JPS63177744U - - Google Patents

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JPS63177744U
JPS63177744U JP6842987U JP6842987U JPS63177744U JP S63177744 U JPS63177744 U JP S63177744U JP 6842987 U JP6842987 U JP 6842987U JP 6842987 U JP6842987 U JP 6842987U JP S63177744 U JPS63177744 U JP S63177744U
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JP
Japan
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light
linearly polarized
sample
optical fiber
polarized light
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JP6842987U
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例装置を示す構成図、第
2図は従来装置を示す構成図である。 1……プローブ本体、1a……開口、3……反
射板、3……レーザ光源、6……偏光ビームスプ
リツタ、7……単一モード光フアイバ、8……コ
リメートレンズ、9……1/4波長板、10……
検出器、11……検光子、Sa……試料、L……
レーザ光。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. レーザ光源と、この光源からのレーザ光を二つ
    の直線偏光に分け、一つの直線偏光を試料に入射
    させると共に、この試料からの戻り光を特定方向
    に反射させる偏光ビームスプリツタと、この偏光
    ビームスプリツタで取出された直線偏光を前記試
    料に伝搬し、試料からの戻り光を伝搬する一本の
    単一モード光フアイバと、前記光フアイバの先端
    に設けられ、前記偏光ビームスプリツタからの直
    線偏光ビームを集光するコリメートレンズと、こ
    のレンズからの直線偏光を円偏光し、前記試料に
    照射する1/4波長板と、前記ビームスプリツタ
    で反射された前記試料からの戻り光を受光する検
    出器と、前記戻り光中の直線偏光成分をカツトす
    る検光子を具備し、前記1/4波長板によつて前
    記試料で散乱された光を透過させると共に、散乱
    を受けなかつた直接光を透過し入射時と振動面が
    180°ずれた直線偏光とし、前記検光子でこの
    直線偏光をカツトし散乱光のみを透過させて前記
    検出器側に与えるようにしたことを特徴とする光
    フアイバ型濁度計。
JP6842987U 1987-05-07 1987-05-07 Pending JPS63177744U (ja)

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JP6842987U JPS63177744U (ja) 1987-05-07 1987-05-07

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JP6842987U JPS63177744U (ja) 1987-05-07 1987-05-07

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JPS63177744U true JPS63177744U (ja) 1988-11-17

Family

ID=30908240

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JP6842987U Pending JPS63177744U (ja) 1987-05-07 1987-05-07

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