JPS6319062B2 - - Google Patents
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- JPS6319062B2 JPS6319062B2 JP19848981A JP19848981A JPS6319062B2 JP S6319062 B2 JPS6319062 B2 JP S6319062B2 JP 19848981 A JP19848981 A JP 19848981A JP 19848981 A JP19848981 A JP 19848981A JP S6319062 B2 JPS6319062 B2 JP S6319062B2
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 54
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 3
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 2
- BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] Chemical compound N1=C2C=CC=CC2=[N+]([O-])C1(CC1)CCC21N=C1C=CC=CC1=[N+]2[O-] BGPVFRJUHWVFKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/18—Assembling together the component parts of electrode systems
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は電子銃の偏心量測定方法及びその装置
に関するものである。
に関するものである。
電子銃から発射される電子ビームは電子銃の各
電子レンズ系を通り、偏向され収束されるが、こ
の電子レンズを構成する電極のそれぞれの電子ビ
ーム通過孔部間に収差があると電子レンズに歪が
生じる。このような電子ビームは螢光面上で形状
不良、位置不良となり、ブラウン管の性能を落す
原因となつている。
電子レンズ系を通り、偏向され収束されるが、こ
の電子レンズを構成する電極のそれぞれの電子ビ
ーム通過孔部間に収差があると電子レンズに歪が
生じる。このような電子ビームは螢光面上で形状
不良、位置不良となり、ブラウン管の性能を落す
原因となつている。
即ち第1図及び第2図に示すように一列配設さ
れた3個の電子銃1から射出された電子ビーム2
a,2b,2cは各電子銃に形成される電子レン
ズに歪があると、第2図に示すように螢光面上の
収束点3に集束せずそれぞれ3a,3b,3cに
集束することになる。このような場合通常はブラ
ウン管の外部に設けた補正マグネツト4により補
正を行なつているが、補正量が多くなると電子ビ
ーム2a,2b,2cの収差が大きくなるという
問題が生じる。
れた3個の電子銃1から射出された電子ビーム2
a,2b,2cは各電子銃に形成される電子レン
ズに歪があると、第2図に示すように螢光面上の
収束点3に集束せずそれぞれ3a,3b,3cに
集束することになる。このような場合通常はブラ
ウン管の外部に設けた補正マグネツト4により補
正を行なつているが、補正量が多くなると電子ビ
ーム2a,2b,2cの収差が大きくなるという
問題が生じる。
次に電子銃の一例を第3図乃至第6図により説
明する。
明する。
即ち、陰極5より射出された電子ビーム16は
第1電極6、第2電極7及び第3電極8により形
成される第1の電子レンズ17により偏向収束さ
れる。次に電子ビーム16は第4電極9、第5電
極10及び第6電極11により形成される第2の
電子レンズ18により収束偏向され、更に第7電
極12、第8電極13により形成される第3の電
子レンズ19により収束偏向された後螢光面に射
突される。図において14は第9電極、15はコ
ンバーゼンス電極であり、コンバーゼンス電極1
5を除いた各電極は絶縁支持体に植設されてい
る。
第1電極6、第2電極7及び第3電極8により形
成される第1の電子レンズ17により偏向収束さ
れる。次に電子ビーム16は第4電極9、第5電
極10及び第6電極11により形成される第2の
電子レンズ18により収束偏向され、更に第7電
極12、第8電極13により形成される第3の電
子レンズ19により収束偏向された後螢光面に射
突される。図において14は第9電極、15はコ
ンバーゼンス電極であり、コンバーゼンス電極1
5を除いた各電極は絶縁支持体に植設されてい
る。
前述した電子ビーム16は電1の電子レンズ1
7、第2の電子レンズ18及び第3の電子レンズ
19がこれら電子レンズを構成する各電極に穿設
された電子ビーム通過孔部が理想的に電子銃軸Z
を軸とする場合には電子銃軸Zに沿つて射出され
るが、電子ビーム通過孔部が偏軸し、収差がある
と第3図のように折曲して各電子レンズ17,1
8,19を通過し、最終的には電子銃軸Zに対し
て、ある角度をもつて射出されることになる。
7、第2の電子レンズ18及び第3の電子レンズ
19がこれら電子レンズを構成する各電極に穿設
された電子ビーム通過孔部が理想的に電子銃軸Z
を軸とする場合には電子銃軸Zに沿つて射出され
るが、電子ビーム通過孔部が偏軸し、収差がある
と第3図のように折曲して各電子レンズ17,1
8,19を通過し、最終的には電子銃軸Zに対し
て、ある角度をもつて射出されることになる。
例えば第4図に示すように、第1電極6と第2
電極7の電子ビーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つ
て穿設されており、第3電極8が電子銃軸Zより
偏心量20で偏心されていると、第1の電子レン
ズ17は歪み、この偏心量20に比例して電子ビ
ーム16が偏向角度23で電子銃軸Zより離れる
ようになる。
電極7の電子ビーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つ
て穿設されており、第3電極8が電子銃軸Zより
偏心量20で偏心されていると、第1の電子レン
ズ17は歪み、この偏心量20に比例して電子ビ
ーム16が偏向角度23で電子銃軸Zより離れる
ようになる。
また、第5図に示すように第4電極9と第6電
極11の電子ビーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つ
て穿設されており、第5電極10の電子ビーム通
過孔部が電子銃軸Zより偏心量21で偏心されて
いると、これら電極9,10,11により形成さ
れる第2の電子レンズ18は歪み、この偏心量2
1に比例して電子ビーム16が偏向角度24で電
子銃軸Zより離れるようになる。
極11の電子ビーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つ
て穿設されており、第5電極10の電子ビーム通
過孔部が電子銃軸Zより偏心量21で偏心されて
いると、これら電極9,10,11により形成さ
れる第2の電子レンズ18は歪み、この偏心量2
1に比例して電子ビーム16が偏向角度24で電
子銃軸Zより離れるようになる。
更に第6図に示すように第7電極12の電子ビ
ーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つて穿設されてお
り、第8電極13の電子ビーム通過孔部が電子銃
軸Zより偏心量22で偏心されていると、これら
電極12,13により形成される第3の電子レン
ズ19は歪み、この偏心量22に比例して電子ビ
ーム16が偏向角度25で電子銃軸Zより離れる
ようになる。この第3の電子レンズ19は主電子
レンズであり、陰極を除き3個の電子銃を各電極
を一体化した所謂ユニタイズ型においては逆にこ
の電子レンズ19の歪を利用し、螢光面に3本の
電子ビームを集束するようになつている。
ーム通過孔部が電子銃軸Zに沿つて穿設されてお
り、第8電極13の電子ビーム通過孔部が電子銃
軸Zより偏心量22で偏心されていると、これら
電極12,13により形成される第3の電子レン
ズ19は歪み、この偏心量22に比例して電子ビ
ーム16が偏向角度25で電子銃軸Zより離れる
ようになる。この第3の電子レンズ19は主電子
レンズであり、陰極を除き3個の電子銃を各電極
を一体化した所謂ユニタイズ型においては逆にこ
の電子レンズ19の歪を利用し、螢光面に3本の
電子ビームを集束するようになつている。
即ち電子銃から射出される電子ビーム16の最
終偏向角(θ)は、α,β,γを定数とし、Aを
第1電子レンズを構成する電極の偏心量、Bを電
2電子レンズを構成する電極の偏心量、Cを第3
電子レンズを構成する電極の偏心量とすれば θ=α×A+β×B+γ×C で表わされる。
終偏向角(θ)は、α,β,γを定数とし、Aを
第1電子レンズを構成する電極の偏心量、Bを電
2電子レンズを構成する電極の偏心量、Cを第3
電子レンズを構成する電極の偏心量とすれば θ=α×A+β×B+γ×C で表わされる。
即ち電子銃から射出される電子ビームの螢光面
上での位置は電子銃を構成する各電極の電子ビー
ム通過孔部の偏心量を測定することにより推定で
きることがわかる。
上での位置は電子銃を構成する各電極の電子ビー
ム通過孔部の偏心量を測定することにより推定で
きることがわかる。
然るに前述した各電極の電子ビーム通過孔部の
偏心量の測定はそれぞれの電極に穿設されている
電子ビーム通過孔部の径に変化があるし、また測
定時に電子ビーム通過孔部の壁に機械的な歪が加
えられると実際の偏心量の測定が困難であり、正
確な偏心量を測定する方法及びその装置がないた
めブラウン管製品になつてからしか評価できない
問題があつた。
偏心量の測定はそれぞれの電極に穿設されている
電子ビーム通過孔部の径に変化があるし、また測
定時に電子ビーム通過孔部の壁に機械的な歪が加
えられると実際の偏心量の測定が困難であり、正
確な偏心量を測定する方法及びその装置がないた
めブラウン管製品になつてからしか評価できない
問題があつた。
発明の目的
本発明は前述した諸問題点に鑑みなされたもの
であり、電子銃を構成する各電極の電子ビーム通
過孔部の偏心量を測定し電子銃としての良否選別
を行い、高品質の電子銃及びブラウン管を供給す
るための電子銃の偏心量測定方法及びその装置を
提供することを目的としている。
であり、電子銃を構成する各電極の電子ビーム通
過孔部の偏心量を測定し電子銃としての良否選別
を行い、高品質の電子銃及びブラウン管を供給す
るための電子銃の偏心量測定方法及びその装置を
提供することを目的としている。
発明の概要
即ち本発明は電子銃の偏心量測定方法及びその
装置からなり、測定方法としては、電子ビーム通
過孔部の壁に偏心量測定用触針を挿入する工程
と、この触針を電子銃軸に対し直角に移動し前記
壁に当接させる工程と、この触針の移動量を電気
信号に変換する工程とを具備し、前記触針に各電
極の孔径に対応した偏心量測定用形状を有するこ
とを特徴としている。
装置からなり、測定方法としては、電子ビーム通
過孔部の壁に偏心量測定用触針を挿入する工程
と、この触針を電子銃軸に対し直角に移動し前記
壁に当接させる工程と、この触針の移動量を電気
信号に変換する工程とを具備し、前記触針に各電
極の孔径に対応した偏心量測定用形状を有するこ
とを特徴としている。
また測定装置としては、電子銃固定部と、回転
位置設定部を有する回転台と、この回転台に設け
られた原点検出部及び回転位置設定部と、回転台
を固定すると共に回転モータにより、前記原点検
出部及び回転位置設定部からの信号により所定の
回転停止を行なう基準台と、電子銃固定部に固定
される電子銃を構成する各電極にそれぞれ設けら
れた電子ビーム通過孔部の壁にそれぞれ当接し得
る複数の測定面を有する触針と、この触針の機械
的変動を電気信号に変換する変換器と、この変換
器からの電気信号、原点検出部及び回転位置設定
部からの信号並びに電極位置の信号を入力とする
演算制御部とを少なくとも具備し、触針からの信
号をもとに電子銃の各電極の電子ビーム通過孔部
の偏心量を求め得るようになされていることを特
徴とする電子銃の偏心量測定装置である。
位置設定部を有する回転台と、この回転台に設け
られた原点検出部及び回転位置設定部と、回転台
を固定すると共に回転モータにより、前記原点検
出部及び回転位置設定部からの信号により所定の
回転停止を行なう基準台と、電子銃固定部に固定
される電子銃を構成する各電極にそれぞれ設けら
れた電子ビーム通過孔部の壁にそれぞれ当接し得
る複数の測定面を有する触針と、この触針の機械
的変動を電気信号に変換する変換器と、この変換
器からの電気信号、原点検出部及び回転位置設定
部からの信号並びに電極位置の信号を入力とする
演算制御部とを少なくとも具備し、触針からの信
号をもとに電子銃の各電極の電子ビーム通過孔部
の偏心量を求め得るようになされていることを特
徴とする電子銃の偏心量測定装置である。
次に本発明の一実施例を第7図乃至第17図に
より説明する。これらの図のうち第7図及び第8
図は偏心量測定装置の基本構成図、第9図は電子
銃と触針の拡大図、第10図乃至第17図は測定
時の電極と触針との位置関係を示す拡大図であ
る。
より説明する。これらの図のうち第7図及び第8
図は偏心量測定装置の基本構成図、第9図は電子
銃と触針の拡大図、第10図乃至第17図は測定
時の電極と触針との位置関係を示す拡大図であ
る。
即ち偏心量測定装置は電子銃固定部31、回転
位置設定部32、回転台33、回転位置検出器3
4、原点検出器36、基準台37及び回転モータ
38で構成される回転機構部30と、触針41と
この触針41の動きを電気信号に変換する変換器
42及び表示器43からなる信号読取部40と、
直立支持体51、触針41の前後左右の位置を調
整する位置ぎめつまみ52,53,54,55、
触針41の上下位置を設定する測定位置検出器5
6、表示部57及び上下動モータ58で構成され
る触針位置設定機構部50と、測定値を表示する
表示パネル61、測定電極位置を設定する指示ス
イツチ62、操作スイツチ63、記録計64及び
内部に演算制御を行う計算機を有する演算制御部
60から構成されている。
位置設定部32、回転台33、回転位置検出器3
4、原点検出器36、基準台37及び回転モータ
38で構成される回転機構部30と、触針41と
この触針41の動きを電気信号に変換する変換器
42及び表示器43からなる信号読取部40と、
直立支持体51、触針41の前後左右の位置を調
整する位置ぎめつまみ52,53,54,55、
触針41の上下位置を設定する測定位置検出器5
6、表示部57及び上下動モータ58で構成され
る触針位置設定機構部50と、測定値を表示する
表示パネル61、測定電極位置を設定する指示ス
イツチ62、操作スイツチ63、記録計64及び
内部に演算制御を行う計算機を有する演算制御部
60から構成されている。
次にこの偏心量測定装置により電子銃の偏心量
を測定する方法を説明する。
を測定する方法を説明する。
先ず、第9図に示す電子銃1を電子銃固定部3
1に装着する。この場合電子銃1の電子銃軸Zと
触針41の中心軸を一致させるようにしておく。
次に触針41を回転モータ58により下降させ第
9図に示すように挿入し、第1電極6の電子ビー
ム通過孔の壁に第10図及び第11図に拡大して
示すように触針41の第1測定面73を位置させ
る。この時触針41と第1電極の電子ビーム通過
孔部の中心が大きく偏心している場合には位置ぎ
めつまみ52,53,54,55によりほぼ中央
にくるように調整する。
1に装着する。この場合電子銃1の電子銃軸Zと
触針41の中心軸を一致させるようにしておく。
次に触針41を回転モータ58により下降させ第
9図に示すように挿入し、第1電極6の電子ビー
ム通過孔の壁に第10図及び第11図に拡大して
示すように触針41の第1測定面73を位置させ
る。この時触針41と第1電極の電子ビーム通過
孔部の中心が大きく偏心している場合には位置ぎ
めつまみ52,53,54,55によりほぼ中央
にくるように調整する。
次に操作スイツチ63を押して測定を開始す
る。即ち演算制御部60から回転モータ38に信
号が送られ回転台33が回転する。そして第8図
に示すように原点設定片35が原点検出器36を
通過した時点から測定開始となり、その後の回転
位置設定部32に90゜の間隔で設けられた4個の
スリツト39が回転位置検出器34を通過すると
きの触針41からの信号を変換器42、表示器4
3を介して演算制御部60に読込む。このように
して4ケ所からの信号を読込んだ後、回転を停止
し、第1電極6の測定を終了する。
る。即ち演算制御部60から回転モータ38に信
号が送られ回転台33が回転する。そして第8図
に示すように原点設定片35が原点検出器36を
通過した時点から測定開始となり、その後の回転
位置設定部32に90゜の間隔で設けられた4個の
スリツト39が回転位置検出器34を通過すると
きの触針41からの信号を変換器42、表示器4
3を介して演算制御部60に読込む。このように
して4ケ所からの信号を読込んだ後、回転を停止
し、第1電極6の測定を終了する。
次に第12図及び第13図に示すように第2電
極7の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第1
測定面73を位置させ、同様な測定を行ない演算
制御部60に読込む。
極7の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第1
測定面73を位置させ、同様な測定を行ない演算
制御部60に読込む。
次に第14図及び第15図に示すように第3の
電極8の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第
2測定面74を位置させ、同様な測定を行ない演
算制御部60に読込む。
電極8の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第
2測定面74を位置させ、同様な測定を行ない演
算制御部60に読込む。
次に第16図及び第17図に示すように第4の
電極9の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第
3測定面75を位置させ、同様な測定を行ない演
算制御部60に読込む。他の電極の電子ビーム通
過孔部も同様にして測定可能であるが、本実施例
では電極及び触針の測定面は省略してある。
電極9の電子ビーム通過孔部の壁に触針41の第
3測定面75を位置させ、同様な測定を行ない演
算制御部60に読込む。他の電極の電子ビーム通
過孔部も同様にして測定可能であるが、本実施例
では電極及び触針の測定面は省略してある。
最後に演算制御部60に読込んだ測定値はそれ
ぞれ演算され、各電極の電子ビーム通過孔部の中
心位置、電極間の偏心量及び電子ビームの偏向角
などの値となつて表示記録されて記録計64から
出てくるのでこの記録を見て電子銃の合否を判定
すれば良い。
ぞれ演算され、各電極の電子ビーム通過孔部の中
心位置、電極間の偏心量及び電子ビームの偏向角
などの値となつて表示記録されて記録計64から
出てくるのでこの記録を見て電子銃の合否を判定
すれば良い。
本実施例で測定点は4点としたが少くとも4点
以上にすることにより電子ビーム通過孔部の直角
軸方向の中心が求められる。
以上にすることにより電子ビーム通過孔部の直角
軸方向の中心が求められる。
発明の効果
前述したように本発明の電子銃の偏心量測定方
法及びその装置によれば電子銃を構成する電子ビ
ーム通過孔部の孔径の異なる全電極を同一の測定
法により測定し、電子銃の偏心量を求めることが
可能なため、従来ブラウン管製品となつてから評
価しなければならなかつた電子銃の特性を電子銃
の状態で評価することが可能となり、高品質の電
子銃を供給できるのでその工業的価値は極めて大
である。
法及びその装置によれば電子銃を構成する電子ビ
ーム通過孔部の孔径の異なる全電極を同一の測定
法により測定し、電子銃の偏心量を求めることが
可能なため、従来ブラウン管製品となつてから評
価しなければならなかつた電子銃の特性を電子銃
の状態で評価することが可能となり、高品質の電
子銃を供給できるのでその工業的価値は極めて大
である。
第1図は3本の電子銃を具備するブラウン管の
一例を示す説明用断面図、第2図は各電子銃から
のビーム集束点が異なる状態を示す説明図、第3
図は電子銃の一例を示す説明用断面図、第4図は
第3電極の偏心による電子ビームの射出方向を示
す説明図、第5図は第5電極の偏心による電子ビ
ームの射出方向を示す説明図、第6図は第8電極
の偏心による電子ビームの射出方向を示す説明
図、第7図乃至第17図は本発明の電子銃の偏心
量測定装置の一実施例を示す図であり、第7図は
全体図、第8図は回転位置設定部と回転位置検出
部及び原点検出器と原点設定片の関係を示す要部
平面図、第9図は電子銃と触針の関係を示す説明
用断面図、第10図は第1電極の電子ビーム通過
孔部の偏心を触針の第1測定面で測定している状
態を示す説明用断面図、第11図は第10図を第
1電極側から見た平面図、第12図は第2電極の
電子ビーム通過孔部の偏心を触針の第1測定面で
測定している状態を示す説明用断面図、第13図
は第12図をA―A線に沿つて切断して見た断面
図、第14図は第3電極の電子ビーム通過孔部の
偏心を触針の第2の測定面で測定している状態を
示す説明用断面図、第15図は第14図をB―B
線に沿つて切断して見た断面図、第16図は第4
電極の電子ビーム通過孔部の偏心を触針の第3の
測定面で測定している状態を示す説明用断面図、
第17図は第16図をC―C線に沿つて切断して
見た断面図である。 1…電子銃、2a,2b,2c,16…電子ビ
ーム、3,3a,3b,3c…収束点、17…第
1の電子レンズ、18…第2の電子レンズ、19
…第3の電子レンズ、30…回転機構部、31…
電子銃固定部、32…回転位置設定部、33…回
転台、34…回転位置検出器、35…原点設定
片、36…原点検出器、37…基準台、40…信
号読取部、41…触針、42…変換器、43…表
示器、50…触針位置設定機構部、51…直立支
持体、56…位置検出器、57…表示部、60…
演算制御部、61…表示パネル、62…指示スイ
ツチ、64…記録計。
一例を示す説明用断面図、第2図は各電子銃から
のビーム集束点が異なる状態を示す説明図、第3
図は電子銃の一例を示す説明用断面図、第4図は
第3電極の偏心による電子ビームの射出方向を示
す説明図、第5図は第5電極の偏心による電子ビ
ームの射出方向を示す説明図、第6図は第8電極
の偏心による電子ビームの射出方向を示す説明
図、第7図乃至第17図は本発明の電子銃の偏心
量測定装置の一実施例を示す図であり、第7図は
全体図、第8図は回転位置設定部と回転位置検出
部及び原点検出器と原点設定片の関係を示す要部
平面図、第9図は電子銃と触針の関係を示す説明
用断面図、第10図は第1電極の電子ビーム通過
孔部の偏心を触針の第1測定面で測定している状
態を示す説明用断面図、第11図は第10図を第
1電極側から見た平面図、第12図は第2電極の
電子ビーム通過孔部の偏心を触針の第1測定面で
測定している状態を示す説明用断面図、第13図
は第12図をA―A線に沿つて切断して見た断面
図、第14図は第3電極の電子ビーム通過孔部の
偏心を触針の第2の測定面で測定している状態を
示す説明用断面図、第15図は第14図をB―B
線に沿つて切断して見た断面図、第16図は第4
電極の電子ビーム通過孔部の偏心を触針の第3の
測定面で測定している状態を示す説明用断面図、
第17図は第16図をC―C線に沿つて切断して
見た断面図である。 1…電子銃、2a,2b,2c,16…電子ビ
ーム、3,3a,3b,3c…収束点、17…第
1の電子レンズ、18…第2の電子レンズ、19
…第3の電子レンズ、30…回転機構部、31…
電子銃固定部、32…回転位置設定部、33…回
転台、34…回転位置検出器、35…原点設定
片、36…原点検出器、37…基準台、40…信
号読取部、41…触針、42…変換器、43…表
示器、50…触針位置設定機構部、51…直立支
持体、56…位置検出器、57…表示部、60…
演算制御部、61…表示パネル、62…指示スイ
ツチ、64…記録計。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電子ビーム通過孔部の壁に偏心量測定用触針
を挿入する工程と、この触針を電子銃軸に対し直
角に移動し前記壁に当接させる工程と、この触針
の移動量を電気信号に変換する工程とを具備し、
前記触針に各電極の孔径に対応した偏心量測定用
形状を有することを特徴とする電子銃の偏心量測
定方法。 2 電子銃固定部と回転位置設定部を有する回転
台と、この回転台に設けられた原点検出部及び回
転位置設定部と、前記回転台を固定すると共に回
転モータにより前記原点検出部及び回転位置設定
部からの信号により所定の回転、停止を行なう基
準台と、前記電子銃固定部に固定される電子銃を
構成する各電極にそれぞれに設けられた電子ビー
ム通過孔部の壁にそれぞれ当接し得る複数の測定
面を有する触針と、この触針の機械的変動を電気
信号に変換する変換器と、この変換器からの電気
信号、前記原点検出部及び回転位置設定部からの
信号並びに電極位置の信号を入力とする演算制御
部とを少なくとも具備し、前記触針からの信号を
もとに前記電子銃の各電極の電子ビーム通過孔部
の偏心量を求め得るようになされていることを特
徴とする電子銃の偏心量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19848981A JPS58100331A (ja) | 1981-12-11 | 1981-12-11 | 電子銃の偏心量測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19848981A JPS58100331A (ja) | 1981-12-11 | 1981-12-11 | 電子銃の偏心量測定方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58100331A JPS58100331A (ja) | 1983-06-15 |
JPS6319062B2 true JPS6319062B2 (ja) | 1988-04-21 |
Family
ID=16391961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19848981A Granted JPS58100331A (ja) | 1981-12-11 | 1981-12-11 | 電子銃の偏心量測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58100331A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02308038A (ja) * | 1989-05-19 | 1990-12-21 | Sekisui Chem Co Ltd | 面取建物ユニット |
-
1981
- 1981-12-11 JP JP19848981A patent/JPS58100331A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02308038A (ja) * | 1989-05-19 | 1990-12-21 | Sekisui Chem Co Ltd | 面取建物ユニット |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58100331A (ja) | 1983-06-15 |
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