JPS6318923A - 過電圧過電流保護のサ−ジ吸収素子 - Google Patents

過電圧過電流保護のサ−ジ吸収素子

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JPS6318923A
JPS6318923A JP15885486A JP15885486A JPS6318923A JP S6318923 A JPS6318923 A JP S6318923A JP 15885486 A JP15885486 A JP 15885486A JP 15885486 A JP15885486 A JP 15885486A JP S6318923 A JPS6318923 A JP S6318923A
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JP
Japan
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absorbing element
surge absorbing
surge
melting point
low melting
Prior art date
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Pending
Application number
JP15885486A
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English (en)
Inventor
隆明 伊藤
宏幸 池田
原田 三喜男
誠 小野寺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd filed Critical Mitsubishi Mining and Cement Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、継続的な過電圧過電流の負荷から保護された
サージ吸収素子に関し、特に基板が発煙及び発火するこ
となく継続的な過電圧過を流を近所する保護要素を備え
るサージ吸収素子に関する。
[従来の技術] サージ吸収素子の使用法として一般には、該サージ吸収
素子を取り付ける回路の最大の作動電圧より高い動作電
圧にしたサージ吸収素子を取付け、該回路に雷サージ電
流等の瞬時的な過電圧が侵入した場合のみ該サージ吸収
素子が動作し、該回路に取付けられた電子部品を保護す
るものである。従って、サージ吸収素子の一般的な特性
として該サージ吸収素子の動作電圧以下の電圧では通常
高抵抗を有しているが、該サージ吸収素子の動作電圧以
上に電圧では、数十Ω以下の低い抵抗値になる。サージ
吸収素子は、このような特性を有している為に、am的
な過電圧過電流がサージ吸収素子に印加された場合、該
サージ吸収素子には常に電l]Eが流れ統け、該サージ
吸収素子は発熱を起こし、ひいては発火の原因となる。
通常、このような継続的な過電圧過電流が回路に印加さ
れることは考えられないが、不15の場合を想定して最
大限の安全対策を施していく考えが広まってきている。
その例として、米国のLIL(Underwriter
’s Laborat、orics Ir+c、 )に
おいては、このようなa続的な−A電圧過電流が印カロ
された場合1機器が発−火し、ひい−Cは、火災の原因
になるのを防止しようとする考え方が採用され、既に。
規格化き11つつめる。これに同調するように各国の規
格も、同様の安全規格が採用諮れつつある。
C発明が解決しようとする問題点] このような継続的な過電圧過電流、流が流れた場合9問
題になるのは2機器に取付けられているサージ吸収素子
への影響である。現在多くの機器にはサージ吸収素子が
取付けられており誘導雷等による機器の誤動作、破壊等
の対策がなされているが、該サージ吸収素子の取付は箇
所は一般的に機器に接続されているt原線(通常、商用
100V等)或いは通ずご線(電話回線等)の入口であ
る。
このようなナージ吸収素子は、前記に説明したようにa
t圧に対して低い抵抗値を示すため、そのとき、一種の
発熱体となり1機器の発火をもたらす危険性がある。
本発明は1以上のような継続的な過電圧過電流の負荷に
対しても保護手段を備えるサージ吸収素子を提供するも
のである。
即ち1本発明の目的は、a統的な過電圧過電流によるサ
ージ吸収素子の発熱の危険性を除き、安全なサージ吸収
素子を提供するものである。
[問題点を屏決するための手段] 本発明は、低融点金属部分をサージ吸収素子の表面に密
着させて設置し、該低融点金属部分とサージ吸収素子と
を電気的に直列に接続してなることを特徴とする継続的
な過電圧過電流負荷に対して保護符れたサージ吸収素子
である。
本発明においては、低融点金属部をサージ吸収素子の表
面に密着させて設置し、継続的な過電圧過電流がかかる
とサージ吸収素子が発熱し、その発熱により低融点金属
が溶融し、すると、サージ吸収素子と電気的に直列に接
続きれた低融点金属部分の溶融により回路が切断され、
継続的な過電圧過電流負荷に対してサージ吸収素子が保
護きれる。
このように本発明のサージ吸収素子においては、吸収素
子の表面に低融点金属部分を密看キせることにより、継
続的な過電圧過電流によって該サージ吸収素子が継続的
に発熱した際にその発熱により該サージ吸収素子の表面
に密着させた該低融点金属部分を溶解溶断させることに
より、その継続的な過電圧過電流を遮断させるものであ
る。
継続的な過電圧過電流が機器電子回路に印加許れること
は1通常では考えられないが、を源からの漏准、他の電
源1回路からの漏電流、誘導電流などにより、継続的に
過電圧過電流が掛けられることがある。このようなとき
、サージ吸収素子及び機器回路の両者を保護し1発煙1
発火に至らしめないようにするものである。
本発明に用いられる低融点金属要素は、低融点金属の線
状物、線などが好適である。
本発明に用いられる低融点金属としては、融点が低く且
つ電気伝導度が高い金属が好適である。
具体的には、錫、ビスマス、カドミニウム、鉛。
亜鉛、アンチモン、アルミニウム又はこれらの合金等が
適している。基板への取付は時の作業性を考慮して選択
する必要がある。
ナーン吸収素子と低融点金属部分との替刃方法において
は、その形状を特に規定されるものではない、ただ、サ
ージ吸収索子の発熱したときに効率よく低融点金属に伝
導されるような形状が好適である。
以上の如さ本発明のサージ吸収素子の構成は。
次の如きものである。
即ち、サージ吸収素子には、ギャップ式放電管。
それを改良したマイクロギヤツブ式放を管等がある。ギ
ャップ式放電管の吸収素子は、電極間にサージ電圧が印
加された場合、放電が生じ1機器回路を保護するように
、ナージ電流が吸収素子を通して流れるものである。
従来のサージ吸収素子では、下記の比較例に示すように
、一般的な機器に用いられる3A8度のヒユーズが溶断
しないような小さい電流値でも。
サージ吸収索子にmM、的に印加芒れると、数十秒〜斂
分でナージ吸収素子が発熱し、それにより。
基板も発火する危険がある。
これに対して1本発明のサージ吸収素子は、?21車な
構造でA!圧通過電流印加よる火災翼ア危険を防止でき
るものである。
本発明の吸収%子は、第1A図に示す構造である。第1
A図のサージ吸収素子は、ギャップ式放電管11に本発
明に従い低融点金属要素13を。
ステンレス線16により′e着させ固定し、一方。
放t’!?11のリード線12と低融点金属要素13の
リード線14をカシメ15で接読し、放電管11及び低
融点金属要素13の反対側のリード線12゛及び14′
をt源間に、或いは通信線の間に接続したものである。
この吸収素子を回路図で表わしたものがilB図である
0本発明の吸収素子は、放電管21と低融点金属要素2
2が直列に接続されている。そして、を源或いは通信線
71iX23に1機器回路24と並列に接続容れている
第2A図は1本発明の他の例のサージ吸収素子の構成を
示す断面図である。即ち、マイクロギャップ式放電管3
1に本発明により組立てた構造を第2A図に示す、マイ
クロギャップ式放電管31に本発明に従い低融点金属要
素33を、ステンレス線36により省着啓せ固定し、一
方、放電管31のリード線32と低融点金属要素33の
リード線34をカシメ35で接続し、放′5管31及び
低融点金属要素33の反対側のリード線32”及び34
゛を1!源間に、或いは通信線の間に接続したものであ
る。この吸収素子を回路図で表わしたものが第2B図で
ある6本発明の吸収素子は、放電管41と低融点金属要
素42が直列に接読されている。そして、is或いは通
信線源43に1機器回路44と並列に接続きれている。
次に1本発明のサージ吸収素子を1次の具体的な実施例
により、説明するが1本発明は1次の説明に限定される
ものではない。
[実施例1〕 ギヤノブ式放電管のサージ吸収素子の本発明の例を第1
A図により説明する。
ギヘ・ツブ式放電管11の一方のリード線部12と低融
点金属としての亜鉛813の一方のリード線部14とを
カシメ15により接続した後、該ギャップ式放電管11
と該亜鉛線部分13とを密着させ、ステンレス線により
固定したものである。各々の反対側のリード線部12′
及び14゜をt極線間或いは通信線間に接続きせる。
第1B図に本発明によるギヤツブ式放itの取付は回路
図を示す、この取付は例では、t*z3から相続的な過
電圧過電流が印加された場合、まず、ギャップ式放電管
21が発熱するが、その発熱により亜鉛線22が溶融し
、ギャンブ式放を管21に印加聾れる継続的な過電通過
を流を遮断するものである。
第1表に1本実施例による構成での試験結果を示す。
第1表 基板材質はヘークライトであり、用いた低融点金属要素
は、7A、115°C作動の特性のものである。
第1表の結果から、継続的な過電通過を流がギャップ式
放電管に印加されたとき、基板が発煙及び発火すること
なく、約6〜15秒で亜鉛線は、78融溶断し、継続的
な−A電圧過電流をα断したことが明らかである。
〔実施例2] 本発明のマイクロギャップ式放電管のサージ吸収素子を
第2A図に示す、マイクロギャップ放電管31の一方の
リード線部32と低融点金属としてのアルミニウム線部
分33の一方のリード線部34とを、カシメ35により
、接続した後、マイクロギャップ式放電管31とアルミ
ニウム線部分33とを密着許せ、ステンレス線36によ
り固定したものである。各々の反対側のリード線部32
゛及び34′を電1IIX線間或いは通信線間に接続芒
せたものである。
第2B図に、取付は回路図を示す、この取付は回路図で
は、電*43からのa統的な過電圧過電流が印加された
場合、まずマイクロギャップ式放電管41が発熱するが
、その発熱によりアルミニウム線42が溶融し、溶断し
、マイクロギャップ式放を管41に印加茜れた継続的な
過電圧過電流を遮断した。
第2表に9本実施例による構成での試験結果を示す。
第2表 基板材質はベークライトであり、用いた低融点金属は、
アルミニウム線である。
第2表の結果から1m統的な過電圧過電流がマイクロギ
ャップ式放電管に印加きれたとき、基板が発煙及び発火
することなく、約10〜30秒でアルミニウム線は、溶
融溶断し、!1統的な過電圧過電流を遮断したことが明
らかである。
〔比較例] ギヘーンブ式放電管及びマイクロギャップ式放電管のサ
ージ吸収素子に、継続的な過電圧過電流を印加した結果
を観察した。ギヤツブ式放寛管及びマイクロギャジ゛″
ブ式放tvに対する継続的な41!圧過f流負荷試験を
、基板材質;ベークライトで、印加電圧AC300V、
印加を流900mAで2行なったところ、印加時間各々
45秒及び55秒で、基板が発火した。
寒)1 一般的な機器に用いられる3Aa度のヒユーズが溶断し
ないような小さい電流値でも、サージ吸収素子に継続的
に印加きれると、数十秒〜数分でサージ吸収素子が発熱
し、それにより、基板も発火する危険がある。
[発明の効果コ 本発明のサージ吸収素子は、その表面に密着させた低融
点金属を設置し、該吸収素子と電気的に直列に接続され
た構成を有し、それにより、第1に、吸収素子に過電通
過を流の印加のときにそバによる発熱障害から吸収素子
を保護できること。
第2に1本発明のサージ吸収素子は、継続的な過電圧等
による発煙発火の危険を助出するサージ吸収素子を提供
できること、第3に、従って、m単な構造により、継続
的な過電圧を流の負荷からサー・ジ吸収素子及び機器回
路を保護できろ方法及び回路を提供できたこと、第4に
、安全な保護手段を有したサージ吸収素子回路更に、安
全な電子機器を提供できたことなどの技術的な効果が得
られた。
【図面の簡単な説明】
第1A及び18図は1本発明のサージ吸収素子の1例の
構造を示す断面図と取付は回路を示す図である。 第2A及び2B図は1本発明のサージ吸収素子の他の例
の構造を示す断面図と取付は回路を示す図である。 口主要部分の符号の説明コ 11.21  、、、ギ〜ツブ式放電管12.12’、
、、  リード線 13.22  、、、低融点金属亜鉛線14.14’、
、、  リード線 15、、、カシメ   16.、、ステンレス線23、
、、を源    24.、、機器回路31.41  、
、、マイクロギ〜ツブ式放電管32.32’、、、  
リード線 33.42 、.1板取1点金属アルミニウム線34.
34  ” 01.リード線 35、、、カシメ   36.、、ステンレス線43、
、、電R44,、、機器回路 特許出願人 三菱鉱業セメント株式会社代理人  弁理
士  倉 持  裕(外1名)j11A図 第16図 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第158854号2
、発明の名称 過電圧過TF、流保護のサージ吸収素子3、補正をする
者  事件との関係  出願人住所 東京都千代田区丸
の内−丁目5番1号三菱鉱業セメント株式会社 代表者 藤 1・(正 哉 4、代理人 住所 〒101東京都千代E月区神田須■町1丁目2番
地5、補正により増加する発明の数       06
、補正の対象 ’1)IIJJ細古の[発明のIff刑な説明]の欄7
、補正の内容 (1)明細書の第2頁第一行目の[作動電圧コを[回路
電圧コに訂正する。 (2)同上第2頁第3行目の[雷す−′、;電流]を[
′占す−ジ]に訂正する。 0)同上第2頁第7行目の[以上に電圧コを[以上の電
圧コに訂正する。 (4)同上第5頁第4行目の[溶解]を[溶融コに訂正
する。 (○同上第1頁第13〜11行目の[及び機器回路の両
者コを削除する。 (6)同上第6頁第14行口の[下記の]を[後述の]
に訂正する。 (7)同上第10ふ″i第5行目の[7A;115℃の
特性のものである。]を[亜鉛である。]に訂正する。 (8)同上第11頁第13行目の[溶融し、]を[溶融
]に訂正する。 (9)同上第11貞第15行目の[遮断した。コを[農
断させるものである。]に訂正する。 q■同上第13頁第3表の中の第3欄第4段の[45秒
コを[55秒]に訂正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 低融点金属要素をサージ吸収素子の表面に密着させて設
    置し、該低融点金属要素と該サージ吸収素子とを電気的
    に直列に接続してなることを特徴とする継続的な過電圧
    過電流負荷に対して保護されたサージ吸収素子。
JP15885486A 1986-07-08 1986-07-08 過電圧過電流保護のサ−ジ吸収素子 Pending JPS6318923A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53123851A (en) * 1977-04-05 1978-10-28 Shiroyama Seisakusho Kk Protector circuit having time lag fuse and equivalent effect

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53123851A (en) * 1977-04-05 1978-10-28 Shiroyama Seisakusho Kk Protector circuit having time lag fuse and equivalent effect

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