JPS63193056A - 不純ガスの検知方法および装置 - Google Patents

不純ガスの検知方法および装置

Info

Publication number
JPS63193056A
JPS63193056A JP62024764A JP2476487A JPS63193056A JP S63193056 A JPS63193056 A JP S63193056A JP 62024764 A JP62024764 A JP 62024764A JP 2476487 A JP2476487 A JP 2476487A JP S63193056 A JPS63193056 A JP S63193056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
adsorption
hydrogen gas
impure
purified
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62024764A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0833365B2 (ja
Inventor
Fushinobu Asano
浅野 節信
Kenji Otsuka
健二 大塚
Sadasuke Naito
内藤 貞助
Hiroshi Takahashi
浩 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Pionics Ltd
Original Assignee
Japan Pionics Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Pionics Ltd filed Critical Japan Pionics Ltd
Priority to JP62024764A priority Critical patent/JPH0833365B2/ja
Publication of JPS63193056A publication Critical patent/JPS63193056A/ja
Publication of JPH0833365B2 publication Critical patent/JPH0833365B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Separation Of Gases By Adsorption (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野〕 本発明は不純ガスの検知方法および装置に関し、さらに
詳細には深冷吸着法によって精製中の水素ガスに含有さ
れる不純ガスの検知方法および装置に関する。
半導体産業、原子力産業などの発展に伴い、水素、ヘリ
ウムなど各種のガスの需要が増大しているが、これらの
分野で使用されるガスは啄めて高純度であることが要求
される。しかしながら通常市販されているこれらのガス
中には窒素、−酸化炭素、メタンなどの不純ガスが含有
されているため、これらの不純ガスを除去する必要があ
り、種々のガス精製装置が紹介されている。これらの代
表的なものの一つとして、吸着剤が充填された吸着筒を
用い極低温下に不純ガスを吸着除去する深冷吸着ガス精
製装置が知られており、例えば特開昭55−7565号
および特開昭6l−5B616号公報などがある。
これらの装置は基本的には吸着筒、冷媒槽、熱交換器お
よび加熱装置などで構成され、冷媒として液体窒素を用
いての極低温下におけるガスの吸着精製と、加熱による
吸着剤の再生とが交互におこなわれるものである。この
ような深冷吸着ガス精製装置においては、ガスの精製時
に、不純ガスの吸着が進むにつれて不純ガスの吸着帯は
吸着筒の上流側から下流側へと順次・移動して行き、遂
には吸着層が破過され吸着筒出口から排出される精製ガ
ス中に不純ガスが混入する。このため吸着層の破過を予
知し、破過が生ずる前に別の吸着筒に切替えるなどの措
置を構する必要があり、従って不純ガスの増加を検知す
ることは極めて重要である。
〔従来の技術〕
従来、水素、ヘリウムなどのガス中に含有される不純ガ
スの検知方法としては吸着筒から所定の時間毎に抜き出
した測定ガスを質量分析計、赤外線分析計、ガスクロマ
トグラフなどで分析するのが一般的であった。しかしな
がらこれらの分析計による分析は間欠的な方法であるた
め手数がかかるぽかりでなく、結果を得るまでに時間を
要するので、不純ガスを迅速に検知することができない
という欠点があった。
これに対し、本発明者らは先に、熱伝導度検出器を用い
、これに精製ガスおよび測定ガスを流し、両者間の熱伝
導度差を検出することによって不純ガスを検知する方法
を提案すると〜もにさらに検討を加え、熱伝導度検出器
の対照側に測定ガスまたは精製ガスを流し、試料側には
測定ガスと精製ガスとをそれぞれ交互に切替えて流すこ
とにより対照側と試料側の0点のずhを補正1.ながら
不純ガスの混入を監視し、これによって微量の不純ガス
をより高感度で1.かも迅速に検知する方法を開示した
(特開昭61−130864号公報)。
〔解決しようとする問題点〕
この熱伝導度検出器を用いた方法は水素ガス、ヘリウム
などに含有される不純ガスの検知に巾広く適用すること
ができろう しかしながら前記の深冷吸着ガス精製法による水素ガス
の精製において、精製系から導かれたサンプル水素ガス
についてはこれを直接熱伝導度検出器に渡した場合には
これらの水素ガス中に不純ガスが含有されていないとぎ
にも通常の水素ガスの熱伝導度と異る値を示すばかりで
なく、n#!系におけるガスの流量変動やサンプルガス
の抜出位置などによって熱伝導度が変化するという現職
が発生するつこのため水素ガス中に不純ガスが混入する
ことによって熱伝導度が変化してもそれが不純ガスによ
るものか否かの識別が困難であり、特に不純ガスの濃度
が低いときには全く検知できないという問題点があった
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らはこれらの問題点を解決し、深冷吸着ガス精
製における水素ガスについても他のガスの場合と同様に
不純ガスを確実に検知するぺく鋭意研究を重ねた結果、
精製系から導かれたサンプル水素ガスを加熱処理するこ
とにより、前記した熱伝導度の変化を防止しうろことを
見出し本発明に到達した。
すなわち本発明は、 (1)深冷吸着ガス精製装置で精製中の水素ガスに含有
される不純ガスの検知方法において、精製水素ガスおよ
び当該装置内の吸着筒の測定点から導かれた測定ガスを
それぞれ加熱処理した後両者間の熱伝導度差を検出する
ことによって測定ガス中の不純ガスを検知することを特
徴とする不純ガスの検知方法、および(2)深冷吸着ガ
ス精製装置で精製中の水素ガス中に含有される不純ガス
の検知装置であって、該深冷吸着ガス精製装置に配設さ
れ対照側および試料側のガス流路を有する熱伝導度検出
器と、 該対照側および試料側のガス入口のそ−れぞhに1漏が
接続された加熱管とを備えてなり、該加熱管の他端のそ
れぞれは精製水素ガスおよび精製装置内の吸着筒の測定
点から導かれた測定ガスのサンプル管に接続されたこと
を特徴とする不純ガスの検知装置 である。
本発明は深冷吸着ガス精製装置で精製中の水素ガスに含
有される窒素、酸素、−酸化炭素、二酸化炭素およびメ
タンなどの不純ガスの検知に適用され、本発明において
は熱伝導度検出器および加熱管が使用される。
本発明が適用される深冷吸着ガス精製装置は吸着筒、冷
媒槽、熱交換器および加熱装置などを備えたものであり
、通常は2系列の吸着筒を有し、一方で吸着精製がおこ
なわれている間に他方では吸着剤の加熱による再生がお
こなわれる。吸着筒は1乃至複数本の筒によって構成さ
れ、内部には活性炭、モレキエラークーブなどの吸着剤
が充填されている。水素ガスの精製時には液体窒素によ
って冷却され、約−196℃の極低温下で原料水素ガス
を流すことにより不純ガスが吸着除去され精製ガスが得
られるが、不純ガスの吸着が進むにつれて吸着帯は吸着
筒の上流側から下流側へと舅次移動し、遂には吸着層が
破遇し、精製ガス中に不純ガスが混入する。このため、
破過前に吸着剤の再生が終った他の吸着筒に切替えるな
どの操作が必要である。
本発明において精製装置内の吸着筒には測定ガスを抜か
出すための測定点が設けられる。通常、測定点は吸着筒
の出口より上流で、不純ガスを検知することによって吸
着層の破過前に他の吸着筒への切替操作などに必要な時
間的余裕を取りうる位置に設けられる。また、多数の筒
が接続管で直列に連結されたような吸着筒の場合には測
定点は最下流側の筒とその上流側の筒とを接続した接続
管などに設けることもできる。
本発明で使用される熱伝導度検出器は基本的には金属線
抵抗でブリッジ回路が構成され、2つのガス流路を有し
、その一方が対照側、他方が試料側とされたものであっ
て、通常は対照側には不純ガスを含有しないガス、試料
側には被検ガスがそれぞれ流され、両者の熱伝導度差を
白金線の電気抵抗の違いによる電位差として積り出すこ
とによって被検ガス中の不純ガスを検出するものである
本発明では通常は精製水素ガスが対照側に、また吸着筒
の測定点から導かれた測定ガスが試料側に流され、両者
間の熱伝導度差の変化によって不純ガスが検知される。
なお精製水素ガスは通常は吸着筒の出口から導かれるが
、他の精製装置やボンベなどから導くこともできる。ま
た、測定ガスはガスクロマトグラフのようにキャリヤー
ガスで稀釈されたり、不純ガスが分離されたりすること
がなく、そのま〜不純ガスを合計した濃度で測定される
ので微量の不純ガスも高感度で検知できるが、特開昭6
1−130864号会報におけると同様に試料側に測定
ガスと精製水素ガスを交互に切替えて流し、ドリフトを
補正した電位差を検出する方法を用いた場合にはさらに
高感度でより正確に不純ガスを検知することができる。
本発明において精製水素ガスおよび測定ガスはそれぞれ
加熱処理した後、熱伝導度検出器に流される。これらの
水素ガスを加熱処理せずに熱伝導度検出器に流した場合
には精製工程における水素ガスの吸着剤との相互作用、
温度および流量変動などに起因すると推察される水素ガ
ス自体の熱伝導度変化が生じ、不純ガスを正確に検知す
ることはできない。
本発明において精製水素ガスおよび測定ガスの加熱処理
をおこなうため、サンプル配管と熱伝導度検出器の間に
加熱管が介在させられる。
加熱管の形状および加熱方法は、内部を流れる水素ガス
を加熱処理しうるものであれば特に制限はないが、例え
ばコイル状に巻かれた管を小型の加熱炉に収納したもの
、または加熱された筒などの外周に管をコイル状に巻き
つけたもの、あるいは管にマイクロヒーターを沿わせた
り、巻きつけたりしたものなどが使用される。また管の
径が比較的太い場合には内部にステンレス製の金網など
を入れて加熱面積を大きくすることが好ましい。
加熱管によるガスの加熱処理温度および加熱時間はサン
プルガスの状態などによって異り一概に特定はできない
が、加熱温度は通常は150〜400℃、好ましくは2
00〜350℃とされ、加熱時間は通常5秒以上、好ま
しくは10秒以上とされる。
本発明の不純ガスの検知装置は深冷吸着ガス精製装置に
配設され、対照側および試料側の加熱管はそれぞれ、精
製水素ガスおよび測定ガスのサンプル管に接続されて用
いられる。
次に図面によって本発明を具体的に例示して説明する。
第1図は本発明の不純ガスの検知装置およびこれが深冷
吸着ガス精製装置に配設されたフローシートの一例であ
る。
第1@において、人は本発明の不純ガスの検知装置であ
り、Bはガス精製装置(1系列のみを示した)である。
Aに関し、熱伝導度検出器1は対照側2および試料側6
02つのガス流路を有する検出部4ならびに記録計5お
よび警報器6からなっている。検出部4のガス入口側に
はそれぞれコイル状とされた2太の加熱9!7および8
がこれを収納した加熱炉9とともに設けられている。加
熱管7および8は熱伝導度検出器1の対照側2およd試
料側3にそれぞれ定流量弁21および31 を介して接
続され不純ガスの検知装置人とされ、ガス精製装置Bに
配設されている。一方ガス精製装置Bは吸着剤が充填さ
れた吸着筒10が収納された冷媒槽11が熱交換器12
とともに真空断熱容器13に収容され、これに原料ガス
供給管14および精製ガス抜出管15が導かれ、熱交換
器12を経由して吸着筒10の入口16および出口17
にそれぞれ接続されて精製系の1系列を構成している。
吸着筒10の出口17からガスの上流側に寄った位置に
測定点18が設けられている。測定点18はサンプル管
20によって不純ガスの検知装置Aの加熱管8に接続さ
れ、精製ガス抜出管15から分岐したサンプル管19は
加熱W7に接続されている。サンプル管19から分岐し
たバイパス管21はサンプル管20とともに加熱管8に
導かれている。またサンプル管19および20ならびに
バイパス管21にはそれぞれ弁22aおよび22bなら
び1c22cが介在している。
水素ガスの精製は冷媒槽11r−液体窒素が満たされ、
吸着筒10が極低温に冷却さhた状態で原料ガス供給管
14から水素ガスが供給される。この水素ガスは熱交換
012で予冷され、冷媒槽11内の入口16から吸着m
f10に入り、ここで不純ガスが吸着除去されて精製さ
れる。
精製された水素ガスは出口17および熱交換器12を経
由し、精製ガス抜出管15から抜會出される。
一方、不純ガスの検知装置人には精製水素ガスおよび測
定ガスがそれぞれサンプル管19および20を経由して
流され、吸着筒10の測定点18における水素ガス(測
定ガス)中の不純ガスが精製水素ガスとの比較において
監視される。
すなわち測定ガス中の不純ガスの検知は次の操作によっ
ておこなわれる。
最初にサンプル管19およびバイパス管21の弁22a
および22cを開き、加熱炉9で加熱管7および8を加
熱しながら熱伝導度検出器1の対照側2および試料側3
のそれぞれに精製水素ガスを流し、安定したときの電位
差を基準にしてOmVとする。次にバイパス管21の弁
22cを閉じ、サンプル管20の弁22bを開として試
料側3を測定ガスに切替えこの状態で電位差の監視を続
ける。時間経過と共に不純ガスの吸着が進み吸着帯が測
定点18に達し測定ガス中に不純ガスが混入するとこの
時点で電位差の顕著な変化を生じ、不純ガスが検知され
る。
また、原料ガス中の不純ガス濃度が特に低いときには、
この電位差の変化が小さいので感度をあげる必要がある
がそのときには検出器のドリフトによる僅かな電位差変
化が妨害して識別が困難となる。このため試料側3に測
定ガスと精製水素ガスとを交互に切替えて流し、ドリフ
トを補正しながら切替前後の僅かな電位差の変化を検出
することによって微量の不純ガスの混入を検知すること
ができる。
電位差の変化は記碌計5.警報器6などによって監視さ
れるが、例えば警報器6の信号で切替バルブなどを動作
させることによってガス精製装置の切替操作を自動的に
おこなうこともで 1′きる。
〔発明の効果〕
本発明によって深冷吸着ガス精製工程における水素ガス
の熱伝導度変化の影響を受けることなく、不純ガスの混
入を正確に検知することができる。また検知装置は小型
で比較的安価であり精製装置に容易に配設することがで
きるので、水素ガスの精製時の不純ガスの迅速な検知に
使用でき、吸着筒の破過が確実に予知できる。さらに警
報器よりの検知信号によって吸着筒の切替バルブなどを
動作させることにより、精製装置の運転の自動化も可能
である。
〔実施例〕
実施例 1 第1図で示されたと同様な構成であるが、1簡の代りに
吸着剤として活性炭 2.5Kgがそれぞれ充填された
筒(89,1$X84.9$X1000m111)7本
が接続管によって直列に連結された吸着筒を有する深冷
吸着ガス精製装置辷より、約−196℃の極低温下、ガ
ス流量36 t 2 Nm”/h rで精製中の水素ガ
スについて不純ガスの検知をおこなった。こT原料水素
ガスおよび精製水素ガスの不純物をガスクロマトグラフ
で分析した結果は第1表の如くである。
第1表 N2      2.5        0 、01 
 以下02     4      0.02  qC
o        10          0.03
  tICO220,02p CH490,03// 測定ガスを抜出すための測定点は吸着筒の上流側から6
筒目と7筒目(最下流側)とを接続した接続管部に設け
た。
加熱管としてコイル状に巻かれたステンレス製のチュー
ブ(2ダ/1メX3000鰭)2本が小型の加熱炉に収
納されたものを用い、これを検出部〔■島津製作所製、
TCD−71、紀碌計、警報器を有する熱伝導度検出器
にそれぞれの一端を接続して、不純ガスの検知装置とし
  1て深冷吸着ガス精製装置に配設した。
最初に予備実験として加熱管を常温のま一加  1熱せ
ずに熱伝導度の測定を賦与た。先ず対照側および試料側
のそれぞれに精製水素ガスのみを  30 pi / 
minで流し、両者間の電位差を0.OOmVに調節し
た後、試料側を測定ガスに切替  “えたところ不純ガ
スが混入していないにもかかわらず約0.24mVの電
位差が現われ、この電位差はto、04mVl!度の巾
で振れを生ず  ゛るという現象が見られた。この結果
を第2図に  □示す。また吸着筒への原料ガス供給速
度を意識  を的に増加させたり(第2図a点)、減少
させたり(第2図す点)すると、これに応じて電位差も
大巾に変化し、測定ガス中に不純ガスが混入して来ても
識別が困難であることを示した。
次に一本発明の実施例として加熱炉により280℃で加
熱管を加熱しながらサンプルガスを通し、予備実験と同
様に熱伝導度差を監視した。
七の結果は第2図における実施例の如くであり、萌定ガ
ス中に不純ガスがない限り、電位差は0゜OOmVであ
り、また予備実験におけると同様こ吸着筒への原料ガス
供給速度を増加させたり(第2図1点)減少させたり(
第2図す点)し〔も電位差は生じなかった。
さらにこの状態で監視を続けたところ、水素ブスの精製
を開始してから783hr後にそれkでO,OOmVで
あった電位差が0 、06 mVkで上昇した(第2図
C点)。この時点で測定1スをガスクロマトグラフで分
析したところ12ppm  の窒素が検出され、吸着筒
の吸着帯が目定点に達したことが確認された。
また加熱温度を240℃および320℃とした場合につ
いてもテストをおこなったところ、いずれも280℃に
おけると同様な結果が得られた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の不純ガスの検知装置およびこれが深冷
吸着ガス精製装置に配設されたフローシートであり、第
2図は熱伝導度検出器に現れる電位差曲線を示した図で
ある。 図の各番号は以下の通りである。 1 熱伝導度検出器  2 対照側 3 試料側  7および8 加熱管 10 吸着筒  18 測定点 19.20および21 サンプル管 A 不純ガス検知装置  B ガス精製装置特許出願人
  日本バイオニクス株式会社・代表者高崎丈夫

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)深冷吸着ガス精製装置で精製中の水素ガスに含有
    される不純ガスの検知方法において、精製水素ガスおよ
    び当該装置内の吸着筒の測定点から導かれた測定ガスを
    それぞれ加熱処理した後、両者間の熱伝導度差を検出す
    ることによつて測定ガス中の不純ガスを検知することを
    特徴とする不純ガスの検知方法。
  2. (2)深冷吸着ガス精製装置で精製中の水素ガス中に含
    有される不純ガスの検知装置であつて、該深冷吸着ガス
    精製装置に配設され対照側および試料側のガス流路を有
    する熱伝導度検出器と、 該対照側および試料側のガス入口のそれぞれに1端が接
    続された加熱管とを備えてなり、該加熱管の他端のそれ
    ぞれは精製水素ガスおよび精製装置内の吸着筒の測定点
    から導かれた測定ガスのサンプル管に接続されたことを
    特徴とする不純ガスの検知装置。
JP62024764A 1987-02-06 1987-02-06 不純ガスの検知方法および装置 Expired - Fee Related JPH0833365B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62024764A JPH0833365B2 (ja) 1987-02-06 1987-02-06 不純ガスの検知方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62024764A JPH0833365B2 (ja) 1987-02-06 1987-02-06 不純ガスの検知方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63193056A true JPS63193056A (ja) 1988-08-10
JPH0833365B2 JPH0833365B2 (ja) 1996-03-29

Family

ID=12147221

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62024764A Expired - Fee Related JPH0833365B2 (ja) 1987-02-06 1987-02-06 不純ガスの検知方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0833365B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110002356A1 (en) * 2004-12-16 2011-01-06 Mathis Instriments Ltd. Method and Apparatus for Monitoring Materials

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110002356A1 (en) * 2004-12-16 2011-01-06 Mathis Instriments Ltd. Method and Apparatus for Monitoring Materials
US8858071B2 (en) * 2004-12-16 2014-10-14 C-Therm Technologies Ltd. Method and apparatus for monitoring materials

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0833365B2 (ja) 1996-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106501125B (zh) 气体吸附脱附测试装置及测试方法
EP1949091A2 (en) Gas analysis method
Robinson et al. An apparatus for the quantitative analysis of volatile compounds in urine
US8664004B2 (en) Method for analysis of contaminants in a process fluid stream
US20080128615A1 (en) Real time analyzer and method for analysis
US5055260A (en) Reactor analysis system
WO1994019688A1 (en) Method and apparatus for predicting end-of-life of a consumable in a fluid purification system
JPS63193056A (ja) 不純ガスの検知方法および装置
CN103529132B (zh) 气体检测前处理装置与气体检测方法
JP2858143B2 (ja) 濃縮分析方法及びその装置
JP3103985B2 (ja) 濃縮分析法及び装置
JPS63193055A (ja) 不純ガスの検知方法および装置
JPS63228052A (ja) 不純ガスの検知方法
US3167947A (en) Gas detector and analyzer
JP3494945B2 (ja) 有機化合物分析装置
Timms et al. The determination of impurities in carbon dioxide by gas chromatography, with special reference to coolant gas for nuclear reactors
JP2002250722A (ja) 極低濃度硫化水素の分析方法および分析装置
JP2741778B2 (ja) ガスの純度測定方法およびその装置
JPH0432981B2 (ja)
US4621518A (en) Analyzer for water in gases by accumulate-desorb-inject method
JP2006023137A (ja) 微量水素分子及び水素同位体分子分離分析装置
JP3103943B2 (ja) 一酸化炭素及び/又は二酸化炭素の分析方法
US2980513A (en) Combustibles-in-air instrument
JP5082419B2 (ja) におい識別装置
JP2004354332A (ja) 濃縮分析装置及び方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees