JPS63153819A - 露光装置のステ−ジ搭載機構 - Google Patents

露光装置のステ−ジ搭載機構

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JPS63153819A
JPS63153819A JP61300052A JP30005286A JPS63153819A JP S63153819 A JPS63153819 A JP S63153819A JP 61300052 A JP61300052 A JP 61300052A JP 30005286 A JP30005286 A JP 30005286A JP S63153819 A JPS63153819 A JP S63153819A
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JP
Japan
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stage
projection lens
exposure apparatus
surface plate
viscous fluid
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JP61300052A
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English (en)
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Yukio Tokuda
幸夫 徳田
Kazuya Ono
一也 小野
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/709Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体素子製造等に用いられる露光装置のス
テージ搭載機構に関する。
[従来の技術] 従来、半導体素子製造に用いられる露光装置としてステ
ッパと呼ばれる装置が知られている。このステッパは、
基板例えば半導体クエへを投影レンズ下でステップ移動
させながら、原板すなわちレチクル上に形成されている
パターン像を投影レンズで縮小して1枚のウェハ上の複
数箇所に順次露光して行くものである。ステッパは、解
像度および重ね合せ精度の性能面から、これからのアラ
イナ(露光装置)の主流と見られている。
第9図は、従来のアライナにおけるXYステージ搭載例
を示す。
同図において、7−1はレチクルの像をウェハ上に投影
する投影レンズ、7−2は鏡筒定盤、7−3はトップス
テージ、7−4はXステージ、7−5はYステージ、7
−6はステージベース、7−7はXステージ7−4を8
動するためのDCサーボモータ、7−8はYステージ7
−5を8動するためのDCサーボモータ、7−9は定盤
、7−1Oはサーボマウントを示す。
このようなアライナで処理される半導体クエへについて
は、半導体素子のコスト低減を図るため大口径のサイズ
の半導体クエへを用いる傾向にある。現在、ウェハサイ
ズはφ6′ (φ150mm )が主流であるが、19
87年頃にはφ8′〜φ10′(φ200mm〜φ25
0 mm)になるものと見込まれている。
一方、半導体素子(特にDRAM)はIM(メガ)ビッ
ト時代から4M(メガ)時代へと高集積化が進み、線巾
も微細化し、高NA投影レンズ、高精度位置合せおよび
高精度XYステージ等が切望されている。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、従来のφ3′〜φ6′用の露光装置を単にφ8
′〜φ10′ 用にサイズアップし、XYステージを第
9図の定盤7−9に直接固定する従来方法および従来X
Yステージ7−4.7−5では以下のような問題が生じ
る。
すなわち、 (1)XYステージ7−4のストロークアップにより、
ストロークアップ前のものと同じ精度を保証するために
はガイド剛性を上げる必要性がある。また、前記高精度
ステージの要求のため、単にストロークアップによる重
量増加分よりさらにステージ重量は増大する。そのため
、ステージ穆動の加速度による加振力の増大と投影レン
ズ、の重量増加によるレンズ保持等の構造体の相対的剛
性ダウンにより振動問題が生じ、■構造体強化による装
置の大型化、コストアップ、および ■XYステージ移動速度減のための生産性ダウン 等の問題が発生す9る。
(2)従来、ステッパは第9図のサーボマウント7−1
0ノ上にxYステージ?−4,7−5、投影レンズ7−
1の取付台である鏡筒定盤7−2を搭載するベース定盤
7−9を配置しているために、上記の理由でXYステー
ジ7−4の大型化(重量増)はベース定盤7−9の肉厚
増につながり、装置全高の増加およびコストアップにな
る。
本発明は、上述の従来形の問題点に鑑み、コンパクトな
構成で装置の振動防止を実現し、同時に振動規制用ガイ
ドに、エアベアリング、のみまたはエアベアリングとピ
エゾ素子との組合せを用いることにより、微動機構部を
ステージ移動部側でなく固定した定盤の側に形成し、安
価かつステージの軽量化を図ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段および作用コ上記の目的
を達成するため、本発明は、ステージを吊り構造にしベ
ースプレートとステージ定盤間に高粘性流体を注入して
、減衰係数を制御することを特徴とする。
すなわち例えば、感光性薄膜を有する基板をXYステー
ジに搭載して投影レンズ下でステップ移動させながら原
板(レチクル)上に形成されている像を投影レンズで縮
小して上記基板上の複数箇所に順次露光してゆくステッ
プアンドリピート方式の露光装置において、基板を固定
するウェハチャックを搭載するXYステージを、土間投
影レンズを搭載する投影レンズ取付台から上下方向(投
影レンズの光軸方向すなわちZ軸方向)に8動不可能で
かつ前後(Y軸方向)左右(X軸方向)方向すなわち投
影レンズの光軸に対して垂直な方向に移動可能なように
、そして上記投影レンズ像面と上記ウェハチャックとが
平行になるように吊り下げ、かつ投影レンズ取付台を固
定するマウント間を連結するベースプレートと前記XY
ステージ下面の微小隙間には高粘性流体を満たすように
するものである。
なお、この吊り下げられたXYステージの平面内移動を
非触で規制するガイドを設け、この移動ガイドをXYθ
の微動手段として用いれば便宜である。また、投影レン
ズ取付台を固定するマウント間を連結するベースプレー
トとXYステージ定盤下面の隙間を制御したり、この微
小隙間を満たす粘性流体として磁性流体のような粘性係
数可変な流体を用いたり、粘性流体の温度を制御する等
によって、減衰係数の制御ができ装置全体の振動が抑制
される。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係る半導体素子露光装置
に搭載されたウェハステージとその近傍の概略構成を示
す。
同図において、l−1はレチクル上のパターンを縮小投
影する投影レンズ、1−2は投影レンズ取付台である。
この投影レンズ取付台1−2は、投影レンズl−1を保
持し、かつワイヤ1−3 、1−3’を介してウェハス
テージを搭載するステージ用定盤1−7を吊り下げてい
る。ステージ用定盤1−7は、Y方向に移動可能なYス
テージl−6と、X方向に移動可能なXステージl−5
と、θ回転(投影レンズ1−1の光軸まわりの回転)お
よびZ方向に移動(昇降)可能なトップステージ1−4
からなるウェハステージを搭載している。1−8.1−
8’はXステージ1−5およびYステージ1−6をそれ
ぞれXおよびY方向に移動させるDCサーボモータ、1
−1’l、1−11’はエアパッドおよびピエゾ素子1
−9.1−9’とそれらの支持ガイド1−10.1−1
0’より構成される微動機構兼Z軸まわりの回転を規制
するガイド、1−12は投影レンズ1−1の像面に平行
な面内の振動を減衰させる高粘性流体、1−13は前記
振動の減衰力を変えるための中間プレート、 1−14
は中間プレート1−13をZ方向に移動させるためのピ
エゾ素子、1−15゜1−15’ は外部からの振動゛
の伝達を遮断しかつ装置全体の姿勢を維持するためのサ
ーボマウント、1−16はサーボマウントを連結するベ
ースプレートである。
第2図は、XYステージおよびX、Y方向位置とヨーイ
ングの計測システム概略図である。同図において、2−
1は光源であるレーザヘッド、Z−2は第1図のトップ
(θ−Z)ステージ1−4に取り付けられた反射ミラー
、2−3は干渉計、2−4は干渉縞を電気信号に変換す
るレシーバである。
第3図は、減衰係数の制御機構の詳細図である。同図に
おいて、3−1はXYステージを搭載するステージ定盤
(第1図1−7 ) 、3−2は上下方向可動な中間プ
レート(第1図1−13) 、3−3は中間プレートを
移動させるためのピエゾ素子(第1図1−14) 、3
−4はピエゾ素子を固定されているベースプレート(第
1図1−16) 、3−5はステージ定盤の振動を減衰
させるための高粘性流体である(第1図1−12) 。
第4図は、微動機構部の詳細図である。同図において、
4−1はエアパッド、4−2はエアパッドを図中で左右
方向に移動させるためのピエゾ素子であり、これらは第
1図の1−9に対応する。4−3はエアパッド4−1の
移動時のガイド部(第1図1−10) 、4−4はエア
パッドガイドおよびピエゾ素子および高粘性流体4−6
(第1図1−12)の流出防止の作用を有するガイドで
ある。4−5はステージ定盤(第1図1−7 ) 、4
−6は中間プレート(第1図1−13)である。
第5図は、XYステージおよび微動機構の制御系ブロッ
ク図である。同図において、5−1はXYステージのス
テップ量、8動速度および粗動と微動の切りかえ位置を
記憶し、各ドライバへ動作命令を発信し、さらに所要ス
テップ量および穆勤速度に基づき瞬間瞬間のステージの
位置速度にフィードバックをかけるマイクロコンピュー
タである。5−2はステージの位置および姿勢を計測す
るレーザ測長システム、5−3はXYステージを移動(
粗動)させるDCサーボモータ、5−4はマイクロコン
ビエータ5−1の指令によりDCす・−ボモータ5−3
を駆動させるドライバ、5−5は減衰係数をコントロー
ル(減衰係数を最適化)するための中間プレートを移動
させるピエゾ素子、5−6はマイクロコンピュータ5−
1の指令によりピエゾ素子5−5を駆動するピエゾドラ
イバ、5−7はエアパッド、5−8は各々エアパッド圧
力コントロールでXYステージの微動および姿勢がコン
トロールできない場合用いられるエアパッド移動用ピエ
ゾ素子、5−9はエアパッド5−7の圧力およびエアパ
ッド5−7を移動させるドライバ、 5−10は各ドラ
イバとマイクロコンビエータS−tを結合する通信用ケ
ーブルである。
′s6図は、減衰係数とステージの移動の応答との関係
図である。
次に、第1図〜第6図を参照し、上記構成において本実
施例の動作を説明する。
まず、露光すべき半導体ウェハ毎にショットレイアウト
およびX、Y方向の移動量を予めマイクロコンピュータ
5−1に入力する。マイクロコンピュータ5−1は、こ
れらのデータより粗動と微動の切り換え位置を計算し設
定する。次に、XYステージのサーボドライバ5−4に
対しDCサーボモータ5−3の駆動指令を行ない、また
減衰係数ドライバ5−6に対し減衰係数がζ3 (第6
図)となるように中間プレート3−2を移動させステー
ジ定盤3−1との隙間を狭める指令を出し隙間を一定に
する。次に、レーザ測長システム5−2によりリアルタ
イムで移動速度およびステージ位置計測データをマイク
ロコンピュータ5−1内のデータと比較しながら、Xあ
るいはY方向へステージを所定量移動させる0次に、粗
動完了後のステージの位置および姿勢を表わすレーザ測
長システム5−2のデータとマイクロコンピュータ5−
1内に記憶しである所定のレイアウトとの差分を計算し
、微動の移動量およびθ(ヨーイング量)を算出する。
さらに、エアパッドの圧力バランスおよびエアパッド駆
動用ピエゾ素子の歪みを算出し、微動機構ドライバに指
令する。また、それ以前にマイクロコンピュータ5−1
からXYステージの振動停止確認(レーザ測長システム
5−2の信号よりマイクロコンピュータ5−1が判断す
る)後、ステージ定盤と中間プレート間の隙間を大きく
し減衰係数を最適になるようにピエゾドライバ5−8に
指示を出す。
このようにしてXYステージの位置決めが完了する。
なお、減衰抵抗可変手法としては、 1、高粘性流体の温度制御による粘性係数制御例(第8
図) 2、磁性流体と電磁石による粘性係数制御例(第9図) 等の手法を用いてもよい。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、XYステージを
吊り構造にしベースプレートとステージ定盤間に高粘性
流体を注入しかつ減衰係数を制御するという簡単な構造
により、装置全体の振動を抑制することができ、装置全
体のコンパクト化、コストの軽減が可能となる。また、
ステージの微動機構をステージ本体より構造部材(ベー
スプレート)側に設置することにより、ステージの軽量
化およびコンパクト化にも効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係るステージ取付概略図
、 第2図は、XYステージ測定系概略図、第3図は、減衰
係数可変部詳細図、 第4図は、微動機構度詳細図、 第5図は、ステージ制御系ブロック線図、第6図は、減
衰係数と応答の関係図、 第7図は、粘性流体の温度制御による粘性係数制御例、 第8図は、1iil性流体と電磁石による粘性係数制御
例、 第9図は、従来のXYステージ搭載(取付例)である。 1−2二投影レンズ取付台、 1−3:XYステージ吊り下げ用ワイヤ、1−4  :
 トップステージ(θ2ステージ)1−5:Xステージ
、 1−6:Yステージ、 l−7:ステージ取付用ステージ定盤、1〜11:微動
機構兼振動規制ガイド、1−12 :高粘性流体。 特許出願人   キャノン株式会社 代理人 弁理士   伊 東 辰 雄 代理人 弁理士   伊 東 哲 也 2うr Ai喫1イモ事〉ミ 時間 第6図久1!c、飲と氏暮、関係 第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、原板上に形成されているパターンを投影レンズを介
    してステージ上に載置された基板上に露光する露光装置
    の、該基板を載置するステージを、上記投影レンズの光
    軸に対して垂直な方向に移動可能であってさらに上記投
    影レンズ像面と上記基板とが平行となるように、上記投
    影レンズを保持する投影レンズ取付台から吊り下げ、か
    つ該投影レンズ取付台を固定するマウント間を上記ステ
    ージ下部で連結するベースプレートと上記ステージの下
    面との微小隙間には、高粘性流体を満たす ことを特徴とする露光装置のステージ搭載機構。 2、前記吊り下げられたステージの平面内移動を非触で
    規制するガイドを有する特許請求の範囲第1項記載の露
    光装置のステージ搭載機構。 3、前記ステージの平面内移動ガイドをXYθ方向の微
    動手段として用いる特許請求の範囲第2項記載の露光装
    置のステージ搭載機構。 4、前記投影レンズ取付台を固定するマウント間を連結
    するベースプレートとステージ定盤下面との隙間の間隔
    を制御する機構を有する特許請求の範囲第1項、第2項
    または第3項記載の露光装置のステージ搭載機構。 5、前記ベースプレートとステージ定盤下面の微小隙間
    を満たす粘性流体が、粘性係数可変な流体で満たされる
    特許請求の範囲第1項、第2項または第3項記載の露光
    装置のステージ搭載機構。 6、前記ベースプレートとステージ定盤下面の微小隙間
    を満たす粘性流体の温度を制御する機構を有する特許請
    求の範囲第1項、第2項または第3項記載の露光装置の
    ステージ搭載機構。
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