JPS63203137A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPS63203137A JPS63203137A JP62037165A JP3716587A JPS63203137A JP S63203137 A JPS63203137 A JP S63203137A JP 62037165 A JP62037165 A JP 62037165A JP 3716587 A JP3716587 A JP 3716587A JP S63203137 A JPS63203137 A JP S63203137A
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- JP
- Japan
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- ray
- voltage
- tube
- rays
- ray tube
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- Pending
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、可変電圧がＸ線管に供給されるＸ線ＣＴ装置
に関する。
に関する。
（従来の技術）
Ｘ線ＣＴ装置はＸ線管で発生したＸ線を被写体に曝射し
、このＸ線吸収係数を検出器によってデータとして検出
してこのデータに基いて画像を再構成するものである。
、このＸ線吸収係数を検出器によってデータとして検出
してこのデータに基いて画像を再構成するものである。
このようにＸ線管からＸ線を発生させるにはＸ線管に対
して高圧を印加する必要がある。
して高圧を印加する必要がある。
一般に比較的低い管電圧が印加された場合Ｘ線管は波長
の長いＸ線（軟Ｘ線）を発生し、この際の収集データに
基いた再構成画像は密度分解能に優れたものが得られる
。一方、高い管電圧が印加された場合Ｘ線管は波長の短
いＸ線（硬Ｘ線）を発生し、この際の収集データに基い
た再構成画像は空間分解能に優れたものが得られる。
の長いＸ線（軟Ｘ線）を発生し、この際の収集データに
基いた再構成画像は密度分解能に優れたものが得られる
。一方、高い管電圧が印加された場合Ｘ線管は波長の短
いＸ線（硬Ｘ線）を発生し、この際の収集データに基い
た再構成画像は空間分解能に優れたものが得られる。
（発明が解決しようとする問題点）
ところで従来のＸ線ＣＴ装置では、Ｘａ管に印加する電
圧は第５図（ａ）のように時間軸に沿って変化しない一
定電圧Ｖｃｔｆｉ設定されｔいるので、第５図（ｂ）の
収集パルス（サンプリングパルス）Ｐをどの時点で選ん
でも、Ｘ線管からは一定電圧Ｖｃに基いたエネルギーの
Ｘ線が曝射されるように構成されている。このため常に
軟Ｘ線か硬Ｘ線かのいずれか一方のみ発生するので、１
度の収集ステップで得られる再構成画像は密度分解能に
優れたものか、空間分解能に優れたものかに限られるこ
とになるため、画質を向上させる上で問題がある。
圧は第５図（ａ）のように時間軸に沿って変化しない一
定電圧Ｖｃｔｆｉ設定されｔいるので、第５図（ｂ）の
収集パルス（サンプリングパルス）Ｐをどの時点で選ん
でも、Ｘ線管からは一定電圧Ｖｃに基いたエネルギーの
Ｘ線が曝射されるように構成されている。このため常に
軟Ｘ線か硬Ｘ線かのいずれか一方のみ発生するので、１
度の収集ステップで得られる再構成画像は密度分解能に
優れたものか、空間分解能に優れたものかに限られるこ
とになるため、画質を向上させる上で問題がある。
本発明はこのような問題に対処してなされたもので、１
度の収集ステップで異なったエネルギーのＸ線を曝射で
きるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とするものであ
る。
度の収集ステップで異なったエネルギーのＸ線を曝射で
きるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とするものであ
る。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、グラティキュール
信号に同期して時間軸に沿って変換する管電圧及び収集
パルスを発生させ、収集パルスの位相を変化させること
により任意の大きざの管電圧を得ることを特徴としてい
る。
信号に同期して時間軸に沿って変換する管電圧及び収集
パルスを発生させ、収集パルスの位相を変化させること
により任意の大きざの管電圧を得ることを特徴としてい
る。
（作 用）
被写体の周囲に配置されたＸ線管の位置を検出するため
のグラティキュール信号を検出するためのグラティキュ
ール信丹を利用し、これに同期して発生させた時間軸に
沿って変化する例えば正弦波から成る管電圧を収集パル
スの位相を変化させることにより、任意の値の管電圧を
設定することができる。
のグラティキュール信号を検出するためのグラティキュ
ール信丹を利用し、これに同期して発生させた時間軸に
沿って変化する例えば正弦波から成る管電圧を収集パル
スの位相を変化させることにより、任意の値の管電圧を
設定することができる。
（実施例）
第１図は本発明のＸ線ＣＴ装置の実施例を示すブロック
図で、１はＸ線管で印加された電圧に基いて被写体２に
対してＸ線を曝射し、このＸ線吸収係数がデータとして
検出器３によって検出される。検出器３は例えばシンチ
レータ検出器から構成され、複数のチャンネルが一体化
されている。
図で、１はＸ線管で印加された電圧に基いて被写体２に
対してＸ線を曝射し、このＸ線吸収係数がデータとして
検出器３によって検出される。検出器３は例えばシンチ
レータ検出器から構成され、複数のチャンネルが一体化
されている。
例えば第３世代のＣＴ溜装置場合、Ｘ線管１はＸ線を曝
射しながら検出器３と一体となって、被写体２の周囲を
回転する。４はデータ収集部で検出器３で得られた被写
体２に関するＸ線吸収係数のデータを各チャンネルごと
に入力し、増幅、積分。
射しながら検出器３と一体となって、被写体２の周囲を
回転する。４はデータ収集部で検出器３で得られた被写
体２に関するＸ線吸収係数のデータを各チャンネルごと
に入力し、増幅、積分。
サンプルホールド及びＡ／Ｄ変換等の処理を行い、後段
の再構成部５に出力する。再構成部５は前記データ収集
部４からの被写体２の周囲の全方向からの投影データに
塁き、コンボリューション、パックプロジェクションを
行ってＣＴ両画像再構成して後段の表示部６に表示する
。被写体２の周囲を回転するＸ線管１の位置を検出する
ためのグラティキ１−ル信号が、Ｘ線制御器７及び収集
制御部８に入力される。Ｘ線制御器７はこれに基きグラ
ティキュール信号に同期した例えば正弦波電圧Ｓを出力
して高圧発生器９の一次側に加える。高圧発生器９はこ
の電圧Ｓ＠昇圧した後、二次側から第２図（ａ）のよう
な正弦波電圧Ｓ′を出力して前記Ｘ線管１に加える。
の再構成部５に出力する。再構成部５は前記データ収集
部４からの被写体２の周囲の全方向からの投影データに
塁き、コンボリューション、パックプロジェクションを
行ってＣＴ両画像再構成して後段の表示部６に表示する
。被写体２の周囲を回転するＸ線管１の位置を検出する
ためのグラティキ１−ル信号が、Ｘ線制御器７及び収集
制御部８に入力される。Ｘ線制御器７はこれに基きグラ
ティキュール信号に同期した例えば正弦波電圧Ｓを出力
して高圧発生器９の一次側に加える。高圧発生器９はこ
の電圧Ｓ＠昇圧した後、二次側から第２図（ａ）のよう
な正弦波電圧Ｓ′を出力して前記Ｘ線管１に加える。
収集制御部８は同様にしてグラティキュール信号に同期
した第２図（ｂ）のような収集パルス（サンプリングパ
ルス） Ｐｎ 、 Ｑｎ 、 Ｐｎ＋１． Ｑｎ＋ｔ・
・・を出力して前記データ収集部４に加える。この収集
パルスの位相及び数は任意に選ぶことができる。
した第２図（ｂ）のような収集パルス（サンプリングパ
ルス） Ｐｎ 、 Ｑｎ 、 Ｐｎ＋１． Ｑｎ＋ｔ・
・・を出力して前記データ収集部４に加える。この収集
パルスの位相及び数は任意に選ぶことができる。
次に本実施例の作用を説明する。
Ｘ線管１に対して高圧発生器９から第２図（ａ＞のよう
な正弦波電圧Ｓ’ （管電圧）を加えた状態で、デー
タ収集部４に対して収集制御部８から第２図（ｂ）のよ
うな収集パルスＰ ｎ ＊ Ｑｎ ｅ Ｐ ｎ＋ＬＱ
ｎ＋１・・・を加えることにより、被写体２に関するＸ
線吸収係数のデータを収集する。
な正弦波電圧Ｓ’ （管電圧）を加えた状態で、デー
タ収集部４に対して収集制御部８から第２図（ｂ）のよ
うな収集パルスＰ ｎ ＊ Ｑｎ ｅ Ｐ ｎ＋ＬＱ
ｎ＋１・・・を加えることにより、被写体２に関するＸ
線吸収係数のデータを収集する。
これによってＸ線管１から被写体２に対して第２図（ａ
）の管電圧Ｓ′に基いたエネルギーのＸ線が曝銅され、
これによる被写体２のＸ線吸収係数のデータが検出器３
によって検出されるが、データ収集部４には第２図（ｂ
）のような収集パルスが加えられているので、これら収
集パルスＰｎ 。
）の管電圧Ｓ′に基いたエネルギーのＸ線が曝銅され、
これによる被写体２のＸ線吸収係数のデータが検出器３
によって検出されるが、データ収集部４には第２図（ｂ
）のような収集パルスが加えられているので、これら収
集パルスＰｎ 。
Ｑｎ 、 Ｐｒｎｘ、 Ｑｎ÷１が加えられたタイミン
グに対応した管電圧のエネルギーによってのみデータ収
集が行われる。すなわち、本実施例の場合収集パルスＰ
ｎ、Ｐｎ＋１に対応したＶｌの大きざの管電圧のエネル
ギーによるデータ収集が行われると共に、収集パルスＱ
ｎ ＊ Ｑｎ＋ｔ、に対応したｖ２の大きざの管電圧の
エネルギーによるデータ収集が行われることになる。こ
れによって、１度の収集ステップで、高圧（ｖｌ）がＸ
線管１に印加された場合は硬Ｘ線が発生するので空間分
解能に優れた再構残画像が得られると共に、低圧（Ｖ２
）がＸ線管１に印加された場合は軟Ｘ線が発生するので
密度分解能に優れた再構成画像が得られる。従って画質
を向上させることができる。
グに対応した管電圧のエネルギーによってのみデータ収
集が行われる。すなわち、本実施例の場合収集パルスＰ
ｎ、Ｐｎ＋１に対応したＶｌの大きざの管電圧のエネル
ギーによるデータ収集が行われると共に、収集パルスＱ
ｎ ＊ Ｑｎ＋ｔ、に対応したｖ２の大きざの管電圧の
エネルギーによるデータ収集が行われることになる。こ
れによって、１度の収集ステップで、高圧（ｖｌ）がＸ
線管１に印加された場合は硬Ｘ線が発生するので空間分
解能に優れた再構残画像が得られると共に、低圧（Ｖ２
）がＸ線管１に印加された場合は軟Ｘ線が発生するので
密度分解能に優れた再構成画像が得られる。従って画質
を向上させることができる。
第３図（ａ）、（ｂ）は本発明の他の実施例による波形
を示すもので、前記実施例と異なったタイミングで収集
パルスＰｎ 、 Ｐｎ＋ｔ、 Ｑｎ 、 Ｑｎ＋ｔを加
える例を示すものである。
を示すもので、前記実施例と異なったタイミングで収集
パルスＰｎ 、 Ｐｎ＋ｔ、 Ｑｎ 、 Ｑｎ＋ｔを加
える例を示すものである。
第４図（ａ＞、（ｂ）は本発明のその他の実施例による
波形を示すもので、収集パルスをＰｎ 。
波形を示すもので、収集パルスをＰｎ 。
Ｐｎ＋ｘ、 Ｑｎ 、 Ｑｎ＋１． Ｒｎ 、 Ｒｎ＋
ｔのように３個に増加して加える例を示すものである。
ｔのように３個に増加して加える例を示すものである。
これら第３図（ａ＞、（ｂ）及び第４図（ａ）。
（ｂ）の実施例のように収集パルスを７１０えるタイミ
ング即ち位相をずらずことにより、又はタイミングを増
加させることにより、Ｘ線の性質を細かに変化させた再
構成画像を得ることができるので、より広範囲に画質を
変化させることが可能となる。
ング即ち位相をずらずことにより、又はタイミングを増
加させることにより、Ｘ線の性質を細かに変化させた再
構成画像を得ることができるので、より広範囲に画質を
変化させることが可能となる。
本実施例ではＸ線管１に加える電圧としては正弦波電圧
の場合を例にとって示したが、これに限らず他にも鋸歯
状波電圧のように時間軸に沿って大きざが変化するよう
な周期電圧であれば任意に選ぶことができる。
の場合を例にとって示したが、これに限らず他にも鋸歯
状波電圧のように時間軸に沿って大きざが変化するよう
な周期電圧であれば任意に選ぶことができる。
し発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、時間軸に沿って大き
ざが変化する管電圧を加えるようにしたので、１度の収
集ステップで異なったＸ線エネルギーでのデータ収集が
行え、画質を向上させることができる。
ざが変化する管電圧を加えるようにしたので、１度の収
集ステップで異なったＸ線エネルギーでのデータ収集が
行え、画質を向上させることができる。
第１図は本発明のＸＰ；ＪＯＴ装置の実施例を示ずブロ
ック図、第２図（ａ＞、（ｂ）は本実施例の作用を説明
する波形図、第３図（ａ＞、（ｂ）及び第４図（ａ）、
（ｂ）は本発明の他の実施例の作用を説明する波形図、
第５図（ａ＞、（ｂ）は従来例の作用を説明する波形図
である。 １・・・Ｘ線管、４・・・データ収集部、５・・・再構
成部、７・・・Ｘ線制御器、８・・・収集制御部、７５
′９
ック図、第２図（ａ＞、（ｂ）は本実施例の作用を説明
する波形図、第３図（ａ＞、（ｂ）及び第４図（ａ）、
（ｂ）は本発明の他の実施例の作用を説明する波形図、
第５図（ａ＞、（ｂ）は従来例の作用を説明する波形図
である。 １・・・Ｘ線管、４・・・データ収集部、５・・・再構
成部、７・・・Ｘ線制御器、８・・・収集制御部、７５
′９
Claims (2)
- （１）Ｘ線管から被写体に曝射したＸ線の吸収係数を検
出器によって検出しこれに基いて画像を再構成するＸ線
ＣＴ装置において、グラティキュール信号に同期して発
生した時間軸に沿って変化する電圧を前記Ｘ線管に印加
する高圧発生部と、グラティキュール信号に同期した収
集パルスが加えられこのパルス区間のみデータ収集を行
うデータ収集部とを備えたことを特徴とするＸ線ＣＴ装
置。 - （２）時間軸に沿って変化する電圧が正弦波電圧から成
る特許請求の範囲第１項記載のＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62037165A JPS63203137A (ja) | 1987-02-19 | 1987-02-19 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62037165A JPS63203137A (ja) | 1987-02-19 | 1987-02-19 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63203137A true JPS63203137A (ja) | 1988-08-23 |
Family
ID=12489983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62037165A Pending JPS63203137A (ja) | 1987-02-19 | 1987-02-19 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63203137A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7564944B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-07-21 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for inspecting ceramic structures |
| JP2013192801A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2014140528A (ja) * | 2013-01-24 | 2014-08-07 | Toshiba Corp | Ｘ線高電圧装置及びｘ線ｃｔ装置 |
| JP2016195848A (ja) * | 2016-07-26 | 2016-11-24 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US9778211B2 (en) | 2012-01-16 | 2017-10-03 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT (computed tomography) device |
-
1987
- 1987-02-19 JP JP62037165A patent/JPS63203137A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7564944B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-07-21 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for inspecting ceramic structures |
| US9778211B2 (en) | 2012-01-16 | 2017-10-03 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT (computed tomography) device |
| JP2013192801A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2014140528A (ja) * | 2013-01-24 | 2014-08-07 | Toshiba Corp | Ｘ線高電圧装置及びｘ線ｃｔ装置 |
| JP2016195848A (ja) * | 2016-07-26 | 2016-11-24 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置 |
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