DE3785403T2 - Verfahren zur konzentrationsmessung eines oberflaechenbeschichtigungsklebemittels. - Google Patents
Verfahren zur konzentrationsmessung eines oberflaechenbeschichtigungsklebemittels.Info
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Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Messen der Konzentration eines Klebstoffs auf der Oberfläche einer Überzugsschicht auf einer Unterlage, wie z.B. beschichtetem Papier.
- Pigmentbeschichtetes Papier wird auf seiner Oberfläche beschichtet mit verschiedenen Arten von Pigmenten, um die Glätte, Helligkeit, Tintenaufnahmefähigkeit, Glanz und Undurchsichtigkeit zu verbessern. Um solch ein beschichtetes Papier zu fabrizieren, werden Klebstoffe benutzt, um Pigmentpartikel aneinander zu binden und die Partikel auf der Oberfläche des Schichtträgers zu fixieren. Der Klebstoff wird mit einer Beschichtungsschlämme bereitet zusammen mit einem Pigment aus Ton und/oder Kalziumkarbonat und wird auf der Oberfläche des Schichtträgers fixiert.
- Wenn Beschichtungen auf poröse Materialien wie z.B. Papier angewendet werden, kann der Klebstoff jedoch manchmal ein Phänomen verursachen (Bindermigration), wobei der Klebstoff übermäßig an die Oberfläche der Überzugsschicht oder in die Richtung des Untergrundpapiers während des Trocknungsschritts wandert, was an sich bekannt ist. Wenn der Klebstoff übermäßig auf die Oberfläche der Überzugsschicht wandert und die Konzentration des Klebstoffes an der Oberfläche ansteigt, beeinflußt das direkt und widrig die Druckfähigkeit, wie z.B. schlechte Tintenverteilung (Druckgesprenkel) auf dem Papier. Wenn die Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche der Überzugsschicht versprenkelt, ist ein nicht ertragbarer Einfluß davon, daß die Tinte versprenkelt beim Offsetdrucken. Dieser widrige Einfluß kommt daher, daß der Klebstoff selbst keine Affinität zur Druckertinte oder Druckerschwärze hat.
- Es ist deshalb aus den oben erwähnten Gründen sehr wichtig, die Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche der Überzugsschicht und die Oberflächenkonzentrations-Verteilung zu kennen, um die Herstellungsprozeß-Steuerung und die Druckfähigkeit des beschichteten Papiers zu evaluieren. Somit ist es erwünscht, eine Technik zum genauen Messen der Oberflächenkonzentration des Klebstoffs und der Oberflächenkonzentrations-Verteilung zu entwickeln.
- Hierzu ist eine Einrichtung zum Messen der Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche einer Überzugsschicht bekannt in Form von Infrarot-Spektralanalyse, Röntgenstrahlungs-Mikroanalyse und fotoelektrischer Fotometrie. Die US-A-3 770 354 zeigt solch ein Fotometer, aber das Betriebsverfahren ist ziemlich kompliziert. Demgegenüber ist die Infrarot-Spektralanalyse einfach, aber verursacht einen großen Fehler aufgrund der viel niedrigeren Empfindlichkeit für den Klebstoff als für das Pigment, so daß sie ungenügend zuverlässig bei ihrer Realisierung ist. Die Röntgenstrahl-Mikroanalyse hat andererseits eine hohe Empfindlichkeit und kann den Verteilungszustand des Klebstoffes auf der Oberfläche der Überzugsschicht bestimmen, aber erfordert Färben mit Osmium, Brom und die folgende Abscheidung als Vorbehandlung vor der Messung, was bedeutet, daß sie teuer ist.
- Der Erfinder der vorliegenden Erfindung hat die Korrelation zwischen der Klebstoffkonzentration auf der Oberfläche der Überzugsschicht von beschichtetem Papier und der Ultraviolettstrahlungs-Absorption untersucht und hat herausgefunden, daß Styren-Butadien-Latex (SB-Latex) eine spezielle Absorption in der Ultraviolettstrahlungs- Zone einer besonderen Wellenlänge zeigt und daß die Absorption eine große numerische Differenz zu der des Pigments hat. Er ging deshalb dazu über, die Ultraviolettstrahlungs-Absorption auf die Messung der Konzentration des Klebstoffs anzuwenden.
- Jedoch muß eine Reflexionsmessung von Licht, gestreut auf einer Probenoberfläche, angewandt werden bei der Messung der Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche der Überzugsschicht. Somit wird die Messung, wenn es anderes Licht, gestreut auf der Oberfläche der Überzugsschicht aufgrund von Glanz gibt, beeinflußt durch das gestreute Licht, und es versteht sich, daß eine korrekte Konzentration des Klebstoffs nicht gemessen werden kann.
- Dementsprechend ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Messung der Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche einer Überzugsschicht und seine Oberflächenkonzentrations-Verteilung durch Messen mit Ultraviolettstrahlung zu schaffen, um das Meßresultat mit hoher Zuverlässigkeit ohne Einfluß von Glanz oder dergleichen einfach und schnell zu erhalten.
- Erfindungsgemäß wird die obige Aufgabe gelöst nach dem in Anspruch 1 aufgestellten Verfahren.
- Der Erfinder der vorliegenden Erfindung hat die Tatsache bestätigt, daß der Einfluß von dem Licht, das gestreut wird aufgrund des Oberflächenzustands einer Überzugsschicht, wie z.B. Glanz, ausschließlich entfernt wird durch eine Messung mit drei Wellenlängen innerhalb der Absorption, wobei die Spitzenabsorption des Klebstoffs in der Überzugsschicht ein Zentrum der quantitativen Oberflächenkonzentrations-Messung ist.
- Die Merkmale der Erfindung werden klarer erscheinen aus der folgenden detaillierten Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung im Zusammenhang mit der begleitenden Zeichnung.
- Die Figuren zeigen im einzelnen:
- Fig. 1 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen Glanz der Überzugsschicht und erfindungsgemäß korrigierter Absorption zeigt;
- Fig. 2 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Glanz der Überzugsschicht und der Absorption vor der Korrektur zeigt;
- Fig. 3 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen der Wellenlänge der Ultraviolettstrahlung für den Glanz und die Absorption zeigt;
- Fig. 4 eine Darstellung, die die Ultraviolettabsorption von SB-Latex zeigt;
- Fig. 5 eine Darstellung, die die Beziehung zwischen der Klebstoffkonzentration der Überzugsschicht und der korrigierten Absorption zeigt; und
- Fig. 6 eine erklärende Ansicht, die ein Beispiel des Aufbaus einer Vorrichtung, benutzt zum Messen nach der vorliegenden Erfindung, zeigt.
- Ausführungsformen eines Verfahrens zum Messen der Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche einer Überzugsschicht entsprechend der vorliegenden Erfindung werden jetzt detailliert beschrieben werden mit Bezug auf die begleitende Zeichnung.
- Fig. 4 ist eine Darstellung, die die Beziehung zwischen der Wellenlänge und der Absorption der Ultraviolettstrahlung von SB-Latex zeigt. Aus Fig. 4 ist ersichtlich, daß die Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze der Ultraviolettstrahlung von dem SB-Latex in der Nähe von 260 nm liegt. Somit muß beim Messen der Konzentration des SB-Latex die Ultraviolettstrahlung mit der Wellenlänge nahe 260 nm als Mittelpunkt der drei Wellenlängen benutzt werden. Ein ähnlicher Fall liegt vor beim Messen der Konzentration anderer Klebstoffe, und die Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze muß in der Ultraviolettstrahlung vorliegen, um die Konzentration zu messen.
- Beim Verfahren nach der vorliegenden Erfindung werden Ultraviolettstrahlen kürzerer und längerer Wellenlängen zusätzlich zu der Ultraviolettstrahlung mit der Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze benutzt. Wie mit Bezug auf Fig. 2 beschrieben werden wird, ist der Grund dafür, daß ein korrektes quantitatives Resultat nicht nur durch die Ultraviolettstrahlung der Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze erhalten werden kann. Fig. 2 zeigt die Beziehung zwischen dem Glanz und der Absorption des ultravioletten Lichts mit einer Wellenlänge von 260 nm von beschichtetem Papier unter Benutzung von drei Arten von Tonlösung, gemischt mit 5 bis 15 Teilen Stärke zu 100 Teilen Kalziumkarbonatpigment und drei Arten von Tonlösung, gemischt mit 5 Teilen von Stärke und 5 bis 20 Teilen von SB-Latex. Die Absorption des reflektierten Lichts mit 260 nm Wellenlänge wird beeinflußt durch den Glanz der Oberfläche des beschichteten Papiers und wird ebenfalls beeinflußt durch den Einfluß der Stärke, welche herkunftsgemäß keine Absorption in dem ultravioletten Strahlungsbereich hat. Dabei muß man verstehen, daß das korrekte quantitative Resultat nicht erhalten werden kann durch die Messung mit einer Wellenlänge allein. Wie in Fig. 2 ersichtlich, ist der Grund, daß eine Erhöhung der Stärke die Absorption erhöht, nicht immer klar, aber man glaubt, daß die Absorption erhöht wird aufgrund einer Variation in dem Streuzustand des Lichts auf der Oberfläche der Überzugsschicht aufgrund einer speziellen Ursache, wenn die Stärke erhöht wird.
- Eine Ausführungsform des Aufbaus einer Vorrichtung, die zum Messen der Konzentration des Klebstoffs auf der Oberfläche einer Überzugsschicht nach der vorliegenden Erfindung benützt wird, wird in Fig. 6 beschrieben werden. Diese Vorrichtung umfaßt einen Detektor 1, einen Umwandlungsverstärker 2 und eine externe Ausgabeeinheit 3 als Hauptbestandteile. Der Detektor hat eine Deuteriumlampe 4, einen Filter 5, eine Blende 6, einen Halbspiegel 7, einen Referenzlicht- Fotoelektronenvervielfacher 8, einen Reflexionslicht- Fotoelektronenvervielfacher 9 und eine Probenbasis 10.
- Um die Konzentration von Klebstoff auf einer Überzugsschicht zu messen, wird das von der Deuteriumlampe 4 ausgestrahlte ultraviolette Licht durch den Filter 5 geschickt und in monochromatisches Licht einer besonderen Wellenlänge umgewandelt. Das monochromatische Licht wird durch die Blende 6 in einen Lichtfleck fokussiert, spektralanalysiert durch den Halbspiegel 7, teilweise fotometrisch vermessen als Referenzlicht durch den Referenzlicht-Fotoelektronenvervielfacher 8, und das übrige Licht wird reflektiert auf die zu messende Probe auf der Probenbasis 10. Ein Teil des reflektierten Lichts wird fotometrisch vermessen durch den Reflexionslicht- Fotoelektronenvervielfacher 9. Das Licht wird umgewandelt durch den Fotoelektronenvervielfacher in einen Strom, und der resultierende Strom wird dann durch die Operationsverstärker 11 und 12 des Umwandlungsverstärkers 2 in Spannungen umgewandelt. Die umgewandelten Spannungen E1 und E2 werden durch einen Subtrahierer 13 subtrahiert und durch den Analog/Digital-Wandler 14 der externen Ausgabeeinheit 3 in ein digitales Signal umgewandelt. Das digitale Signal wird an einen Datenprozessor, wie z.B. einen Computer oder einen Recorder zur Umwandlung übertragen.
- Bei der Messung der vorliegenden Erfindung kann das Meßresultat, das nicht durch den Einfluß anderer physikalischer Eigenschaften, wie z.B. Glanz, beeinflußt wird, quantitativ erhalten werden durch Berechnen, wobei die optischen Dichten der drei Arten Wellenlängen einschließlich der Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze verglichen werden. Das Entfernen des Einflusses des Glanzes wird detailliert beschrieben werden.
- Fig. 3 zeigt die gemessene Absorption der ultravioletten Strahlung (200 bis 350 nm Wellenlänge), erhalten mit 10% und 34% Glanz, durch den Unterschied des Grades des Überkalanderns mit beschichtetem Papier unter Benutzung einer Tonlösung, gemischt mit 5 Teilen Stärke und 5 Teilen SB-Latex in 100 Teilen von Kalziumkarbonat beschichteten Papiers, gezeigt in Fig. 2. Aus Fig. 3 kann man ersehen, daß die sich zeigende Absorption ansteigt über die gesamte Wellenlänge, wenn der Glanz ansteigt ohne Berücksichtigung des beschichteten Papiers derselben Mischung.
- Wenn die Kurven der beiden Absorptionsspektren von 34% und 10% Glanz mit f(x) und g(x) bezeichnet werden, kann die Beziehung zwischen beiden Kurven im wesentlichen dargestellt werden durch die Gleichung f(x) - g(x) = ax + b. Damit werden Basislinien BC und FG aus den Meßwerten von 235 nm und 285 nm der Ultraviolettstrahlung kürzerer und längerer Wellenlänge im Vergleich zur Absorptionswellenlänge von 260 nm der höchsten Spitze des SB-Latex erhalten. Die Differenzen der Punkte D und H auf den Basislinien bei der Wellenlänge von 260 nm und den gemessenen Werten A und E der Wellenlänge von 260 nm werden jeweils AD und EH. Hierbei zeigen AD und EH den gleichen Wert, solange die Beziehung zwischen den Kurven der beiden Spektren durch die Gleichung f(x) - g(x) = ax + b dargestellt wird. Somit kann entsprechend dieser Basislinien der Einfluß des Glanzes entfernt werden. Sogar wenn die Beziehung zwischen den Kurven beider Spektren ähnlich der Gleichung f(x) - g(x) = ax + b ist, ist AD fast gleich EH und der Einfluß des Glanzes kann ebenfalls im wesentlichen entfernt werden.
- Die Gleichung zum Erzeugen der Basislinie wird beschrieben werden.
- Die Absorption bei korrigierten 260 nm ist
- = S&sub2;&sub6;&sub0; - ( (S&sub2;&sub8;&sub5; - S&sub2;&sub3;&sub5;)/2 + S&sub2;&sub3;&sub5;), wobei S&sub2;&sub6;&sub0;, S&sub2;&sub3;&sub5; und S&sub2;&sub8;&sub5; die erhaltene Absorption bei Wellenlängen von 260 nm, 235 nm und 285 nm Wellenlänge darstellen.
- Bei der vorliegenden Erfindung können die Ultraviolettstrahlen der kürzeren und höheren Wellenlängen im Vergleich zur Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze beliebig gesetzt werden. In Fig. 3 ist der Grund dafür, daß 235 und 285 ausgewählt werden, die Bequemlichkeit der Berechnungen und das Ausschließen des Meßfehlers. Insbesondere wird, da 25 nm Wellenlänge zu 260 nm Wellenlänge als Mittelpunkt hinzugefügt bzw. abgezogen werden, FG/FH = 2 zur Einfachheit der Berechnung erhalten. Wenn 235 nm nicht weit von der höchsten Spitze entfernt ist und dazu noch ein deutliches Minimum benutzt wird, kann der Meßfehler effektiv unterdrückt werden.
- Wenn, wie oben beschrieben, Fig. 2 korrigiert wird durch die Vergleichsberechnung, um die Basislinien zu erzeugen, kann die Darstellung von Fig. 1 erhalten werden auf der Basis des von dem Einfluß der Stärke befreiten Wertes ohne Einfluß des Glanzes der Probe. Die Entfernung des Einflusses der Stärke wird deutlich anhand der Tatsache, daß die Werte der Proben mit Stärkeanteilen von 5, 10 und 15 Teilen auf derselben Linie in Fig. 1 dargestellt sind.
- Fig. 5 zeigt die Messung der Oberfläche einer Überzugsschicht von beschichtetem Papier, hergestellt durch eine Tonlösung von 60 Gew.-% gemischt mit 5, 10, 15 oder 20 Teilen SB-Latex zu 100 Teilen von Ton oder Kalziumkarbonatpigment. Der Tongehalt der Probe war 10 g/m² (Trockengewicht) und nur eine Seite wurde verstärkt. Die Konzentration des SB-Latex ist vollständig proportional zur Absorption nach der Korrektur. Der Grund, daß die Steigungen der linearen Linien verschieden sind, abhängig von den Arten der Pigmente, ist angenommenerweise, daß ein Einfluß in der Menge des SB- Latex, zusammen verwendet mit den Pigmenten auf der Oberfläche der Überzugsschicht, von der Differenz der Gestalten und Größen der Pigmente existiert. Die gemessenen Werte werden erhalten, wenn die Proben überlagert werden, eine Glasplatte einer Ultraviolettstrahlung absorbierende Substanz in Richtung der Probe aufgestellt wurde und eine Silicagel-Platte ohne Absorption der Wellenlänge aufgestellt wurde. In allen Fällen waren die Meßwerte alle die gleichen, was die Tatsache bewies, daß kein Einfluß auf die Messung der Konzentration des SB-Latex auf der Oberfläche der Überzugsschicht existiert, sogar wenn die Ultraviolettstrahlung bei der Messung nicht durch das beschichtete Papier in dieser Befestigungsmenge durchgeschickt wird oder nur durchgeschickt wird.
- Die Messung des Klebstoff-Verteilungszustandes auf der Oberfläche der Überzugsschicht wird jetzt beschrieben werden. Bei dieser Messung ist eine Vorrichtung erforderlich, die in der Lage ist, sich lateral und longitudinal relativ zur Probe zu bewegen, und es sind Ultraviolettstrahlen erforderlich. Zum Beispiel wurde bei dem Beispiel der Vorrichtung in Fig. 6 die Probenbasis 10 lateral und longitudinal bewegt mit vorbestimmten Intervallen unter Benutzung einer X-Y-Bühne mit einem Schrittmotor für die Probenbasis 10.
- Der Verteilungszustand des Klebstoffs wurde nach dem folgenden Verfahren durch die wie oben beschrieben konstruierte Vorrichtung gemessen. Beispiele beschichteten Papiers wurden mit Befestigungslösung von 60 % Feststoffkonzentration, vermischt mit 100 Teilen Ton, 10 Teilen SB-Latex, 10 g/m² (Trockengewicht) auf der Oberfläche des Unterlagepapiers aufgetragen und wurden dann zum natürlichen Trocknen bei Raumtemperatur und Heißlufttrocknen stehen gelassen. Die Proben wurden bestrahlt und vermessen mit 235 nm, 260 nm und 285 nm Wellenlänge der drei Arten von feinen ultravioletten Lichtstrahlen, und zwar in Längsrichtung mit einem 4 mm Intervall über 60 mm Länge und in lateraler Richtung mit einem 1 mm Intervall und über eine Länge von 63 mm, wobei die Größe der Abtastpunkte 0,4 mm x 0,4 mm war.
- Der Mittelwert der Absorption nach Korrektur der Probe durch natürliches Trocknen war 0,362, und seine Standardabweichung war 0,004. Der Mittelwert der Absorption nach Korrektur der Probe durch Heißlufttrocknen war 0,432 und seine Standardabweichung war 0,006. Die Meßresultate zeigen, daß der SB-Latex sich auf die Oberfläche der Überzugsschicht aufgrund des abrupten Heißlufttrocknens bewegt und eine irreguläre Verteilung im Vergleich mit der des natürlichen Trocknens entsteht. Das Resultat hat die empirische Tatsache erklärt, daß die Druckfähigkeit beschichteten Papiers abnimmt, wenn abruptes Heißlufttrocknen ausgeführt wird. Wie oben beschrieben, kann nach dem Verfahren der vorliegenden Erfindung die Oberflächenkonzentrations-Verteilung des Klebstoffes auf der Überzugsschicht gemessen werden.
- Ein Verfahren zum Bestrahlen von Ultraviolettstrahlung einer speziellen Wellenlänge bei der vorliegenden Erfindung wird ergänzend weiter beschrieben werden. Die Größe des Strahlflecks der Ultraviolettstrahlung wurde geeignetermaßen gewählt von 0,01 bis 2 mm in Längs- und Breitenrichtung. Wenn der Klebstoff-Verteilungszustand auf der Oberfläche der Überzugsschicht gemessen wird, werden die Probenbasis und der Strahl kontinuierlich lateral und longitudinal in relativer Beziehung zueinander bewegt. In diesem Fall wird die Größe des Flecks bestimmt unter Betrachtung der Fläche und des Meßintervalls der Proben. Wenn z.B. eine Probe von 50 cm² mit einem Intervall von 2 mm longitudinal und lateral vermessen wird, kann ein zufriedenstellendes Meßresulat des Verteilungszustands des Klebstoffs erhalten werden unter Benutzung eines Flecks von 0,5 mm lateral und longitudinal.
- Nach der vorliegenden Erfindung kann, wie oben beschrieben, die Klebstoffkonzentration und deren Verteilungszustand genau und schnell gemessen werden ohne irgendeinen Einfluß des Streulichts, verursacht auf der irregulären Oberfläche der Überzugsschicht und ohne die Notwendigkeit einer Vorbehandlung unter Benutzung von Bestrahlungslicht der maximalen Absorptionswellenlänge sowie kürzerer und längerer Wellenlängen der Ultraviolettstrahlung für den zu messenden Klebstoff der Überzugsschicht. Dieses Meßverfahren ist nicht auf das beschichtete Papier begrenzt, vielmehr kann die Oberflächenanalyse aller Überzugsschichten, unabhängig von den Unterlagen, wie z.B. synthetischem Harz, Metall oder Glas, durchgeführt werden.
Claims (8)
1. Verfahren zum Messen der Konzentration von Klebstoff
auf der Oberfläche einer Überzugsschicht auf einer
Unterlage, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren
die folgenden Schritte aufweist:
(a) Einstrahlen ultravioletter Strahlung der
Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze,
Ultraviolettstrahlung kürzerer Wellenlänge und
ultravioletter Strahlung längerer Wellenlänge in
dem Ultraviolettbereich des Klebstoffs der
Überzugsschicht auf die Oberfläche der
Überzugsschicht; und
(b) Fotoelektrisches Umwandeln der reflektierten
Strahlen und Messen der Konzentration des
Klebstoffs durch Ausführen folgender
Unterschritte: (1) Benutzen von
Absorptionsmessungen bei der kürzeren und
längeren Wellenlänge, um eine Basislinie zu
erhalten; (2) Ableiten aus der
Absorptionsmessung an der Wellenlänge der
höchsten Spitze der korrigierten Absorption bei
dieser Wellenlänge bezüglich der Basislinie; und
(3) Bestimmen der Konzentration des Klebstoffs
aus der korrigierten Absorption.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Überzugsschicht-Klebstoff Styren-Butadien-
Latex ist, wobei die Wellenlänge der höchsten Spitze
der drei Arten einzustrahlender ultravioletter
Strahlen 260 nm und die Wellenlänge auf der Seite
kürzerer Wellenlängen 235 nm ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Wellenlänge auf der Seite der längeren
Wellenlängen 285 nm ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Unterlage Papier ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Unterlage aus der Gruppe von
synthetischem Harz, Metall und Glas ausgewählt ist.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Größe des Strahlflecks der
ultravioletten Strahlung 0,01 mm bis 2 mm lateral und
longitudinal ist.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Konzentration des
Klebstoffs jeder Überzugsschicht-Oberfläche gemessen
wird durch Scannen des Strahlflecks der
ultravioletten Strahlung auf der Oberfläche der
Überzugsschicht.
8. Verfahren nach Anspruch 1, welches die Schritte
umfaßt:
(a) Einstrahlen ultravioletter Strahlung der
Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze,
ultravioletter Strahlung kürzerer Wellenlänge
und ultravioletter Strahlung längerer
Wellenlänge in dem Ultraviolettbereich des
Klebstoffs der Überzugsschicht auf die
Oberfläche der Überzugsschicht, um die
Absorption der Ultraviolettstrahlung jeder
Wellenlänge zu erhalten;
(b) Erhalten der korrigierten Absorption der
Ultraviolettstrahlung der Absorptionswellenlänge
der höchsten Spitze aus der folgenden Gleichung:
SCP = SP - ((SL - SS)/2 + SS),
wobei SCP die korrigierte Absorption,
SP die Absorption der ultravioletten Strahlung
der Absorptionswellenlänge der höchsten Spitze;
SS die Absorption der ultravioletten Strahlung
auf der Seite der kürzeren Wellenlänge und SL die
Absorption der ultravioletten Strahlung auf der
Seite der längeren Wellenlänge ist; und
(c) Vergleichen der im voraus gemessenen
korrigierten Absorption mit der Konzentration
des Klebstoffs der Überzugsschicht als
Bezugsdaten, um die Konzentration des Klebstoffs
zu bestimmen.
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