JPS63188707A - 瓦の歪判定方法 - Google Patents

瓦の歪判定方法

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Publication number
JPS63188707A
JPS63188707A JP2196487A JP2196487A JPS63188707A JP S63188707 A JPS63188707 A JP S63188707A JP 2196487 A JP2196487 A JP 2196487A JP 2196487 A JP2196487 A JP 2196487A JP S63188707 A JPS63188707 A JP S63188707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tile
valley
distortion
measurement positions
reverse surface
Prior art date
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Pending
Application number
JP2196487A
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English (en)
Inventor
Koji Shirai
白井 康次
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KOOMEI KOGYO KK
Original Assignee
KOOMEI KOGYO KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、燻し瓦、塩焼瓦、釉薬瓦等の各種の瓦の歪を
判定する方法に関する。
〔従来の技術〕
各種の瓦には、粘土の性質、窯の種類、焼成温度等によ
り、谷浅、ハネ、オチ等のくせ(歪)が生ずる。
従来、上記瓦の歪を判定する方法としては、例えば第2
図に示すように、表面を上方にして瓦lを水平に搬送す
る2条のコンベヤ丸ベル)2a。
2bからなる搬送コンベヤ2の上方に、瓦1の表面に接
触して転動するタッチローラ3aを有し、瓦1表面の桟
側(第2図においては左側)及び差込み側の頭部と尻部
の所要個所の高さ位置を測定する差動トランス等の4個
の測定器3を設け、各測定器3によって測定された測定
値と予め測定された基準瓦(図示せず)の測定値とを比
較演算して瓦の歪を判定する方法が知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上記従来の歪判定方法によれば、測定器3のタ
ッチローラ3aにチャタリング現象が生じ、測定不能と
なる場合があると共に、タッチロ−ラ3aの摩耗によっ
て測定誤差を生ずるおそれがあり、かつタッチローラ3
aの偏摩耗等により修正できない測定結果を生ずる問題
がある。
又、測定器3が接触式であるため、損傷を生ずるおそれ
のある素地(白地)瓦の歪判定を行い得ない問題がある
更に、測定個所が横側及び差込み側の頭部と尻部の4個
所であるため、谷の深浅を判定することができない問題
がある。
そこで、本発明は、製品のみならず素地(半製品)であ
っても何等の損傷を与えることな(、横側と差込み側の
ハネやオチ等は勿論、谷の深浅を加味して判定し得る瓦
の歪判定方法を提供しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
前記問題点を解決するため、本発明は、裏面を上方にし
て瓦を水平に搬送し、搬送中の瓦の谷、差込み側及び横
側の頭部と尻部の裏面の所要個所とそれぞれの上方の測
定個所との間の距離を光センサによって測定し、これら
の測定値と予め測定された基準瓦の測定値とを比較演算
して瓦の歪を判定する方法である。
〔作用〕
上記手段によれば、瓦の裏面が搬送面と平行になると共
に、その谷、差込み側及び横側の頭部と尻部の所要個所
の測定個所との間の距離の測定が非接触で行われる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。
引掛桟瓦11の歪を判定するには、まず、2本のコンベ
ヤ丸ベルト12a、12bからなる搬送コンベヤ12に
より、引掛用の突起11aを設けた裏面を上方にして引
掛桟瓦11を水平に搬送し、搬送中の引掛桟瓦11の谷
、差込み側(第1図においては上側)及び横側の頭部(
同図においては左側)と尻部の裏面の所要個所の上方の
測定個所に配置した6個の光センサ13により、引掛桟
瓦11の裏面の各所要個所とそれぞれの測定個所との間
の距離を同時に測定する。各光センサ13は、レーザ光
を投受光し、光学的三角測距法に基づいて距離をアナロ
グ測定するものである。
ついで、各光センサ13によって測定された測定(1は
、A/D変換されると共に、図示しないマイクロコンピ
ュータの比較演算器により、予め測定された基準瓦(図
示せず)の各所要個所とそれぞれの上方の測定個所との
間の測定値と比較演算されて判定器に出力され、判定器
において谷又は横側の頭部と尻部の演算結果を基準とし
て容性や谷深、尻ハネや向ハネ、尻オチや向オチ等の別
に応じて容性1等、谷浅2等、谷浅等外、ハネ1等。
ハネ2等、ハネ等外、オチ1等、オチ2等、オチ外等の
等級が判定され、判定結果が表示器やプリンターに表示
、プリントアウトされる。
なお、上記実施例においては、引掛桟瓦11の歪を判定
する場合について述べたが、これに限らす平瓦1軒瓦、
袖瓦その他の瓦の歪の判定も同様に行うことができる。
この場合、瓦が裏面を上方にして搬送されるので、軒瓦
や袖瓦の垂れや袖垂れにより裏面が傾斜することはない
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、瓦の裏面が搬送面と平行
になるので、従来のように傾斜による測定誤差が生ずる
ことがないと共に、瓦葺の現実に即した判定を行うこと
ができる。
又、測定が非接触で行われるので、従来のようにタッチ
ローラのチャタリング等により測定不能となることがな
いと共に、正確な測定と判定を行うことができ、かつ製
品のみならず素地であっても何等の損傷を与えることな
く測定と判定を行うことができる。
更に、横側と差込み側のハネやオチ等は勿論、谷の深浅
をも加味して瓦の歪判定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す判定方法の斜視図、第
2図は従来技術の正面図である。 11・・・引掛桟瓦    12・・・搬送コンベヤ1
3・・・光センサ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)裏面を上方にして瓦を水平に搬送し、搬送中の瓦
    の谷、差込み側及び桟側の頭部と尻部の裏面の所要個所
    とそれぞれの上方の測定個所との間の距離を光センサに
    よって測定し、これらの測定値と予め測定された基準瓦
    の測定値とを比較演算して瓦の歪を判定することを特徴
    とする瓦の歪判定方法。
  2. (2)前記歪の判定は、谷の頭部と尻部の演算結果を基
    準として行われる特許請求の範囲第1項記載の瓦の歪判
    定方法。
  3. (3)前記歪の判定は、桟側の頭部と尻部の演算結果を
    基準として行われる特許請求の範囲第1項記載の瓦の歪
    判定方法。
JP2196487A 1987-02-02 1987-02-02 瓦の歪判定方法 Pending JPS63188707A (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52123685A (en) * 1976-04-09 1977-10-18 Kokubo Seisakushiyo Kk Tile tester
JPS6014281A (ja) * 1983-07-05 1985-01-24 三菱重工業株式会社 光フアイバ−を用いたデイスプレイ装置
JPS61178608A (ja) * 1985-02-05 1986-08-11 Mitsubishi Electric Corp 平坦度検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52123685A (en) * 1976-04-09 1977-10-18 Kokubo Seisakushiyo Kk Tile tester
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JPS61178608A (ja) * 1985-02-05 1986-08-11 Mitsubishi Electric Corp 平坦度検出装置

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