JPS63173958A - 超音波自動探傷方法 - Google Patents
超音波自動探傷方法Info
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 abstract description 18
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 14
- 239000012212 insulator Substances 0.000 abstract description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 5
- RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N [(2s,3r,6r)-6-[5-[5-hydroxy-3-(4-hydroxyphenyl)-4-oxochromen-7-yl]oxypentoxy]-2-methyl-3,6-dihydro-2h-pyran-3-yl] acetate Chemical compound C1=C[C@@H](OC(C)=O)[C@H](C)O[C@H]1OCCCCCOC1=CC(O)=C2C(=O)C(C=3C=CC(O)=CC=3)=COC2=C1 RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は中実碍子、長幹碍子のような超音波探傷波形中
に林状エコーが発生する物品の内部欠陥を自動探傷する
ことができる超音波自動探傷方法に関するものである。
に林状エコーが発生する物品の内部欠陥を自動探傷する
ことができる超音波自動探傷方法に関するものである。
(従来の技術)
中実碍子、長幹碍子等の製造工程においては、磁器本体
の上下端面に支持金具をセメント付けするに先立ち、こ
れらの上下端面を探傷面として超音波探傷が行われ、内
部欠陥の有無を検査している。ところがこのような磁器
本体には多数の笠があるためにこれらの笠によってエコ
ーが発生し、正常晶であっても探傷波形中に第4図、第
7図、第8図に示されるような林状エコーが現れる。そ
して内部欠陥を含む場合には探傷波形中に第5図にA、
第6図にBとして示したような欠陥エコーが含まれるこ
ととなるので、従来は検査員が目視によりこれらの林状
エコー中の欠陥エコーを見分けている。ところがその識
別には熟練を要し、また検査員による良否判別の基準に
もばらつきを生することから、最近では良否判別の自動
化が求められている。
の上下端面に支持金具をセメント付けするに先立ち、こ
れらの上下端面を探傷面として超音波探傷が行われ、内
部欠陥の有無を検査している。ところがこのような磁器
本体には多数の笠があるためにこれらの笠によってエコ
ーが発生し、正常晶であっても探傷波形中に第4図、第
7図、第8図に示されるような林状エコーが現れる。そ
して内部欠陥を含む場合には探傷波形中に第5図にA、
第6図にBとして示したような欠陥エコーが含まれるこ
ととなるので、従来は検査員が目視によりこれらの林状
エコー中の欠陥エコーを見分けている。ところがその識
別には熟練を要し、また検査員による良否判別の基準に
もばらつきを生することから、最近では良否判別の自動
化が求められている。
現在実用化されている一般的な超音波自動探傷方法は、
CRT上の波形画像中の任意の位置に第5図に示される
ようなスライスレベルCを設定し、これを越えたエコー
高さを検出して不良と判定する方法である。ところがこ
の方法では第5図のように林状エコーの最大値よりも高
くスライスレベルを設定せざるを得ないので、第6図の
ように林状エコーの最大値よりも低い高さの欠陥エコー
Bは検出されないという欠点があった。
CRT上の波形画像中の任意の位置に第5図に示される
ようなスライスレベルCを設定し、これを越えたエコー
高さを検出して不良と判定する方法である。ところがこ
の方法では第5図のように林状エコーの最大値よりも高
くスライスレベルを設定せざるを得ないので、第6図の
ように林状エコーの最大値よりも低い高さの欠陥エコー
Bは検出されないという欠点があった。
また林状エコーを含む正常な基準波形を設定しておき、
この基準波形との比較により欠陥エコーを自動検出する
試みもなされているが、次の2つの理由により基準波形
の設定が極めて困難であった。即ち、第1に探触子の位
置をわずかに変えるだけで林状エコーの波形が第4図の
状態から第7図のように変化して隣接パルス高さの一部
逆転現象が生ずること、第2に探傷位置によっては第8
図のような林状エコーが発生することもあり、これらの
理由によって良否判定の基準となるような基準波形の設
定は極めて困難であった。このため、これまでのところ
碍子のような林状エコーの発生する物品の超音波自動探
傷はほとんど不可能とされていた。
この基準波形との比較により欠陥エコーを自動検出する
試みもなされているが、次の2つの理由により基準波形
の設定が極めて困難であった。即ち、第1に探触子の位
置をわずかに変えるだけで林状エコーの波形が第4図の
状態から第7図のように変化して隣接パルス高さの一部
逆転現象が生ずること、第2に探傷位置によっては第8
図のような林状エコーが発生することもあり、これらの
理由によって良否判定の基準となるような基準波形の設
定は極めて困難であった。このため、これまでのところ
碍子のような林状エコーの発生する物品の超音波自動探
傷はほとんど不可能とされていた。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は上記のような従来の問題点を解決して、林状エ
コー中にその最大レベルよりも低いレベルの欠陥エコー
が含まれる場合にもこれを自動的に検出することかでき
、これによって林状エコーを発生する物品の超音波によ
る内部探傷を自動的に行うことを可能とした超音波自動
探傷方法を目的として完成されたものである。
コー中にその最大レベルよりも低いレベルの欠陥エコー
が含まれる場合にもこれを自動的に検出することかでき
、これによって林状エコーを発生する物品の超音波によ
る内部探傷を自動的に行うことを可能とした超音波自動
探傷方法を目的として完成されたものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は内部欠陥を含まない正常な試料から得られた超
音波探傷波形を大の時間軸に沿って複数の区間に分割し
、それぞれの区間ごとにその区間内の最大値をピークホ
ールドして記憶させ、次に探傷点を移動させて同様の操
作を行って各区間ごとにそれまでの最大値よりも大きい
値が生じたときにはその区間の最大値のメモリを更新す
る処理をさせ、全探傷点について上記の処理を施して得
られたメモリ内の波形を基準波形として以後の探傷試料
について良否判定を行うことを特徴とするものである。
音波探傷波形を大の時間軸に沿って複数の区間に分割し
、それぞれの区間ごとにその区間内の最大値をピークホ
ールドして記憶させ、次に探傷点を移動させて同様の操
作を行って各区間ごとにそれまでの最大値よりも大きい
値が生じたときにはその区間の最大値のメモリを更新す
る処理をさせ、全探傷点について上記の処理を施して得
られたメモリ内の波形を基準波形として以後の探傷試料
について良否判定を行うことを特徴とするものである。
以下に本発明を実施例とともに更に詳細に説明する。第
1図は本発明の実施例のシステム図、第2図は基準波形
設定処理のフローチャート、第3図は良否判定処理のフ
ローチャートである。
1図は本発明の実施例のシステム図、第2図は基準波形
設定処理のフローチャート、第3図は良否判定処理のフ
ローチャートである。
本実施例においては、第1図に示されるように予め内部
欠陥のないことが確かめられた正常な試料(l)(中実
碍子)の上端面に探触子(2)を当て、探傷点をgいg
いg、・・・gsと順次移動させつつ各探傷点ごとに超
音波探傷器(3)を通して超音波探傷波形が出力される
。この超音波探傷波形はA/D変換器(4)によりディ
ジタル化され、以降はマイクロコンピュータによるソフ
ト処理が行われる、まず波形を時間軸に沿ってN等分し
、それぞれの区間ごとに出力波形の最大値をピークホー
ルドさせ、その値をその区間を代表する値としてRAM
(5)及び基準波形メモリ(6)に記憶させる。前述し
た第4図と第7図の波形は一部に逆転波形を含むものの
、Nを適当に設定すればこのような処理によって第9図
のようになり、第8図の波形は第12図のとおりに変換
される。
欠陥のないことが確かめられた正常な試料(l)(中実
碍子)の上端面に探触子(2)を当て、探傷点をgいg
いg、・・・gsと順次移動させつつ各探傷点ごとに超
音波探傷器(3)を通して超音波探傷波形が出力される
。この超音波探傷波形はA/D変換器(4)によりディ
ジタル化され、以降はマイクロコンピュータによるソフ
ト処理が行われる、まず波形を時間軸に沿ってN等分し
、それぞれの区間ごとに出力波形の最大値をピークホー
ルドさせ、その値をその区間を代表する値としてRAM
(5)及び基準波形メモリ(6)に記憶させる。前述し
た第4図と第7図の波形は一部に逆転波形を含むものの
、Nを適当に設定すればこのような処理によって第9図
のようになり、第8図の波形は第12図のとおりに変換
される。
次に探傷点をglからgzに移動させて同様の処理を行
い、分割された各区間ごとに基準波形メモリ(6)上に
記憶されているそれまでの最大値Hと2回目のデータh
とを比較し、h>Hなら基準波形メモリ(6)上のその
区間の最大値をhに更新する。
い、分割された各区間ごとに基準波形メモリ(6)上に
記憶されているそれまでの最大値Hと2回目のデータh
とを比較し、h>Hなら基準波形メモリ(6)上のその
区間の最大値をhに更新する。
このような操作を各探傷点gムについて順次繰返し、全
探傷点g r −g sについての操作を完了した時点
で得られた基準波形メモリ(6)内の波形を基準波形と
する。前述の例においては、この基準波形は第9図と第
12図の波形の各区間ごとの最大値を重ね合せた第13
図のような波形となる0以上の基準波形設定処理フロー
は第2図に示されるとおりである。
探傷点g r −g sについての操作を完了した時点
で得られた基準波形メモリ(6)内の波形を基準波形と
する。前述の例においては、この基準波形は第9図と第
12図の波形の各区間ごとの最大値を重ね合せた第13
図のような波形となる0以上の基準波形設定処理フロー
は第2図に示されるとおりである。
このようにして第13図のような基準波形の設定がなさ
れた後、探傷を行うべき探傷試料の各深傷点gtに探触
子(2)を当て、その超音波探傷波形を基準波形と比較
して良否判別を行わせる0例えば欠陥エコーAを含む第
5図の林状エコーを変換した第1θ図の出力波形と第1
3図の基準波形とを比較すると第3番目の区間に異常値
りが存在し、欠陥エコーBを含む第6図の林状エコーを
変換した第11図の出力波形と第13図の基準波形とを
比較すると第6番目の区間に異常値Eが存在することが
明らかとなる。これに対して第9図や第12図の出力波
形中には基準波形を超える値は存在しない、原理的には
このようにして探傷試料の各探傷点について良否の判別
が行われるが、実際には安全を見込んで基準波形を(1
+α)倍(但し0くαく1)した波形との間で比較を行
い、h!>Ht(1+α)となった場合に不良信号を発
生させる0以上の良否判定処理フローは第3図に示され
るとおりである。
れた後、探傷を行うべき探傷試料の各深傷点gtに探触
子(2)を当て、その超音波探傷波形を基準波形と比較
して良否判別を行わせる0例えば欠陥エコーAを含む第
5図の林状エコーを変換した第1θ図の出力波形と第1
3図の基準波形とを比較すると第3番目の区間に異常値
りが存在し、欠陥エコーBを含む第6図の林状エコーを
変換した第11図の出力波形と第13図の基準波形とを
比較すると第6番目の区間に異常値Eが存在することが
明らかとなる。これに対して第9図や第12図の出力波
形中には基準波形を超える値は存在しない、原理的には
このようにして探傷試料の各探傷点について良否の判別
が行われるが、実際には安全を見込んで基準波形を(1
+α)倍(但し0くαく1)した波形との間で比較を行
い、h!>Ht(1+α)となった場合に不良信号を発
生させる0以上の良否判定処理フローは第3図に示され
るとおりである。
なお基準波形の設定にあたり、探傷点を複数のグループ
に分けて各グループごとに基準波形の設定を行い、探傷
試料の探傷点も同様にグループ分けしてその探傷点に対
応するグループの基準波形に基いて良否判定を行うこと
もできる。グループ分けの方法としては例えば同心円上
の探傷点を1グループとし、中心から外側に向っていく
つかのグループを形成する方法がある。このようにすれ
ば検査精度は一段と向上することとなる。
に分けて各グループごとに基準波形の設定を行い、探傷
試料の探傷点も同様にグループ分けしてその探傷点に対
応するグループの基準波形に基いて良否判定を行うこと
もできる。グループ分けの方法としては例えば同心円上
の探傷点を1グループとし、中心から外側に向っていく
つかのグループを形成する方法がある。このようにすれ
ば検査精度は一段と向上することとなる。
(発明の効果)
本発明は以上の説明からも明らかなようにアナログ原波
形を時間軸に沿ってN個の区間に分割し、それぞれの区
間毎にピークホールドしたことにより探触子の位置のわ
ずかな違いによる隣接パルス高さの逆転現象にもとすく
原波形の不安定性を解消し、また正常晶におけるあらゆ
る林状エコーを包含した形で基準波形を設定することに
より、林状エコー中にその最大レベルよりも低いレベル
の欠陥エコーが含まれている場合でもこれを自動的に検
出できるようにしたものである。よって本発明は、中実
碍子や長幹碍子のような林状エコーを生ずる物品の内部
欠陥の検査に好適な超音波自動探傷方法として産業の発
展に寄与する氏ころは極めて大きいものである。
形を時間軸に沿ってN個の区間に分割し、それぞれの区
間毎にピークホールドしたことにより探触子の位置のわ
ずかな違いによる隣接パルス高さの逆転現象にもとすく
原波形の不安定性を解消し、また正常晶におけるあらゆ
る林状エコーを包含した形で基準波形を設定することに
より、林状エコー中にその最大レベルよりも低いレベル
の欠陥エコーが含まれている場合でもこれを自動的に検
出できるようにしたものである。よって本発明は、中実
碍子や長幹碍子のような林状エコーを生ずる物品の内部
欠陥の検査に好適な超音波自動探傷方法として産業の発
展に寄与する氏ころは極めて大きいものである。
第1図は本発明のシステム構成を示すブロック図、第2
図は基準波形設定処理フローを示すフローチャート、第
3図は良否判定処理のフローを示すフローチャート、第
4図〜第8図は超音波探傷波形の波形図で第4図は正常
晶、第5図と第6図は欠陥エコーを含む波形、第7図と
第8図は正常晶である。また第9図〜第12図はN個の
区間ごとにピークホールド処理したディジタル波形図で
、第9図は第4図と第7図を変換したもの、第10図、
第11図はそれぞれ第5図と第6図を変換したもの、第
12図は第8図を変換したものである。第13図は第9
図と第12図を合成した基準波形図である(11:試料
、(2):探触子、(6)二基半波形メモリ。 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 処1(−七つ 第1O図 第11図 ず60の鵠ε1vjLLt−もっ 1112図 11113図 1斗5妨 手続補正書(自発) 1.事件の表示 昭和62年特許願第6973号 2、発明の名称 超音波自動探傷方法3、補正をする
者 事件との関係 特許出願人 住所 愛知県名古屋市瑞穂区須田町2番56号4、代理
人 5、補正の対象 6、補正の内容 (1)、明細書第8頁第6行と第7行との間に、「 ま
た上記の実施例では、基準波形の設定後に探傷を行う場
合に、探傷試料から得られた超音波探傷波形を例えば第
10図や第11図のように波形変換したうえで基準波形
との比較を行わせているが、超音波探傷波形を波形変換
することな(、直接に基準波形と比較してもよく、この
場合にはより高速度で検査を行うことが可能となる。」
を加入する。 以上
図は基準波形設定処理フローを示すフローチャート、第
3図は良否判定処理のフローを示すフローチャート、第
4図〜第8図は超音波探傷波形の波形図で第4図は正常
晶、第5図と第6図は欠陥エコーを含む波形、第7図と
第8図は正常晶である。また第9図〜第12図はN個の
区間ごとにピークホールド処理したディジタル波形図で
、第9図は第4図と第7図を変換したもの、第10図、
第11図はそれぞれ第5図と第6図を変換したもの、第
12図は第8図を変換したものである。第13図は第9
図と第12図を合成した基準波形図である(11:試料
、(2):探触子、(6)二基半波形メモリ。 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 処1(−七つ 第1O図 第11図 ず60の鵠ε1vjLLt−もっ 1112図 11113図 1斗5妨 手続補正書(自発) 1.事件の表示 昭和62年特許願第6973号 2、発明の名称 超音波自動探傷方法3、補正をする
者 事件との関係 特許出願人 住所 愛知県名古屋市瑞穂区須田町2番56号4、代理
人 5、補正の対象 6、補正の内容 (1)、明細書第8頁第6行と第7行との間に、「 ま
た上記の実施例では、基準波形の設定後に探傷を行う場
合に、探傷試料から得られた超音波探傷波形を例えば第
10図や第11図のように波形変換したうえで基準波形
との比較を行わせているが、超音波探傷波形を波形変換
することな(、直接に基準波形と比較してもよく、この
場合にはより高速度で検査を行うことが可能となる。」
を加入する。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、内部欠陥を含まない正常な試料から得られた超音波
探傷波形をその時間軸に沿って複数の区間に分割し、そ
れぞれの区間ごとにその区間内の最大値をピークホール
ドして記憶させ、次に探傷点を移動させて同様の操作を
行って各区間ごとにそれまでの最大値よりも大きい値が
生じたときにはその区間の最大値のメモリを更新する処
理をさせ、全探傷点について上記の処理を施して得られ
たメモリ内の波形を基準波形として以後の探傷試料につ
いて良否判定を行うことを特徴とする超音波自動探傷方
法。 2、探傷点を複数のグループに分けて各グループごとに
基準波形を設定し、探傷試料の良否判定をその探傷点に
対応するグループの基準波形に基いて行う特許請求の範
囲第1項記載の超音波自動探傷方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62006973A JPS63173958A (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 超音波自動探傷方法 |
US07/127,054 US4799387A (en) | 1987-01-14 | 1987-12-01 | Automatic ultrasonic testing method |
DE8787310788T DE3780611T2 (de) | 1987-01-14 | 1987-12-09 | Automatisches ultraschaltpruefverfahren. |
EP87310788A EP0274865B1 (en) | 1987-01-14 | 1987-12-09 | Automatic ultrasonic testing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62006973A JPS63173958A (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 超音波自動探傷方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63173958A true JPS63173958A (ja) | 1988-07-18 |
JPH056145B2 JPH056145B2 (ja) | 1993-01-25 |
Family
ID=11653143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62006973A Granted JPS63173958A (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 超音波自動探傷方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4799387A (ja) |
EP (1) | EP0274865B1 (ja) |
JP (1) | JPS63173958A (ja) |
DE (1) | DE3780611T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 1987-12-01 US US07/127,054 patent/US4799387A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-09 DE DE8787310788T patent/DE3780611T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-09 EP EP87310788A patent/EP0274865B1/en not_active Expired - Lifetime
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EP0274865A3 (en) | 1989-07-19 |
EP0274865A2 (en) | 1988-07-20 |
JPH056145B2 (ja) | 1993-01-25 |
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EP0274865B1 (en) | 1992-07-22 |
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