JPS63196417A - Delivery device for plate substrate - Google Patents

Delivery device for plate substrate

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Publication number
JPS63196417A
JPS63196417A JP62028162A JP2816287A JPS63196417A JP S63196417 A JPS63196417 A JP S63196417A JP 62028162 A JP62028162 A JP 62028162A JP 2816287 A JP2816287 A JP 2816287A JP S63196417 A JPS63196417 A JP S63196417A
Authority
JP
Japan
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chuck
wafer
movable body
semiconductor wafer
along
Prior art date
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Pending
Application number
JP62028162A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadao Hirakawa
平川 忠夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS63196417A publication Critical patent/JPS63196417A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To miniaturize the titled device by providing a substrate receiver on a halfway part in the longitudinal direction of a slender moving body movable on the device main body along a guide, and rotating the substrate receiver as along in the longitudinal direction of the moving body when the moving body shunts. CONSTITUTION:A moving body 18 is moved in A direction along guide bodies 16 and 17 also along an upper surface of a delivery device main body 11, and a semiconductor wafer 8 supplied to one side 12 of the body 11 is received by wafer receivers 23 and 24. Then the body 18 is moved on a chuck 35, and the wafer 8 on wafer receivers 23 and 24 are supported by the chuck 35 with the chuck 35 is moved upward. Next, the body 18 is moved in B direction along guides 16 and 17, and is shunted from on the chuck 35. Concurrently motors 28 and 29 are rotated and receivers 23 and 24 are made to rotate 90 deg. as along the longitudinal direction of the body 18. This constitution enables a shunting space to be decreased and the device to be miniaturized.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) この発明は、例えばレジスト塗布装置等に使用され半導
体ウェハ等の板状基板の受渡し装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a device for transferring plate-shaped substrates such as semiconductor wafers, which is used, for example, in a resist coating device.

(従来の技術) 板状基板としての半導体ウェハから半導体チップを形成
する間には種々の工程があり、その1つに上記半導体基
板にレジストを塗布する工程がある。このレジスト塗布
工程は半導体基板上にレジストを滴下したのち、この半
導体ウェハを回転させることによって上記レジストを均
一に散布されるようにしている。
(Prior Art) There are various steps during the formation of a semiconductor chip from a semiconductor wafer as a plate-shaped substrate, one of which is the step of applying a resist to the semiconductor substrate. In this resist coating process, the resist is dropped onto the semiconductor substrate and then the semiconductor wafer is rotated so that the resist is uniformly distributed.

その際、上記半導体ウェハの周囲にレジストが飛散する
ため、上記半導体ウェハを上記チャックの所まで搬送し
てくる搬送礪構にレジストが付着しないようにしなけれ
ば、つぎに上記搬送機構で搬送する半導体ウェハが汚損
されるばかりか、上記搬送機構の駆動部等が勅かなくな
ることもある。
At that time, the resist scatters around the semiconductor wafer, so if you do not prevent the resist from adhering to the transport mechanism that transports the semiconductor wafer to the chuck, the semiconductor wafer will be transported next by the transport mechanism. Not only will the wafer be contaminated, but the drive section of the transport mechanism may become inoperable.

また、他の処理装置においては、ウェハ外径より大きい
円筒状のカバーがチャフ上方へ上昇してくるため、受は
渡し装置は退避していなければならない。
In other processing apparatuses, a cylindrical cover larger than the outer diameter of the wafer rises above the chaff, so the transfer device must be retracted.

このような板状基板としての半導体ウェハの受渡し装置
としては、第4図に示されるような構造のものが用いら
れている。この受渡し装置における装置本体1の両側に
はそれぞれ隣接して前処理装置2および後処理装WII
3が設けられている。
A device having a structure as shown in FIG. 4 is used as a device for transferring semiconductor wafers as plate-like substrates. A pre-processing device 2 and a post-processing device WII are adjacent to each other on both sides of the device main body 1 in this delivery device.
3 is provided.

そして、上記装置本体1の上部における両側間には略全
長に亘ってガイド体4が設けられてお、す、このガイド
体4にスライド自在に端部5を支持されて移動体6が設
けられている。
A guide body 4 is provided over substantially the entire length between both sides of the upper part of the device main body 1, and a movable body 6 is provided with an end portion 5 supported in a slidable manner by this guide body 4. ing.

この移動体6は細長い矩形状に形成されて、上記ガイド
体4に対して略直角に支持されている。
The movable body 6 is formed into an elongated rectangular shape and is supported substantially at right angles to the guide body 4 .

さらに、この移動体6にはこの移動体6の下側に略直交
する状態に一対のウェハ受け7.7が固定されている。
Further, a pair of wafer receivers 7.7 are fixed to the movable body 6 so as to be substantially perpendicular to the lower side of the movable body 6.

このウェハ受け7.7はそれぞれL字状に折曲されて、
その下端を対向させるとともに、半導体ウェハ8を受け
ることができるよう離間されている。
These wafer receivers 7.7 are each bent into an L shape,
Their lower ends are opposed to each other, and they are spaced apart so that they can receive the semiconductor wafer 8.

また、移動体6の下方に設けられたベース9には、上下
駆動および回転駆動されるチャック10が設けられてい
る。
Further, a base 9 provided below the movable body 6 is provided with a chuck 10 that is driven vertically and rotationally.

このように構成された板状基板としての半導体ウェハ8
の受渡し装置は、移動体6が図示しない駆動源によって
矢印六方向に移動することで上記前処理装置2より前処
理としての洗浄を終えて送りこまれる半導体ウェハ8を
、上記ウェハ受け7.7に受取る。そして、上記移動体
6がガイド体4に沿って矢印B方向へ移動して上記チャ
ック10に半導体ウェハ8の中心が対応する位置まで移
動して一旦停止する。ついで上記チャック10が上昇し
てウェハ受け7.7上に支持されていた半導体ウェハ8
を真空扱者するとともに持上げる。そして、上記移動体
6か再度矢印B方向に移動することにより、上記半導体
ウェハ8上より第3図にtaWaで示されるように移動
体6が退避する。さらに、上記チャック10が移動体6
よりも低い位置まで降下し、図示しないレジストが上記
半導体ウェハ8上に滴下される。ついで、チャック10
が回転することにより上記レジストが半導体ウェハ8上
に均一に分散されるよう構成されている。そして、この
とき上記レジストは回転によって生じる遠心力で周囲に
飛散する。
Semiconductor wafer 8 as a plate-like substrate configured in this way
The transfer device transfers semiconductor wafers 8, which are sent from the preprocessing device 2 after being cleaned as preprocessing, to the wafer receiver 7.7 by moving the movable body 6 in six directions of arrows by a drive source (not shown). Receive. Then, the movable body 6 moves in the direction of arrow B along the guide body 4 until the center of the semiconductor wafer 8 corresponds to the chuck 10, and once stops. Then, the chuck 10 is lifted up and the semiconductor wafer 8 supported on the wafer receiver 7.7 is lifted.
Lift with vacuum handler. Then, by moving the movable body 6 again in the direction of arrow B, the movable body 6 is retracted from above the semiconductor wafer 8 as shown by taWa in FIG. Furthermore, the chuck 10 is attached to the movable body 6
, and a resist (not shown) is dropped onto the semiconductor wafer 8. Next, Chuck 10
The resist is rotated so that the resist is uniformly dispersed on the semiconductor wafer 8. At this time, the resist is scattered around by the centrifugal force generated by the rotation.

しかしながら、半導体ウェハ8は移動体6よりも低い位
置にあるとともに、周囲にレジスト飛散防止カバーをし
ているため、ウェハ受け7.7や移動体6のガイド体4
への支持端部5等に付着するようなことがない。
However, since the semiconductor wafer 8 is located at a lower position than the movable body 6 and is surrounded by a resist scattering prevention cover, the wafer receiver 7.7 and the guide body 4 of the movable body 6
There is no possibility that it will stick to the support end 5 or the like.

このようにして半導体ウェハ8の上面にレジストが均一
に分散されると、チャック10の回転が停止するととも
に、上昇しウェハ受け7.7への受渡し位置まで上昇す
る。そして、退避状態にある移動体6が矢印六方向に移
動して、チャック10の上部に位置すると、チャック1
oは半導体ウェハ8の吸着状態を解除するとともに、降
下する。これにより、上記移動体6はそのウェハ受け7
.7上に半導体ウェハ8を受取り、さらに、矢印B方向
に移動して、後処理装M3に半導体ウェハ8を受渡す。
When the resist is uniformly dispersed on the upper surface of the semiconductor wafer 8 in this manner, the rotation of the chuck 10 is stopped and the chuck 10 is raised to the transfer position to the wafer receiver 7.7. When the movable body 6 in the retracted state moves in the six directions of the arrow and is located above the chuck 10, the chuck 1
o releases the suction state of the semiconductor wafer 8 and descends. As a result, the moving body 6 is moved to its wafer receiver 7.
.. 7 receives the semiconductor wafer 8, and further moves in the direction of arrow B to deliver the semiconductor wafer 8 to the post-processing device M3.

この後処理IA@3に受渡された半導体ウェハ8は乾燥
されたのち、その次の工程に搬送される。
The semiconductor wafer 8 delivered to the post-processing IA@3 is dried and then transported to the next process.

このような板状基板としての半導体ウェハの受渡し装置
は、半導体ウェハ8上にレジストを均一に分散するとき
に飛散するレジストが、ウェハ受け7.7等に付着する
のを防止するために上記移動体6が退避する。しかし、
上記ウェハ受け7.7が移動体6に対して直交する角度
で取付られているため、これらウェハ受け7.7の長さ
によって移動体6の退避スペースがこの移動体6の幅寸
法に比べて大きく必要であり装置の大形化を招く、そし
てこれによりクリーンルーム等の高価な敷地を有効に活
用できないという欠点があった。
Such a device for transferring semiconductor wafers as plate-like substrates is operated by the above-mentioned movement in order to prevent the scattered resist from adhering to the wafer receiver 7, 7, etc. when the resist is uniformly dispersed on the semiconductor wafer 8. Body 6 retreats. but,
Since the wafer receivers 7.7 are installed at an angle perpendicular to the movable body 6, the evacuation space for the movable body 6 is larger than the width of the movable body 6 due to the length of these wafer receivers 7.7. This has the disadvantage that it is necessary to be large, leading to an increase in the size of the device, and that expensive premises such as a clean room cannot be used effectively.

(発明が解決しようとする問題点) 上述のように、板状基板をチャックに受渡したのちに退
避する移動体は、その退避のための大きなスペースを必
要とするためlA装置本体大形化してしまい、クリーン
ルーム等の高価な敷地を有効に活用できないという事情
があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, the movable body that is retracted after delivering the plate-shaped substrate to the chuck requires a large space for retracting, so the main body of the IA apparatus has to be enlarged. Therefore, there was a situation in which expensive premises such as clean rooms could not be used effectively.

この発明は上記事情等に着目してなされたものであり、
上記装置本体に設けられる移動体の退避スペースを小さ
くすることにより、装置本体を小形化した板状基板の受
渡し装置を提供することを目的とする。
This invention was made focusing on the above circumstances, etc.
It is an object of the present invention to provide a plate-shaped substrate delivery device in which the device main body is downsized by reducing the retraction space for a movable body provided in the device main body.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(問題点を解決するための手段及び作用)この発明は、
チャックを有する装置本体にガイド体を設け、このガイ
ド体にスライド自在に支持された細長い移動体を設け、
この移動体の中途部に移動体に対して直交する状態で板
状基板を受ける一対の基板受けを枢支し、これら基板受
けに支持された板状基板を上記チャックに渡してから上
記移動体を退避する場合に上記基板受けを移動体の長手
方向に沿うよう回動する回動機構を設けることにより、
上記移動体の退避時に、必要な退避のためのスペースを
従来に比較して小さくできる板状基板の受渡し装置にあ
る。
(Means and effects for solving the problem) This invention has the following features:
A guide body is provided in an apparatus main body having a chuck, and an elongated moving body is slidably supported on the guide body,
A pair of substrate holders for receiving plate-shaped substrates are pivotally supported in the middle of the moving body in a state perpendicular to the moving body, and the plate-shaped substrates supported by these substrate holders are passed to the chuck, and then the moving body By providing a rotation mechanism that rotates the substrate holder along the longitudinal direction of the moving body when retracting the moving body,
The present invention provides a plate-shaped substrate delivery device that can reduce the required space for evacuation when the movable body is evacuated compared to the conventional one.

(実施例) この発明を第1図および第2図に示されるー寅施例にも
とづいて説明する。
(Embodiment) The present invention will be explained based on an embodiment shown in FIGS. 1 and 2.

図中において、11は装置本体であり、この装置本体1
1の両側12.13に隣接して、それぞれ図示しない前
処理装置および後処理装置が設けられている。
In the figure, 11 is the device main body, and this device main body 1
Adjacent to both sides 12 and 13 of 1, a pre-processing device and a post-processing device (not shown) are provided, respectively.

そして、上記装置本体11の上記側部12.13間に亘
って、縁部14.15に沿うガイド体16.17が設け
られている。このガイド体16.17は例えば円柱状に
形成され、互いに同じ高さに位置して両端が固定されて
いる。
A guide body 16.17 is provided extending between the side portions 12.13 of the device main body 11 and extending along the edge portion 14.15. The guide bodies 16, 17 are formed, for example, in a cylindrical shape, are located at the same height, and are fixed at both ends.

さらに、この2つのガイド体16.17には図示しない
軸受けを介して移動体18の両端部19.20がスライ
ド自在に支持されている。この移動体18は両端部19
.201m1.mIt長&長短N矩形状部分するととも
に図示しない駆動源により上記ガイド体16.17に沿
って矢印A、B方向に駆動されるように構成されている
Furthermore, both ends 19.20 of the movable body 18 are slidably supported by these two guide bodies 16.17 via bearings (not shown). This moving body 18 has both ends 19
.. 201m1. It has a rectangular shape with length mIt and long and short N, and is configured to be driven in the directions of arrows A and B along the guide bodies 16 and 17 by a drive source (not shown).

また、この移動体18の中途部には、一定の距離で離間
して回動自在な枢支軸21.22が上下方向に貫通状態
に設けられている。
Further, in the middle of the movable body 18, pivot shafts 21 and 22 which are rotatable and spaced apart from each other by a certain distance are provided so as to penetrate in the vertical direction.

そして、上記移動体18の下部に突出する枢支軸下端に
はL字状に折曲された基板受けとしてのウェハ受け23
.24が結合されている。さらに、上記枢支軸21.2
2の上端にはそれぞれプーリ25.26が設けられてい
る。そして、上記移動体18の両端部19.20の上部
にはモータ支持部27・・・によって支持されたモータ
28.29が設けられている。このモータ28.29の
回転軸には、上記プーリ25.26に対応する高さでプ
ーリ30.31が嵌着され、これらプーリ25.30お
よびプーリ26.31間には無端ベルト32.33が張
設されている。これらモータ28.29、プーリ25.
26.30.31および無端ベルト32.33によって
上記ウェハ受け23.24の回動機構34が構成されて
いる。
At the lower end of the pivot shaft protruding from the lower part of the movable body 18, a wafer receiver 23 is bent into an L shape and serves as a substrate receiver.
.. 24 are connected. Further, the pivot shaft 21.2
Pulleys 25 and 26 are provided at the upper ends of the two. Motors 28 and 29 supported by motor supports 27 are provided above both ends 19 and 20 of the movable body 18. A pulley 30.31 is fitted onto the rotating shaft of this motor 28.29 at a height corresponding to the pulley 25.26, and an endless belt 32.33 is connected between these pulleys 25.30 and 26.31. It is stretched. These motors 28, 29, pulleys 25.
26, 30, 31 and the endless belt 32, 33 constitute a rotating mechanism 34 for the wafer receiver 23, 24.

さらに、装置本体11の内側路中央部には、上下および
回転駆動するチャック35が設けられている。このチャ
ック35は例えばその上面中央に真空吸着口が設けられ
ている。
Furthermore, a chuck 35 that is driven vertically and rotationally is provided at the center of the inner path of the main body 11 of the apparatus. This chuck 35 is provided with a vacuum suction port, for example, at the center of its upper surface.

このような板状基板としての半導体ウェハの受渡し装置
は、その移動体18が図示しない駆動源によって第1図
における矢印六方向に移動し、装置本体11の一側12
に位置して、図示しない前処理装置から供給される板状
基板としての半導体ウェハ8を上記移動体18に設けら
れた一対の基板受けとしてのウェハ受け23.24がこ
の移動体18に略直交する状態で受取る。
In this type of device for transferring semiconductor wafers as plate-like substrates, the movable body 18 moves in the six directions of arrows in FIG.
A pair of wafer receivers 23 and 24 as substrate receivers provided on the moving body 18 are located approximately perpendicular to the moving body 18, and a semiconductor wafer 8 as a plate-shaped substrate supplied from a pre-processing device (not shown) is placed therein. Receive it in the same condition.

そして、上記ウェハ受け23.24上に半導体ウェハ8
を支持した状態で、移動体18は矢印B方向へ移動して
、チャック35の中心上に半導体ウェハの中心が略対応
する位置で一旦停止する。
Then, the semiconductor wafer 8 is placed on the wafer receiver 23, 24.
While supporting the semiconductor wafer, the movable body 18 moves in the direction of arrow B and temporarily stops at a position where the center of the semiconductor wafer substantially corresponds to the center of the chuck 35.

このとき、上記チャック35が上方へ駆動されてその上
面で半導体ウェハ8をウェハ受け23.24上より持上
げるとともに、図示しない真空吸着口によって、半導体
ウェハ8を吸着固定する。
At this time, the chuck 35 is driven upward, and its upper surface lifts the semiconductor wafer 8 from above the wafer receiver 23, 24, and the semiconductor wafer 8 is suctioned and fixed by a vacuum suction port (not shown).

つぎに、上記移動体18は矢印B方向に移動して装置本
体11の他側13に位置する。
Next, the movable body 18 moves in the direction of arrow B and is located on the other side 13 of the apparatus main body 11.

このとき、上記モータ28.29が回転し、上記回動機
構34が連動することで、上記ウェハ受け23.24が
略90°回動される。すると、これらウェハ受け23.
24は第1図に鎖線で示されるように移動体18の下部
において長手方向に沿うように折たたまれる。
At this time, the motors 28, 29 rotate, and the rotation mechanism 34 is interlocked, so that the wafer receivers 23, 24 are rotated approximately 90 degrees. Then, these wafer receivers 23.
24 is folded along the longitudinal direction at the bottom of the movable body 18, as shown by the chain line in FIG.

そして、半導体ウェハ8を吸着したチャック35が上記
ウェハ受け23.24よりも低い位置まで降下する。さ
らに、上記半導体ウェハ8の上面には図示しないレジス
トが滴下される。そして、上記チャック35が回転する
ことによりレジストが半導体ウェハ8上に均一に分散さ
れる。
Then, the chuck 35 holding the semiconductor wafer 8 is lowered to a position lower than the wafer receivers 23 and 24. Furthermore, a resist (not shown) is dropped onto the upper surface of the semiconductor wafer 8. Then, as the chuck 35 rotates, the resist is uniformly dispersed on the semiconductor wafer 8.

この場合レジストが遠心力で半導体ウェハ8の上面から
周囲に飛散する。しかし、上記移動体18およびそのウ
ェハ受け23.24は半導体ウェハ8より高い位置にあ
り、さらに、上記移動体18はチャック35の上方から
退避状態にあるため、上記移動体18やそのウェハ受け
23.24にレジストが付着することがない。
In this case, the resist is scattered from the top surface of the semiconductor wafer 8 to the surrounding area due to centrifugal force. However, the movable body 18 and its wafer receivers 23 and 24 are located at a higher position than the semiconductor wafer 8, and furthermore, the movable body 18 is retracted from above the chuck 35. .24 does not have resist attached to it.

そして、レジストが半導体ウェハ8上に分散されると上
記チャック35は回転を停止するとともに、ウェハ受け
23.24に半導体ウェハ8を支持させることが可能な
位置まで上昇する。
When the resist is dispersed onto the semiconductor wafer 8, the chuck 35 stops rotating and rises to a position where the semiconductor wafer 8 can be supported by the wafer receivers 23, 24.

そして、上記移動体18が再び矢印六方向に駆動されて
チャック35上に移動するとともに、モータ28.29
が折たたみ時とは逆方向に回転し、回動機構34を介し
て上記ウェハ受け23.24が略90°回動する。そし
て、回動前と同様に移動体18の長手方向に略直角にな
るように位置することで、半導体ウェハ8を支持可能な
状態となる。
Then, the movable body 18 is again driven in the six directions of the arrows and moved onto the chuck 35, and the motor 28, 29
is rotated in the opposite direction to that when folded, and the wafer receivers 23 and 24 are rotated approximately 90 degrees via the rotation mechanism 34. Then, as before the rotation, the movable body 18 is positioned substantially perpendicular to the longitudinal direction of the movable body 18, so that the semiconductor wafer 8 can be supported.

さらに、チャック35は吸着状態を解除するともに、降
下することで、半導体ウェハ8をウェハ受け23.24
上に支持させる。そして、移動体18が矢印B方向へ駆
動されることにより、半導体ウェハ8を他側13に位置
する図示しない後処理装置に受渡す。
Further, the chuck 35 releases the adsorption state and descends to place the semiconductor wafer 8 on the wafer receiver 23.24.
Support on top. Then, by driving the movable body 18 in the direction of arrow B, the semiconductor wafer 8 is delivered to a post-processing device (not shown) located on the other side 13.

このような板状基板としての半導体ウェハ8の受渡し装
置は、移動体18に設けられた基板受けとしてのウェハ
受け23.24が、回動機構34によって移動体18の
長手方向と同じ方向に回動されるため、移動体18の退
避時にその退避のためのスペースが小さくなる。これに
より、装置本体11を小型化することができるとともに
、クリーンルーム等の^価な敷地面積を有効に活用でき
る。
In such a device for transferring semiconductor wafers 8 as plate-like substrates, the wafer receivers 23 and 24 as substrate receivers provided on the movable body 18 are rotated in the same direction as the longitudinal direction of the movable body 18 by the rotation mechanism 34. Therefore, when the moving body 18 is evacuated, the space for evacuating the moving body 18 becomes smaller. Thereby, the device body 11 can be downsized, and the expensive site area of a clean room or the like can be effectively utilized.

なお、この発明は上記一実施例に限定されるものではな
い。例えば、上記一実施例においてガイド体16.17
が移動体18の両端部19.20に設けられているが、
これに限定されることなく、いずれか一端側にのみガイ
ド体が設けられるものも含まれる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above embodiment, the guide bodies 16, 17
are provided at both ends 19.20 of the moving body 18,
The present invention is not limited to this, and includes a case in which a guide body is provided only on one end side.

また、基板受けとしてのウェハ受け23.24の回動機
構34は上述の機構に限定されるものではない、つまり
、一つのモータもしくはロータリーソレノイド等の回転
駆動力を無端ワイヤ等を介して伝達し、ウェハ受け23
.24を回動する機構等も含まれる。
Furthermore, the rotation mechanism 34 of the wafer receivers 23 and 24 as substrate receivers is not limited to the above-mentioned mechanism. In other words, the rotational driving force of a single motor or rotary solenoid is transmitted via an endless wire or the like. , wafer receiver 23
.. It also includes a mechanism for rotating 24.

また、上記ウェハ受け23.24をモータ等で直接回動
させるものも含まれる。
It also includes one in which the wafer receivers 23 and 24 are directly rotated by a motor or the like.

ざらに、上記板状基板としての半導体ウェハの受渡し装
置の実施される対象は上記レジストの塗布装置に限定さ
れるものではなく半導体ウェハの現像装置や洗浄装置等
も含まれる。
In general, the device for transferring semiconductor wafers as plate-shaped substrates is not limited to the resist coating device, but also includes semiconductor wafer developing devices, cleaning devices, and the like.

また、ウェハ受け23.24の回動構造は、移動体への
重合に限定されず、移動体に沿うように回動し、折たた
まれることによって退避のためのスペースを小さくする
構造であればよい。また、本発明は半導体ウェハの受渡
しに限らず、ガラス基板等の板状基板の受渡しに利用で
きるものである。
Furthermore, the rotating structure of the wafer receivers 23 and 24 is not limited to being superimposed on the moving body, but may be a structure that reduces the space for evacuation by rotating along the moving body and folding. Bye. Furthermore, the present invention is applicable not only to the delivery of semiconductor wafers but also to the delivery of plate-shaped substrates such as glass substrates.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、この発明によれば板状基板の処理
中に退避する移動体やこの移動体に設けられた基板受は
等に処理液等が飛散するのを防止するため上記移動体を
退避させる場合、上記基板受けを上記移動体の長手方向
に沿うように回動することができるようにした。これに
より、退避のためのスペースが従来に比較して小さくて
すむため装置本体を小型化することができ、クリーンル
ーム等高価な敷地面積を有効に活用できる板状基板の受
渡し装置を提供できる。
As explained above, according to the present invention, the movable body is moved in order to prevent processing liquid, etc. from scattering on the movable body that is evacuated during processing of plate-shaped substrates, the substrate holder provided on this movable body, etc. When retracting, the substrate receiver can be rotated along the longitudinal direction of the moving body. As a result, the evacuation space is smaller than in the past, so the device main body can be downsized, and it is possible to provide a plate-shaped substrate delivery device that can effectively utilize expensive site space such as a clean room.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図はこの発明における一実施例であり
、第1図は板状基板の受渡し装置の平面図、第2図は第
1図における■−■線部分の断面図、第3図および第4
図は従来例であり、第3図は板状基板の受渡し装置の平
面図、第4図は板状基板の受渡し装置の両側に前氾理装
置および後処理装置がそれぞれ設けられた状態を示す斜
視図である。 11・・・装置本体、16.17・・・ガイド体、18
・・・移動体、23.24・・・ウェハ受け(基板受け
〉、34・・・回動機構、35・・・チャック。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 図 第 2 図
1 and 2 show one embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is a plan view of a plate-shaped substrate delivery device, FIG. 2 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. 1, and FIG. Figure and 4th
The figures show a conventional example, and Fig. 3 is a plan view of a plate-shaped substrate delivery device, and Fig. 4 shows a state in which a pre-flooding device and a post-processing device are provided on both sides of the plate-shaped substrate delivery device. FIG. 11... Device main body, 16.17... Guide body, 18
...Moving body, 23.24...Wafer holder (substrate holder), 34...Rotating mechanism, 35...Chuck. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] チャックを有する装置本体と、この装置本体に設けられ
たガイド体と、このガイド体に端部がスライド自在に支
持された細長い移動体と、この移動体の長手方向中途部
に枢支され移動体に対して略直交する状態で板状基板を
受ける一対の基板受けと、これら基板受けに支持された
基板を上記チャックに渡してから上記移動体が退避する
場合に上記基板受けを移動体の長手方向に沿うよう回動
する回動機構とを具備したことを特徴とする板状基板の
受渡し装置。
A device body having a chuck, a guide body provided on the device body, an elongated movable body whose end is slidably supported by the guide body, and a movable body pivoted at a longitudinally intermediate portion of the movable body. a pair of substrate holders that receive plate-shaped substrates in a state substantially orthogonal to the substrate holder, and when the moving body retracts after passing the substrate supported by these substrate holders to the chuck, the substrate holder is placed along the longitudinal direction of the moving body. 1. A plate-shaped substrate delivery device characterized by comprising a rotation mechanism that rotates along a direction.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7824475B2 (en) 2001-06-28 2010-11-02 Hans-Jacob Fromreide Air cleaning device
JP2012507862A (en) * 2008-10-30 2012-03-29 ラム リサーチ コーポレーション Tactile wafer lift and operation method thereof

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