JPS63170682A - アクテイブマトリクス基板 - Google Patents
アクテイブマトリクス基板Info
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- JPS63170682A JPS63170682A JP61235703A JP23570386A JPS63170682A JP S63170682 A JPS63170682 A JP S63170682A JP 61235703 A JP61235703 A JP 61235703A JP 23570386 A JP23570386 A JP 23570386A JP S63170682 A JPS63170682 A JP S63170682A
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- thin film
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Links
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 title claims description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 17
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 9
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔Eil、梁上の利用分野〕
本発明はアクティブマトリックス方式の液晶ディスプレ
イやエレクトロクロミックディスプレイに用いられるア
クティブマトリクス基板に関する。
イやエレクトロクロミックディスプレイに用いられるア
クティブマトリクス基板に関する。
従来のアクティブマトリクス基板仮は、例えば、InL
crnational SymPosinm Di
gest of Tecbnicallセapcr
s(インターナシaす°ルシンポジウムダイジェストオ
プテクニカルペーパー)の1085年P、282〜p、
285に記載されているような構造であった。この構造
を一般化して、その#!要を第2ヌ1に示す、ガラス、
石英、サファイアなどの絶縁基板2011;にンースm
域、ドレイ/領域、チャネル領域を形成するシリ:+7
薄膜20Gと、これをa&mするようにゲート絶縁膜2
01が設けられている。この上にシリプシ机や金属から
成るゲート電極202が設けられて、さらにシリコン薄
膜206、ゲート絶縁膜203、ゲート電極202を被
覆するように層間絶縁112205が設けられ、ソース
領域およびドレイン領域に達するように居間絶縁膜20
5に聞けられたコンタクト;1;−ルを介しソース領域
、ドレイン領域とコンタクトを地るように設けられた透
明画素電極204、データライン207が層間絶縁膜2
05上に設置されている。
crnational SymPosinm Di
gest of Tecbnicallセapcr
s(インターナシaす°ルシンポジウムダイジェストオ
プテクニカルペーパー)の1085年P、282〜p、
285に記載されているような構造であった。この構造
を一般化して、その#!要を第2ヌ1に示す、ガラス、
石英、サファイアなどの絶縁基板2011;にンースm
域、ドレイ/領域、チャネル領域を形成するシリ:+7
薄膜20Gと、これをa&mするようにゲート絶縁膜2
01が設けられている。この上にシリプシ机や金属から
成るゲート電極202が設けられて、さらにシリコン薄
膜206、ゲート絶縁膜203、ゲート電極202を被
覆するように層間絶縁112205が設けられ、ソース
領域およびドレイン領域に達するように居間絶縁膜20
5に聞けられたコンタクト;1;−ルを介しソース領域
、ドレイン領域とコンタクトを地るように設けられた透
明画素電極204、データライン207が層間絶縁膜2
05上に設置されている。
しかし、従来の液晶アクティブマトリクス7.1板は次
のような問題点をイ1°していた。
のような問題点をイ1°していた。
−11?素に画像情報の電荷が人力された後、該画素に
次のii!if素情報が入力される期間は、該画素は、
画像情報を電荷の形で保持しなければならない。
次のii!if素情報が入力される期間は、該画素は、
画像情報を電荷の形で保持しなければならない。
さもないと、7リフカ、色調の変化、:+7トラストむ
らなどが生じ表示品質が悪化してしまうからである。し
かし、画素には、液晶自身の電荷リーク、P、V膜トラ
ンジスタのリークなどが存在するため、電荷のリークは
ある一定値以下におさえることはできない。そこで、画
素の容量を大きくし、相対的なリーク量を小さくおさえ
る必要がある。
らなどが生じ表示品質が悪化してしまうからである。し
かし、画素には、液晶自身の電荷リーク、P、V膜トラ
ンジスタのリークなどが存在するため、電荷のリークは
ある一定値以下におさえることはできない。そこで、画
素の容量を大きくし、相対的なリーク量を小さくおさえ
る必要がある。
しかし、従来の液晶アクティブマトリクス基板では画素
の液晶の容毒分の電荷しか蓄えることしかできなかった
ため、リークm流の影暫を受けて、シリフカ、色調の変
化、コントラストむらなどが生じ、表示品質が悪化する
という問題点を存していた。
の液晶の容毒分の電荷しか蓄えることしかできなかった
ため、リークm流の影暫を受けて、シリフカ、色調の変
化、コントラストむらなどが生じ、表示品質が悪化する
という問題点を存していた。
またこのような問題点を回避するために、第3図に示す
ように透明電極208を配置し、1lIv索電1420
4と、層間絶縁膜205を利用した付加重塁容量を形成
するには、透明電極208を形成するためには、新たな
工程を増やさなければならないため、′6!J逍コスト
が高く、安価なアクタ−イブマトリクス基板を提供でき
ないという問題点もあわせもっていた。
ように透明電極208を配置し、1lIv索電1420
4と、層間絶縁膜205を利用した付加重塁容量を形成
するには、透明電極208を形成するためには、新たな
工程を増やさなければならないため、′6!J逍コスト
が高く、安価なアクタ−イブマトリクス基板を提供でき
ないという問題点もあわせもっていた。
本発明はこのような問題点を解決するものであり、その
1的とするところは、新たな工程を増やすことなく、付
加画素容量を形成できるアクディプマトリクス基板を提
供することにある。
1的とするところは、新たな工程を増やすことなく、付
加画素容量を形成できるアクディプマトリクス基板を提
供することにある。
(問題点を解決するための手段〕
本発明のアクディプマトリクス基板は、ドナーあるいは
アクセプタとなる不純物を添加したシリコンF’、V1
12.から成るソース領域及びドレイ/領域と、該ソー
ス領域及び該ドレイン領域の上側で接し両者を結ぶよう
に設けられたシリコン薄膜から成るチャネル領域と、該
ソース領域と該ドレイ/領域と該チャネル領域を被覆す
るゲート絶&を膜と、該ゲート絶縁股上に設けられたゲ
ート電極を具備した薄膜トランジスタと、該ゲート電極
と平行に配置した共通電極を絶縁基板上に設置したこと
を特徴とする。
アクセプタとなる不純物を添加したシリコンF’、V1
12.から成るソース領域及びドレイ/領域と、該ソー
ス領域及び該ドレイン領域の上側で接し両者を結ぶよう
に設けられたシリコン薄膜から成るチャネル領域と、該
ソース領域と該ドレイ/領域と該チャネル領域を被覆す
るゲート絶&を膜と、該ゲート絶縁股上に設けられたゲ
ート電極を具備した薄膜トランジスタと、該ゲート電極
と平行に配置した共通電極を絶縁基板上に設置したこと
を特徴とする。
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の第1の実施例であるアクティブマトリ
クス基板の断面図である。ガラス、石莢、・す゛ファイ
ア等の絶縁基板101上にドナーあるいはアクセプタと
なる不純物を添加した多結晶シリ;77、非晶質シリコ
ン等のシリコン薄膜から成るソース領域102及びドレ
イン領Vc103が形成されている。このソース領域端
の上側と、ドレイン領域端の上側に接して、この両者を
結ぶように多結晶シリコン、あるいは非晶質シリコン等
のシリコ/薄膜から成るチャネル領域104が設けられ
ている。ソース領域102、ドレイン領域103、チャ
ネル領域104を被覆するようにS、01.5INX1
S、ON等のゲート絶縁膜105が形成されており、ゲ
ート絶縁膜105上に金届透明導電校により形成された
ゲートfI2極110と金属、透明導電膜により形成さ
れた共通電極108が形成されている。ゲート絶縁11
2105、ゲート電極110及び共通f1t!1ilo
Oを被覆するように510f、51NX%S、ON等の
層間絶縁112.108が形成されている。そして、金
属、透明導電膜等から成るソース電t!i 100がソ
ース領域102に、同様に金属、透明導電vS等から成
る画素電極107がドレイ/領域103に、居間絶縁膜
108とゲート絶縁膜105に聞けられたコンタクトホ
ールを介して接続されている。
クス基板の断面図である。ガラス、石莢、・す゛ファイ
ア等の絶縁基板101上にドナーあるいはアクセプタと
なる不純物を添加した多結晶シリ;77、非晶質シリコ
ン等のシリコン薄膜から成るソース領域102及びドレ
イン領Vc103が形成されている。このソース領域端
の上側と、ドレイン領域端の上側に接して、この両者を
結ぶように多結晶シリコン、あるいは非晶質シリコン等
のシリコ/薄膜から成るチャネル領域104が設けられ
ている。ソース領域102、ドレイン領域103、チャ
ネル領域104を被覆するようにS、01.5INX1
S、ON等のゲート絶縁膜105が形成されており、ゲ
ート絶縁膜105上に金届透明導電校により形成された
ゲートfI2極110と金属、透明導電膜により形成さ
れた共通電極108が形成されている。ゲート絶縁11
2105、ゲート電極110及び共通f1t!1ilo
Oを被覆するように510f、51NX%S、ON等の
層間絶縁112.108が形成されている。そして、金
属、透明導電膜等から成るソース電t!i 100がソ
ース領域102に、同様に金属、透明導電vS等から成
る画素電極107がドレイ/領域103に、居間絶縁膜
108とゲート絶縁膜105に聞けられたコンタクトホ
ールを介して接続されている。
このように構成されたアクティブマトリクス基板におい
ては、層間絶縁l12108を誘電体として用いた付加
111i索容量が画素?′[2極107と共通電極10
0の間に形成される。しかも、ゲー)[極110と共通
電極109は同一の材料で、同一の工程で形成されるた
め、工程数を増すことによるコストの上昇、歩出りの低
下などといった問題を回遊することができる。
ては、層間絶縁l12108を誘電体として用いた付加
111i索容量が画素?′[2極107と共通電極10
0の間に形成される。しかも、ゲー)[極110と共通
電極109は同一の材料で、同一の工程で形成されるた
め、工程数を増すことによるコストの上昇、歩出りの低
下などといった問題を回遊することができる。
第4図は、第1図に示した本発明の実施例を基面−り面
から見た図である。
から見た図である。
本発明の第2の実施例を第5図を用いて説明する。ガラ
ス、石英、サファイア等の絶縁基板301の上にドナー
あるいはアクセプタとなる不純物を添加した多結晶シリ
コン、非晶質シリコンなどのシリコンR11膜から成る
ソース領域302及びドレイ/領域303が形成されて
いる。このソース領域端の上側と、ドレイン領域端の上
側に接して、この両者を結ぶように多結晶シリコンある
いは非晶質シリコン等のシリコン薄膜から成るチャネル
領域304が設けられている。また、金属、透明導電膜
等から成るソース電極305がソース領域302に接し
ており、同じくドレイ/電極30Gがドレイン電1i
303に接している。これら全体をS、0..5−NX
、S、ON等のゲート絶縁膜307が岐覆しており、こ
の上に金属、透明)D 7I2112から成るゲート電
極308と同じく共通電極300が設けられている。ゲ
ート絶縁112.307は居間絶縁膜も兼ねている。
ス、石英、サファイア等の絶縁基板301の上にドナー
あるいはアクセプタとなる不純物を添加した多結晶シリ
コン、非晶質シリコンなどのシリコンR11膜から成る
ソース領域302及びドレイ/領域303が形成されて
いる。このソース領域端の上側と、ドレイン領域端の上
側に接して、この両者を結ぶように多結晶シリコンある
いは非晶質シリコン等のシリコン薄膜から成るチャネル
領域304が設けられている。また、金属、透明導電膜
等から成るソース電極305がソース領域302に接し
ており、同じくドレイ/電極30Gがドレイン電1i
303に接している。これら全体をS、0..5−NX
、S、ON等のゲート絶縁膜307が岐覆しており、こ
の上に金属、透明)D 7I2112から成るゲート電
極308と同じく共通電極300が設けられている。ゲ
ート絶縁112.307は居間絶縁膜も兼ねている。
本発明は次のような効果をイ「する。
第1に、付加画素容量を形成できるために、フリッカ、
色調の変化、コントラストむらなどの生じない表示品質
の高い表示を得ることができる。
色調の変化、コントラストむらなどの生じない表示品質
の高い表示を得ることができる。
第2に、付加画素容量を形成する工程はゲート電極を形
成する工程と同一であるので、新たな工程を加える必要
がない。従って、!I81造コストコスト、安価なアク
ティブマトリクス基板を提供することができる。
成する工程と同一であるので、新たな工程を加える必要
がない。従って、!I81造コストコスト、安価なアク
ティブマトリクス基板を提供することができる。
第3に、ゲート電極と同じ膜厚を持つ共通電極が画素電
極に重なるように配置されるために、画素電極と画素と
の断差が数倍される。このために、液晶の配向を生じさ
せやすくできるので、解像度の高い鮮明な指示を得るこ
とができる。
極に重なるように配置されるために、画素電極と画素と
の断差が数倍される。このために、液晶の配向を生じさ
せやすくできるので、解像度の高い鮮明な指示を得るこ
とができる。
第1図は本発明の第1の実施例のアクティブマトリクス
基板の断面図である。 ′m2図は従来のアクティブマトリクス基板の断面図で
ある。 m3図は従来のアクティブマトリクス基板の断面図であ
る。 第4図は本発明の第1の実施例のアクティブマトリクス
基板を基板上面から見た図である。 第6図は本発明のfff2の実施例のアクティブマトリ
クス基板の断面図である。 1(1)、300・・・共通電極 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 最 上 務 他1名第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
基板の断面図である。 ′m2図は従来のアクティブマトリクス基板の断面図で
ある。 m3図は従来のアクティブマトリクス基板の断面図であ
る。 第4図は本発明の第1の実施例のアクティブマトリクス
基板を基板上面から見た図である。 第6図は本発明のfff2の実施例のアクティブマトリ
クス基板の断面図である。 1(1)、300・・・共通電極 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 最 上 務 他1名第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- ドナーあるいはアクセプタとなる不純物を添加したシリ
コン薄膜から成るソース領域及びドレイン領域と、該ソ
ース領域及び該ドレイン領域の上側で接し両者を結ぶよ
うに設けられたシリコン薄膜から成るチャネル領域と、
該ソース領域と該ドレイン領域と該チャネル領域を被覆
するゲート絶縁膜と、該ゲート絶縁膜上に設けられたゲ
ート電極を具備した薄膜トランジスタと、該ゲート電極
と平行に配置した共通電極を絶縁基板上に設置したこと
を特徴とするアクティブマトリクス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61235703A JPS63170682A (ja) | 1986-10-03 | 1986-10-03 | アクテイブマトリクス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61235703A JPS63170682A (ja) | 1986-10-03 | 1986-10-03 | アクテイブマトリクス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63170682A true JPS63170682A (ja) | 1988-07-14 |
Family
ID=16989974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61235703A Pending JPS63170682A (ja) | 1986-10-03 | 1986-10-03 | アクテイブマトリクス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63170682A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10214042A (ja) * | 1996-11-29 | 1998-08-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示装置 |
JP2002196706A (ja) * | 1996-11-29 | 2002-07-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 単純マトリックス方式の表示装置 |
JP2006323396A (ja) * | 1997-02-17 | 2006-11-30 | Seiko Epson Corp | 表示装置 |
US7710364B2 (en) | 1997-02-17 | 2010-05-04 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
US8188647B2 (en) | 1997-02-17 | 2012-05-29 | Seiko Epson Corporation | Current-driven light-emitting display apparatus and method of producing the same |
WO2014069260A1 (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-08 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板および液晶表示装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57132191A (en) * | 1981-02-10 | 1982-08-16 | Suwa Seikosha Kk | Active matrix substrate |
-
1986
- 1986-10-03 JP JP61235703A patent/JPS63170682A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57132191A (en) * | 1981-02-10 | 1982-08-16 | Suwa Seikosha Kk | Active matrix substrate |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8247967B2 (en) | 1997-02-17 | 2012-08-21 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
US8354978B2 (en) | 1997-02-17 | 2013-01-15 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
US8362489B2 (en) | 1997-02-17 | 2013-01-29 | Seiko Epson Corporation | Current-driven light-emitting display apparatus and method of producing the same |
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US9570469B2 (en) | 2012-10-29 | 2017-02-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix substrate and liquid-crystal display device |
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