JPS63206992A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

Info

Publication number
JPS63206992A
JPS63206992A JP62039448A JP3944887A JPS63206992A JP S63206992 A JPS63206992 A JP S63206992A JP 62039448 A JP62039448 A JP 62039448A JP 3944887 A JP3944887 A JP 3944887A JP S63206992 A JPS63206992 A JP S63206992A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data line
potential
data
data lines
lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62039448A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Yamamoto
章裕 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP62039448A priority Critical patent/JPS63206992A/ja
Publication of JPS63206992A publication Critical patent/JPS63206992A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ダイナミック回路で構成されている半導体集
積回路に関するものである。
従来の技術 近年、半導体集積回路の大規模化、微細化が進み、各信
号線の配線間隔はますます小さくなってきている。その
ため、各信号線と隣接して並走する信号線との結合容量
が増大し、ダイナミック回路で構成された感知増幅器を
有する半導体集積回路では、データ線が隣接する信号線
より受ける雑音をいかにして抑え、安定した感知増幅動
作を得るかが重要な課題となってきた。
以下、従来のダイナミック回路で構成された半導体集積
回路について第5図の半導体集積回路の配置にほぼあわ
せた回路図と、同回路図における各人力クロック信号及
び各ノードの電圧波形を模式的に示した第2図のタイミ
ング図を参照して説明する。
第5図において、D++、D+zは互いに平行に配置さ
れた対をなすデータ線、DI3はデータ線DI2に隣接
して並走する信号線、cl、c2はそれぞれデータ線D
llとDI2の配線容量、C23はデータ線DI2と信
号線[)tsとの結合容量、C+7. C1Bはデータ
を保持する容量、Qll、 QI2+ Q10は感知増
幅器を構成するトランジスタ、Q目、Q15はデータ線
り目I D+2を予備充電するトランジスタ、QCsは
データ線DIl、 DI2の電位を均一化するトランジ
スタ、Qll、Q18は容量C+7 、 C+8に保持
された電荷をデータ線り口ID12に伝達するトランジ
スタ、φ目、φ121φI3はトランジスタのゲート電
極に入力されるクロック信号、N 17 + N 18
は容量CI7とC+8の接地端子とは反対側の各ノード
、vcoは電源電圧である。
以上のように構成された半導体集積回路について、デー
タ線D12と信号ID目との配線間隔が十分広く、容量
C23が容量C2に対して十分率さい場合について、以
下第6図を用いながらその動作を説明する。
まず、時刻toでクロックφ11の電位がVcc+V丁
(VTはトランジスタのしきい値電圧)又はそれ以上に
なってトランジスタQ14.Q+s。
QCsが導通状態になり、データ線DI1. DI2が
予備充電されてデータ!1lIDIIIDI2の電位が
■。。となる。次に、時刻t1でクロック信号φ目がO
vになり、トランジスタQ +4 r Q ts 、 
Q tsが遮断状態になる。続いて時刻t3でクロック
信号φ13がOvよりVc0+v丁またはそれ以上の電
位になり、トランジスタQ 17 、 Q tsが導通
状態になる。このとき、容量CI7にOv、容量CI8
にV ccが保持されているとすると、通常、C+7 
、 C+8の容量はCI * C2の115〜1/10
程度であるのでデータ線D11の電位が徐々に下がる。
次に、時刻t4でクロック信号φ12の電位がOvより
vccになり、トランジスタQHが導通状態となって感
知増幅動作が行なわれる。すなわち、このとき、データ
線DI2の電位はデータ線D11の電位より高いためト
ランジスタQ++が導通状態になり、データ線D11の
電位がOvに下げられる一方、データ線DI2の電位は
トランジスタQI2がほぼ遮断状態にあるため、はぼV
 eeを保持する。
このようにして、感知増幅器によりデータ線対に高レベ
ルと低レベルが維持される。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記従来の構成では、データ線DI2と隣
接して並走する信号線D13との配線間隔が小さくなっ
た場合、結合容量C,3が増大するためデータ線DI2
が予備充電後の高インピーダンス状態の時刻t2で信号
線DI3の電位が変化した時にデータ線DI2の電位に
影響(雑音と記す)をあだへ、データ線DI+とデータ
線DI2の予備充電電位に電位差が生じる。このため、
差動増幅の感度が劣化するかあるいは、誤動作してしま
うという欠点を有していた。第7図は、第5図において
データ線DI2と信号線DI3との配線間隔が小さくな
り、結合容量C23が増大した時の各時刻における人力
クロック信号及び各ノードの電圧波形を模式的に示した
タイミング図である。以下、第7図を用いて従来のダイ
ナミック回路で構成された半導体集積回路の問題点を説
明する。
まず、時刻toでクロック信号φ口の電位がvo。+v
丁またはそれ以上となり、トランジスタQI4.QH+
 QCsが導通状態になり、データ線DIl、 DI2
が予備充電されてデータ線DI1. DI2の電位がV
ccとなる。次に、時刻tlで、クロック信号φ口がO
vに下がり、データ線DIll DI2は高インピーダ
ンス状態になる。この状態の時刻t2で信号線DI3が
VccからOvに下がると、信号線DI3に隣接するデ
ータ線DI2の電位は、結合容量C23のため、Vo。
以下に引き下げられる。一方、データ線D11の電位は
Vccに保持されているため、データ線D11と012
の予備充電電位に電位差(ΔVo)が生じる。そして、
予備充電用トランジスタQ目、Q15及びデータ線DI
l、 DI2の電位を均一化するトランジスタQI6が
遮断状態にあるため、この電位差は解消されない。次に
、時刻t3でクロック信号φ13がV。c + V T
又はそれ以上の電位になると、トランジスタQ+7とQ
Csが導通状態になるため、データ線DI+のレベルが
徐々に下がり始め、データ線DI2の電位はVo。−Δ
V。
のままである。最後に時刻t4でクロック信号φ12の
電位がV。Cになり、感知増幅動作が行なわれるが、こ
の時、図7で示したようにデータ線DI+の電位がデー
タ線DI2の電位以下に下がっていない場合、感知増幅
器がデータ線1)++の電位をVo。に上げ、データ線
DI2の電位をOvに下げてしまい逆レベルとなって誤
動作を行す。なお、クロック信号φ12がVcc電位に
なる時刻t4のタイミングをデータ線DI+の電位がデ
ータ線DI2の電位よりも低(なった時刻にまで遅らせ
ると誤動作を防ぐことが可能であるが、回路の動作速度
を遅らせてしまう不都合がある。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、配線間
隔が減少し隣接する信号線からの雑音が増大した場合に
も、回路の動作を遅らせることなしに安定した感知増幅
動作が行なえる半導体集積回路を提供することを目的と
するものである。
問題点を解決するための手段 本発明の半導体集積回路は第1および第2のデータ線に
より構成されるデータ線対と前記データ線対上の信号を
差動的に検出する感知増幅器とを備えるとともに、前記
第1および第2のデータ線を前記感知増幅器の入力端以
外の領域でIM所または複数箇所で交差させることによ
り前記第1および第2の各データ線と同第1および第2
のデータ線と隣接する信号線との対向長をほぼ等しくし
た構造のものである。
作用 この構成によってデータ線対を構成する第1および第2
のデータ線が同一の信号線と隣接し、第1のデータ線に
対する隣接信号線との対向長と第2のデータ線に対する
隣接信号線との対向長を等しくするため、第1および第
2のデータ線が隣接信号線より受ける雑音が等しくなり
、データ線対と隣接信号線との配線間隔が減少した場合
にも誤動作なく安定した感知増幅動作を得ることができ
る。
実施例 本発明のダイナミック回路で構成された半導体集積回路
の実施例について、第1図の半導体集積回路の配置にほ
ぼあわせた回路図と同回路図における各入力クロック信
号及び各ノードの電圧波形を模式的に示した第2図のタ
イミング図を参照して説明する。
第1図において、Dll及びDI2は互いに平行に配置
された対をなすデータ線である。なお、従来のデータ線
では感知増幅器の入力端以外には交差部を持たなかった
のに対し、本実施例のデータ線り口とDI2ではデータ
線の中央部で互いに交差させて、隣接して並走する信号
線DI3とそれぞれのデータ線DIlとDI2との対向
長を等しくしている。C+3はデータ線Dllと隣接信
号線DI3との結合容量、C23はデータ線DI2と隣
接信号線DI3との結合容量であり、各データ線り目と
DI2と隣接信号線DI3との対向長が等しいためそれ
ぞれの容量値は同一である。なお、CII C2,C+
7. Cpsは容量、Q++〜Q+aはトランジスタ、
φ11〜φ13は入力クロック信号、N13. N13
は各ノード、Vcoは電源電圧で、これらは従来例の構
成と同じものである。
以上のように構成された本実施例の半導体集積回路につ
いて以下その動作を説明する。
まず、時刻toでクロック信号φ11がvcc+V丁ま
たはそれ以上の電位になって、トランジスタQ 14 
、 Q +s 、 Q +sが導通状態になり、データ
線り目、D12が予備充電されてデータ線DIl、 D
I2の電位がV ccとなる。次に、時刻t1でクロッ
ク信号φ目がOvになり、トランジスタQ14゜Q +
s 、 Q +eが遮断状態になる。次に時刻t2で信
号線DI3の電位がVccからOvに下がるとデータ線
D11及びDI2の電位は信号線DI3との結合容量C
I3. C23のためΔV1引き下げられる。しかしな
がら、結合容量C+3 、 C23は同一容量であるた
め、データ線D11. DI2が信号線DI3より受け
る雑音は等しくなり、両者に電位差は生じない。次に、
時刻t3でクロック信号φ13がVo。+vT又はそれ
以上の電位になり、トランジスタQ +7 、 Q +
aが導通状態になる。このとき従来例の説明と同様に容
量CI7にOv容量Cl1lにvccが保持されている
と、データ線DI+の電位が徐々に下がっていく。最後
に、時刻t4でクロック信号φI2の電位がvccにな
り、トランジスタQI3が導通状態となって感知増幅器
が動作し、データ線り目の電位がデータ線D12の電位
よりも低いためデータ線D11の電位がOvに引き下げ
られ、一方、データ線DI2の電位がほぼvcoに保持
されて感知増幅動作が正常に終了する。
以上のように本実施例によれば、対をなす第1及び第2
のデータ線DIlとDI2と隣接データ線DI3とのそ
れぞれの対向長が等しくなるように互いに交差させてい
るため、配線間隔が減少し、データ線対と隣接信号線と
の結合容量が増大した場合にもそれぞれのデータ線には
同一の雑音が生じるため感知増幅動作が正常に行なわれ
る。
次に、2個のデータ線対が隣接した場合の本発明の他の
実施例について第3図の半導体集積回路の配置にほぼあ
わせた回路図と同回路図における各入力クロック信号及
び各ノードの電圧波形を模式的に示した第4図のタイミ
ング図を参照して説明する。
第3図において、DIl、 DI2は第1のデータ線対
をなすデータ線、C21、C22は第2のデータ線対を
なすデータ線、cl、C2,C3,C4はそれぞれデー
タ線り口、 012. C21,C22の配線容量、C
11はデータ線DIlとC21の結合容量、CI2はデ
ータ線DIlとC22の結合容量、C21はデータ線D
I2とC21の結合容量、C22はデータ線DI2とC
22の配線容量、Cl7. Cl8. C27,C2B
はデータを保持する容量、Q++ 、 Q10. Q1
3は第1のデータ線対の感知増幅器を構成するトランジ
スタ、Q21. Q22. Q23は第2のデータ線対
の感知増幅器を構成するトランジスタ、Q10. Q1
0はデータ線D II 、 D I2を予備充電するト
ランジスタ、QIGはデータ線DIlとDI2の電位を
均一化するトランジスタ、Q 24 、 Q 25はデ
ータ線D21. C22を予備充電するトランジスタ、
Q2Bはデータ線021とC22の電位を均一化するト
ランジスタ、Q17゜Q +s 、 Q 271 Q 
2Bはそれぞれ容量CI7 + C18。
C27+ C2Bに保持された電荷をデータh、 D 
I8゜D 12 e D 21 、D 22に伝達する
トランジスタ、Q 19 ? Q 2G 、 Q 29
 + Q soはそれぞれ書き込みデーD 2 I *
 D 22に伝達するトランジスタ、φIt。
φ12.φ13.φロ、φ24はトランジスタのゲート
電極に入力されるクロック信号、N13. N13゜N
271 N28は各ノード、V ccは電源電圧である
また、データ線DIlとDI2とデータ線D21とC2
2とが互いに一部分で隣接し、隣接している対向長を等
しくして各結合容量Cl1I Cl2I C21,C2
2が同一になるようにデータ線DI1. DI2は感知
増幅器入力端以外に1箇所、データ線D21. C22
は2箇所で交差させる。
以上のように構成された半導体集積回路について以下そ
の動作を説明する。
第1のデータ線対において読出し動作、第2のデータ線
対においてD2+にOV、C22にVccが書き込まれ
るとする。
まず、時刻toでクロック信号φ目がvo。+7丁又は
それ以上の電位になるとトランジス20口。
Q+s、 QIG、 Q24. Q25. Q2Bが導
通状態になり、データ線DI1. DI2. C21,
C22が予備充電されてデータ線DI1. DI2の電
位がVccとなる。
次に時刻t1でクロック信号φ目がOvになり、トラン
ジスタQ+4. Q10. QIG、 Q24. Q2
S。
Q2+1が遮断状態になる。次に時刻t2でクロック信
号φ13がvcc+V丁又はそれ以上の電位になりトラ
ンジスタQ1フr QI81 Q27. Q28が導通
状態になると容量CIT 、 C2BにはあらかじめO
vが蓄えられているためデータ線り目、C22の電位が
徐々に下がり始める。続いて、時刻t3でクロック信号
φ24がVCC電位になり第2のデータ線対において書
き込み動作が開始される。すなわち、トランジスタQ2
9. Q30が導通状態になり、D2. D2のデータ
がデータ線D21 、 C22に伝達される。
(トランジスタQ29. Q30の電流駆動能力はQ2
71 Q28に比して十分大きい。)第2のデータ線対
における書き込み動作によりデータ線D2+の電位はV
o。からOvに下がると、データ線D21とデータ線D
I1. DI2の結合容量CI1. C21によリ、デ
ータ線DIl、 DI2の電位も下げられる。しかしな
がら、結合容量C++ r C21は同一容量でありデ
ータID++、D+zがデータ線D21より受ける雑音
は等しいため、データ線DIlとDI2の電位差に影響
を及ぼすことはない。最後に時刻t4でクロック信号φ
12がvcc電位になるとトランジスタQ+3が導通状
態となって感知増幅器が動作し、データ線り目の電位が
データ線DI2の電位よりも低いためデータ線り目の電
位はOvに下げられ、一方、データHD + 2の電位
がほぼVccに保持されて第1のデータ線対の読み出し
動作は正常に終了する。
なお、第4図のタイミング図において、クロックφ13
が高電位になった後、クロックφ24が高電位になると
したが、クロックφ13が高電位になる前にクロックφ
24が高電位になる場合についても同様の効果が得られ
る。また、本実施例の説明において第1のデータ線対に
おいて読み出し動作、第2のデータ線対において書き込
み動作が行なわれる場合について説明したが、第2のデ
ータ線対において読み出し動作、第1のデータ線対にお
いて書き込み動作が行なわれる場合、あるいは第1及び
第2のデータ線対両方において読み出し動作が行なわれ
る場合においても本発明により結合容量C口、 Cl2
1 C21,C22はすべて等しくなるため対をなすデ
ータ線には同一の雑音が発生し、安定した感知増幅動作
が得られることは言うまでもない。
以上のように本実施例によれば、複数のデータ線対を有
する場合に任意のデータ線対についてそれを構成する第
1のデータ線に対する隣接データ線との対向長と、第2
のデータ線に対する隣接データ線との対向長が等しくな
るように第1及び第2のデータ線を交差させたことによ
り第1及び第2のデータ線が隣接データ線より受ける雑
音が等しくなり安定した感知増幅動作が得られる。
なお、第1の実施例の説明においてデータ線をデータ線
対の長手方向中央部で1カ所互いに交差させたが、各デ
ータ線と隣接信号線との対向長が等しくなるよう複数箇
所交差させても同様の効果が得られる。また、第1の実
施例の説明において隣接信号線が第2のデータ線の右に
配置された場合を述べたが、第1のデータ線の左に配置
された場合、あるいはデータ線対の上又は下に配置され
た場合においても本発明が有効であることは言うまでも
ない。
発明の効果 本発明は第1及び第2のデータ線により構成されるデー
タ線対において感知増幅器の入力端以外の領域で第1及
び第2のデータ線を交差させることにより、第1及び第
2の各データ線と同第1及び第2のデータ線と隣接する
信号線との対向長をほぼ等しくし第1及び第2のデータ
線が隣接する信号線より受ける雑音を等しくすることが
でき、誤動作なく安定した感知増幅動作が得られるすぐ
れた信頼性のある半導体集積回路を実現できるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における半導体集積回路の回
路図、第2図は第1図における各入力クロック信号及び
各ノードの電圧波形のタイミング図、第3図は本発明の
他の実施例における半導体集積回路の回路図、第4図は
第3図における各人力クロック信号及び各ノードの電圧
波形のタイミング図、第5図は従来の半導体集積回路の
回路図、第6図、第7図は第5図における各入力クロッ
ク信号及び各ノードの電圧波形のタイミング図である。 Dll = DI2+ 021 、D22・・・・・・
データ線、DI3・・・・・・信号線、C1,C2,C
3,C4・旧・・データ線配線容量、Cl1I CI2
. C21,C22・旧・・結合容量、Cl7. Cl
8. C271C25−−容量、Q目〜Q3o・”・・
・トランジスタ、Vcc・・・・・・電源電圧。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名c、<3.
On、CIz、Ctj−@+rhbrh2・−ダ°−タ
vL時 第 2 図 第4図 第5図 グS 6 図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1および第2のデータ線により構成されるデー
    タ線対と、前記データ線対上の信号を差動的に検出する
    感知増幅器とを備えるとともに、前記第1及び第2のデ
    ータ線を、前記感知増幅器の入力端以外の領域で1箇所
    又は複数箇所交差させることにより前記第1および第2
    の各データ線と同第1および第2のデータ線と隣接する
    信号線との対向長をほぼ等しくしたことを特徴とする半
    導体集積回路。
  2. (2)第1および第2のデータ線と隣接する信号線が1
    本であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
    の半導体集積回路。
  3. (3)第1および第2のデータ線と隣接する信号線が、
    1箇所または複数箇所で交差している第3と第4のデー
    タ線対であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に
    記載の半導体集積回路。
JP62039448A 1987-02-23 1987-02-23 半導体集積回路 Pending JPS63206992A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62039448A JPS63206992A (ja) 1987-02-23 1987-02-23 半導体集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62039448A JPS63206992A (ja) 1987-02-23 1987-02-23 半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63206992A true JPS63206992A (ja) 1988-08-26

Family

ID=12553308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62039448A Pending JPS63206992A (ja) 1987-02-23 1987-02-23 半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63206992A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3942164A (en) * 1975-01-30 1976-03-02 Semi, Inc. Sense line coupling reduction system
JPS60254489A (ja) * 1984-05-31 1985-12-16 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3942164A (en) * 1975-01-30 1976-03-02 Semi, Inc. Sense line coupling reduction system
JPS60254489A (ja) * 1984-05-31 1985-12-16 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0004444B1 (en) A clocked static memory
JPH0745076A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0713857B2 (ja) 半導体記憶装置
US4622655A (en) Semiconductor memory
JPH06150648A (ja) カラム選択回路
JPS61110394A (ja) 半導体記憶装置
US4625300A (en) Single-ended sense amplifier for dynamic memory array
JPH03272087A (ja) 半導体記憶装置
US5732026A (en) Semiconductor memory device including main/sub-bit line arrangement
US4858193A (en) Preamplification method and apparatus for dram sense amplifiers
WO2007013984A1 (en) High speed array pipeline architecture
JPH09246482A (ja) 半導体記憶装置
US6816425B2 (en) Balanced sense amplifier control for open digit line architecture memory devices
JPS63206992A (ja) 半導体集積回路
JP3393923B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6034192B2 (ja) メモリ
JP2001023374A (ja) 半導体記憶装置
JPH01185896A (ja) 半導体記億装置
JPH0159680B2 (ja)
JPS61182693A (ja) ダイナミツク型ram
JPH0660657A (ja) 半導体記憶装置
JPS599115B2 (ja) ハンドウタイメモリ
JPH03152793A (ja) 半導体記憶装置
JPS60247896A (ja) 半導体装置
JPH03278392A (ja) 半導体記憶装置の制御方法