置 Expired - Fee Related JPH0728095B2 (ja)

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