JPS63225114A - 放射線板厚測定方法 - Google Patents

放射線板厚測定方法

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JPS63225114A
JPS63225114A JP5943987A JP5943987A JPS63225114A JP S63225114 A JPS63225114 A JP S63225114A JP 5943987 A JP5943987 A JP 5943987A JP 5943987 A JP5943987 A JP 5943987A JP S63225114 A JPS63225114 A JP S63225114A
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plate thickness
thickness
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absorption coefficient
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JP5943987A
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Utaro Taira
卯太郎 平
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Sumitomo Metal Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は例えば圧延鋼板の板厚を放射線を用いて測定す
る方法に関する。
〔従来技術〕
圧延鋼板の板厚を測定する一方法に放射線透過方式があ
り、これは圧延鋼板に対して放射線を透過させ、その透
過量Itを検出し、予め設定された演算式に代入して、
板厚を算出するものである。
次に板厚tを求める一般式を示す。
μm°ρ     It ここで  ρ:板の密度 μm=板の質量吸収数 ■o:放射線源と検出器との間に仮がない場合の放射線
検出量 ■t:放射線検出量 である。
前記(1)式における板の質量吸収係数μmは次に示す
演算式(2)によって求められる。
i 但し、 μmi:構成元構成元素量吸収係数Ai:構成
元素iの構成百分率(%) である。
そして板の密度ρは次に示す演算式(3)によって求め
られる。
但し ρS :純鉄の密度(#7.86g /cm’ 
)ai:Aiについて定まる係数 である。
つまり、予め質量吸収係数μmと密度ρとを成分構成の
分析結果に基づいて上述の(2)及び(3)弐によって
算出し、この算出結果と放射線検出量とが(1)式に代
入され板厚tが算出される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで前記質量吸収係数μmは理論的には板厚に関係
せず構成元素ごとに特定の値となるはずであるが、見掛
は上、板厚に関係する性質、即ち板厚依存性を示すこと
が公知であった。このためある2種の元素A及び已によ
って構成される板について例えば元素Aのある板厚t、
における板厚サンプル板を用い、見掛は上の板厚依存性
曲線を作成しておけば、この板厚依存性曲線が元素Bに
ついての板厚依存性をも代表することができるとされで
きた。
つまり、元素A及びBの板厚t1におけるμm値の比、
μmBt+/μmAt、によって決定される板厚依存性
曲線は板厚がt、以外の値であっても同じ板厚依存性曲
線を有するとしていたのである。
具体的に説明すると、測定対象板の概略の板厚がL2の
場合、元素Aにおける質量吸収係数μmAt2を用いて
元素Bにおける質量吸収係数μmBt2を算出するとい
う方法が行われており、μmB t2は、 として求められてきた。
ところが実際にはμm値の比、μmB/μmAは一定で
はな(板厚によって異なることが判明した。即ち元素ご
とに板厚依存性を示す曲線の形が異なり、一つの元素の
板厚依存性曲線を代表して用い、他の元素の質量吸収係
数μmを求めると誤差が生じることが本発明者の研究に
よって明らかにされた。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、元素
ごとに異なる板厚依存性曲線に対応して質量吸収係数μ
mを求め測定精度の向上を図った放射線板厚測定方法の
提供を目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る放射線板厚測定方法は、測定対象となる板
に放射線を透過させて検出される放射線透過量と、測定
対象板を構成する各元素の密度及び測定対象板の質量吸
収係数とを用いて板厚を演算する放射線板厚測定方法に
おいて板厚依存性を有する各元素固有の質量吸収係数を
測定対象板の概略の板厚に対して個々に算出し、この算
出結果を用いて前記測定対象板の質量吸収係数を求める
ことを特徴とする。
〔作用〕
測定対象板の質量吸収係数は測定対象板の概略の板厚に
対して個々に算出される各元素固有の質量吸収係数を用
いることによって求められ、この結果と測定対象板の密
度と放射線透過量とによって測定対象板の板厚が演算さ
れる。
〔実施例〕
以下本発明をその実施例によって説明する。本発明は測
定対象板を構成する各元素の質量吸収係数μmを正確に
算出することにより、高精度の板厚測定を実現するもの
である。μmを算出する方法には2通りの方法があり、
いずれも予め各元素のμm値と板厚との関係を示す曲線
、即ち見掛は上板厚依存性を示す曲線を実測データ等か
ら作成したものを用いる。そしてμm値の算出において
第1の方法は測定対象板の概略の板厚、即ち圧延機等の
製造目標板厚あるいは公称板厚を設定板厚tsとして、
これより各元素の設定板厚tsに対応するμm値である
各μm1(ts)、(iは構成元素を示す)を前記板厚
依存性曲線から求め、これらのμm1(ts)と成分構
成%値Ai とから次に示す(4)式によってμmを算
出する。
第2の方法は同じく実測データ等からμm値と板厚との
板厚依存性曲線を作成した後、次にβ1(tj) = 
u ml(tj) / p mk(tj)を示す曲線を
作成する。
βi (tj )は各板厚tjにおける基本とする元素
(例えばFe)のμm値、即ちμmk(tj)に対する
他の元素のμm値であるμm i (tj )の比であ
る。
そしてβ1(tj )を測定対象板の概略の板厚である
設定板厚tsについて求めたβ1(ts)と、各元素の
成分構成%値Atとから次に示す(5)式によってμm
を算出する。
次に第(2)式に示す従来方法と本発明における第(4
)式に示す方法とを用い、その数値例を説明する。
(以 下 余 白) 第  1  表 第1表はFeとNiとによって構成される測定対象板の
各板厚つまり概略の各板厚に対するFeとNiとの質量
吸収係数μmであり、単位は(c+n” /g )であ
る。
加えて両者の比μmNi/μmFeは板厚によって異な
っており、このことから板厚依存性曲線は一つの元素に
よって代表することは不可能なことが分かる。
さて、ここでAiがPe = 50%、 N1=50%
であり、測定対象板の概略の板厚が0.7 am  即
ち ts=0.71の場合における測定結果によって両
方法を比較する。
まず従来方法においてはNiについての板厚依存性はF
eと同じと見なされており、例えば板厚0.5国におけ
る両者の比、μmNi/μmFeが全板厚範囲について
適用される。
即ち、 設定板厚 0.7 amの場合μmFe (0
,7cm) =0.5691= 0.5691 X 1
.088 =0.6192 であり、これを第(2)式に代入すると=0.5942 となる。
一方、本発明における第1の方法においてはFeとNi
との夫々の板厚依存性を考慮し、第1表によってμmF
e (0,7cm)と、czmNi (0,7cm)が
次の如く求められる。
μmFe (0,7am) =0.5691、ljmN
i (0,7am) =0.6373そして、これらを
第(4)式に代入するとp m =0.5691 X 
50/ 100 +0.6373 X 50/ 100
=0.6032 と求まる。
この結果、従来方法は本発明方法と比較してつまり、1
.5%の差が生じる。
これにより第(1)式によって算出される板厚むも1.
5%変化し、その値は 0.7 ClllX1.5 /100 =0.0105
cm=10511mこの結果、本発明においては従来例
と比較して上述の値だけ測定精度が向上する。
なお、本実施例においては、各元素のμmの設定板厚t
sに対応する値μm1(ts)を用いてμmを算出する
例を示したが、各元素が混在し、設定板厚tsに補正を
加える必要がある場合のμmの算出例を次に示しておく
まず前述したところと同様に測定対象板の概略の板厚を
設定板厚tsとし、これに補正係数αiを用いて、各元
素のμmの値であるμm1(tsxαi)を求め、これ
らのμm1(tsxαi)と成分構成%値Aiとから次
に示す(6)式によってμmを算出する。
なお、αiは または ρ0 :測定対象機密度 ρi :各元素の密度 等の式によって算出される。
〔効果〕
以上、本発明においては各元素毎によって板厚依存性曲
線が異なることを考慮し、各元素価々の板厚依存性に基
づいて質量吸収係数μmを算出する為、板厚測定精度が
向上する等、本発明は優れた効果を特する

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、測定対象となる板に放射線を透過させて検出される
    放射線透過量と、測定対象板を構成する各元素の密度及
    び測定対象板の質量吸収係数とを用いて板厚を演算する
    放射線板厚測定方法において、 板厚依存性を有する各元素固有の質量吸収 係数を測定対象板の概略の板厚に対して個々に算出し、
    この算出結果を用いて前記測定対象板の質量吸収係数を
    求めることを特徴とする放射線板厚測定方法。
JP5943987A 1987-03-13 1987-03-13 放射線板厚測定方法 Granted JPS63225114A (ja)

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JP5943987A JPS63225114A (ja) 1987-03-13 1987-03-13 放射線板厚測定方法

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JPS63225114A true JPS63225114A (ja) 1988-09-20
JPH0445085B2 JPH0445085B2 (ja) 1992-07-23

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350120A (ja) * 2001-05-23 2002-12-04 Anritsu Corp X線による厚さ測定方法及びx線厚さ測定装置
JP2022059386A (ja) * 2020-10-01 2022-04-13 Jfeスチール株式会社 板厚算出方法、板厚制御方法、板材の製造方法、板厚算出装置および板厚制御装置

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JP2022059386A (ja) * 2020-10-01 2022-04-13 Jfeスチール株式会社 板厚算出方法、板厚制御方法、板材の製造方法、板厚算出装置および板厚制御装置

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JPH0445085B2 (ja) 1992-07-23

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