JPS63181855A - 建築仕上げ下地の平面精度検査方法ならびに装置 - Google Patents
建築仕上げ下地の平面精度検査方法ならびに装置Info
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- JPS63181855A JPS63181855A JP1202487A JP1202487A JPS63181855A JP S63181855 A JPS63181855 A JP S63181855A JP 1202487 A JP1202487 A JP 1202487A JP 1202487 A JP1202487 A JP 1202487A JP S63181855 A JPS63181855 A JP S63181855A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
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- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 3
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- On-Site Construction Work That Accompanies The Preparation And Application Of Concrete (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばクロス仕上げをする前のコンクリート
やモルタルによる壁面や天井面のような建築仕上げ下地
の平面精度検査方法と、その方法に使用する装置に関す
るものである。
やモルタルによる壁面や天井面のような建築仕上げ下地
の平面精度検査方法と、その方法に使用する装置に関す
るものである。
例えば、クロス仕上げされた壁面や塗装仕上げされた壁
面においては、下地(コンクリートやモルタル)表面に
凸部があると、クロスや塗装膜等の仕上げ層にも凸部が
形成されることになる。
面においては、下地(コンクリートやモルタル)表面に
凸部があると、クロスや塗装膜等の仕上げ層にも凸部が
形成されることになる。
この凸部は一般に小さなものであるから、壁面に垂直な
方向やそれに近い方向からの照明光線によっては殆ど問
題にならないが、例えば、天井面と壁面とのコーナ一部
に間接照明器具を設けたり、あるいは壁面に密着して照
明器具を取り付けた場合のように、壁面に平行な光を受
けると、凸部のうしろに影ができ、非常に目立つもので
ある。
方向やそれに近い方向からの照明光線によっては殆ど問
題にならないが、例えば、天井面と壁面とのコーナ一部
に間接照明器具を設けたり、あるいは壁面に密着して照
明器具を取り付けた場合のように、壁面に平行な光を受
けると、凸部のうしろに影ができ、非常に目立つもので
ある。
このため、クロス仕上げや塗装仕上げを施す前に、下地
表面の平面精度を検査し、凸部があればコテ押さえ等に
より補修することが必要とされている。
表面の平面精度を検査し、凸部があればコテ押さえ等に
より補修することが必要とされている。
しかしながら、補修が可能な段階にある乾燥前のコンク
リートやモルタルのセメント色をした表面には濃淡の斑
模様があるため、目視による凸部の判定は非常に困難で
ある。
リートやモルタルのセメント色をした表面には濃淡の斑
模様があるため、目視による凸部の判定は非常に困難で
ある。
このため、従来では、蛍光灯を下地表面にあてがって、
凸部の有無を検査していた。
凸部の有無を検査していた。
上記の従来例においては、次のような問題点があった・
即ち、蛍光灯には、かなりの太さがあり、蛍光灯を嵌め
込んだ照明器具にはそれ以上の太さがあるので、下地表
面と平行に光線を照射できず、凸部の有無を正確に判定
することは困難であり、殊に、凸部がどの程度の高さで
あるかは判定不能であった。
込んだ照明器具にはそれ以上の太さがあるので、下地表
面と平行に光線を照射できず、凸部の有無を正確に判定
することは困難であり、殊に、凸部がどの程度の高さで
あるかは判定不能であった。
そのため、クロス等による仕上げが完了し、本設の照明
器具が取り付けられた時点で、はじめて凸部の存在に気
付き、大掛かりな補修工事が必要になることがあった。
器具が取り付けられた時点で、はじめて凸部の存在に気
付き、大掛かりな補修工事が必要になることがあった。
本発明の目的は、目視により凸部の有無ならびに高さを
容易かつ正確に判定できる方法とその方法に使用する装
置を提供することにある。
容易かつ正確に判定できる方法とその方法に使用する装
置を提供することにある。
本発明による建築仕上げ下地の平面精度検査方法の特徴
は、薄い層状をなす複数色のスペクトル光線を建築仕上
げ下地の表面と平行に照射して、当該スペクトル光線で
照射された部分の色の違いにより、前記建築仕上げ下地
の表面における凸部の有無および高さを判定することに
ある。
は、薄い層状をなす複数色のスペクトル光線を建築仕上
げ下地の表面と平行に照射して、当該スペクトル光線で
照射された部分の色の違いにより、前記建築仕上げ下地
の表面における凸部の有無および高さを判定することに
ある。
本発明による建築仕上げ下地の平面精度検査装置の特徴
は、装置本体に、光源と、光源の電源と、光源からの光
を複数色のスペクトル光線に分光する手段と、当該スペ
クトル光線を平行な薄い層状に整えるレンズと、この平
行スペクトル光線を建築仕上げ下地の表面と平行に照射
するスリットとを設けて構成したことにある。
は、装置本体に、光源と、光源の電源と、光源からの光
を複数色のスペクトル光線に分光する手段と、当該スペ
クトル光線を平行な薄い層状に整えるレンズと、この平
行スペクトル光線を建築仕上げ下地の表面と平行に照射
するスリットとを設けて構成したことにある。
上記の構成によれば、薄い層状をなす複数色のスペクト
ル光線を建築仕上げ下地の表面と平行に照射した際、建
築仕上げ下地の表面に凸部があると、これにスペクトル
光線があたるので、暗い場所であっても、凸部の有無を
判定できる。
ル光線を建築仕上げ下地の表面と平行に照射した際、建
築仕上げ下地の表面に凸部があると、これにスペクトル
光線があたるので、暗い場所であっても、凸部の有無を
判定できる。
しかも凸部の高さによって、当たるスペクトル光線の色
が違うので、色の違いによって、凸部の高さを直ちに正
確に判定できる。
が違うので、色の違いによって、凸部の高さを直ちに正
確に判定できる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
先ず、本発明による建築仕上げ下地の平面精度検査方法
を説明する。
を説明する。
第1図は建築仕上げ下地の平面精度検査方法の原理図で
ある。図示のように、光B1から出た光はスリット2を
経て細い光束となり、プリズム3により赤、緑、青の3
色のスペクトル光線a、b。
ある。図示のように、光B1から出た光はスリット2を
経て細い光束となり、プリズム3により赤、緑、青の3
色のスペクトル光線a、b。
Cに分光される。3色のスペクトル光線a、b。
Cはレンズ4により平行な薄い層状に整えられた後、建
築仕上げ下地5の表面と平行に照射される。
築仕上げ下地5の表面と平行に照射される。
各色のスペクトル光線a、b、cの厚みd・・・は、プ
リズム3への光線の入射角、プリズム3の屈折率、レン
ズ4の焦点距離等の設定により、予め、適当な値(例え
ばin)に設定される。
リズム3への光線の入射角、プリズム3の屈折率、レン
ズ4の焦点距離等の設定により、予め、適当な値(例え
ばin)に設定される。
従って、建築仕上げ下地5の表面に凸部6,7があると
、これにいずれかのスペクトル光線a。
、これにいずれかのスペクトル光線a。
b、cが当たる9図示の例では、凸部6に赤色のスペク
トル光線aが当たり、凸部7には緑色のスペクトル光線
すが当たることになる。
トル光線aが当たり、凸部7には緑色のスペクトル光線
すが当たることになる。
従って、これらの色が付いた部分に凸部6.7があるこ
とが分かる。そして赤色に見える凸部6は、その高さが
d以下であり、緑色に見える凸部7は、その高さがdよ
り大きく且つ2d以下であることが分かる0図示しない
が、青色に見える凸部があれば、その高さは2dより大
きく且つ3d以下である。
とが分かる。そして赤色に見える凸部6は、その高さが
d以下であり、緑色に見える凸部7は、その高さがdよ
り大きく且つ2d以下であることが分かる0図示しない
が、青色に見える凸部があれば、その高さは2dより大
きく且つ3d以下である。
光源1として白熱灯を使用し、赤色、緑色、青色の波長
域のみを透過する光学フィルターを使用して、スペクト
ル光線a、b、cを鮮明にすることもできるが、光学フ
ィルターによる光量のロスをなくして、スペクトル光線
a、b、cをより一層鮮明にするためには、第2図に示
すように、赤色、緑色、青色の波長域において発光強度
が高く且つ互いに同程度となる3波長域発光型螢光ラン
プを光源1として用いることが望ましい。
域のみを透過する光学フィルターを使用して、スペクト
ル光線a、b、cを鮮明にすることもできるが、光学フ
ィルターによる光量のロスをなくして、スペクトル光線
a、b、cをより一層鮮明にするためには、第2図に示
すように、赤色、緑色、青色の波長域において発光強度
が高く且つ互いに同程度となる3波長域発光型螢光ラン
プを光源1として用いることが望ましい。
次に、本発明による建築仕上げ下地の平面精度検査装置
を説明する。
を説明する。
第3図、第4図は本発明に係る建築仕上げ下地の平面精
度検査装置の一例を示す。図において、8は、一端に把
手8aを備え、裏面を平坦に形成した持ち運び可能な寸
法9重量の装置本体で、−側面の裏面近傍位置には、ス
ペクトル光線を建築仕上げ下地5の表面と平行に照射す
るための横向きに開口したスリット9が形成されている
。
度検査装置の一例を示す。図において、8は、一端に把
手8aを備え、裏面を平坦に形成した持ち運び可能な寸
法9重量の装置本体で、−側面の裏面近傍位置には、ス
ペクトル光線を建築仕上げ下地5の表面と平行に照射す
るための横向きに開口したスリット9が形成されている
。
装置本体8内には、前述した3波長域発光型螢光ランプ
等の光源1と、その電源用電池(図示せず)と、スリッ
ト2と、スリット2を経た光線を赤、緑、青の3色に分
光するプリズム等の分光手段10と、各スペクトル光線
を平行な且つ薄い層状に整えるレンズ4とが内蔵されて
いる。
等の光源1と、その電源用電池(図示せず)と、スリッ
ト2と、スリット2を経た光線を赤、緑、青の3色に分
光するプリズム等の分光手段10と、各スペクトル光線
を平行な且つ薄い層状に整えるレンズ4とが内蔵されて
いる。
また装置本体8の長手方向両端部には、第5図に示すよ
うに、ゴム製の吸盤11が設けられている。
うに、ゴム製の吸盤11が設けられている。
12は吸盤調整ネジであり、このネジ12を回転操作す
ることにより、軸体13が軸線方向に移動し、吸盤11
の吸引力を高めたり、弱めたりできるように構成されて
いる。
ることにより、軸体13が軸線方向に移動し、吸盤11
の吸引力を高めたり、弱めたりできるように構成されて
いる。
装置本体8におけるスリット9の両側部には、一対の平
行なガイドレール14a、14bが連設されており、ガ
イドレール14a、14bには、下面を前記装置本体8
の裏面と同一平面に位置させたゲージ15がガイドレー
ル14a、14bに沿ってスライド自在に支持されてい
る。少な(とも一方のガイドレール14aの外側面には
、ガイドレール14aと平行な溝16が形成され、溝1
6の底面には、一定間隔おきに係合用凹部17・・・が
形成されている。前記ゲージ15の端部には、前記溝1
6に対応する位置に、前記保合用凹部17に対して保合
離脱自在で且つスプリング18により係合方向に付勢さ
れたストッパー19が設けられており、当該ストッパー
19と保合用凹部17が係合することによって、ゲージ
15がガイドレール14a、14bに固定され、ゲージ
15を一定以上の力でガイドレール14a、14bの長
手方向に押し動かすことにより、ストッパー19と係合
用凹部17との係合が解かれるように構成されている。
行なガイドレール14a、14bが連設されており、ガ
イドレール14a、14bには、下面を前記装置本体8
の裏面と同一平面に位置させたゲージ15がガイドレー
ル14a、14bに沿ってスライド自在に支持されてい
る。少な(とも一方のガイドレール14aの外側面には
、ガイドレール14aと平行な溝16が形成され、溝1
6の底面には、一定間隔おきに係合用凹部17・・・が
形成されている。前記ゲージ15の端部には、前記溝1
6に対応する位置に、前記保合用凹部17に対して保合
離脱自在で且つスプリング18により係合方向に付勢さ
れたストッパー19が設けられており、当該ストッパー
19と保合用凹部17が係合することによって、ゲージ
15がガイドレール14a、14bに固定され、ゲージ
15を一定以上の力でガイドレール14a、14bの長
手方向に押し動かすことにより、ストッパー19と係合
用凹部17との係合が解かれるように構成されている。
上記の構成によれば、装置本体8の裏面およびゲージ1
5の裏面を建築仕上げ下地5に当接させることにより、
スリット9から照射されるスベク・トル光線と建築仕上
げ下地5の表面とが平行になる。
5の裏面を建築仕上げ下地5に当接させることにより、
スリット9から照射されるスベク・トル光線と建築仕上
げ下地5の表面とが平行になる。
この状態で光B1を点灯し、スリット9から建築仕上げ
下地5の表面と平行にスペクトル光線を照射する。
下地5の表面と平行にスペクトル光線を照射する。
前記ゲージ15と装置本体8とガイドレール14a。
14bとによって囲まれた範囲に凸部があれば、第1図
で説明した通り、いずれかのスペクトル光線 4゜が凸
部を照らし、色が付(ので、凸部の存在が分かり、しか
も色の違いにより凸部の高さを容易かつ正確に判定でき
るのである。
で説明した通り、いずれかのスペクトル光線 4゜が凸
部を照らし、色が付(ので、凸部の存在が分かり、しか
も色の違いにより凸部の高さを容易かつ正確に判定でき
るのである。
尚、図示のように、ガイドレール14a、14bとゲー
ジ15を設けて実施すれば、スペクトル光線を建築仕上
げ下地5の表面と容易かつ正確に平行にすることができ
るが、これら14a、14b、15を省略して実施する
ことも可能である。また上記実施例のように、吸盤11
を設けることにより、建築仕上げ下地5が壁面であって
も、あるいは天井面であっても、装置を建築仕上げ下地
5に吸盤11で固定することができ、装置から手を離せ
るので、筆記具による凸部のマーク付けを容易に行える
のである。
ジ15を設けて実施すれば、スペクトル光線を建築仕上
げ下地5の表面と容易かつ正確に平行にすることができ
るが、これら14a、14b、15を省略して実施する
ことも可能である。また上記実施例のように、吸盤11
を設けることにより、建築仕上げ下地5が壁面であって
も、あるいは天井面であっても、装置を建築仕上げ下地
5に吸盤11で固定することができ、装置から手を離せ
るので、筆記具による凸部のマーク付けを容易に行える
のである。
本発明は、上述した構成よりなるから、暗い場所であっ
ても、建築仕上げ下地表面の凸部の有無を判定でき、し
かも色の違いによって、凸部の高さを直ちに正確に判定
できる等の効果がある。
ても、建築仕上げ下地表面の凸部の有無を判定でき、し
かも色の違いによって、凸部の高さを直ちに正確に判定
できる等の効果がある。
第1図は本発明に係る建築仕上げ下地の平面精度検査方
法の原理図、第2図は3波長型螢光ランプの特性図、第
3図は本発明に係る建築仕上げ下地の平面精度検査装置
の斜視図、第4図は上記装置の断面図、第5図と第6図
は上記装置の要部断面図である。 1・・・光源、3・・・プリズム、4・・・レンズ、5
・・・建築仕上げ下地、8・・・装置本体、10・・・
分光手段(プリズム)。
法の原理図、第2図は3波長型螢光ランプの特性図、第
3図は本発明に係る建築仕上げ下地の平面精度検査装置
の斜視図、第4図は上記装置の断面図、第5図と第6図
は上記装置の要部断面図である。 1・・・光源、3・・・プリズム、4・・・レンズ、5
・・・建築仕上げ下地、8・・・装置本体、10・・・
分光手段(プリズム)。
Claims (2)
- (1)薄い層状をなす複数色のスペクトル光線を建築仕
上げ下地の表面と平行に照射して、当該スペクトル光線
で照射された部分の色の違いにより、前記建築仕上げ下
地の表面における凸部の有無および高さを判定すること
を特徴とする建築仕上げ下地の平面精度検査方法。 - (2)装置本体に、光源と、光源の電源と、光源からの
光を複数色のスペクトル光線に分光する手段と、当該ス
ペクトル光線を平行な薄い層状に整えるレンズと、この
平行スペクトル光線を建築仕上げ下地の表面と平行に照
射するスリットとを設けて成る建築仕上げ下地の平面精
度検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62012024A JPH07117399B2 (ja) | 1987-01-20 | 1987-01-20 | 建築仕上げ下地の平面精度検査方法ならびに装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62012024A JPH07117399B2 (ja) | 1987-01-20 | 1987-01-20 | 建築仕上げ下地の平面精度検査方法ならびに装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63181855A true JPS63181855A (ja) | 1988-07-27 |
JPH07117399B2 JPH07117399B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=11794034
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62012024A Expired - Fee Related JPH07117399B2 (ja) | 1987-01-20 | 1987-01-20 | 建築仕上げ下地の平面精度検査方法ならびに装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07117399B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113624167A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-09 | 常媛媛 | 一种建筑体表面平整度检测系统及检测方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CZ2009133A3 (cs) * | 2009-03-03 | 2009-07-08 | Witrins S.R.O. | Zarízení, zpusob merení vnejších rozmeru testovaného výrobku a použití tohoto zarízení |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5385486A (en) * | 1977-01-03 | 1978-07-27 | Sick Optik Elektronik Erwin | Improvement in monitoring system |
JPS6175210A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Nec Corp | レンジフアインダ |
-
1987
- 1987-01-20 JP JP62012024A patent/JPH07117399B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5385486A (en) * | 1977-01-03 | 1978-07-27 | Sick Optik Elektronik Erwin | Improvement in monitoring system |
JPS6175210A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Nec Corp | レンジフアインダ |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113624167A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-09 | 常媛媛 | 一种建筑体表面平整度检测系统及检测方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07117399B2 (ja) | 1995-12-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |