JPS63171308A - 放射線による厚さ測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は放０４線による厚さ測定方法に関し、特に、土
中にｊ！ｌ設された管の肉厚を放射線により測定する方
法に関する。

従来の技術 放射線源から放出するγ線が物体を通過するときには、
そのγ線の一部は物体の原子に衝突し、後方に散乱する
。このとき、物体の厚さが大きいと散乱する確率も大き
くなる。したがって、後方散乱γ線のエネルギとその数
を測定することにより、物体の厚さを測定することが可
能となる。

このような測定方法によれば、土中に埋設された管の肉
厚を管内にて測定することができる。この場合には、厚
さが既知のテストピースを用いてシンチレータなどの測
定装置の特性曲線をあらかじめ作成しておき、実際の肉
厚測定時には、測定装置にて得られた測定値を特性曲線
にあてはめればよい。

ところで、放射線を用いて測定対象物の厚さを測定する
場合におい′て、測定データには、測定対敷物の厚さに
応じた信号と、測定時のバックグランド信号とが重畳さ
れている。このうち、バックグランド信号には、経時変
化が生じることがある。

これは、測定装置としてのシンチレータに用いられてい
るヨウ化ナトリウム（Ｎａｌ）の結晶の特性が周囲の温
度に応じて変化することなどが原因している。

この対策として、特性曲線作成時のバックグランド値と
厚さ測定時のバックグランド値との差を求めて測定値を
補正すれば、経時変化にもとづく影響が除去され、精度
の良い厚さ測定が可能となる。

発明が解決しようとする問題点 ところが、測定対象物がたとえば土中に埋設された管で
ある場合には、厚さ測定時のバックグランド値を求める
際には、管壁からの後方散乱による影響を受けないよう
にするため、測定装置を管外にださなければならなず、
作業に手間を要するという問題点がある。

そこで本発明はこのような問題点を解決し、測定装置を
管内などの測定対象物の内部に存在させた状態のもとて
バックグランド値を測定できるようにすることを目的と
する。

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため本発明は テストピースの既知の厚さを放［１測定することにより
特性曲線を作成するときのバックグランド値と、測定対
象物の厚さを成剤線測定するときのバックグランド値と
の差を求めて、この差値により前記測定対象物の厚さの
測定値を補正した後に、この補正値に相当する厚さを前
記特性曲線から求めるに際し、 テストピースからの散乱線が測定ｇｌ＠に入射するのを
防止可能なしゃへい部材にて前記テストピースをおおっ
て前記特性曲線作成時のバックグランド値を求め、 前記じゃへい部材にて測定対象物をおおって、この測定
対象物の位置で、前記測定対象物の厚さ測定時のバック
グラウト値を求める゛ものである。

作用 このようにすると、しヤへい部材にて測定対象物をおお
って測定対象物の厚さ測定時のバックグランド値を求め
るものであるため、測定対象物からの後方散乱線が測定
装置に入り込むことがなく、この測定対象物の内部での
バックグランド値の測定が可能になる。また、測定対象
物の厚さ測定時のみならず、特性曲線作成時においても
しやへい部材を使用することから、両バックグランド値
には、ともにじゃへい部材からの後方散乱線の影響が含
まれる。よって、測定値を補正する際に両バックグラン
ド値の差を求めることにより、上記しゃへい部材の影響
が取り除かれる。

実施例 第３図は、特性曲線の作成作業を説明するものである。

ここで１は測定ｖｉ誼としてのシンチレータで、２はそ
の検出部である。シンチレータ１の側部には鉛製の容器
３が取付けられており、この容器３にはセシウム１３７
などの放ｔＪ４ｍ源４が収容されている。５はテストピ
ースで、麹室対象物としての管と同じ材質たとえばダク
タイル鋳鉄により、管と同じ曲線で形成されている。

厚さの異なるテストピース５を複数用意しておき、各テ
ストピース５を第３図に示すようにシンチレータ１に近
接させた状態で、このシンチレータ１により後方散乱γ
線を測定する。すると、散乱スペクトルのピーク値ある
いはある範囲の総カウント数と、テストピース５の板厚
とは比例関係にあるため、第４図に示すような特性曲線
が得られる。

また、特性曲線の作成時にバックグランド値へを求める
。これは、第１図に示すように、テストピース５の表面
をし↑へい部材６でおおった状態でのカウント数の測定
値を得ることにより求められる。しヤへい部材６は、シ
ンチレータ１がテストピース５からの散乱線を測定しな
いような厚さの鉄板や鉛板にて形成され、かつテストピ
ース５の内面に重ねることができるような曲率に形成さ
れている。また、バックグランド値Ａの測定時において
、しヤへい部材６からシンチレータ１までは距離りをお
く。

土中に埋設された測定対象物としての管の肉厚を測定す
る際には、シンチレータ１を管７の中に挿入し、第３図
に示すテストピース５の測定を行なったときと等しい位
置で測定を行ない、管７の肉厚に対応したカウント数の
測定値Ｂｅ得る。

かつ、第２図に示すように、そのときのバックグランド
値Ａ′を求めておく。これは、第１図に示したものと同
一のしやへい部材６で管７の内面をおおい、このしヤへ
い部材６からシンチレータ１までの距離りを第１図の場
合と等しくとって、そのときのシンチレータ１の測定値
を得ることにより求められる。

その優、次式により補正値Ｃを求める。

Ｃ−８−（Ａ−Ａ’　） このように補正値Ｃが求められたなら、これをカウント
数として、第４図の特性曲線において破線で示すように
、管７の肉厚の測定値を得る。

このようにすると、しヤへい部材６により、測定対象物
としての１！７からの後方散乱線が測定装置としてのシ
ンチレータ１に入り込むことがなく、管７の内部におい
て測定時のバックグランド値Ａ′を得ることができる。

また、特性曲線の作成時のバックグランド値Ａを求める
際にもしやへい部材６を使用することから、両バックグ
ランド値Ａ、Ａ’にはともにじゃへい部材６からの後方
散乱線の影響が含まれることになる。このため、このし
ヤへい部材６による影響は、測定値Ｂの補正の際に両バ
ックグランド値Ａ、Ａ’の差を求めることにより取り除
かれる。なお、管７の外周に存在する土壌８がシンチレ
ータ１の測定結果に影響を及ぼすときには、テストピー
ス５の測定時にこのテストピース５に土壌を盛ればよい
。

発明の効果 以上述べたように本発明によると、測定対象物をしヤへ
い部材でおおって測定対染物の厚さ測定時のバックグラ
ンド値を求めるものであるため、測定装置を管などの測
定対象物の外へ出すことなく、その内部でバックグラン
ド値を求めることができる。また、特性曲線作成時にお
いてもテストピースをしヤへい部材でおおうため、測定
値を補正するときに、バックグランド値に含まれるじゃ
へい部材の影響を除去することができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示し、第１図は特性曲線作成
時におけるバックグランド値の測定方法を示す図、第２
図は厚さ測定時におＣプるバックグランド値の測定方法
を示す図、第３図はテストピースの測定方法を示す図、
第４図は特性曲線の一例を示す図である。 １・・・シンチレータ（ｌ定装置）、５・・・テストピ
ース、６・・・しヤへい部材、７・・・菅（測定対象物
）。 代理人　　　森　　本　　義　　弘 第１図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、テストピースの既知の厚さを放射線測定することに
   より特性曲線を作成するときのバックグランド値と、測
   定対象物の厚さを放射線測定するときのバックグランド
   値との差を求めて、この差値により前記測定対象物の厚
   さの測定値を補正した後に、この補正値に相当する厚さ
   を前記特性曲線から求めるに際し、 テストピースからの散乱線が測定装置に入射するのを防
   止可能なしゃへい部材にて前記テストピースをおおって
   前記特性曲線作成時のバックグランド値を求め、 前記しゃへい部材にて測定対象物をおおって、この測定
   対象物の位置で、前記測定対象物の厚さ測定時のバック
   グランド値を求めることを特徴とする放射線による厚さ
   測定方法。