JPS63206603A - 電子写真用感光体外径測定方法 - Google Patents
電子写真用感光体外径測定方法Info
- Publication number
- JPS63206603A JPS63206603A JP4080887A JP4080887A JPS63206603A JP S63206603 A JPS63206603 A JP S63206603A JP 4080887 A JP4080887 A JP 4080887A JP 4080887 A JP4080887 A JP 4080887A JP S63206603 A JPS63206603 A JP S63206603A
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- JP
- Japan
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- outside diameter
- photosensitive substance
- outer diameter
- photoreceptor
- laser light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 title abstract 7
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Cleaning In Electrography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、表面に光導電材料よりなる感光層を有する円
筒形の電子写真用感光体外径測定方法に関する。
筒形の電子写真用感光体外径測定方法に関する。
アルミニウム管などを用いる円筒状導電性基体の表面に
セレン系材料の蒸着あるいは有機系材料の塗布などによ
り感光層を形成した電子写真用感光体の電子写真装置へ
の組込みのためあるいは製品管理のために外径を測定す
るには、円筒体の外径測定法として最も一般的なマイク
ロメータによる方法が行われていた。
セレン系材料の蒸着あるいは有機系材料の塗布などによ
り感光層を形成した電子写真用感光体の電子写真装置へ
の組込みのためあるいは製品管理のために外径を測定す
るには、円筒体の外径測定法として最も一般的なマイク
ロメータによる方法が行われていた。
しかし、マイクロメータにより外径を測定する場合、機
械的接触により感光層表面に傷が生じやすく、これが原
因となって印字９画像欠陥を生ずるおそれがある。従っ
て直接製品を測定することはできず、仕損じ品等による
代替測定を行わざるを得なかった。
械的接触により感光層表面に傷が生じやすく、これが原
因となって印字９画像欠陥を生ずるおそれがある。従っ
て直接製品を測定することはできず、仕損じ品等による
代替測定を行わざるを得なかった。
本発明の目的は、この問題を解決して感光層表面に傷を
与えずに行うことのできる電子写真用感光体外径測定方
法を提供することにある。
与えずに行うことのできる電子写真用感光体外径測定方
法を提供することにある。
上述の目的を達成するために、本発明の方法は、感光体
の軸方向に直角な方向にレーザ光束を投射するレーザ光
源とそのレーザ光束の入射する受光素子の対を２対所定
の平行間隔で配置し、両レーザ光束が感光体の外径の両
端の位置で感光体にそれぞれ一部さえぎられるようにし
、その際の両受光素子の出力電圧の大きさから感光体の
外径を検知するものとする。
の軸方向に直角な方向にレーザ光束を投射するレーザ光
源とそのレーザ光束の入射する受光素子の対を２対所定
の平行間隔で配置し、両レーザ光束が感光体の外径の両
端の位置で感光体にそれぞれ一部さえぎられるようにし
、その際の両受光素子の出力電圧の大きさから感光体の
外径を検知するものとする。
感光体の外径が大きければさえぎられる光束の量が増加
するため受光素子の出力電圧が減少し、小さければ逆に
なるため、出力電圧を測定することにより非接触で感光
体の外径を検知することができる。
するため受光素子の出力電圧が減少し、小さければ逆に
なるため、出力電圧を測定することにより非接触で感光
体の外径を検知することができる。
第１図は本発明の実施例の原理図を示すものである。こ
のように感光体１の両側に、半導体レーザを用いるレー
ザ投光部２とフォトダイオードを用いる受光部３の対を
平行間隔に一対設け、レーザ光束４の一部が感光体によ
りさえぎられるようにする。受光部３のフォトダイオー
ドがレーザ光の受光量に比例した電圧ｖＩ及びｖ２を出
力するものとすれば、両者の和（ＶＩ＋Ｖ２）の変化量
Δ （Ｖ＋ ＋ＶＺ） は感光体の外径の変化量、即
ちレーザ光束をさえぎる度合が大きいほど大きくなる。
のように感光体１の両側に、半導体レーザを用いるレー
ザ投光部２とフォトダイオードを用いる受光部３の対を
平行間隔に一対設け、レーザ光束４の一部が感光体によ
りさえぎられるようにする。受光部３のフォトダイオー
ドがレーザ光の受光量に比例した電圧ｖＩ及びｖ２を出
力するものとすれば、両者の和（ＶＩ＋Ｖ２）の変化量
Δ （Ｖ＋ ＋ＶＺ） は感光体の外径の変化量、即
ちレーザ光束をさえぎる度合が大きいほど大きくなる。
従って既知の外径に対するＶ、 十Ｖ、を規準とし、そ
れに対するΔ （Ｖ＋＋ＶＺ）を求めることにより未知
の外径を求めることができる。
れに対するΔ （Ｖ＋＋ＶＺ）を求めることにより未知
の外径を求めることができる。
フォトダイオードの出力電圧の和の変化量Δ（Ｖ。
＋Ｖア）を、感光体の外径の変化量に比例させるには、
投光部２の前、あるいは受光部３の前に、例えばｌｆｉ
幅のスリットを置き、レーザ光の光束を線状にするのが
有効である。
投光部２の前、あるいは受光部３の前に、例えばｌｆｉ
幅のスリットを置き、レーザ光の光束を線状にするのが
有効である。
第２図は、実施例における測定値と受光のマイクロメー
タによる測定値とを２４本の試料について比較したもの
である。縦軸が実施例、横軸が従来法によるものである
。この図が示すように、本実施例は従来法に対し測定誤
差は１０μ程度であり、また相関係数も０．９９となる
。従って、本発明は感光体の外径測定に対する高（を傾
度の測定方法といえる。
タによる測定値とを２４本の試料について比較したもの
である。縦軸が実施例、横軸が従来法によるものである
。この図が示すように、本実施例は従来法に対し測定誤
差は１０μ程度であり、また相関係数も０．９９となる
。従って、本発明は感光体の外径測定に対する高（を傾
度の測定方法といえる。
本発明によれば、電子写真用感光体の外径の両端で一部
がさえぎられる平行な二つのレーザ光束をそれぞれ受光
素子に入射させ、入射光量に対応する両受光素子の出力
電圧から外径を検知することにより、感光体の外径を感
光層に損傷を与えることなく測定することができるため
、製品を直接測定することが可能となり、電子写真用感
光体の製造あるいは使用に与える効果は極めて大きい。
がさえぎられる平行な二つのレーザ光束をそれぞれ受光
素子に入射させ、入射光量に対応する両受光素子の出力
電圧から外径を検知することにより、感光体の外径を感
光層に損傷を与えることなく測定することができるため
、製品を直接測定することが可能となり、電子写真用感
光体の製造あるいは使用に与える効果は極めて大きい。
第１図は本発明の一実施例の測定原理を示す正面図、第
２図は感光体外径本発明の一実施例による測定値とマイ
クロメータによる測定値の散布図である。
２図は感光体外径本発明の一実施例による測定値とマイ
クロメータによる測定値の散布図である。
Claims (1)
- １）感光体の軸方向にレーザ光束を投射するレーザ光源
と該レーザ光束の入射する受光素子の対を２対所定の平
行間隔で配置し、両レーザ光束が感光体の外径の両端の
位置で感光体にそれぞれ一部さえぎられるようにし、そ
の際の両受光素子の出力電圧の大きさから感光体の外径
を検知することを特徴とする電子写真用感光体外径測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4080887A JPS63206603A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 電子写真用感光体外径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4080887A JPS63206603A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 電子写真用感光体外径測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63206603A true JPS63206603A (ja) | 1988-08-25 |
Family
ID=12590940
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4080887A Pending JPS63206603A (ja) | 1987-02-24 | 1987-02-24 | 電子写真用感光体外径測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63206603A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009250863A (ja) * | 2008-04-09 | 2009-10-29 | Kinki Engineering:Kk | 木材の寸法検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59210307A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | Hitachi Cable Ltd | 外径測定装置 |
-
1987
- 1987-02-24 JP JP4080887A patent/JPS63206603A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59210307A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | Hitachi Cable Ltd | 外径測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009250863A (ja) * | 2008-04-09 | 2009-10-29 | Kinki Engineering:Kk | 木材の寸法検査装置 |
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