JPS6321167B2 - - Google Patents
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- JPS6321167B2 JPS6321167B2 JP54076164A JP7616479A JPS6321167B2 JP S6321167 B2 JPS6321167 B2 JP S6321167B2 JP 54076164 A JP54076164 A JP 54076164A JP 7616479 A JP7616479 A JP 7616479A JP S6321167 B2 JPS6321167 B2 JP S6321167B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザー等により発せられた光ビーム
を光偏向器により偏向し、原稿上を走査すること
により原稿の有する情報を光電変換して読み取る
装置、或いは画像表示面上や記録材料上を走査す
ることにより画像を再生したり、種々のデータを
記録する装置に用いられる光ビーム走査装置に関
する。
を光偏向器により偏向し、原稿上を走査すること
により原稿の有する情報を光電変換して読み取る
装置、或いは画像表示面上や記録材料上を走査す
ることにより画像を再生したり、種々のデータを
記録する装置に用いられる光ビーム走査装置に関
する。
一般に被走査面上即ち原稿或いは記録材料上に
おいて形成される走査線内における光ビームは一
定の速度で移動すること、言いかえれば等速走査
されることが望まれる。かかる要求に対して従来
より例えば、第8回画像工学コンフアレンス論文
集の第101ページから第104ページに記載の「レー
ザー記録、光学技術からみた走査光学系の基礎的
問題」(昭和52年11月18日講演)や、特開昭54−
41149号「F・θレンズ」や特開昭52−113751号
「光走査装置」等の明細書に開示されているよう
にF・θレンズや放物面鏡を用いる方法や、或い
は特開昭52−147027号「平面等速度走査方法」の
明細書に開示されるように光偏向器に印加する信
号として被走査面上で光ビームが等速走査される
よう予め補正された非線形な波形の信号を用いる
というオープンループの制御方法がとられてい
た。しかしながら前者の方法においてはF・θレ
ンズや放物面鏡は通常の写真レンズや平面鏡に比
べてはるかに高価であり、又後者の方法は波形修
整された非線形の信号を発生させるための回路構
成が複雑でありかつオープンループの制御である
ため種々の変動要因、例えば電気的ドリフトに対
しては補正がなされず精度の低いものとなるとい
う欠点を有していた。
おいて形成される走査線内における光ビームは一
定の速度で移動すること、言いかえれば等速走査
されることが望まれる。かかる要求に対して従来
より例えば、第8回画像工学コンフアレンス論文
集の第101ページから第104ページに記載の「レー
ザー記録、光学技術からみた走査光学系の基礎的
問題」(昭和52年11月18日講演)や、特開昭54−
41149号「F・θレンズ」や特開昭52−113751号
「光走査装置」等の明細書に開示されているよう
にF・θレンズや放物面鏡を用いる方法や、或い
は特開昭52−147027号「平面等速度走査方法」の
明細書に開示されるように光偏向器に印加する信
号として被走査面上で光ビームが等速走査される
よう予め補正された非線形な波形の信号を用いる
というオープンループの制御方法がとられてい
た。しかしながら前者の方法においてはF・θレ
ンズや放物面鏡は通常の写真レンズや平面鏡に比
べてはるかに高価であり、又後者の方法は波形修
整された非線形の信号を発生させるための回路構
成が複雑でありかつオープンループの制御である
ため種々の変動要因、例えば電気的ドリフトに対
しては補正がなされず精度の低いものとなるとい
う欠点を有していた。
また、特開昭49−22149号「光学走査装置」の
明細書に記載されているように光ビームの位置を
検出し、この位置情報を光偏向手段にフイードバ
ツクして制御する方法も知られているが、この方
法では、位置情報を直接光偏向器の駆動信号にフ
イードバツクして制御するようになつているた
め、十分な精度を得ることが困難であり、精度を
維持するためには光偏向器の駆動信号自体の精度
を非常に高くしなければならず、駆動回路が複雑
になると共に高価なものとなるという問題があ
る。
明細書に記載されているように光ビームの位置を
検出し、この位置情報を光偏向手段にフイードバ
ツクして制御する方法も知られているが、この方
法では、位置情報を直接光偏向器の駆動信号にフ
イードバツクして制御するようになつているた
め、十分な精度を得ることが困難であり、精度を
維持するためには光偏向器の駆動信号自体の精度
を非常に高くしなければならず、駆動回路が複雑
になると共に高価なものとなるという問題があ
る。
本発明の目的は簡単な構成で安価でかつ高精度
に光ビームを被走査面上で等速走査させることの
できる光ビーム走査装置を提供することにある。
に光ビームを被走査面上で等速走査させることの
できる光ビーム走査装置を提供することにある。
本発明は光偏向器を用いて光ビームを被走査面
上で走査せしめる手段と、該被走査面上における
該光ビームの位置に応じた位置パルス列を発生す
る手段と、所定の基準パルス列を発生する手段
と、前記位置パルス列と基準パルス列との位相差
を検出する手段と、該位相差を一定とし前記光ビ
ームが前記被走査面上において等速走査されるべ
く前記光偏向器を制御するための手段とを有し、
PLL(phase locked loop)により、光偏向器を
フイードバツグ制御するようにしたことを特徴と
するものである。
上で走査せしめる手段と、該被走査面上における
該光ビームの位置に応じた位置パルス列を発生す
る手段と、所定の基準パルス列を発生する手段
と、前記位置パルス列と基準パルス列との位相差
を検出する手段と、該位相差を一定とし前記光ビ
ームが前記被走査面上において等速走査されるべ
く前記光偏向器を制御するための手段とを有し、
PLL(phase locked loop)により、光偏向器を
フイードバツグ制御するようにしたことを特徴と
するものである。
次に本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明
する。第1図は強度変調されたレーザービームを
ガルバノメータ式光偏向器を用いて記録材料上を
二次元的に走査することにより画像を形成する装
置に本発明を適用した例の構成図である。
する。第1図は強度変調されたレーザービームを
ガルバノメータ式光偏向器を用いて記録材料上を
二次元的に走査することにより画像を形成する装
置に本発明を適用した例の構成図である。
第1図において強度変調された記録用レーザー
ビーム13は主走査用ガルバノメータ式光偏向器
14により偏向されたのち第1レンズ15を介し
て副走査用ガルバノメータ式光偏向器16に導か
れ、主走査用ガルバノメータ式光偏向器14の偏
向の方向とはほぼ直角な方向に偏向されたのち、
第2レンズ17により収束されながら記録材料1
8上において二次元的に走査されて画像を形成す
る。一方、主走査参照用レーザービーム19は主
走査用ガルバノメータ式光偏向器14において記
録用レーザービーム13が入射しているミラー面
とは反対側のミラー面に入射され偏向されたのち
第3レンズ20により収束されながら主走査用リ
ニアエンコーダ21上を走査する。主走査用リニ
アエンコーダ21は例えばガラス基板上に金属ク
ロムの縞パターンが配列されたものであり、主走
査用リニアエンコーダ21のパターン表面で収束
される主走査参照用レーザービームの径とほぼ同
じ幅を有する透明部の縞と不透明部の縞が規則正
しく交互多数に並んでいる。主走査用リニアエン
コーダ21の透明部の縞を通過した主走査参照用
レーザービーム19は第1コンデンサーレンズ2
2により集光されて光電子増倍管やフオトダイオ
ードの如き第1光検出器23に導かれる。又、副
走査参照用レーザービーム24は副走査用ガルバ
ノメータ式光偏向器16において記録用レーザー
ビーム13が入射しているミラー面とは反対側の
ミラー面に入射され偏向されたのち第4レンズ2
5により収束されながら副走査用リニアエンコー
ダ26上を走査する。副走査用リニアエンコーダ
26は主走査用リニアエンコーダ21と同様のパ
ターン配列を有するものである。副走査用リニア
エンコーダ26の透明部の縞を通過した副走査参
照用レーザービーム24は第2コンデンサーレン
ズ27により集光されて第2光検出器28に導か
れる。
ビーム13は主走査用ガルバノメータ式光偏向器
14により偏向されたのち第1レンズ15を介し
て副走査用ガルバノメータ式光偏向器16に導か
れ、主走査用ガルバノメータ式光偏向器14の偏
向の方向とはほぼ直角な方向に偏向されたのち、
第2レンズ17により収束されながら記録材料1
8上において二次元的に走査されて画像を形成す
る。一方、主走査参照用レーザービーム19は主
走査用ガルバノメータ式光偏向器14において記
録用レーザービーム13が入射しているミラー面
とは反対側のミラー面に入射され偏向されたのち
第3レンズ20により収束されながら主走査用リ
ニアエンコーダ21上を走査する。主走査用リニ
アエンコーダ21は例えばガラス基板上に金属ク
ロムの縞パターンが配列されたものであり、主走
査用リニアエンコーダ21のパターン表面で収束
される主走査参照用レーザービームの径とほぼ同
じ幅を有する透明部の縞と不透明部の縞が規則正
しく交互多数に並んでいる。主走査用リニアエン
コーダ21の透明部の縞を通過した主走査参照用
レーザービーム19は第1コンデンサーレンズ2
2により集光されて光電子増倍管やフオトダイオ
ードの如き第1光検出器23に導かれる。又、副
走査参照用レーザービーム24は副走査用ガルバ
ノメータ式光偏向器16において記録用レーザー
ビーム13が入射しているミラー面とは反対側の
ミラー面に入射され偏向されたのち第4レンズ2
5により収束されながら副走査用リニアエンコー
ダ26上を走査する。副走査用リニアエンコーダ
26は主走査用リニアエンコーダ21と同様のパ
ターン配列を有するものである。副走査用リニア
エンコーダ26の透明部の縞を通過した副走査参
照用レーザービーム24は第2コンデンサーレン
ズ27により集光されて第2光検出器28に導か
れる。
さて、主走査用ガルバノメータ式光偏向器14
により偏向された主走査参照用レーザービーム1
9が主走査用リニアエンコーダ21上を走査する
ことにより第1光検出器23により出力される光
電パルス(位置パルス列)Pは電圧増幅器29に
より増幅されたのち光電パルス列Pとして位相比
較器30の一方の入力端子に入力される。又位相
比較器30の他方の入力端子には例えば水晶発振
器の如きパルス発生器31で発生された規則正し
いパルス間隔を有する基準パルス列Qが入力され
ているが、位相比較器30は光電パルス列Pの
個々のパルスと基準パルス列Qの個々のパルスと
のあいだの位相差の方向と大きさを検出し、更に
続くローパスフイルター32によつて位相差は直
流誤差電圧eとして出力される。電流誤差電圧e
は電圧増幅器33により、直流誤差電圧eの変化
範囲は次段に続く電圧制御発振器34の入力範囲
と整合がなされるように増幅されたのちバイアス
電圧が重畳されて直流電圧Eとして出力される。
電圧制御発振器34は直流電圧Eの大きさに従つ
てパルス数を変化させて出力するもので、出力さ
れたパルス列はカウンタ35により二進法で計数
される。カウンタ35の各ビツトの出力端子D/
A変換器36の各ビツトの入力端子と接続されて
おり、D/A変換器36の出力端子からはカウン
タ35の各ビツト出力に相当した直流電圧Vが出
力される。更に直流電圧Vはガルバノメータ駆動
回路37に入力されており、ガルバノメータ駆動
回路37は直流電圧Vに従つて主走査用ガルバノ
メータ式光偏向器14の回転角を制御する。以上
の一連の動作説明のとうり主走査用ガルバノメー
タ式光偏向器14は主走査用レーザービーム1
9、第3レンズ20、主走査用リニアエンコーダ
21、第1コンデンサーレンズ22、第1光検出
器23、電圧増幅器29、位相比較器30、パル
ス発生器31、ローパスフイルター32、電圧増
幅器33、電圧制御発振器34、カウンタ35、
D/A変換器36、ガルバノメータ駆動回路37
及び主走査用ガルバノメータ式光偏向器14で構
成されるPLL内で制御されることになるが、該
PLLはパルス発生器31からの基準パルス列Q
の個々のパルスの位相と第1光検出器23により
出力され電圧増幅した光電パルス列Pの個々のパ
ルスとの位相が一致するように或いは一定の定常
偏差を保持するように動作し、基準パルス列Qは
常に一定のパルス間隔を有した規則的なパルス列
であるので主走査用リニアエンコーダ21上で主
走査参照用レーザービーム19が等速走査される
よう動作することになる。更に第1レンズ15、
第2レンズ17及び第3レンズ20に一般の写真
レンズを用い記録材料18上の記録用レーザービ
ーム13と主走査用リニアエンコーダ21上の主
走査参照用レーザービーム19とが正比例(リニ
アな)の動作対応するよう構成すれば、その結果
記録用レーザービーム13も記録材料18上にお
いて主走査の方向に対して等速走査されることが
容易に理解できよう。一方、副走査についても、
副走査参照用レーザービーム24、第4レンズ2
5、副走査用リニアエンコーダ26、第2コンデ
ンサーレンズ27、第2光検出器28、電圧増幅
器38、位相比較器39、パルス発生器40、ロ
ーパスフイルター41、電圧増幅器42、電圧制
御発振器43、カウンタ44、D/A変換器4
5、ガルバノメータ駆動回路46及び副走査用ガ
ルバノメータ式光偏向器16で上述の主走査用と
同様のPLLを構成しているので、その結果、記
録レーザービーム13は記録材料18上において
副走査の方向に対しても等速走査されることが容
易に理解されよう。
により偏向された主走査参照用レーザービーム1
9が主走査用リニアエンコーダ21上を走査する
ことにより第1光検出器23により出力される光
電パルス(位置パルス列)Pは電圧増幅器29に
より増幅されたのち光電パルス列Pとして位相比
較器30の一方の入力端子に入力される。又位相
比較器30の他方の入力端子には例えば水晶発振
器の如きパルス発生器31で発生された規則正し
いパルス間隔を有する基準パルス列Qが入力され
ているが、位相比較器30は光電パルス列Pの
個々のパルスと基準パルス列Qの個々のパルスと
のあいだの位相差の方向と大きさを検出し、更に
続くローパスフイルター32によつて位相差は直
流誤差電圧eとして出力される。電流誤差電圧e
は電圧増幅器33により、直流誤差電圧eの変化
範囲は次段に続く電圧制御発振器34の入力範囲
と整合がなされるように増幅されたのちバイアス
電圧が重畳されて直流電圧Eとして出力される。
電圧制御発振器34は直流電圧Eの大きさに従つ
てパルス数を変化させて出力するもので、出力さ
れたパルス列はカウンタ35により二進法で計数
される。カウンタ35の各ビツトの出力端子D/
A変換器36の各ビツトの入力端子と接続されて
おり、D/A変換器36の出力端子からはカウン
タ35の各ビツト出力に相当した直流電圧Vが出
力される。更に直流電圧Vはガルバノメータ駆動
回路37に入力されており、ガルバノメータ駆動
回路37は直流電圧Vに従つて主走査用ガルバノ
メータ式光偏向器14の回転角を制御する。以上
の一連の動作説明のとうり主走査用ガルバノメー
タ式光偏向器14は主走査用レーザービーム1
9、第3レンズ20、主走査用リニアエンコーダ
21、第1コンデンサーレンズ22、第1光検出
器23、電圧増幅器29、位相比較器30、パル
ス発生器31、ローパスフイルター32、電圧増
幅器33、電圧制御発振器34、カウンタ35、
D/A変換器36、ガルバノメータ駆動回路37
及び主走査用ガルバノメータ式光偏向器14で構
成されるPLL内で制御されることになるが、該
PLLはパルス発生器31からの基準パルス列Q
の個々のパルスの位相と第1光検出器23により
出力され電圧増幅した光電パルス列Pの個々のパ
ルスとの位相が一致するように或いは一定の定常
偏差を保持するように動作し、基準パルス列Qは
常に一定のパルス間隔を有した規則的なパルス列
であるので主走査用リニアエンコーダ21上で主
走査参照用レーザービーム19が等速走査される
よう動作することになる。更に第1レンズ15、
第2レンズ17及び第3レンズ20に一般の写真
レンズを用い記録材料18上の記録用レーザービ
ーム13と主走査用リニアエンコーダ21上の主
走査参照用レーザービーム19とが正比例(リニ
アな)の動作対応するよう構成すれば、その結果
記録用レーザービーム13も記録材料18上にお
いて主走査の方向に対して等速走査されることが
容易に理解できよう。一方、副走査についても、
副走査参照用レーザービーム24、第4レンズ2
5、副走査用リニアエンコーダ26、第2コンデ
ンサーレンズ27、第2光検出器28、電圧増幅
器38、位相比較器39、パルス発生器40、ロ
ーパスフイルター41、電圧増幅器42、電圧制
御発振器43、カウンタ44、D/A変換器4
5、ガルバノメータ駆動回路46及び副走査用ガ
ルバノメータ式光偏向器16で上述の主走査用と
同様のPLLを構成しているので、その結果、記
録レーザービーム13は記録材料18上において
副走査の方向に対しても等速走査されることが容
易に理解されよう。
以上実施例についての一連の動作説明のとう
り、主走査用及び副走査用ガルバノメータ式光偏
向器を各々PLLを用いて制御することにより記
録用レーザービームを記録材料上で二次元的に等
速走査させることができる。又本実施例におい
て、第1レンズ15、第2レンズ17、第3レン
ズ20及び第4レンズ25は通常の写真レンズを
用いてよく、更にPLLを構成するための電子回
路の各部品も一般的な半導体部品を用いて容易に
構成できるので極めて安価である。更に本実施例
においては、回路の電源電圧の変動や温度による
ドリフトその他の変動要因に対して極めて安定で
あり性能が低下することはない。
り、主走査用及び副走査用ガルバノメータ式光偏
向器を各々PLLを用いて制御することにより記
録用レーザービームを記録材料上で二次元的に等
速走査させることができる。又本実施例におい
て、第1レンズ15、第2レンズ17、第3レン
ズ20及び第4レンズ25は通常の写真レンズを
用いてよく、更にPLLを構成するための電子回
路の各部品も一般的な半導体部品を用いて容易に
構成できるので極めて安価である。更に本実施例
においては、回路の電源電圧の変動や温度による
ドリフトその他の変動要因に対して極めて安定で
あり性能が低下することはない。
又本実施例においてはPLLA内において信号を
一旦デジタル信号に変換して取り扱うので、マイ
クロコンピユータ等により外部より、例えばフラ
イバツクや待機などの動作をガルバノメータ式光
偏向器に指示させるには一向に差しつかえない。
一旦デジタル信号に変換して取り扱うので、マイ
クロコンピユータ等により外部より、例えばフラ
イバツクや待機などの動作をガルバノメータ式光
偏向器に指示させるには一向に差しつかえない。
なお、上記実施例において、光学系に用いるレ
ンズは通常の写真レンズでなくとも他のレンズを
用いてもよく、又、記録用レーザービームと参照
用レーザービームはガルバノメータ式光偏向器の
同じ面を用いて偏向させるようにしてもよい。更
に記録材料上で記録用レーザービームは等速で走
査されるので、外部装置よりクロツクパルスでデ
ータを受信し、記録材料上に記録するような場合
にも一定パルス間隔のクロツクパルス列を用いれ
るので極めて有利であるばかりでなく、更に記録
材料上のいかなる部分においても走査速度の違い
による光照射量の差が生じないので均一な露光が
行なわれるという利点を有する。
ンズは通常の写真レンズでなくとも他のレンズを
用いてもよく、又、記録用レーザービームと参照
用レーザービームはガルバノメータ式光偏向器の
同じ面を用いて偏向させるようにしてもよい。更
に記録材料上で記録用レーザービームは等速で走
査されるので、外部装置よりクロツクパルスでデ
ータを受信し、記録材料上に記録するような場合
にも一定パルス間隔のクロツクパルス列を用いれ
るので極めて有利であるばかりでなく、更に記録
材料上のいかなる部分においても走査速度の違い
による光照射量の差が生じないので均一な露光が
行なわれるという利点を有する。
又、本実施例の場合とは別の画像を走査して読
み取る用途においても本発明を適用することによ
り、上述の記録に用いる場合と同様な効果を発揮
できることは言うまでもない。この場合には、読
取り用レーザービームを途中でハーフミラー等に
より分岐し参照用レーザービームとすることもで
きる。
み取る用途においても本発明を適用することによ
り、上述の記録に用いる場合と同様な効果を発揮
できることは言うまでもない。この場合には、読
取り用レーザービームを途中でハーフミラー等に
より分岐し参照用レーザービームとすることもで
きる。
以上述べたように、本発明は位置パルス列と基
準パルス列との位相差を検出し、位相差が一定に
なるように光偏向器を制御、即ちPLLを用いて
制御するようにしたので、極めて高精度で光ビー
ムを等速走査することができ、また、構成も簡単
で安価な光ビーム走査装置を提供することができ
る。
準パルス列との位相差を検出し、位相差が一定に
なるように光偏向器を制御、即ちPLLを用いて
制御するようにしたので、極めて高精度で光ビー
ムを等速走査することができ、また、構成も簡単
で安価な光ビーム走査装置を提供することができ
る。
第1図は本発明装置の一実施例の構成図であ
る。 14,16……光偏向器、21,26……リニ
アエンコーダ、23,28……光検出器、31,
40……パルス発生器、30,39……位相比較
器、32,41……ローパスフイルター、34,
43……電圧制御発振器、35,44……カウン
ター、36,45……D/A変換器、37,46
……ガルバノメータ駆動回路。
る。 14,16……光偏向器、21,26……リニ
アエンコーダ、23,28……光検出器、31,
40……パルス発生器、30,39……位相比較
器、32,41……ローパスフイルター、34,
43……電圧制御発振器、35,44……カウン
ター、36,45……D/A変換器、37,46
……ガルバノメータ駆動回路。
Claims (1)
- 1 光偏向器を用いて光ビームを被走査面上で走
査せしめる手段と、該被走査面上における該光ビ
ームの位置に応じた位置パルス列を発生する手段
と、所定の基準パルス列を発生する手段と、前記
位置パルス列と基準パルス列との位相差を検出す
る手段と、該位相差を一定とし前記光ビームが前
記被走査面上において等速走査されるべく前記光
偏向器を制御するための手段とを有することを特
徴とする光ビーム走査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7616479A JPS561018A (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Light beam scanner |
US06/159,276 US4352984A (en) | 1979-06-15 | 1980-06-13 | Light beam scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7616479A JPS561018A (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Light beam scanner |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS561018A JPS561018A (en) | 1981-01-08 |
JPS6321167B2 true JPS6321167B2 (ja) | 1988-05-06 |
Family
ID=13597419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7616479A Granted JPS561018A (en) | 1979-06-15 | 1979-06-15 | Light beam scanner |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4352984A (ja) |
JP (1) | JPS561018A (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4490608A (en) * | 1980-10-21 | 1984-12-25 | Crosfield Electronics Limited | Position sensor |
US4447723A (en) * | 1981-09-03 | 1984-05-08 | Excellon Industries | Scanning beam reference employing a retroreflective code means |
JPS5851732A (ja) * | 1981-09-24 | 1983-03-26 | 株式会社明電舎 | インバ−タの過電流保護装置 |
US4466088A (en) * | 1981-12-21 | 1984-08-14 | Burroughs Corporation | Galvo position sensor for track selection in optical data disk system |
US4556964A (en) * | 1981-12-21 | 1985-12-03 | Burroughs Corporation | Technique for monitoring galvo angle |
US4516023A (en) * | 1982-06-03 | 1985-05-07 | Klimsch/Optronics | Scanner/plotter optical system |
DE3230368A1 (de) * | 1982-08-14 | 1984-02-16 | Institut Dr. Friedrich Förster Prüfgerätebau GmbH & Co KG, 7410 Reutlingen | Verfahren und vorrichtung zum abtasten der oberflaeche eines teiles |
US4477727A (en) * | 1982-09-27 | 1984-10-16 | The Singer Company | Beam position detection system for use in an optical scanning system |
JPS5972862A (ja) * | 1982-10-19 | 1984-04-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光ビ−ム走査装置 |
WO1984004586A1 (en) * | 1983-05-17 | 1984-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position-detecting apparatus |
JPH02245718A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-01 | Chino Corp | 走査ミラーの制御装置 |
US5811795A (en) * | 1996-02-08 | 1998-09-22 | Eastman Kodak Company | Bow-tie laser scan trace using dynamic laser positioner |
US5691535A (en) * | 1996-02-08 | 1997-11-25 | Eastman Kodak Company | Ganged laser scanning system which corrects beam alignment along a bow-tie path |
JP2013191250A (ja) * | 2012-03-13 | 2013-09-26 | Toshiba Corp | 光記録再生装置 |
US9625421B2 (en) * | 2014-04-16 | 2017-04-18 | U.S. Department Of Energy | Manually operated small envelope scanner system |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4922149A (ja) * | 1972-06-17 | 1974-02-27 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4140903A (en) * | 1977-01-03 | 1979-02-20 | Xerox Corporation | Precision speed control for optical scanners |
US4178064A (en) * | 1978-04-27 | 1979-12-11 | Xerox Corporation | Real time grating clock for galvanometer scanners in laser scanning systems |
-
1979
- 1979-06-15 JP JP7616479A patent/JPS561018A/ja active Granted
-
1980
- 1980-06-13 US US06/159,276 patent/US4352984A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4922149A (ja) * | 1972-06-17 | 1974-02-27 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS561018A (en) | 1981-01-08 |
US4352984A (en) | 1982-10-05 |
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