JPS63158442A - コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法 - Google Patents
コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法Info
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- JPS63158442A JPS63158442A JP62169506A JP16950687A JPS63158442A JP S63158442 A JPS63158442 A JP S63158442A JP 62169506 A JP62169506 A JP 62169506A JP 16950687 A JP16950687 A JP 16950687A JP S63158442 A JPS63158442 A JP S63158442A
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- 239000000853 adhesive Substances 0.000 title claims abstract description 42
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 title claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 29
- 239000004816 latex Substances 0.000 claims description 16
- 229920000126 latex Polymers 0.000 claims description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000002174 Styrene-butadiene Substances 0.000 claims description 2
- MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N butadiene-styrene rubber Chemical group C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1 MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000011115 styrene butadiene Substances 0.000 claims description 2
- 229920003048 styrene butadiene rubber Polymers 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 abstract description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005375 photometry Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 21
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 16
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 11
- 229920002472 Starch Polymers 0.000 description 9
- 239000008107 starch Substances 0.000 description 9
- 235000019698 starch Nutrition 0.000 description 9
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 7
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 239000004927 clay Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000007602 hot air drying Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003490 calendering Methods 0.000 description 1
- 239000006255 coating slurry Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はコート紙等、支持体に塗設されたコート層の表
面に於ける接着剤の濃度を測定する方法に関するもので
ある。
面に於ける接着剤の濃度を測定する方法に関するもので
ある。
(従来の技術)
コート紙は平滑性、白さ、インク受理性、光沢、不透明
性等の向上を目的として、各種の顔料を紙の表面に塗工
したものである。こうしたコート紙の製造には、顔料粒
子なσいに接着せしめ、且つコート原紙の表面に定着さ
せるために接着剤が使用される。接着剤はクレー、炭酸
カルシウムに代表されるような顔料と共に塗ニスラリ−
として調製された後、コート川原紙表面に塗工される。
性等の向上を目的として、各種の顔料を紙の表面に塗工
したものである。こうしたコート紙の製造には、顔料粒
子なσいに接着せしめ、且つコート原紙の表面に定着さ
せるために接着剤が使用される。接着剤はクレー、炭酸
カルシウムに代表されるような顔料と共に塗ニスラリ−
として調製された後、コート川原紙表面に塗工される。
ところが、良く知られているように乾燥工程に於て、こ
れらの接着剤が、コート層表面或はコート原紙方向に過
剰に移動する現象(バインダーマイ・グレイジョン)を
起すことがある。特にコート層表面に過剰に移動し、表
面における接着剤濃度が高くなった場合には、インクの
着肉不良など印刷適性に直接悪影響を与えることになる
。また。
れらの接着剤が、コート層表面或はコート原紙方向に過
剰に移動する現象(バインダーマイ・グレイジョン)を
起すことがある。特にコート層表面に過剰に移動し、表
面における接着剤濃度が高くなった場合には、インクの
着肉不良など印刷適性に直接悪影響を与えることになる
。また。
コート層表面で接着剤の濃度がむら状に分布した場合に
は、オフセット印刷時にインク着肉のむら(モツトリン
グ)を起こすなど許容しがたいit?が生じる。これら
の悪影響は、接着剤そのものが印刷インクと親和性を持
たないことに起因すると考えられている。
は、オフセット印刷時にインク着肉のむら(モツトリン
グ)を起こすなど許容しがたいit?が生じる。これら
の悪影響は、接着剤そのものが印刷インクと親和性を持
たないことに起因すると考えられている。
このような事情から、コート紙の製造工程管理及び印刷
通性を評価する上で、コート層表面の接着剤濃度とその
濃度分布を知ることは極めて重要なこととなっており、
これら接着剤濃度や濃度分布を正確に測定、把握をする
技術の開発が望まれている。従来、コート層表面の接着
剤濃度を測定する方法としては、赤外分光法、xliI
マイクロアナライザなどが知られている。
通性を評価する上で、コート層表面の接着剤濃度とその
濃度分布を知ることは極めて重要なこととなっており、
これら接着剤濃度や濃度分布を正確に測定、把握をする
技術の開発が望まれている。従来、コート層表面の接着
剤濃度を測定する方法としては、赤外分光法、xliI
マイクロアナライザなどが知られている。
(発明が解決しようとする問題点)
赤外分光法は、簡便ではあるが接着剤の感度が顔料のそ
れに比較して甚しく低いために誤差が大きく、実用化す
るには信頼性が不充分である。一方、X線マイクロアナ
ライザによれば感度も良く、またコート層表面における
分布状態も測定可能であるが、オスミウム、臭素などに
よる染色とその後の蒸着処理などの測定に先立つ前処理
が必要であり、かつ装置も高価である。
れに比較して甚しく低いために誤差が大きく、実用化す
るには信頼性が不充分である。一方、X線マイクロアナ
ライザによれば感度も良く、またコート層表面における
分布状態も測定可能であるが、オスミウム、臭素などに
よる染色とその後の蒸着処理などの測定に先立つ前処理
が必要であり、かつ装置も高価である。
本発明者は、コート紙等のコート層表面の接着剤濃度と
紫外線吸収値との相関関係について検討した結果、スチ
レンブタジェンラテックス(SBラテックス)などが特
定波長の紫外線部分に特異的な吸収値を示し、しかもこ
の吸収値が顔料の吸収値とは数値的に格段の差があるこ
とを見出し、これらの紫外線吸収値を接着剤濃度の測定
に応用すべく検討を進めた。
紫外線吸収値との相関関係について検討した結果、スチ
レンブタジェンラテックス(SBラテックス)などが特
定波長の紫外線部分に特異的な吸収値を示し、しかもこ
の吸収値が顔料の吸収値とは数値的に格段の差があるこ
とを見出し、これらの紫外線吸収値を接着剤濃度の測定
に応用すべく検討を進めた。
ところが、コート層表面の接着剤濃度の測定では、試料
面上で散乱した光を対象とする反射測定によらざるを得
ないので、光沢等、専らコート層の表面状態に由来する
光の散乱がある場合にはこの影響をも受けてしまい、正
しい接続剤濃度を測定し得ないことが判明した。
面上で散乱した光を対象とする反射測定によらざるを得
ないので、光沢等、専らコート層の表面状態に由来する
光の散乱がある場合にはこの影響をも受けてしまい、正
しい接続剤濃度を測定し得ないことが判明した。
本発明は、コート層表面の接着剤濃度とその平面分布状
態について、紫外線を使用して測定することを基本とし
て、光沢等に影響されない信頼できる測定結果が得られ
ることは勿論として、1?tI単且つ迅速に測定できる
方法を提供するものである。
態について、紫外線を使用して測定することを基本とし
て、光沢等に影響されない信頼できる測定結果が得られ
ることは勿論として、1?tI単且つ迅速に測定できる
方法を提供するものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明者はコート層接着剤の最大ピークの吸収波長を中
心とする3波長を用いることによって、光沢等、専らコ
ート層の表面状態に由来する光の散乱による12%を除
去し、コート層表面に於ける正しい接着剤濃度を定量で
きることを確認し、本発明を完成するに至った。
心とする3波長を用いることによって、光沢等、専らコ
ート層の表面状態に由来する光の散乱による12%を除
去し、コート層表面に於ける正しい接着剤濃度を定量で
きることを確認し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明に係るコート層表面の接着剤濃度の測定方
法は、コート層表面にコート層接着剤の紫外部に於ける
最大ピークの吸収波長の紫外光及びその短波長の紫外光
と長波長側の紫外光を照射し、各反射光を充電変換し更
に比較演算することを特徴とする。
法は、コート層表面にコート層接着剤の紫外部に於ける
最大ピークの吸収波長の紫外光及びその短波長の紫外光
と長波長側の紫外光を照射し、各反射光を充電変換し更
に比較演算することを特徴とする。
(実施例)
以下、実施例を示す図面に従って本発明を説明する。第
4図はSBラテックスについて、紫外部に於ける波長と
吸光度との関係を示したグラフである。SBラテックス
の紫外部に於ける最大ピークの吸収波長が260no+
付近にあることが分る。
4図はSBラテックスについて、紫外部に於ける波長と
吸光度との関係を示したグラフである。SBラテックス
の紫外部に於ける最大ピークの吸収波長が260no+
付近にあることが分る。
従って、SRラテックスの濃度を測定する場合には、3
波長の中心として必ずこの260ns付近の紫外光を使
用することになる。他の接着剤の濃度測定を行なう場合
も同様であって、測定に先立って紫外部に於ける最大ピ
ークの吸収波長を確認しなければならない。
波長の中心として必ずこの260ns付近の紫外光を使
用することになる。他の接着剤の濃度測定を行なう場合
も同様であって、測定に先立って紫外部に於ける最大ピ
ークの吸収波長を確認しなければならない。
本発明では、この最大ピークの吸収波長の紫外光に加え
て、これより短波長の紫外光と工(波長の紫外光を併せ
て用いる。その理由は、以トーに第2図に従って説明す
るように、最大ピークの吸収波長の紫外光のみでは正し
い定量結果が得られないからである。第2図は顔料であ
る炭酸カルシウム100部に対しデンプンを5〜15部
配合した3種の塗−■液及びデンプン5部とSBラテッ
クス5〜20部を配合した3種塗f液を使用したコート
紙について、光沢度と260 nm紫外光の吸光度との
関係を示したものである。260 na+における反射
光の吸光度はコート紙面の光沢度により影響を受け、ま
た本来紫外線に吸収を有しないデンプンの影響をも受け
てしまう。このように、1波長のみの測定では正しい定
量結果は得られないことが分る。尚、第2図にみられる
ようにデンプンの増配が吸光度を増加させる理由は必ず
しも明らかではないが、デンプンを増配すると何らかの
原因でコート層表面に於ける光の散乱状態に変化を生じ
、その結果として吸光度が増加するものと思われる。
て、これより短波長の紫外光と工(波長の紫外光を併せ
て用いる。その理由は、以トーに第2図に従って説明す
るように、最大ピークの吸収波長の紫外光のみでは正し
い定量結果が得られないからである。第2図は顔料であ
る炭酸カルシウム100部に対しデンプンを5〜15部
配合した3種の塗−■液及びデンプン5部とSBラテッ
クス5〜20部を配合した3種塗f液を使用したコート
紙について、光沢度と260 nm紫外光の吸光度との
関係を示したものである。260 na+における反射
光の吸光度はコート紙面の光沢度により影響を受け、ま
た本来紫外線に吸収を有しないデンプンの影響をも受け
てしまう。このように、1波長のみの測定では正しい定
量結果は得られないことが分る。尚、第2図にみられる
ようにデンプンの増配が吸光度を増加させる理由は必ず
しも明らかではないが、デンプンを増配すると何らかの
原因でコート層表面に於ける光の散乱状態に変化を生じ
、その結果として吸光度が増加するものと思われる。
次に本発明の測定に使用する装置の構成例を示す第6図
について説明する。この装置は検出部1と変換増幅部2
と外部出力部3とを主要部分としている。検出部は重水
素ランプ4、フィルター5、絞り6、ハーフミラ−7、
対照光電子増倍管8、反射光電子増倍管9右よび試料台
10からなっている。
について説明する。この装置は検出部1と変換増幅部2
と外部出力部3とを主要部分としている。検出部は重水
素ランプ4、フィルター5、絞り6、ハーフミラ−7、
対照光電子増倍管8、反射光電子増倍管9右よび試料台
10からなっている。
コート層接着剤の濃度測定に当っては1重水素ランプ4
から出た紫外光をフィルター5により特定波長の9色光
とする。単色光は絞り6でスポット光とし、ハーフミラ
−7で分光し、一部を対照光として対照充電f増倍管8
で測光し、他は試料台10に設置された測定試料で反射
される。反射光の一部を反射光電子増倍管9で測光する
。光電子増倍管で電流に変換し、変換増幅部2のオペレ
ーションアンプ11.12で各々の電流を電圧に変換す
る。変換されたEl、E2を減t)回路13で減算し、
外部出力部3のアナログディジタル変換回路14でディ
ジタル信号に変換する。ディジタル化した信号はコンピ
ュータ、記録計などのデータ処理装置に転送し変換処理
をする。
から出た紫外光をフィルター5により特定波長の9色光
とする。単色光は絞り6でスポット光とし、ハーフミラ
−7で分光し、一部を対照光として対照充電f増倍管8
で測光し、他は試料台10に設置された測定試料で反射
される。反射光の一部を反射光電子増倍管9で測光する
。光電子増倍管で電流に変換し、変換増幅部2のオペレ
ーションアンプ11.12で各々の電流を電圧に変換す
る。変換されたEl、E2を減t)回路13で減算し、
外部出力部3のアナログディジタル変換回路14でディ
ジタル信号に変換する。ディジタル化した信号はコンピ
ュータ、記録計などのデータ処理装置に転送し変換処理
をする。
本発明の測定においては、最大ピークの吸収波長を含む
3種類の波長に右けるそれぞれの光学密度を比較演算す
ることにより、定FIt的にかつ光沢度など他の物性の
影響を受けない測定結果を得ることが可能となる。以下
に、光沢度等の影響の除去について述べる。
3種類の波長に右けるそれぞれの光学密度を比較演算す
ることにより、定FIt的にかつ光沢度など他の物性の
影響を受けない測定結果を得ることが可能となる。以下
に、光沢度等の影響の除去について述べる。
第3図は第2図に示したコート紙のうち、炭酸カルシウ
ム100部に対して、デンプン5部。
ム100部に対して、デンプン5部。
SRラテックス5部を配合した塗工液を使用したコート
紙を用いて、カレンダー掛けの程度の違いにより、光沢
度10%及び34%に:J4製したものについて、紫外
部(200〜350n■)に於ける吸光度を測定したも
のである。この第3図から、同じ配合のコート紙である
にも拘らず、光沢度が大きいと全波長に亘って見掛けの
吸光度が大きくなってしまうことが分る。
紙を用いて、カレンダー掛けの程度の違いにより、光沢
度10%及び34%に:J4製したものについて、紫外
部(200〜350n■)に於ける吸光度を測定したも
のである。この第3図から、同じ配合のコート紙である
にも拘らず、光沢度が大きいと全波長に亘って見掛けの
吸光度が大きくなってしまうことが分る。
ところで、光沢度34%及び光沢度10%の両吸収スペ
クトルの曲線を各々f (x) 、 g (x)とすれ
ば、両面線の関係は概ねf(x) −g(x) =ax
+bで表わすことができる。従って、SBラテックスの
最大ピークの吸収波長である260nm及びその短波長
側の紫外光235nsと長波長側の紫外光285r++
sについてみれば、235n−および285n−の測定
値からベースラインBC右よびFGが得られる。260
nsにおけるこれらのベースライン上の点DJよびH
と、260nmの測定値AおよびEとの芥々の差はAD
右よびEHとなる。ここで、両スペクトルの曲線の関係
がf (x) −g (x) = a x + bで表
わされる限り、ADとEHとは同一値を示すことから、
このへ−スラインによれば光沢度による影響を除去する
ことができる。又、両スペクトルの曲線の関係がf(x
)−g(x)=ax+bに近似している場合でもAD〜
EHであり、やはり光沢度の影響は殆ど除去される。
クトルの曲線を各々f (x) 、 g (x)とすれ
ば、両面線の関係は概ねf(x) −g(x) =ax
+bで表わすことができる。従って、SBラテックスの
最大ピークの吸収波長である260nm及びその短波長
側の紫外光235nsと長波長側の紫外光285r++
sについてみれば、235n−および285n−の測定
値からベースラインBC右よびFGが得られる。260
nsにおけるこれらのベースライン上の点DJよびH
と、260nmの測定値AおよびEとの芥々の差はAD
右よびEHとなる。ここで、両スペクトルの曲線の関係
がf (x) −g (x) = a x + bで表
わされる限り、ADとEHとは同一値を示すことから、
このへ−スラインによれば光沢度による影響を除去する
ことができる。又、両スペクトルの曲線の関係がf(x
)−g(x)=ax+bに近似している場合でもAD〜
EHであり、やはり光沢度の影響は殆ど除去される。
以下にベースラインを導入するための式を示す。
補正された260nmに於ける吸光度
” 5260−((5211!S −52as)/ 2
+ 523S)(式中、5260 + S2:16
+ ”’ 2815は各々260n■、235nm、2
85nmで測定された見かけ上の吸光度である。) 本発明に於いては、最大ピークの吸収波長に対、する短
波長側の紫外光と長波長側の紫外光は任意の波長に設定
してよい。′f13図に於いて235nmと285nm
を選択した理由は、計算」二の便宜と測定X(差の排除
にある。即ち、260n−を中心に長短250−ずつ増
減しているので、FG/FH=2となり、計算に好都合
であり、一方最大ピークから遠すぎず且つ明瞭な極小ピ
ークである235nsを使用すれば、測定上の誤差発生
を抑えるのに有効だからである。
+ 523S)(式中、5260 + S2:16
+ ”’ 2815は各々260n■、235nm、2
85nmで測定された見かけ上の吸光度である。) 本発明に於いては、最大ピークの吸収波長に対、する短
波長側の紫外光と長波長側の紫外光は任意の波長に設定
してよい。′f13図に於いて235nmと285nm
を選択した理由は、計算」二の便宜と測定X(差の排除
にある。即ち、260n−を中心に長短250−ずつ増
減しているので、FG/FH=2となり、計算に好都合
であり、一方最大ピークから遠すぎず且つ明瞭な極小ピ
ークである235nsを使用すれば、測定上の誤差発生
を抑えるのに有効だからである。
上述の如くベースラインを導入すための比較演算処理を
行なって第2図を補正すれば、第1図に示すような試料
の光沢度に影響されず、かつデンプンの影響をも除去し
た値に基づくグラフが得られる。デンプンの影響が除去
されたことは、第1図において、デンプン5.lOおよ
び15部の試料の値が同一線上にプロットされているこ
とから明らかである。
行なって第2図を補正すれば、第1図に示すような試料
の光沢度に影響されず、かつデンプンの影響をも除去し
た値に基づくグラフが得られる。デンプンの影響が除去
されたことは、第1図において、デンプン5.lOおよ
び15部の試料の値が同一線上にプロットされているこ
とから明らかである。
第5図は、クレー又は炭酸カルシウム顔料100部に対
して、SBラテックスをそれぞれ5.10.15、もし
くは20部配合した60i[1四パーセントの塗工液を
用いて作製したコート紙のコート層表面を測定したもの
である6な右、各試料の塗工量は10 gem’ (乾
燥重量)であり、片面のみ塗工した。SOラテックス濃
度は補正後の吸光度と完全に比例関係にある。顔料の種
類により直線の勾配が異なる理由は、顔料の形状、大き
さ等の違いが、コート層表面にこれらの顔料と共に存在
するSRラテックスのjJlに影響を及ぼすことの表わ
れであると思われる。これらの測定値は、同じ試料を数
枚重ね合わせた場合、試料に紫外線吸収物質であるガラ
ス板を裏当でした場合、並びにこの波長に吸収をもたな
いシリカゲル板を裏当てした場合について、いずれも全
く同じであり、本測定における紫外線がこの’4 il
l Nではコート紙を透過しないか、また、仮に透過し
たとしてもコート層表面のSBラテックス4度測測定影
Δのないことを裏付けている。
して、SBラテックスをそれぞれ5.10.15、もし
くは20部配合した60i[1四パーセントの塗工液を
用いて作製したコート紙のコート層表面を測定したもの
である6な右、各試料の塗工量は10 gem’ (乾
燥重量)であり、片面のみ塗工した。SOラテックス濃
度は補正後の吸光度と完全に比例関係にある。顔料の種
類により直線の勾配が異なる理由は、顔料の形状、大き
さ等の違いが、コート層表面にこれらの顔料と共に存在
するSRラテックスのjJlに影響を及ぼすことの表わ
れであると思われる。これらの測定値は、同じ試料を数
枚重ね合わせた場合、試料に紫外線吸収物質であるガラ
ス板を裏当でした場合、並びにこの波長に吸収をもたな
いシリカゲル板を裏当てした場合について、いずれも全
く同じであり、本測定における紫外線がこの’4 il
l Nではコート紙を透過しないか、また、仮に透過し
たとしてもコート層表面のSBラテックス4度測測定影
Δのないことを裏付けている。
次に、コート層表面の接着剤分布状態を611定する場
合について説明する。この測定には、試料と紫外光との
相対的な縦横の移動が可能な装置が必要となり、例えば
第6図に示した装置構成例に於て、試料台lOにステッ
ピングモータを備えたXYステージを使うことによって
、一定の間隔で試料台lOを縦横方向に移動可能に構成
すれば実施できる。
合について説明する。この測定には、試料と紫外光との
相対的な縦横の移動が可能な装置が必要となり、例えば
第6図に示した装置構成例に於て、試料台lOにステッ
ピングモータを備えたXYステージを使うことによって
、一定の間隔で試料台lOを縦横方向に移動可能に構成
すれば実施できる。
このように構成した装置を使用して、以下の要領で接着
剤の分布状態を測定した。先ず、試料のコート紙として
、クレー100部に対してSBラテックス10部を配合
した固形分濃度60%の塗工液を原紙表面に10 ge
m” (乾燥重量)塗工した後、室温にて自然乾燥した
ものと熱風乾燥したものとを用意した。各試料について
、縦横0.411×0.4 IImとした波長235n
m、260n−及び285nsの3種の微小紫外光スポ
ットによって、縦方向4■間隔で長さ60as、横方向
1sm間隔で長さ63m−に亘り、照射、測定した。
剤の分布状態を測定した。先ず、試料のコート紙として
、クレー100部に対してSBラテックス10部を配合
した固形分濃度60%の塗工液を原紙表面に10 ge
m” (乾燥重量)塗工した後、室温にて自然乾燥した
ものと熱風乾燥したものとを用意した。各試料について
、縦横0.411×0.4 IImとした波長235n
m、260n−及び285nsの3種の微小紫外光スポ
ットによって、縦方向4■間隔で長さ60as、横方向
1sm間隔で長さ63m−に亘り、照射、測定した。
測定結果は、自然乾燥の試料について補正後の吸光度の
平均が0.126、標準偏差0.004であり、熱風乾
燥の試料は、同平均0.432、標準偏差0.006で
あった。これらの測定結果は、ゆっくりとした自然乾燥
に比較して、急激な熱風乾燥によってSBラテックスが
コート層表面に移動し、かつ不均一な分布となったこと
を示している。この結果は。
平均が0.126、標準偏差0.004であり、熱風乾
燥の試料は、同平均0.432、標準偏差0.006で
あった。これらの測定結果は、ゆっくりとした自然乾燥
に比較して、急激な熱風乾燥によってSBラテックスが
コート層表面に移動し、かつ不均一な分布となったこと
を示している。この結果は。
急激な熱風乾燥を行なった場合にコート紙の印刷適正が
低下するという経験的事実をよく説明している。このよ
うに、本発明の方法によりコート層の接着剤の濃度分4
Iiが測定可能となる。
低下するという経験的事実をよく説明している。このよ
うに、本発明の方法によりコート層の接着剤の濃度分4
Iiが測定可能となる。
本発明に於ける特定波長の紫外光の照射方法について補
足して説明すれば、微小紫外線スポットの大きさは縦横
外々0.旧〜2■から、適宜選択される。コート層表面
の接着剤分布状態を測定する場合には、試料台とスポッ
トとを相対的な関係に於て、連続的に縦横方向へ移動さ
せることになる。
足して説明すれば、微小紫外線スポットの大きさは縦横
外々0.旧〜2■から、適宜選択される。コート層表面
の接着剤分布状態を測定する場合には、試料台とスポッ
トとを相対的な関係に於て、連続的に縦横方向へ移動さ
せることになる。
この場合、スポットの大きさは試料の面積と測定間隔を
考慮して決定されるが、例えば、50 cra2の試料
に対して縦横方向に夫々2am間隔で測定する場合、縦
横外々0.5nui+のスポットを使用することで、接
着剤の分布状態について満足すべき測定結果が得られる
。
考慮して決定されるが、例えば、50 cra2の試料
に対して縦横方向に夫々2am間隔で測定する場合、縦
横外々0.5nui+のスポットを使用することで、接
着剤の分布状態について満足すべき測定結果が得られる
。
(発明の効果)
本発明では測定対象たるコート層接着剤の紫外部に於け
る最大吸収波長並びにその短波長と長波長を併せて照射
光として用いることによって、前処理を全く必要にせず
、コート層表面の凹凸等表面状態に由来する光の散乱に
何ら景三響されることなく、迅速仕つ正確に接着剤濃度
及びその分布状態を測定することができる。又、この測
定方法は所jコート紙に限られず1合成樹脂、金属、ガ
ラス等支持体のいかんを問わず、あらゆるコート層の表
面分析に応用可能である。
る最大吸収波長並びにその短波長と長波長を併せて照射
光として用いることによって、前処理を全く必要にせず
、コート層表面の凹凸等表面状態に由来する光の散乱に
何ら景三響されることなく、迅速仕つ正確に接着剤濃度
及びその分布状態を測定することができる。又、この測
定方法は所jコート紙に限られず1合成樹脂、金属、ガ
ラス等支持体のいかんを問わず、あらゆるコート層の表
面分析に応用可能である。
第1図はコート層について光沢度と本発明によって補正
された吸光度との関係を示したグラフ、第2図はコート
層について光沢度と補正前の吸光度との関係を示したグ
ラフ、 第3図は光沢度について紫外部に於ける波長と吸光度と
の関係を示したグラフ、 第4図はSBラテックスについて紫外部に於ける波長と
吸光度との関係を示したグラフ。 第5図はコート層について接着剤濃度と補正された吸光
度との関係を示したグラフ、 第6図は本発明の測定に使用する装置の構成例を示す説
明図。 !−検出部、2−変換増幅部、3−外部出力部、4・−
重水素ランプ、5・−フィルター、6−絞り、7・・・
ハーフミラ−18・一対照光電子増倍管、9 ・・・反
射光電r−増倍管、10−・・試料台、ii。 12−・・オペレーションアンプ、13−@算回路、1
4−A−D変換回路。 第3図 波 長 (nm) 第4図 波 長 (nm) じ 軍用f!IQ樫永妬 第6図
された吸光度との関係を示したグラフ、第2図はコート
層について光沢度と補正前の吸光度との関係を示したグ
ラフ、 第3図は光沢度について紫外部に於ける波長と吸光度と
の関係を示したグラフ、 第4図はSBラテックスについて紫外部に於ける波長と
吸光度との関係を示したグラフ。 第5図はコート層について接着剤濃度と補正された吸光
度との関係を示したグラフ、 第6図は本発明の測定に使用する装置の構成例を示す説
明図。 !−検出部、2−変換増幅部、3−外部出力部、4・−
重水素ランプ、5・−フィルター、6−絞り、7・・・
ハーフミラ−18・一対照光電子増倍管、9 ・・・反
射光電r−増倍管、10−・・試料台、ii。 12−・・オペレーションアンプ、13−@算回路、1
4−A−D変換回路。 第3図 波 長 (nm) 第4図 波 長 (nm) じ 軍用f!IQ樫永妬 第6図
Claims (3)
- (1)支持体に塗設されたコート層の表面に、コート層
接着剤の紫外部に於ける最大ピークの吸収波長の紫外光
及びその短波長側の紫外光と長波長側の紫外光を照射し
、各反射光を光電変換し更に比較演算することを特徴と
するコート層表面の接着剤濃度の測定方法。 - (2)コート層接着剤がスチレンブタジエンラテックス
であり、照射する3種の紫外光のうち、最大ピークの波
長が260nmその短波長側の波長が235nmである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のコート
層表面の接着剤濃度の測定方法。 - (3)照射する紫外光のうち、長波長側の波長が285
nmであることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記
載のコート層表面の接着剤濃度の測定方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62169506A JPH087145B2 (ja) | 1986-08-04 | 1987-07-07 | コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法 |
US07/080,079 US4831264A (en) | 1986-08-04 | 1987-07-31 | Method for measuring the concentration of adhesive on a coating layer surface |
EP87306870A EP0256742B1 (en) | 1986-08-04 | 1987-08-03 | Method for measuring concentration of adhesive of coating layer surface |
DE8787306870T DE3785403T2 (de) | 1986-08-04 | 1987-08-03 | Verfahren zur konzentrationsmessung eines oberflaechenbeschichtigungsklebemittels. |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61-183067 | 1986-08-04 | ||
JP18306786 | 1986-08-04 | ||
JP62169506A JPH087145B2 (ja) | 1986-08-04 | 1987-07-07 | コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63158442A true JPS63158442A (ja) | 1988-07-01 |
JPH087145B2 JPH087145B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=26492802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62169506A Expired - Lifetime JPH087145B2 (ja) | 1986-08-04 | 1987-07-07 | コ−ト層表面の接着剤濃度の測定方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4831264A (ja) |
EP (1) | EP0256742B1 (ja) |
JP (1) | JPH087145B2 (ja) |
DE (1) | DE3785403T2 (ja) |
Cited By (4)
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---|---|---|---|---|
JPH01291145A (ja) * | 1988-05-18 | 1989-11-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 連続シートの糊付け加工における糊付け検知方法及び装置 |
JPH0232234A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Yuutesu:Kk | 紫外線反射・透過率計 |
JPH02216031A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Jujo Paper Co Ltd | 地合測定方法および地合測定装置 |
US7167247B2 (en) | 2002-04-22 | 2007-01-23 | Hitachi, Ltd. | Paper quality discriminating machine |
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US4966455A (en) * | 1988-12-05 | 1990-10-30 | Union Camp Corporation | Real time mottle measuring device and method |
JPH0420845A (ja) * | 1990-05-15 | 1992-01-24 | Jujo Paper Co Ltd | 光沢むらの測定方法 |
US5521393A (en) * | 1994-06-27 | 1996-05-28 | Brunswick Bowling & Billiards Corporation | Lane monitor for monitoring dressing on the surface of a bowling lane |
AT408278B (de) * | 2000-03-27 | 2001-10-25 | Theurl Leimholzbau Gmbh | Verfahren zur automatisierten überwachung des klebstoffauftrags auf holz und holzwerkstoffen |
US6282950B1 (en) * | 2000-08-18 | 2001-09-04 | M. E. Taylor Engineering, Inc. | Method and apparatus for testing the bond strength of materials |
CA2628090C (en) * | 2005-11-07 | 2014-10-21 | Cardinal Cg Company | Method and apparatus for identifying photocatalytic coatings |
US8816295B2 (en) * | 2012-10-05 | 2014-08-26 | Pitney Bowes Inc. | Adhesive detection system for mailpiece creation system |
CN113720854B (zh) * | 2021-08-20 | 2023-07-11 | 东风汽车集团股份有限公司 | 一种低光泽度车身油漆涂层外观检测方法 |
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US3405268A (en) * | 1965-03-12 | 1968-10-08 | Brun Sensor Systems Inc | Radiant energy absorption gage for measuring the weight of a base material and the content of a material sorbed by the base material |
US3395278A (en) * | 1965-07-14 | 1968-07-30 | Armstrong Cork Co | Method of measuring the coating thickness on articles |
JPS5425436B1 (ja) * | 1970-07-04 | 1979-08-28 | ||
NL8103492A (nl) * | 1981-07-23 | 1983-02-16 | Thomassen & Drijver | Werkwijze voor het controleren van de bekleding van een metalen oppervlak, alsmede inrichting voor het uitvoeren van die werkwijze. |
JPS61209339A (ja) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
-
1987
- 1987-07-07 JP JP62169506A patent/JPH087145B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1987-07-31 US US07/080,079 patent/US4831264A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-03 EP EP87306870A patent/EP0256742B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-03 DE DE8787306870T patent/DE3785403T2/de not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH01291145A (ja) * | 1988-05-18 | 1989-11-22 | Dainippon Printing Co Ltd | 連続シートの糊付け加工における糊付け検知方法及び装置 |
JPH0232234A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Yuutesu:Kk | 紫外線反射・透過率計 |
JPH02216031A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Jujo Paper Co Ltd | 地合測定方法および地合測定装置 |
US7167247B2 (en) | 2002-04-22 | 2007-01-23 | Hitachi, Ltd. | Paper quality discriminating machine |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4831264A (en) | 1989-05-16 |
JPH087145B2 (ja) | 1996-01-29 |
DE3785403T2 (de) | 1993-07-29 |
EP0256742B1 (en) | 1993-04-14 |
DE3785403D1 (de) | 1993-05-19 |
EP0256742A2 (en) | 1988-02-24 |
EP0256742A3 (en) | 1989-11-02 |
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