JPS63162171A - マ−キング方法 - Google Patents

マ−キング方法

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Publication number
JPS63162171A
JPS63162171A JP30800286A JP30800286A JPS63162171A JP S63162171 A JPS63162171 A JP S63162171A JP 30800286 A JP30800286 A JP 30800286A JP 30800286 A JP30800286 A JP 30800286A JP S63162171 A JPS63162171 A JP S63162171A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
marking
workpiece
measured
laser beam
marked
Prior art date
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Pending
Application number
JP30800286A
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English (en)
Inventor
吉倉 正人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Motors Corp
Original Assignee
Mitsubishi Motors Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Motors Corp filed Critical Mitsubishi Motors Corp
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Publication of JPS63162171A publication Critical patent/JPS63162171A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分齋〉 本発明は工作物又は被測定物に対するマーキング方法に
関する。
〈従来の技術〉 従来は工作物又は測定物にマーキングするときは、工作
物をけがきぼり、ドースカンなどを使用して工作物の削
りしるなどの目印をつけたり測定物の測定個所をマーキ
ングして測定する作業をしていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところが、上述した方法で工作物または測定物にマーキ
ングする場合、工作物や測定物が三次元形状のものであ
り、その表面に広範囲にわたるマーキングや「けがき」
を施そうとする場合は、三次元形状にマーキング又は「
けがき」しなければならない。このような、マーキング
又はけがきは通常、工作物を定盤の上に載せ、定盤を回
転させながら水平線方向にマーキングするようにして塗
料などで目印を付けその目印に沿って「けがき」および
測定していた。
しかし、その作業は複雑で長時開票するばかりでなく、
複雑な入り組んだ形状のため正確に行うことが難かしか
った。
本発明はこのような従来の工作物又は測定物のマーキン
グ方法の欠点を解消するためになされたものであって、
「けがき」又はマーキングを短時間に、しかも正確に実
施できろ工作物又は測定物のマーキング方法を提供しよ
うとするものである。
く問題点を解決するための手段〉 以上の問題点を解決す・るための本発明の工作物又は測
定物のマーキング方法は、工作物又は測定物の「けがき
」又は被測定個所にレーザ光を照射してマーキングする
ことを特徴とするものである。
く作   用〉 以上のように、工作物又は測定物の「けがき」又はマー
キングにレーザ光を使用するから、レーザ光の特徴であ
る直進性又は可干渉性によりレンズなどの光収束手段を
利用すれば水平方向に正確に、しかも短時間にマーキン
グすることができる。
〈実 施 例〉 つぎに、本発明の一実施例について説明する。
第1図は、工作物1に「けがき」するときのマーキング
方法の実施するときの装置の使用状態を示す説明図であ
って、全体符号10で示す装置はマーキング装置、2は
工作物1を載せ鉛直軸A−Aの周りの回動および水平軸
0の周りの傾動可能の受台である。
マーキング装置10は、円筒ll内を鉛直Z方向に移動
可能、およびZ軸を中心として回動可能の摺動軸12と
、摺動軸12頂の水平軸13を中心として左右方向C−
Cに揺動可能に取りつけられた左右軸14と手首15と
からなっており、手σ15には図示されないNdをドー
プしたYAG (イツトリウム・アルミニウム・ガーネ
ット)レーザが装着され、工作物1方向にレーザ光(1
,05μ)を放射する構造になっている。また、マーキ
ング装置10の下部にはテーブル1bが設置され、装置
10を取り付は可能になっていると共に、制御装置20
からの指令により、マーキング装置10に対し、それぞ
れZ方向移動、Z軸の周りの回動、およびB−B方向の
揺動換作を行わせうる構成になっている。
さらに、制御装置1[20は、必要に応じ工作物lの受
台2に対し鉛直軸A−Aの周りの回動および軸0の周り
に傾動を行わせることができる。
上記マーキング装置10により工作物1の「けがき」す
べき個所に目印を付けるときは、例えば英国、サーモグ
ラフィック・メジャメント社■製の表面温度感熱クリヤ
ライン示温ペイント(非可逆性)SC165(商品番号
165)を工作物1の表面に塗布しておき、マーキング
装置10を操作し、工作物の「けがき」個所にレーザ光
を照射すれば、ピンク色のマークを付すことができろ。
そして制御装置20から、受台2側に信号を送り、工作
物1の位置、傾きを所定の位置になるようにして受台2
を回動させれば、工作物1表面に水平方向のマークを付
けることができるので、表面に凹凸があっても正確な「
けがき」を行うことができる。
上述の方法は工作物1の表面に感光又は感温し変色する
塗料を塗布し、これにレーザ光を照射する方法について
説明したが、レーザ光源として例えばCO2レーザを用
いると、目印用のマークを付すことなく、レーザ光で工
作物表面を直接「けがき」することもできる。
また、特に精密なマークを付したいときは、レンズ等の
光収束手段によりレーザ光をしぼり、表面に集束する光
ビームを細くすればよい。
また、上述の説明は工作物を「けがき」する場合の例に
ついて説明したけれども、仕上がった鋳物装置の仕上り
精度を検査する場合など、その検査品(被測定物)の表
面に上述した場合と同じようにクリヤライン示温ペイン
トを塗布しておいて、その表面にレーザ光を照射してマ
ークしておけば、たとえ表面に凹凸があるような場合で
も、そのマークに沿って測定することにより、検査品の
仕上り精度を正確に調べることができる。
〈発明の効果〉 以上の説明から明らかなように、本発明にかかるマーク
方法は ■ レーザ光には直進性および可干渉性があるので、レ
ンズ等の光集束手段を用いることにより工作物や被測定
物表面に精密な水平方向のマーキングを行うことができ
、表面に凹凸があっても、その精度を害されることがな
い。
■ また、レーザ光で直物工作物表面に「けがき」する
にせよ、感光又は感温性変色塗料を用いるにせよその表
面にレーザ光を照射するだけであるから、従来の方法に
比ベマーキングが極めて迅速に行ないうる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマーキング方法を実施するときの装置
の使用状態を示す説明図である。 図中、1・・・工作物、2・・・工作物受台、10・・
・マーキング装置、20・・・制御装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)工作物又は被測定物の「けがき」又は被測定個所
    にレーザ光を照射してマーキングすることを特徴とする
    マーキング方法。
  2. (2)表面に予めレーザ光に感光又は感温して変色する
    塗料を塗布した工作物又は被測定物の「けがき」又は被
    測定個所にレーザ光を照射することを特徴とする特許請
    求の範囲第(1)項記載のマーキング方法。
JP30800286A 1986-12-25 1986-12-25 マ−キング方法 Pending JPS63162171A (ja)

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JPS63162171A true JPS63162171A (ja) 1988-07-05

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53110200A (en) * 1977-03-09 1978-09-26 Hitachi Ltd Automatic markinggoff method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53110200A (en) * 1977-03-09 1978-09-26 Hitachi Ltd Automatic markinggoff method

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