JPS63169535A - 解像度測定装置 - Google Patents
解像度測定装置Info
- Publication number
- JPS63169535A JPS63169535A JP125987A JP125987A JPS63169535A JP S63169535 A JPS63169535 A JP S63169535A JP 125987 A JP125987 A JP 125987A JP 125987 A JP125987 A JP 125987A JP S63169535 A JPS63169535 A JP S63169535A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- resolution
- led
- voltmeter
- slit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000004397 blinking Effects 0.000 claims abstract description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、発光ダイオードなどの微小点光源を点滅させ
ることによって形成される像光を収束性レンズアレイを
用いて結像させる光学系の解像度測定装置に関するもの
である。
ることによって形成される像光を収束性レンズアレイを
用いて結像させる光学系の解像度測定装置に関するもの
である。
［従来の技術］
発光ダイオード（ＬＥＤ）等の微小点光源を点滅させる
ことによって所望の像光を形成し、この像光を収束性レ
ンズアレイを用いて結像させる光学系として、ＬＥＤプ
リンタ装置の光学系がある。
ことによって所望の像光を形成し、この像光を収束性レ
ンズアレイを用いて結像させる光学系として、ＬＥＤプ
リンタ装置の光学系がある。
このＬＥＤプリンタ装置の光学系は、一般的に多数のＬ
ＥＤを列状に配設したＬＥＤアレイと、各ＬＥＤの像光
を結像させて感光体表面に結像させるセルフフォーカシ
ングレンズアレイ（ＳＬＡ）によって構成されるが、１
１１１当り例えば１６ドツトの記録密度を得るために、
ＬＥＤアレイとＳＬＡとは高精度で合焦点位置に合わせ
る必要がある。
ＥＤを列状に配設したＬＥＤアレイと、各ＬＥＤの像光
を結像させて感光体表面に結像させるセルフフォーカシ
ングレンズアレイ（ＳＬＡ）によって構成されるが、１
１１１当り例えば１６ドツトの記録密度を得るために、
ＬＥＤアレイとＳＬＡとは高精度で合焦点位置に合わせ
る必要がある。
そこで、従来において、第３図の斜視図に示すように、
感光体の露光位置に対応する位置に、５ＬＡ２を通った
ＬＥＤアレイ１の像光を受光するイメージセンサ３を置
き、ＬＥＤアレイ１を１ドツトおきに点滅するパターン
で発光させ、ＳＬＡ通過後のイメージセンサ受光面での
受光強度パタ−ンを第４図に示すような波形としてオシ
ロスコープ等で観測し、受光強度の最大値λｍａｘと最
小値λｍｉｎとの和に対する最大値λｍａｘと最小値λ
ｍｉｎとの差の比率Ｍ Ｔ Ｆ （Ｈｏｄｕｌａｔｉｏ
ｎｒＧＴｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）を次式
（１）によって求め、このＭＴＦで示される解像度が最
も高くなるようにＬＥＤｌとＳＬＡとの焦点合わせを行
うようにしている。
感光体の露光位置に対応する位置に、５ＬＡ２を通った
ＬＥＤアレイ１の像光を受光するイメージセンサ３を置
き、ＬＥＤアレイ１を１ドツトおきに点滅するパターン
で発光させ、ＳＬＡ通過後のイメージセンサ受光面での
受光強度パタ−ンを第４図に示すような波形としてオシ
ロスコープ等で観測し、受光強度の最大値λｍａｘと最
小値λｍｉｎとの和に対する最大値λｍａｘと最小値λ
ｍｉｎとの差の比率Ｍ Ｔ Ｆ （Ｈｏｄｕｌａｔｉｏ
ｎｒＧＴｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）を次式
（１）によって求め、このＭＴＦで示される解像度が最
も高くなるようにＬＥＤｌとＳＬＡとの焦点合わせを行
うようにしている。
ＨＴＦ（％）＝（（λ １ａＸ−λ １ｉｎ）／（λ
ｉａｘ＋λ １ｉｎ））１００・・・（１） ［光間が解決しようとする問題点］ ところが、イメージセンサ自体が高価であり、しかもそ
の駆動回路が複雑であるため、簡便な解像度測定装置と
して構成することが困難であるという問題があった。ま
た、オシロスコープを準備しておかなければならないた
め、解像度の測定が面倒であるという問題があった。
ｉａｘ＋λ １ｉｎ））１００・・・（１） ［光間が解決しようとする問題点］ ところが、イメージセンサ自体が高価であり、しかもそ
の駆動回路が複雑であるため、簡便な解像度測定装置と
して構成することが困難であるという問題があった。ま
た、オシロスコープを準備しておかなければならないた
め、解像度の測定が面倒であるという問題があった。
本発明の目的は、簡便な構成で、かつ解像度の測定を極
めて容易に行うことができる解像度測定装置を提供する
ことにある。
めて容易に行うことができる解像度測定装置を提供する
ことにある。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、像光の点滅パターンに対応したスリットを有
するスリット板と、このスリット板と前記収束性レンズ
アレイを介して入力される像光を受光する受光素子と、
この受光素子の受光強度を電圧値で表示する電圧計とを
備え、前記スリット板を像光の点滅パターンに対応して
移動させた際の電圧計の表示値によって解像度を測定す
るものである。
するスリット板と、このスリット板と前記収束性レンズ
アレイを介して入力される像光を受光する受光素子と、
この受光素子の受光強度を電圧値で表示する電圧計とを
備え、前記スリット板を像光の点滅パターンに対応して
移動させた際の電圧計の表示値によって解像度を測定す
るものである。
［作用］
像光の点滅パターンに対応するスリットを有するスリッ
ト板を、スリットが点灯状態光源に対応する位置になる
ように位置合わせを行うと、この時の点灯状態の光源の
受光強度の最大値λｍａｘが電圧計の電圧値として得ら
れる。次にスリットが消灯状態の光源に対応する位置に
なるように位置合わせを行うと、この時の消灯状態の光
源の受光強度の最大値λｍｉｎが電圧計の電圧値として
得られる。従って、このようにして得たλｍａｘとλｍ
ｉｎによって１つの点滅パターンに対する解像度を極め
て簡単に知ることができる。実際に焦点合わせを行うた
めには、スリットを２つの位置に移動させた時に得られ
るλｍａｘが最も大きくなり、かつλｍｉｎが最も小さ
くなるように光源と収束性レンズアレイとの位置合わせ
を行えばよい。
ト板を、スリットが点灯状態光源に対応する位置になる
ように位置合わせを行うと、この時の点灯状態の光源の
受光強度の最大値λｍａｘが電圧計の電圧値として得ら
れる。次にスリットが消灯状態の光源に対応する位置に
なるように位置合わせを行うと、この時の消灯状態の光
源の受光強度の最大値λｍｉｎが電圧計の電圧値として
得られる。従って、このようにして得たλｍａｘとλｍ
ｉｎによって１つの点滅パターンに対する解像度を極め
て簡単に知ることができる。実際に焦点合わせを行うた
めには、スリットを２つの位置に移動させた時に得られ
るλｍａｘが最も大きくなり、かつλｍｉｎが最も小さ
くなるように光源と収束性レンズアレイとの位置合わせ
を行えばよい。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例を示す構成図であり、ＬＥＤ
アレイ１から出力された１ドツトおきの点滅パターンの
ゆ光は５ＬＡ２を通ってスリット板５に入射される。ス
リット板５は、第２図（ａ）の拡大図に示すように、Ｌ
ＥＤアレイ１の点滅パターンが１ドツトおきであり、か
つドツトの密度が１６ドツト／１ｍである場合、１／１
６ＩＩＩｌの幅を有し、かつ隣りのスリットとの間隔が
１ ／ ８ ｌｎの多数のスリット５０を備えている。
アレイ１から出力された１ドツトおきの点滅パターンの
ゆ光は５ＬＡ２を通ってスリット板５に入射される。ス
リット板５は、第２図（ａ）の拡大図に示すように、Ｌ
ＥＤアレイ１の点滅パターンが１ドツトおきであり、か
つドツトの密度が１６ドツト／１ｍである場合、１／１
６ＩＩＩｌの幅を有し、かつ隣りのスリットとの間隔が
１ ／ ８ ｌｎの多数のスリット５０を備えている。
一方、スリット板５を通過した像光は受光素子６で受光
され、その受光強度が電圧計７の電圧値として表示され
るようになっている。
され、その受光強度が電圧計７の電圧値として表示され
るようになっている。
以上の構成において、第２図（ｂ）に示すように、スリ
ット５０が点灯状態ＬＥＤに対応する位置になるように
位置合わせを行うと、この時の点灯状態のＬＥＤの受光
強度の最大値λｍａｘが電圧計７の電圧値として得られ
る。次にスリット５０が消灯状態のＬＥＤに対応する位
置になるように位置合わせを行うと、この時の消灯状態
のしＥＤの受光強度の最大値λｍｉｎが電圧計７の電圧
値として得られる。従って、このようにして冑たλｍａ
ｘとλｍｉｎによって１つの点滅パターンに対する解像
度を極めて簡単に知ることができる。
ット５０が点灯状態ＬＥＤに対応する位置になるように
位置合わせを行うと、この時の点灯状態のＬＥＤの受光
強度の最大値λｍａｘが電圧計７の電圧値として得られ
る。次にスリット５０が消灯状態のＬＥＤに対応する位
置になるように位置合わせを行うと、この時の消灯状態
のしＥＤの受光強度の最大値λｍｉｎが電圧計７の電圧
値として得られる。従って、このようにして冑たλｍａ
ｘとλｍｉｎによって１つの点滅パターンに対する解像
度を極めて簡単に知ることができる。
実際に焦点合わせを行うためには、スリット５０を２つ
の位置に移動させた時に得られるλｍａｘが最も大きく
なり、かつλｍｉｎが最も小さくなるようにＬＥＤアレ
イと５ＬＡ２との焦点合わせを行なえばよい。なお、第
２図において消灯状態のＬＥＤは斜線を付して示してい
る。
の位置に移動させた時に得られるλｍａｘが最も大きく
なり、かつλｍｉｎが最も小さくなるようにＬＥＤアレ
イと５ＬＡ２との焦点合わせを行なえばよい。なお、第
２図において消灯状態のＬＥＤは斜線を付して示してい
る。
なお、また、このような解像度の測定はＬＥＤアレイに
限らず、光源の間隔と収束性レンズアレイとの関係がわ
かっているものであれば、スリットの幅と間隔を適合さ
せることにより、同様に測ヱすることができる。
限らず、光源の間隔と収束性レンズアレイとの関係がわ
かっているものであれば、スリットの幅と間隔を適合さ
せることにより、同様に測ヱすることができる。
［発明の効果１
以上説明したように本発明によれば、スリット板と受光
素子および電圧計という簡単な組合せ構成で収束性レン
ズアレイを通った光源からの像光の解像度を極めて容易
に測定することができ、この解像度の測定結果を用いて
収束性レンズを用いた光学系の焦点合わせを容易に行う
ことができる。
素子および電圧計という簡単な組合せ構成で収束性レン
ズアレイを通った光源からの像光の解像度を極めて容易
に測定することができ、この解像度の測定結果を用いて
収束性レンズを用いた光学系の焦点合わせを容易に行う
ことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図は解像
度を測定する際の光源の点滅パターンとスリット板との
関係を示す説明図、ｆｆ１３図は従来装置の構成を示す
構成図、第４図は従来装置によって解像度を求める際の
受光強度の観測波形図である。 １・・・ＬＥＤアレイ、２・・・セルフフォーカシング
レンズアレイ、３・・・イメージセンサ、５・・・スリ
ット板、６・・・受光素子、７・・・電圧計、５０・・
・スリット。 第１図 一−−ｏ ｏグ°°。 第２図（０）
度を測定する際の光源の点滅パターンとスリット板との
関係を示す説明図、ｆｆ１３図は従来装置の構成を示す
構成図、第４図は従来装置によって解像度を求める際の
受光強度の観測波形図である。 １・・・ＬＥＤアレイ、２・・・セルフフォーカシング
レンズアレイ、３・・・イメージセンサ、５・・・スリ
ット板、６・・・受光素子、７・・・電圧計、５０・・
・スリット。 第１図 一−−ｏ ｏグ°°。 第２図（０）
Claims (1)
- 収束性レンズアレイを用いて像光を結像させる光学系の
解像度を測定する装置であつて、前記像光の点滅パター
ンに対応したスリットを有するスリット板と、このスリ
ット板と前記収束性レンズアレイを介して入力される像
光を受光する受光素子と、この受光素子の受光強度を電
圧値で表示する電圧計とを備え、前記スリット板を像光
の点滅パターンに対応して移動させた際の電圧計の表示
値によつて解像度を測定する解像度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP125987A JPS63169535A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 解像度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP125987A JPS63169535A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 解像度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63169535A true JPS63169535A (ja) | 1988-07-13 |
Family
ID=11496460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP125987A Pending JPS63169535A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 解像度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63169535A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006267109A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Oculus Optikgeraete Gmbh | 光学レンズの屈折特性を測定するための測定装置 |
-
1987
- 1987-01-07 JP JP125987A patent/JPS63169535A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006267109A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Oculus Optikgeraete Gmbh | 光学レンズの屈折特性を測定するための測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR940007618B1 (ko) | 주사광학 장치 | |
| TWI507659B (zh) | 三維形狀測量裝置 | |
| US20130286191A1 (en) | Inspection apparatus | |
| JP4878191B2 (ja) | 光学レンズの屈折特性を測定するための測定装置 | |
| JP5080015B2 (ja) | 光学レンズの屈折特性を測定するための測定装置 | |
| JPH0830720B2 (ja) | 電圧検出装置 | |
| JPS63169535A (ja) | 解像度測定装置 | |
| JP3229001B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| CA1232975A (en) | Noncontact full-line dynamic ac tester for integrated circuits | |
| JPS63208736A (ja) | 光学系の光学特性測定装置 | |
| CN108286937B (zh) | 接触式扫描测头、坐标测量装置、系统及方法 | |
| JP4522848B2 (ja) | ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 | |
| EP0104762B1 (en) | Apparatus for optically measuring the distance between two grating-like structures and the size of periodic pattern elements forming one of the grating-like structures | |
| JPS6034699B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
| EP0506357A2 (en) | Optical voltage detector | |
| JPH03162610A (ja) | 高さ測定装置 | |
| JPS6291833A (ja) | 光源の２次元配光分布測定装置 | |
| JP2001272302A (ja) | レンズアレイの光学性能評価装置 | |
| SU1705698A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь перемещений | |
| JP3295593B2 (ja) | Ｌｅｄヘッドの測定装置及びｌｅｄアレイの発光点列の測定方法 | |
| SU1111025A1 (ru) | Способ измерени линейных размеров микрообъектов | |
| RU2324895C1 (ru) | Оптико-электронное устройство для измерения площади объекта | |
| JPH028709A (ja) | 測距装置 | |
| JPS62503049A (ja) | 二次元的な対象物を整向、検査及び／または測定するための方法及び装置 | |
| JPS6341483B2 (ja) |