JPS63173958A - 超音波自動探傷方法 - Google Patents

超音波自動探傷方法

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JPS63173958A
JPS63173958A JP62006973A JP697387A JPS63173958A JP S63173958 A JPS63173958 A JP S63173958A JP 62006973 A JP62006973 A JP 62006973A JP 697387 A JP697387 A JP 697387A JP S63173958 A JPS63173958 A JP S63173958A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は中実碍子、長幹碍子のような超音波探傷波形中
に林状エコーが発生する物品の内部欠陥を自動探傷する
ことができる超音波自動探傷方法に関するものである。
（従来の技術） 中実碍子、長幹碍子等の製造工程においては、磁器本体
の上下端面に支持金具をセメント付けするに先立ち、こ
れらの上下端面を探傷面として超音波探傷が行われ、内
部欠陥の有無を検査している。ところがこのような磁器
本体には多数の笠があるためにこれらの笠によってエコ
ーが発生し、正常晶であっても探傷波形中に第４図、第
７図、第８図に示されるような林状エコーが現れる。そ
して内部欠陥を含む場合には探傷波形中に第５図にＡ、
第６図にＢとして示したような欠陥エコーが含まれるこ
ととなるので、従来は検査員が目視によりこれらの林状
エコー中の欠陥エコーを見分けている。ところがその識
別には熟練を要し、また検査員による良否判別の基準に
もばらつきを生することから、最近では良否判別の自動
化が求められている。
現在実用化されている一般的な超音波自動探傷方法は、
ＣＲＴ上の波形画像中の任意の位置に第５図に示される
ようなスライスレベルＣを設定し、これを越えたエコー
高さを検出して不良と判定する方法である。ところがこ
の方法では第５図のように林状エコーの最大値よりも高
くスライスレベルを設定せざるを得ないので、第６図の
ように林状エコーの最大値よりも低い高さの欠陥エコー
Ｂは検出されないという欠点があった。
また林状エコーを含む正常な基準波形を設定しておき、
この基準波形との比較により欠陥エコーを自動検出する
試みもなされているが、次の２つの理由により基準波形
の設定が極めて困難であった。即ち、第１に探触子の位
置をわずかに変えるだけで林状エコーの波形が第４図の
状態から第７図のように変化して隣接パルス高さの一部
逆転現象が生ずること、第２に探傷位置によっては第８
図のような林状エコーが発生することもあり、これらの
理由によって良否判定の基準となるような基準波形の設
定は極めて困難であった。このため、これまでのところ
碍子のような林状エコーの発生する物品の超音波自動探
傷はほとんど不可能とされていた。
（発明が解決しようとする問題点） 本発明は上記のような従来の問題点を解決して、林状エ
コー中にその最大レベルよりも低いレベルの欠陥エコー
が含まれる場合にもこれを自動的に検出することかでき
、これによって林状エコーを発生する物品の超音波によ
る内部探傷を自動的に行うことを可能とした超音波自動
探傷方法を目的として完成されたものである。
（問題点を解決するための手段） 本発明は内部欠陥を含まない正常な試料から得られた超
音波探傷波形を大の時間軸に沿って複数の区間に分割し
、それぞれの区間ごとにその区間内の最大値をピークホ
ールドして記憶させ、次に探傷点を移動させて同様の操
作を行って各区間ごとにそれまでの最大値よりも大きい
値が生じたときにはその区間の最大値のメモリを更新す
る処理をさせ、全探傷点について上記の処理を施して得
られたメモリ内の波形を基準波形として以後の探傷試料
について良否判定を行うことを特徴とするものである。
以下に本発明を実施例とともに更に詳細に説明する。第
１図は本発明の実施例のシステム図、第２図は基準波形
設定処理のフローチャート、第３図は良否判定処理のフ
ローチャートである。
本実施例においては、第１図に示されるように予め内部
欠陥のないことが確かめられた正常な試料（ｌ）（中実
碍子）の上端面に探触子（２）を当て、探傷点をｇいｇ
いｇ、・・・ｇｓと順次移動させつつ各探傷点ごとに超
音波探傷器（３）を通して超音波探傷波形が出力される
。この超音波探傷波形はＡ／Ｄ変換器（４）によりディ
ジタル化され、以降はマイクロコンピュータによるソフ
ト処理が行われる、まず波形を時間軸に沿ってＮ等分し
、それぞれの区間ごとに出力波形の最大値をピークホー
ルドさせ、その値をその区間を代表する値としてＲＡＭ
（５）及び基準波形メモリ（６）に記憶させる。前述し
た第４図と第７図の波形は一部に逆転波形を含むものの
、Ｎを適当に設定すればこのような処理によって第９図
のようになり、第８図の波形は第１２図のとおりに変換
される。
次に探傷点をｇｌからｇｚに移動させて同様の処理を行
い、分割された各区間ごとに基準波形メモリ（６）上に
記憶されているそれまでの最大値Ｈと２回目のデータｈ
とを比較し、ｈ＞Ｈなら基準波形メモリ（６）上のその
区間の最大値をｈに更新する。
このような操作を各探傷点ｇムについて順次繰返し、全
探傷点ｇ　ｒ　−ｇ　ｓについての操作を完了した時点
で得られた基準波形メモリ（６）内の波形を基準波形と
する。前述の例においては、この基準波形は第９図と第
１２図の波形の各区間ごとの最大値を重ね合せた第１３
図のような波形となる０以上の基準波形設定処理フロー
は第２図に示されるとおりである。
このようにして第１３図のような基準波形の設定がなさ
れた後、探傷を行うべき探傷試料の各深傷点ｇｔに探触
子（２）を当て、その超音波探傷波形を基準波形と比較
して良否判別を行わせる０例えば欠陥エコーＡを含む第
５図の林状エコーを変換した第１θ図の出力波形と第１
３図の基準波形とを比較すると第３番目の区間に異常値
りが存在し、欠陥エコーＢを含む第６図の林状エコーを
変換した第１１図の出力波形と第１３図の基準波形とを
比較すると第６番目の区間に異常値Ｅが存在することが
明らかとなる。これに対して第９図や第１２図の出力波
形中には基準波形を超える値は存在しない、原理的には
このようにして探傷試料の各探傷点について良否の判別
が行われるが、実際には安全を見込んで基準波形を（１
＋α）倍（但し０くαく１）した波形との間で比較を行
い、ｈ！＞Ｈｔ（１＋α）となった場合に不良信号を発
生させる０以上の良否判定処理フローは第３図に示され
るとおりである。
なお基準波形の設定にあたり、探傷点を複数のグループ
に分けて各グループごとに基準波形の設定を行い、探傷
試料の探傷点も同様にグループ分けしてその探傷点に対
応するグループの基準波形に基いて良否判定を行うこと
もできる。グループ分けの方法としては例えば同心円上
の探傷点を１グループとし、中心から外側に向っていく
つかのグループを形成する方法がある。このようにすれ
ば検査精度は一段と向上することとなる。
（発明の効果） 本発明は以上の説明からも明らかなようにアナログ原波
形を時間軸に沿ってＮ個の区間に分割し、それぞれの区
間毎にピークホールドしたことにより探触子の位置のわ
ずかな違いによる隣接パルス高さの逆転現象にもとすく
原波形の不安定性を解消し、また正常晶におけるあらゆ
る林状エコーを包含した形で基準波形を設定することに
より、林状エコー中にその最大レベルよりも低いレベル
の欠陥エコーが含まれている場合でもこれを自動的に検
出できるようにしたものである。よって本発明は、中実
碍子や長幹碍子のような林状エコーを生ずる物品の内部
欠陥の検査に好適な超音波自動探傷方法として産業の発
展に寄与する氏ころは極めて大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明のシステム構成を示すブロック図、第２
図は基準波形設定処理フローを示すフローチャート、第
３図は良否判定処理のフローを示すフローチャート、第
４図〜第８図は超音波探傷波形の波形図で第４図は正常
晶、第５図と第６図は欠陥エコーを含む波形、第７図と
第８図は正常晶である。また第９図〜第１２図はＮ個の
区間ごとにピークホールド処理したディジタル波形図で
、第９図は第４図と第７図を変換したもの、第１０図、
第１１図はそれぞれ第５図と第６図を変換したもの、第
１２図は第８図を変換したものである。第１３図は第９
図と第１２図を合成した基準波形図である（１１：試料
、（２）：探触子、（６）二基半波形メモリ。 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 処１（−七つ 第１Ｏ図 第１１図 ず６０の鵠ε１ｖｊＬＬｔ−もっ １１１２図 １１１１３図 １斗５妨 手続補正書（自発） １．事件の表示 昭和６２年特許願第６９７３号 ２、発明の名称　　超音波自動探傷方法３、補正をする
者 事件との関係　特許出願人 住所　愛知県名古屋市瑞穂区須田町２番５６号４、代理
人 ５、補正の対象 ６、補正の内容 （１）、明細書第８頁第６行と第７行との間に、「　ま
た上記の実施例では、基準波形の設定後に探傷を行う場
合に、探傷試料から得られた超音波探傷波形を例えば第
１０図や第１１図のように波形変換したうえで基準波形
との比較を行わせているが、超音波探傷波形を波形変換
することな（、直接に基準波形と比較してもよく、この
場合にはより高速度で検査を行うことが可能となる。」
を加入する。 以上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、内部欠陥を含まない正常な試料から得られた超音波
    探傷波形をその時間軸に沿って複数の区間に分割し、そ
    れぞれの区間ごとにその区間内の最大値をピークホール
    ドして記憶させ、次に探傷点を移動させて同様の操作を
    行って各区間ごとにそれまでの最大値よりも大きい値が
    生じたときにはその区間の最大値のメモリを更新する処
    理をさせ、全探傷点について上記の処理を施して得られ
    たメモリ内の波形を基準波形として以後の探傷試料につ
    いて良否判定を行うことを特徴とする超音波自動探傷方
    法。 ２、探傷点を複数のグループに分けて各グループごとに
    基準波形を設定し、探傷試料の良否判定をその探傷点に
    対応するグループの基準波形に基いて行う特許請求の範
    囲第１項記載の超音波自動探傷方法。
JP62006973A 1987-01-14 1987-01-14 超音波自動探傷方法 Granted JPS63173958A (ja)

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