JPS63149579A - 試験装置制御方法 - Google Patents

試験装置制御方法

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JPS63149579A
JPS63149579A JP62298892A JP29889287A JPS63149579A JP S63149579 A JPS63149579 A JP S63149579A JP 62298892 A JP62298892 A JP 62298892A JP 29889287 A JP29889287 A JP 29889287A JP S63149579 A JPS63149579 A JP S63149579A
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    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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    • Y10S715/961Operator interface with visual structure or function dictated by intended use
    • Y10S715/965Operator interface with visual structure or function dictated by intended use for process control and configuration
    • Y10S715/97Instrumentation and component modelling, e.g. interactive control panel

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分齋〕 本発明は、プログラマブル試験装置の制御方法、特に、
2次元で信号を取り込んだり、発生するコンピュータ制
御プログラマブル試験装置の制御方法に関する。なお、
かかるプログラマブル試験装置の代表例には、デジタイ
ザ(電圧対時間)、スペクトラム・アナライザ(振幅対
周波数)、電源(電圧対電流)、及び波形発生器(振幅
対時間)がある。
(従来の技術及び問題点〕 スタンドアロン(又は手動)試験装置は、その正面パネ
ルのボタンを押したり、つまみを回転させたりして、プ
ログラム(又は設定)を行う。これら制御は、構成、装
置の操作に直接影響し、ユーザが利用しようとする機能
(例えば、「垂直分解能の増加」又は「拡大」)の名称
ではなく、影響を受ける回路又は回路機能(例えば、オ
シロスコープの垂直増幅器の「利得」)の名称のラベル
をしばしば付けた。これら制御は、従来、他の名称でも
定義しく例えば、垂直オフセットを垂直スケールの百分
率として定義し)、1つの制御動作が他にも影響する。
種々のハードウェア技術により、試験装置をコンピュー
タに接続し、プログラムのml ?111により、コン
ピュータが、試験装置の設定を行う(即ち、試験装置を
制御する)メツセージを送ると共に、試験装置からの情
報を受ける。
高級プログラミング言語(例えば、ベーシック及びフォ
ートラン)を拡張して、試験装置の所望設定を行う手段
とする。これら言語の下層部(又は裏)での拡張には、
高級言語での制御表現を翻訳するドライバ(又はサブル
ーチン)がある。これらドライバは、表現の意味を、試
験装置を制御するのに必要なコミニュケーション・プロ
トコルに変換する。ある試験装置に対して、ドライバは
、試験装置の状態(制御設定及びエラー状態情報)と共
に、試験装置が検知したデータを報告する。
これらドライバは、ターミナル、ディスク駆動装置、及
び磁気テープ駆動装置の如き周辺装置とコミニュケーシ
ョンするのに用いるコンピュータ・オペレーティング・
システムのドライバと同じである。これらプログラミン
グ・システムにおいて、ユーザは、試験装置の従来の制
御設定(例えば、垂直オフセントの量、垂直スケール・
ファクタ等)により試験装置とコミニュケーションしな
ければならない。また、ユーザは、試験装置をどのよう
に制御しなければならないかを理解しなければならない
と共に、プログラム言語によりどのように所望制御をコ
ミニュケーションするかも理解しなければならない。
また、高級言語を更に拡張して、試験装置(例えば、デ
ジタイザ)から戻ったデータを図形的に表示する手段を
与えている。これら言語は、ウィンドイング(ウィンド
ウを作成する)・モジエール(サブルーチン)により、
データ(例えば、時間対電圧)を表す座標系から取り込
んだデータ(例えば、デジタル化した信号)を表示装置
(CRT)の座標系に変換する0表示座標に変換したデ
ータにより、図形モジュール(サブルーチン)はDRA
WI ine及びFILLAreaの如き言語コマンド
(命令)を翻訳する。このようなコマンドは、表示座標
変数を受は取り、要求された図形を表示装置が表示する
のに必要な形式でインストラクション(命令)を発生す
る。
高級言語エレメント、ウィンドイング・モジュール及び
図形モジュールは、コンピュータ・メモリに蓄積された
データの図形表現を発生するために広く用いられている
。これらを図形入力装置(例えば、表示カーソルを制御
するサムホイール、ジョイステイク、マウス等)と共に
用いて、表示したデータの座標系によるカーソルのスク
リーン位置に翻訳する。
この形式の表示システムにより、ユーザは蓄積されたデ
ータを異なるスケールで表示できるが、表示されたデー
タの分解能は蓄積されたデータの分解能に制限される。
波形の一部分のズーミングは、本来蓄積されている波形
に関する一層詳細な任意の部分を付加することはできな
い。さらに、蓄積するデータは、蓄積されたデータのレ
コード長に制限される。よって、蓄積されたデータでの
次元でのズーミングは、データをより有効に利用できな
い。これら制限を克服するには、ユーザが再プログラム
したり、試験装置をリセットする必要がある。
試験装置、例えば、デジタイザの従来の手動操作におい
て、ユーザは、取り込んだデータの図形表現に応じてデ
ジタイザを制御する。データを時間/電圧座標系で典型
的に表せるが、取り込んだデータが満足に表示されるま
で、ユーザはいくつかの制御を時には相互作用的に操作
しなければならない。手動の状態では、設定の計算を行
うのは非常に希である。その代わり、画像が良好になる
まで、ユ・−ザは設定値を多少気にしながらこれら設定
値を調整する。
高級言語により、デジタイザの如きプログラマブル試験
装置を操作するには、予測及び計算が必要である。よっ
て、プログラマブル試験装置を相互作用的に用いるのは
非常に困難である。相互作用的利用が可能なとき、選択
メニューからの選択を可能とするか、設定値のタイプ入
力をユーザに要求するかして、会話を行う。この設定値
は、プログラムにより読取り、装置ドライバによりデジ
タイザに渡す。新たな設定を受けると、デジタイザは新
たなデータを取り込み、ドライバを介してウィンドイン
グ及び図形ルーチンに戻して、表示を行う。次に、ユー
ザは、表示されたデータによって目標を設定するが、こ
れら目標に達成するために、デジタイザの設定用語に変
換しなければならない、2個以上の試験装置を使用する
場合、各々別々に設定しなければならない。これは非常
に複雑であり、うまくいくためには、かなりの専門知識
を必要とし、時間がかかり、注意深い作業が必要である
よって、試験装置用の信号取り込みの次元又はウィンド
ウ発生を設定するために試験装置を制御したり、実際に
検出したように信号を図形的に表示する改良された方法
及び装置が必要である。
したがって本発明の目的は、コンピュータ・ワークスチ
ーシラン・インタフェースを介してプログラマブル試験
装置を制御して、2次元で信号を取り込んだり、発生し
たりする改良された試験装置種制御方法の提供にある。
本発明の他の目的は、試験システムの資源を処理、試験
、研究等を行う制御方法の提供にある。
本発明の更に他の目的は、ワークステーションを基本に
した制御により、試験装置の正面パネルでの制御及び表
示を不要にし、デジタイザ又は他のプログラマブル試験
装置を安価にする制御方法の提供にある。
本発明の他の目的は、試験装置の設定による調整が必要
性なく、ユーザが設定を行ったり変更するのに要する時
間を短縮した制御方法の提供にある。
本発明の他の目的は、ユーザが時間/1!圧(又は他の
信号特性)項目の目標を試験装置設定による動作に変換
する必要性がない制御方法の提供にある。
本発明の更に他の目的は、試験装置制御器と会話をする
ためにユーザが知識を必要としない制御方法の提供にあ
る。
(問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、コ
ンピュータ・プログラマブル制御設定の所定組み合わせ
を有する試験装置の制御方法である。制御装置は、試験
装置に制御設定コマンドを転送するための外部コミニュ
ケーション手段を有するコンピュータと、このコンピュ
ータにユーザがデータを入力するためのユーザ入力手段
とを具えている。好適には、表示手段も設けて、図形形
式の2次元信号データを含むコンピュータからのデータ
を、ユーザに対して可視的に表示する。試験装置の動作
を制御するのに一般化した1組の制御設定コマンドに、
試験装置用の一般的な出力を逆変換するために、試験装
置の機能特性を定義する手段を設けるように、コンピュ
ータをプログラムする。コンピュータは、試験装置用の
ユーザ定義出力を定義するユーザ入力データに応答する
手段を更に含んでおり、機能特性に応じてユーザ定義出
力を逆変換して、上述の設定コマンドの特定のl&tl
みを発生する0次に、1組の制御設定コマンドを試験装
置に転送して、特定の制御設定に応じて試験装置を動か
す、これにより、試験装置は、ユーザ定義出力に応答す
る出力を発生する。
好適な実施例において、本発明により、ウィンドウ及び
図形能力のあるコンピュータ及び表示器を、デジタイザ
及びデジタイザ・ドライバの如きプログラマブル電子試
験装置と組み合わせると、ユーザは、試験装置の信号取
り込みウィンドウを直接制御できる。ユーザが表示器に
設定した所望の信号取り込みウィンドウの座標軸を、2
次元信号特徴(例えば、時間/電圧)設定に変換する。
これら設定を用いて、試験装置を制御し、信号取り込み
ウィンドウを決定して、その中で試験WRは、被試験装
置からの試験信号を得る。
同じ原理を、周波数−振幅項目にて信号を取り込むスペ
クトラム・アナライザの如く、2次元信号を取り込む他
のプログラマブル試験装置にも同様に適応できる0本発
明の基本原理は、電源又は信号発生器の如き被試験装置
を刺激するプログラマブル試験装置を制御するのにも同
様に適用できる。コンピュータ及びその表示器と、試験
手段システム又は他の被試験システムをアクセスする単
一チャンネルとして作用する入力手段とにより、多重刺
激及び信号取り込み試験装置を制御できる。
本発明によって、ユーザは、考察すべき2次元図形の特
徴を試験手段システムと一緒に考え、作業することがで
きると共に、これら特徴に応じて試験装置を直接操作す
ることができる。試験データの所望な表現を、所望試験
データを得るために試験装面の設定に変換したり、かか
る設定を行うためにコンピュータ・コマンドに変換する
ことは、ユーザにとって不必要である。更に、この技術
により、試験装置が制御間の相互作用を補償するための
制御を行うように、設定を行う必要がユーザにはない。
本発明の上述及び他の目的、特徴及び利点は、添付図を
参照した以下の詳細な説明により明らかになろう。
〔実施例〕
(全体的な構成及び動作) 第2図は、本発明による信号観察試験装置用制御システ
ム(30)のブロック図である。かかるシステムは、関
連したコンピュータ・メモリ(34)を有する汎用デジ
タル・コンピュータ(32)を具えている。ユーザは、
CRTモニタの如き表示器(36)や図形入力装置(3
8)によりコンピュータと会話する。
図形人力装置には、3ボタン・マウス<38A) (第
3図参照)、カーソル制御矢印を有する従来のコンピュ
ータ・キーボード(図示せず)がある。双方向コミニュ
ケーションのために、デジタル・コミニュケーション・
チャンネル(40)を介して、コンピュータ(32)を
プログラマブル試験装置(42)に接続する。
第2図のシステムの実際の例を第3図に示す。
コンピュータ(32)は、テクトロニクス社製4404
型人口知能(AI)ワークステーション(32A)であ
り、互換性のある市販のコンピュータ・メモリ(34A
)を利用できる。かかるコンピュータと一緒に利用する
のに好適な表示器(36)は、テクトロニクス社製44
04型に組み込まれたCRT表示器(36A)である。
ワークステーション(32A)は、キーボード(図示せ
ず)を従来と同様に含んでいるが、マウス(38A)が
図形入力装置として好ましい。本明細書のこの例の説明
部分は、単に例示のためであり、制御され、試験データ
をコンピュータに供給する試験装置(42)は、テクト
ロニクス社製7020型デジタイザの如きデジタイザ(
42A)である。ワークステーション(32^)及びデ
ジタイザ(42A)間のデータ・コミニュケーションは
、双方向コミニュケーション・チャンネル(42八)で
行うが、このコミニュケーション・チャンネルは、アイ
オテーク社製門AC488型バス変換器(プロトコル変
換器)(44)、ワークステーション(32^)及びバ
ス変換器(44)間のコミニュケーションを行う双方向
R3232データ・バス(46)、並びにバス変換器(
44)及びデジタイザ(42)間のコミニュケーション
を行うIEEE 488(GP!B)双方向データ・バ
ス(48)を具えている。
第4図は、第2及び第3図の機能ブロック図であり、デ
ータの流れや表示スクリーンの動作を示す、データを取
り込むには、デジタイザ(42A)が、被試験装置(図
示せず)からのアナログ電気信号を受ける。このデジタ
イザ(42A)は、アナログ信号を従来と同様にデジタ
ル化し、コミニュケーション経路(48^)であるCP
IBバスを介して生のデジタル・データをデジタイザ・
ドライバに転送する。
経路(48A)は、第3図に示す3つの要素を具えてい
る。生のデジタル・データは、矢印(48)で示す如(
、GPIBパスを介して、転送プロトコル変換器(44
)に流れる。また、矢印(46ンで示す如く、生のデー
タはR5−232バスを介して、ワークステーション(
32A)に転送される。
第4図において、デジタイザ・ドライバは、生のデータ
を時間/電圧座標に変換する。ワークステーション(3
2A)内において、詳細に後述する如く、プログラムは
、機能ブロック(52)で示すウィンドウ変換を実行す
る。このウィンドウ変換は、時間/′r4圧座標からの
データをスクリーン座標に変換する。次に、矢印(54
)で示す如く、このデータを機能ブロック(56)の図
形ドロウア(drawer)に転送する。図形ドロウア
(56)は、従来の図形及びCR7表示制御ソフトウェ
アを含んでおり、CRT表示器(36^)のウィンドウ
(58)に、波形(60)で示す如く電気信号の図形表
現を表示する。
本発明によれば、ユーザは、より詳細に取り込み且つ表
示しようとする波形部分を識別することができる。スモ
ールトーク80言語の従来のウィンドウ及び図形ソフト
ウェアには、スクリーン表示に矩形部分を図形的に定義
し、表示波形の選択部分に関係したデータをコンピュー
タ・メモリから呼び出し、ウィンドウ(58)内にかか
る選択部分を拡大して表示する能力がある。しかし、拡
大された表示波形の精度は、波形(60)を得るために
電気信号を取り込み、デジタル化した際の精度及び分解
能に制限される。本発明によれば、所望取り込みウィン
ドウが、電気信号の再取り込みをするようにデジタイザ
を制限するので、新たな電気信号を取り込み、ユーザが
指定した矩形(62)を採用して、波形を表示すること
により、上述の制限をユーザは克服できる。
そのため、本発明は、機能ブロック(64)で示すソフ
トウェアを含んでおり、所望取り込みウィンドウの位置
及び大きさを設定する。このウィンドウ位置を、矢印(
66)で示す如く、矩形(62)の隅の点に対するスク
リーン座標の形式で、プロ・ツク(68)のウィンドウ
変換機能に転送する。ウィンドウ変換機能は、スクリー
ン座標系の矩形(62)を信号の時間/電圧座標系に変
換して、取り込みウィンドウを発生する。この新たなウ
ィンドウを経路(46B)に沿って出力する。デジタイ
ザ・ドライバ(44)は、時間/電圧座標の取り込みウ
ィンドウを受けると、新たなデジタイザ設計を計算し、
矢印(46B)に示す如< GPrBバスを介してこれ
ら設定をデジタイザ(42B)に転送する。
かかる座標は、データ流れ経路(70)で示す如く、コ
ンピュータ内で、ウィンドイング変換機能(52)にも
入力する。同様に、データ流れ経路(72)で示す如く
、ウィンドウ(58)の位置及び次元をウィンドイング
変換機能(52)にスクリーン座標の形式で入力する。
後述する如く、これらデータを用いて、ブロック(52
)のウィンドウ変換を再定義する。これにより、次の1
組の取り組むべきデジタル電気信号データを供給する。
これら新たな設定によりデジタイザ(42A)を制御す
ることにより、このデジタイザは、被試験装置からの新
たな電気信号を信号取り込みウィンドウ用に取り込む、
この信号取り込みウィンドウは、特定のデジタイザが可
能な取り込み設定オプションとしての所望取り込みウィ
ンドウ(62)に厳密に対応している。
新たな取り込みウィンドウに応じて、電気信号を取り込
み、デジタル化する。デジタル化した波形をワークステ
ーション(32A)に入力して、デジタイザ・ドライバ
(44)により、時間/電圧座標に変換する。新たなデ
ータをウィンドウ変換機能(52)で処理するが、ここ
では、経路(70)及び(72)からのスクリーン座標
及び時間/電圧座標入力により変調し、スクリーンに表
示するために図形ドロウア(56)に転送する。矩形(
62)内に波形(60)の部分をより詳細に近位した新
たな信号を、次に、表示ウィンドウ(58)内に拡大し
た形で表示する。この明細書では、上述したシステムを
実現する好適なソフトウェアの構造及び動作をより詳細
に後述する。好適には、本発明を総合的な試験装置及び
試験管理システムに組み込むが、このシステムはこれ自
体でも動作できる。
(デジタイザ制御ソフトウェアの説明)第1図は、コン
ピュータ・メモリ(34A)にプログラムされたソフト
ウェアの全体的なステート図(流れ図)である。これか
らの説明も上述の全体的説明と同じ方法で行う。プログ
ラムは、スター) (9B>で開始し、ブロック(10
0)で示す「取り込みデータ」ステートにてルーチンに
入る。初期データを取り組むと、プログラムの制御は、
ブロック(102)で示す「データを波形に変換する」
ステートに進む。ブロック(100)及び(102)は
、デジタイザ・ドライバ(44)が実行する機能を含ん
でいる。変換の次に、波形データを「図形描画」ステー
) (104)に入力する。このステートにおいて、図
形ソフトウェア・モジュールにより、波形を表示スクリ
ーン(36)に表示する。波形を表示した後、プログラ
ム制御を「待ち」ステート(106)に転送する。
「待ち」ステート(106)において、コンピュータは
、ユーザがマウス(38A)の3つの制御ボタンの1つ
を押すのを待つ、ユーザがシステム・ボタンを押すと、
プログラム制御は、システム・メニュー・ステート(1
08)に切り替わる。このステートから、ユーザは、い
くつかの従来の図形ソフトウェア機能、即ち、再構成機
能(110)、移動機能(112)及びクローズ機能(
114)から選択することができる。システム・メニュ
ー・ステート(108)の動作は、従来のものであるの
で、詳細な説明は省略する。
ユーザがマウスの選択ボタンを選ぶと、この動作により
、ブロック(116)に示す如く、従来のソフトウェア
は選択メニューを表示する。本発明によれば、選択メニ
ューに表示された選択により、ユーザは、いくつかのオ
プションから選択ができ、次の1組の電気信号データを
取り込み、デジタル化する際にデジタイザ(42A)が
用いる信号太り込みウィンドウの選択を行う。
最初の選択は、ブロック(11B)で示す「ズームイン
」ステートであり、この動作を概略的に後述する。第2
の選択は、ブロック(120)で示す「ズームアウト」
であり、これにより、ユーザは、信号取り込みウィンド
ウを所望の大きさに拡大できる。ユーザが選択できる他
のステートには、コンピュータ・メモリ(34)に蓄積
された以前のウィンドウの呼び出しくブロック(122
))や、ブロック(124)及び(126)で示す「垂
直」及び「水平」ステートがあり、これらステート(1
24)及び(126)により、ユーザは、その時の信号
次元の信号取り込みウィンドウを制御できる。同様に、
ユーザは、取り込みウィンドウ用のトリガ・レベル(ブ
ロック128))を選択したり、トリガ・スロープ(ブ
ロック(130))を選択したり、用いる特定種類の試
験装置が呼び出す如き他の取り込み基本とした機能を実
行できる。
これら総ての機能は、実行において、「データ取り込み
」ステート(100)に戻る。「ズームイン」ステート
は、「待ち」ステート(132)を含んでおり、ユーザ
が矩形(62)のウィンドウの大きさを選択している間
、動作する。ユーザは、第3の、即ち、ボインティング
・マウス・ボタンを押して、所望の取り込み矩形の原点
を指示し、所望の矩形が指示されるまで第3ボタンを押
したままマウスを移動させ、このボタンを離すことによ
り、矩形座標を最終的に確立できる。この動作は、制御
を「データの取り込み」ステート(100)に戻す。
さらに、カーソル制?8(ブロック(134))、デル
タ・カーソル(ブロック(136))、セーブ/ユース
・データ制御(ブロック(138))、及び当業者が理
解できるその他の機能の如き選択メニューにおいて、従
来の制御機能も得られる。
第5図は、「データ取り込み」ステート(100)をよ
り詳細に示している。信号観察プログラムの動作は、ス
タート・ブロック(98)で開始する。プログラムが開
始すると、第1手順は、ブロック(150)に示す如く
、デジタイザの初期信号取り込みウィンドウ用のデフォ
ルト設定をロードする。
手順(152)により、これら設定をセーブするが、こ
の手順は、第5b図に示す如(AcqRecL  (取
り込み矩形) (58)である設定をブツシュ・ダウン
・スタック(156)に入力する。この動作は、スタッ
ク・ポインタ(158)を用いて、従来のように制12
11する0次に、デフォルト設定を「垂直設定jステー
トに入力する。このステートは、ブロック(160)に
概略的に示すが、第6a図に詳細に示す。垂直設定が終
了すると、プログラム制御は、ブロック(170)に概
略的に示す「水平設定」ステートに進む。このステート
は、第7a図に詳細に示す。
垂直及び水平設定が終了すると、プログラム制御は、「
データを得る」ステートに進む。「データを得る」ステ
ートにおいて、その第1手順は、「設定を送る」千11
1K (ブロック(180))である。この手順におい
て、前もって決定した垂直及び水平設定は、R5−23
2及びIEEE 488コミニユケーシヨン用の適切な
プロトコルを用いて、デジタイザ・ドライバによりデジ
タイザに転送する。プログラマプル・デジタイザが理解
でき、実現できるようにフォーマットしたコンピュータ
形式のコマンドにて、これら設定を実現する。デジタイ
ザは、設定コマンドにて特定した信号取り込みウィンド
ウ用に、コマンドを実行し、被試験装置からの新たな電
気試験信号を取り込むことにより、応答する。
取り込みウィンドウ内の電気試験信号を設定に応じてデ
ジタル化し、コンピュータに戻すデジタル・データの流
れとして転送するためにフォーマットする。次に、「デ
ータ読み出し」手順(ブロック(182))によって、
プロトコル変換器(44)が行う適切なプロトコル変換
にて、IEEE 488及びR5−232を介したデジ
タイザからのデジタル・データをコンビニーりが取り込
む。
第8図において、取り込んだデータを「データ波形に変
換する」ステート(102)に渡す。このステートにお
いて、前もって特定した取り込みウィンドウ内に取り込
んだ電気信号に対して、デジタイザからの生のデータを
波形データ構造に変換し、表示器(36A)に図形デー
タを表示する図形ソフトウェアが要求するデータ・フォ
ーマントの条件に適合させる。ある形式のデジタイザは
、正しく縮尺された電圧をあられす数の配列としてのそ
れらのデータを戻すと共に、水平倍率(要素間の時間)
、時間0の位置(即ち、配列要素の時間位置)、並びに
水平及び垂直測定単位に関する情報も戻す。
このように動作するデジタイザにとって、「波形への変
換」手順は必要ない。
ソフトウェアの信号観察動作における次のステップは、
第9図に詳細を示す「図形描画」ステート(104)で
ある。このステートにおいて、第1手順は、オプション
の「図形描画」手順(104^)である、この手順は、
必要ならば図形目盛りを描き、必要に応じて軸の次元に
再びラベルを付ける。次の手順は、「データのプロット
」(ブロック(105))である、この手順は、手順(
102)が波形座標から作成した波形データ構造におけ
る波形の各要素をスクリーン座標に変換する0次に、表
示部(36)(第1図)上のアプリケーション条件、例
えば、ウィンドウ(58)の境界内という条件に応じて
、波形用のスクリーン座標点を表示する。このソフトウ
ェアの例としては、市販のテクトロニクス社製Plot
−10(商標)がある。
新たな波形を表示した後、プログラム制御は、「待ち」
ステート(106)に進む。「選択メニュ」ステート(
116)からの信号観察ソフトウェアの動作説明は、「
垂直設定」及び「水平設定」ステートの動作説明の後に
行う。
(垂直及び水平設定) 第5a図において、ユーザが取り込み矩形(62)(第
1図)を特定したときは、コンピュータが適切な垂直及
び水平成分設定を決定し、デジタイザに送る必要がある
。第1図の矩形(62)の如き任意所望の矩形(Acq
Rect)は、垂直成分(62Y) (第6b図)及び
水平成分(62X)  (第7b図)を有するように設
定できる。
ピーク・ピーク電圧で表せ、一般にはレンジ設定と呼ぶ
一連の垂直レンジが得られるように、デジタイザの如き
試験装置を従来のように設計する。
選択したレンジは、オフセント(163)の量による原
点(ゼロ・ボルト)に関連して配置された中央を有する
。これは、垂直レンジの十又は−の百分率で従来表して
いた。最後に、最大及び最小オフセット(最小オフセン
ト(165)及び最大オフセット(167)のレンジ内
で動作するように試験装置を構成する。このレンジの外
部のオフセットにより、レンジ(162)は、試験装置
の動作能力の上限及び下限を越す。
上述のごとく、手動制御可能な試験装置のユーザは、表
示が「よくなる」まで、レンジ及びオフセット制御を操
作する。これは、レンジ設定の変更により、波形の一部
が信号観察領域の上又は下に失われたとき、所望信号表
示の適切な大きさを得るために、レンジ設定を相互作用
的に変化させ、オフセント設定を変更することにより行
う。プログラマブル試験装置においては、設定変更する
ために、この設定の変更をコンビエータ・コマンドに翻
訳する必要があるので、この種の相互作用的制御は、容
易に実行できない。
本発明では、垂直成分(62Y)及び水平成分(62X
) 。
を有する所望の取り込みウィンドウ(62)をユーザが
図形的に特定できるようにして、上述の困難をなくして
いる。手順(160) (第6a図)及び手順(170
) (第7a図)により、システムは、所望の取り込み
矩形成分から試験装置用の垂直及び水平成分設定を決定
でき、所望の取り込み矩形に最良に適合できる。
第6a図に示す手順(160)は、試験装置が所望取り
込み矩形(62)の垂直成分(62Y)に最良に適合す
るように、垂直設定を自動的に決定する。「垂直設定ス
テート(160) Jの第1ステツプは、ブロック(1
64)に示す如く、予め蓄積したレンジ・テーブル、即
ち、レンジ設定からの選択である。ブロック(166)
に示す次の手順は、試験装置の最大及び最小オフセット
制限を超過することなく、取り込み矩形の垂直成分(6
2Y)の周りのレンジ(162)の中央に最も近いオフ
セント値を、予め蓄積した最小オフセント(165)及
び最大オフセット(167)の制限内で、計算する。ブ
ロック(168)の最終手順は、選択したレンジ設定及
び計算したオフセット設定の組合わせが、所望の取り込
み矩形垂直成分(62Y)を含むか判断する。そうでな
く、まだ判断するレンジ設定がテーブル内に残っている
場合、制御はブロック(164)に戻り、他のレンジ設
定を選択して、上述の如く試験する。
要約すれば、この手順は、ピーク・ピーク電圧及びオフ
セットの最小レンジ設定の選択を呼び出して、次のよう
にする。
最小オフセット=〈オフセット=<最大オフセット acqRec を上限−くレンジ*オフセット/I0〇
−レンジ/2及び acqRect下限=〉レンジ*オフセット/10〇−
レンジ/2 レンジ及びオフセットの組み合わせが適切でなければ、
最大レンジ設定を用いなければならない。
さらに、この状態をユーザに知らせることができる。
第7a図において、同様に、「水平設定」ステー ) 
(170)は、所望取り込み矩形(62)の水平成分(
62X)用のデジタイザ設定を判断し、設定する。
第7b図に示す如く、取り込み矩形の水平成分(62X
)の周囲に、4つの異なる水平デジタイザ・ウィンドウ
を確立できる。
第1選択は、水平取り込みウィンドウ(172A)であ
り、このウィンドウは、水平成分の最も早い(左の)端
又はその直前のサンプル点と、水平成分の最も遅い(右
の)端又はその直後のサンプル点とを含むことにより、
水平成分(62X)を完全に含む。
第2選択は、ウィンドウ(172B)であり、このウィ
ンドウは、水平成分の最も早い(左の)端又はその直後
のサンプル点と、水平成分の最も遅い(右の)端又はそ
の直前のサンプル点とを含むことにより、水平成分を含
む。
第3選択は、水平取り込みウィンドウ(172c)であ
り、このウィンドウは、水平成分の最も早い(左の)端
又はその直前のサンプル点と、水平成分の最も遅い(右
の)端又はその直前のサンプル点とを含むことにより、
水平成分を含む。
第4選1尺は、ウィンドウ(1720)であり、このウ
ィンドウは、水平成分の最も早い(左の)端又はその直
前のサンプル点と、水平成分の最も遅い(右の)端又は
その直前のサンプル点とを含むことにより、水平成分を
含む。
第7a図において、取り込みウィンドウの水平成分は、
この取り込みウィンドウの水平成分(62X)の長さに
対応するサンプル数と、原点(時間−〇)からの取り込
みウィンドウの開始の遅延(同様にサンプル数で表す)
とにより表す。第7b図において、水平軸に沿ったチッ
ク・マークは、試験装置がサンプルする時間間隔を表す
。典型的な試験装置は、1Miの利用可能なサンプル間
隔と、最小及び最大遅延とを具えており、これら総てを
コンピュータに与えて、試験装置用の水平取り込みウィ
ンドウ設定の決定に用いる。
第7a図において、「水平設定」ステート(170)の
第1ステツプは、ブロック(174)に示す如く、試験
HWに利用できる予め蓄積した設定のテーブルから、サ
ンプル間隔設定を選択することである。
ブロック(176)に示す次の手順は、遅延設定(即ち
、予め蓄積した最小遅延及び最大遅延の制限内で)を計
算し、所望水平取り込みウィンドウの開始(左)端に応
じて、デジタイザの水平取り込みウィンドウノード開始
(左)端をオフセントする。この設定は、所望水平成分
の開始の直前又は直後のサンプルとすることができる。
遅延の正確な値を選択するのに用いるこの試験は、水平
成分(172A) 、 (172B) 、 (172C
)又は(+720)のユーザ選択に応する。
また、手順(176)は、発生したサンプル総数、所定
遅延及びサンプル間隔設定を計算し、その総数を、扱う
サンプルの最大数、即ち、サンプルを特定する予め蓄積
した値に制限する。遅延の正確な値を選択するのに用い
る試験は、水平成分(172^)+ (172B) 、
 (172C)又は(1720)のユーザ選択に応する
ブロック(178)で示す最後の手順は、選択したサン
プル間隔、選択した遅延設定及び計算したサンプル数の
組み合わせが、所望方法での所望取り込み矩形水平成分
(即ち、ウィンドウ(172A) 。
(172B) 、 (172C)又は(172D))を
含むかを判断する。
そうでなく、テーブル内にチェックするサンプル間隔設
定が残っていれば、制御をブロック(174)に戻り、
他のサンプル間隔設定を選択して、上述の如く試験する
要約すれば、この「水平設定1手jllは、最短のサン
プル間隔(即ち、1秒当たり最高のサンプル)の選択を
呼び出して、次のようにする。
最小遅延=く遅延=く最大遅延 サンプル=〈最大サンプル acqRectの左〉冨遅延*サンプル間隔 及びac
qRecLの右=<(遅延*サンプル間隔)+(サンプ
ル車サンプル間隔) (メニュー選択ステートの動作) 第1図において、初期信号を取り込み、対応する波形を
表示スクリーンに表示し、信号観察プログラムを「待ち
」ステー) (106)にした後、ユーザは、マウス(
38A)の選択ボタンを押すことにより選1尺メニュー
()゛ロック(106) )を求めることができる。第
10図は、テレビジョン垂直インターバル試験信号(V
[TS)の初3IJ!波形を取り込み、表示器(36A
)のウィンドウ(58)に表示した状態を示す。初期取
り込みウィンドウの次元は、初期化又は手順(150)
 (第5図)のデフォルト設定に応じて設定する。
第11a図は、ユーザがマウスの選択ボタンを押した際
に、スクリーンのマウス・カーソルの位置にメニュー(
202)が表示された状態を示す。このメニューは、ユ
ーザが利用できる5つのコマンドを表示するが、その内
の最上位のコマンドが最初は強調されている。ユーザは
、カーソルを移動させてコマンドを変更できるので、強
調部分はコマンドのリストに沿って下がる。
最初のコマンド選択は、第11b図に示す「ズームイン
」ステートを求める。「ズームイン」ステートにおける
第1ステツプは、「ユーザからの矩形1手111JT(
204)である。この手jjl(は、ユーザが関心のあ
る信号部分を含む矩形を表示スクリーン上で指示するよ
うにユーザに促す(プロンプトする)標準スモークトー
ク−80のルーチンである。
第12図に示すように、このプロンプトは、表示3m 
(36a)のウィンドウ(58)内に位置するコーナー
・シンボル(206)の形式である。手+111’[(
204)により、ユーザは、コーナー・シンボル(20
6)を表示スクリーン上の任意の位置に配置でき、マウ
ス・ポインタ・ボタンを押し、この状態を維持すること
により、所望取り込みウィンドウの左上隅を1旨示でき
る。指示した隅が、表示目盛り(58)の境界内でなく
ても、この指示した隅の位置は、現在表示されている波
形の取り込みウィンドウに対して翻訳される。
次に、第13図に示すように、ユーザは、マウスのポイ
ンタ・ボタンを押しながらマウスを移動させることによ
り、右下隅(210)を移動させて、矩形(208)を
形成できる。この矩形は、表示上で+311KIされる
か、影となる。矩形(20B)がユーザの関心のある波
形部分を含むと、ユーザは、マウス・ボタンを離す。次
に、この指示した領域をスクリーン座標系で変数5cr
eenRect(スクリーン矩形)として蓄積する。
プログラム制御は、次に第11b図の手順(205)に
進み、変数スクリーン矩形の範囲を、任意の予め蓄積し
た最小値であるminimumZoomExtent(
最小ズーム範囲)と比較する。スクリーン矩形の範囲が
この最小値未満の場合、制御は「ボタンを待つ」ステー
ト(132)に進み、ユーザは他の動作を指示できる。
非常に小さな矩形をチェックするこのメカニズムにより
、ポインタ・ボタンが不注意に押され、直ちに離された
ときの動作や、ユーザが「ズームイン」操作を中止した
いときの動作を防止する。
上述の如く、「データ取り込み」ステートの動作により
、デジタイザが被試験装置から新たな電気信号を取り込
み、第14図に示すように、表示2g(36a)の取り
込みウィンドウ(208)の新たな座標を表示する変更
ウィンドウ内にて、新たな波形(216)が表示される
。デジタイザが信号を再取り込みするので、この波形は
、第10図での波形(200)の信号の対応する特徴よ
りも一層詳細な信号特徴を表す。
第15a図に示すように、ユーザはルーチン(106)
及び(116)(第4図)を動かして、選択メニュー(
202)を再び要求できる。今度は、「ズームアウト」
ステートを選択している。ズームアウト・ステートを第
15b図に示す。このステートにおいて、水平及び垂直
成分の百分率として表す予め蓄積された拡大係数により
、前の動作に用いた取り込み矩形を拡大する。コンピュ
ータが、ズームアウト設定を決め、デジタイザに転送し
た後、このデジタイザは、被試験装置から3回目のVI
TS電気信号を得、デジタル化したかかる信号をコンピ
ュータに戻す0次に、コンピュータは、第16図に示す
如く、拡大を考慮して変更された座標系のウィンドウ(
58b) 、部ち、ズームアウト取り込みウィンドウ内
で、表示器(36a)に信号を表示する。
第17a図に示す如く、再びメニュー(202)を求め
ると、ユーザは、「前のウィンドウ」、即ち、第15a
図のウィンドウ(58a)に対応するウィンドウを指示
し、再呼び出しできる。第17b図及び第17c図は、
「前のウィンドウ」手順(128)(第4図)の詳細を
示す。この手順は、第17c図に示す如く、取り込み矩
形acqRectを、スタックに最後に蓄積したものと
等しくなるように設定する。第18図は、デジタイザが
前のウィンドウ(58a)用に被試験装置から戻した新
たな波形(236)を示す。第18図及び第15a図を
比較すると、本質的には同じ信号特徴が表示されている
が、これら波形が等しい必要はない。これらは、振幅及
び形と共に、水平軸に沿った遅延位置を変更できる。こ
れは、波形(236)が、波形(216)用に前に蓄積
したデータの単なる再生ではなく、デジタイザが新たに
取り込んだ信号の同し取り込みウィンドウ内の波形であ
るからである。本発明のこの特徴により、例えば、比較
解析のために、同じ信号特徴の複数の試験を繰り返し実
行できる。
第18図も要求された選択メニュー(202)を示して
おり、ここでは、rhoriz(水平)」が選択されて
いる。第19図に示すように、「水平」手順により、試
験システムは、信号取り込みウィンドウ(58c)内に
第4試験信号(246)を得ることができる。ウィンド
ウ(58c)の垂直成分は、ウィンドウ(58a)  
とおなしであるが、ウィンドウ(58c)の水平成分は
、第18I21に示す信号特徴に対して、負及び正方向
の両方に大幅に拡大されている。同様に、第19図と第
13図とを比較すると、信号取り込みウィンドウ(58
c)は、ウィンドウ(58)よりも水平成分がいくらか
大きく、垂直成分がいくらか拡大している。この垂直成
分は、さらに下方にオフセントしており、本質的には単
に信号の正方向特徴を示している。メニュー(202)
において、rvert (i直)」コマンドを選択する
と、「水平」と同じ拡大が垂直次元に本質的に可能であ
る。
上述から理解できるごとく、スペクトラム・アナライザ
の如き他のプログラマブル2次元信号取り込み装置も、
同様に制御できる。また、後述する如く、同じ原理をプ
ログラマブル刺激形式〇装置の制御にも通用できる。
(刺激装置の制?11) 刺激発生試験装置(電気的、機械的、合否的等の信号を
発生する)は、それらの動作を定めるのに必要な2つ以
上の設定をしばしば有する。設定次元の組み合わせを多
次元図形として表せるとき、これら表した設定を同時に
調整できる。
種々の設定を多次元空間の信号点として表すことにより
、この多次元制御を実現できる。その空間におけるその
点の表現位置を調整することにより、種々の設定に対す
る制御が行える。かかる制御の例は、次の電源制御の説
明、第20及び第21図に示す。
図形制御の他の形式は、図形的に表示された「1!整点
」によりある原型の信号を表すことを必要とする。各調
整点は、全体的影響の直接図形帰還により、刺激信号の
信号パラメータを制御する。
第22図は、かかる制御方法をプログラマブル波形発生
器に適用した例を示す。
(電源側?Il) 第20図は、刺激発生試験装置の例として、電源の制御
を表す、典型的には、最大電圧及び電流制限により、電
源を制御する。これら制限は、利用する特定の電源の動
作領域内でユーザが設定しなければならない。典型的に
は、電源の上限及び下限電流及び電圧能力を定める数の
形式で、動作領域に関する情報をユーザに与える。試験
装置の電流及び電圧制限を設定する際、ユーザはこれら
の数を記憶するか、調べなければならない。
本発明のこの例において、X次元に電流を表し、y次元
に電圧を表す2次元図形(300)において、テクトロ
ニクス社製PS5010型電源の正電源部分用に、これ
らの特徴を表示する。電源動作領域を含むように、図形
次元を設定する。(M察し易いように付加的な5%拡大
を表わしているが、そうする必要はない。)暗い灰色領
域(302)は、電源の実際の動作領域を表す。この特
定電源では、動作領域の形がL形であるが、そうである
必要はない。他の形式の電源の動作領域は、一般に三角
形である。
電圧設定及び電流設定(即ち、それらの対応する軸上の
位置)の動作点を構成する電源の組み合わせ動作点(3
04)が、この領域内になるように制限する。水平Li
t(306)は、組合わさった動作点から図形電圧軸(
電流がゼロ)の方であるy軸目盛り(308)へ延びる
。垂直線(310)は、組合わさった動作点から図形X
軸(電圧はゼロ)であるX軸目盛り(321)へ延びる
。これらの線が、各電源設定のレベル又は動作点を表す
しばしば、設定値を数学的に組み合わせて、関心のある
付加的な値を発生する。2次元表現を行うことにより、
個々の次元を表せるばかりでなく、これらの組み合わせ
の影響を示すこともできる。
この例において、試験装置が与える電力(ワット)は、
電圧及び電流設定の積であり、組み合わせ動作点におけ
る2つの線の交点で表せる。
電圧、電流及び電力のデジタル・リードアウト(314
)を図形の右上隅に与えて、正確な制御を容易にする。
このデジタル・リードアウトの位置は、任意である。例
えば、電圧リードアウトは、任意の方法で電圧線にくっ
つけて、例えば、目盛り領域の左にくっつけて表示して
もよい。電流リードアウトは、電流線、例えば、中央及
び右側にくっつけて表示してもよい。電カリードアウド
は、動作点線の交点にくっつけてもよい。
第21図の電源制御ソフトウェアによりユーザ制御ff
jを実現する。このルーチンが要求されると(スタート
・ブロック(318))、第1手順は、上述のごとく[
図形描画J  (320)である。「待ち」ステート(
322)に進むと、ユーザは、制御領域(302)内で
(マウス、ジョイステイク又は他の2次元図形人力装置
を操作して)カーソルを移動させて、電源を制御する。
カーソル位置に応じた方法で、選択器又は位置ボタンを
押して、動作点を調整する(ブロック(324))。好
適な実施例では、選択ボタンが押されたときに最も近い
位置に応じて、次のいずれかにジャンプする。
1)電圧線(306)の中心点(ブロック(326))
2) 組合わさった動作点(ブロック(328) )3
) カーソル線(310)の中心点(ブロック(330
) )種々のインターフェースにおいて、小さな目標を
、線の中点及び組み合わせ動作点に付加してもよい。ユ
ーザは、選択ボタンを押す前に、適切な目標近くにカー
ソルを移動させて、所望形式の相互作用を選択する。
カーソルを3つの点の1つに付けると、カーソルの動き
は次のように変化する。
a) 現在の設定を変更することなく、上述の1)の場
合は、電圧動作点の位置 b)上述の2)の場合は、電圧及び電流の組み合わせた
動作点の位置 C)電圧設定を変更することなく上述の3)の場合は、
電流動作点の位置 簡単な実施例において、カーソルを直接組み合わせ動作
点に常にジャンプできるので、電圧又は電流動作点の個
々の設定は受は入れない。
所望の設定が完了すると、ルーチン(332)によりこ
れら設定を電源制御コマンドに変換する。その結果の電
源設定に関係した次の3つの方法が合理的である。
1) ユーザが、表示内で線を滑らすにつれて、電圧及
び電流動作点を電源に送る。
2) ユーザが、新たな組み合わせ動作点を位置決めし
た後のみ、動作点を送る。または、3) より大型の試
験装置システムのある他の部分が後で設定するために、
動作点を保持する。
特定のアプリケーション又は試験装置システムの実現に
関する以外の他のものに対して、これらモードは好まし
くない。ブロック図編集システムに用いる如く、3番目
の代案は、初期設定に好ましく、その後2番目の代案を
用いることにより、試験の実行中、相互作用的制御が可
能になる。
選択メニュー(ブロック(334))を実現して、電源
の動作を容易にできる。第21図に示す如く、この選択
には、動作領域のユーザ指定サブセクションに「ズーム
イン」を含んで、動作点の微妙な配置、即ち、より細か
な制御を行う。「ズームアウト」機能を設けて、「ズー
ムイン」機能の影響を取り消せる。設定が調整されるの
で、「前の設定」選択は、セーブした動作点のスタック
から前の組み合わせ動作点を再び蓄積できる。「パワー
・オン」及び「パワー・オフ」選択を設けて、電源の出
力スイッチをオン及びオフする。さらに、選択メニュー
項目を追加して、特定のアプリケーション(例えば、ロ
ジック系に対して、rTTLJ(5v、最大電流)i 
rECLJ  (−5,2V、最大電流))に対して、
動作点を直接設定してもよい。
(信号発生器制御) 図形制御の他の形式は、図形的に表した「設定点」によ
り、ある原型の信号を表現する。各調整点は、全体的な
影響を直接図形的に帰還して、2次元の刺激信号の単一
の動作点を制御する。この制御形式は、マキントツシュ
・ミュージック・システムとは異なる。このミュージッ
ク・システムは、例えば、「スライダ」を用い、各スラ
イダを目盛りに沿って移動させ、各位置を発生する波形
の1つのパラメータとして採用することにより、設定値
(各々1次元)を設定している。しかし、かかるシステ
ムにおいて、波形は表示されず、スライダの動きにより
図形的に操作されない。本発明によるこの形式の図形制
御は、それ自体が[演奏」すべき波形を「描画」する従
来のカーソル追従システムとも異なっている。後者のシ
ステムは、ユーザが描いた波形のスクリーン点を振幅サ
ンプルに変換し、これらサンプルをデジタル・アナログ
変IA器に送り、ユーザが描いた波形に非常に近僚した
アナログ信号を発生する。
第22図は、(テクトロニクス社製FG5010型の如
き)信号発生器のユーザインターフェースを示す。2次
元図形(350)は、波形(352)を表示する。ポツ
プアップ・メニュー(354)を用いて、どの波形形式
(正弦波、矩形波、又は三角波)を発生するかを指定す
る。(この選択は、デジタル的である。即ち、1mの選
択肢の1つのみが可能であり、中間形式はない。)表示
例においては、「三角」波を選択しており、波形動作点
を表す点上の矩形目標と共に波形の図形表現を表示して
いる。なお、目標(356)はピーク・ピーク振幅用で
あり、目標(358)は直流オフセット用であり、目標
(360)は百分率波形対称用であり、目標(362)
は周期用である。この例においては、カーソルを特定の
目標に移動させ(又は近づけ)、マウスの選択ボタンを
押して、最も近い目標を選択し、このボタンを押したま
まマウスを移動させて、選択した目標を移動させること
により、動作点を調整する。目標が移動すると、信号発
生器の出力波形の表示が調整されて、その変化が示され
る。実際の動作点の値をリードアウト・ウィンドウ(3
64)に表示してもよい。電源の例では、試験装置の設
計により動作点が制限される。この例では、これら制限
に達すると(即ち、マウスの連続動作が作用しなくなる
とン、調整は節単に停止する。
周波数の如き動作点を広い範囲にわたって(例えば、F
G5010型の場合、0.00211zから20 Ml
lz)調整するには、2つの異なる技術を用いて表示波
形の影響を示す。小さい、即ち、遅い移動により信号表
現を変化させて、動作点を非常な正確さで設定できる。
位置決め装置の大きな、即ち、速い移動が検出されると
、信号表現ではなく、周期目盛り(366)が調整され
る。動作点目標を押すことにより、ユーザは目盛りを調
整して、同じ効果が得られる。すなわち、出力波形表現
を図形に対して適切に表示する。
〔発明の効果〕
上述の如く本発明によれば、試験装置とコンピュータと
の間でコマンドを自動的に双方向に変換して試験装置の
制御を行うので、各種制御が簡単になると共に、制御時
間を短縮できる。また、試験装置の正面パネルに各種制
御つまみやその表示が不要になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の試験装置制御方法によりデジタイザの
信号観察制御を実現するコンピュータ・プログラムの全
体的な流れ図、第2図は本発明による信号観察装置のブ
ロック図、第3図は第2図の装置によりデジタイザを制
御nする例のブロック図、第4図は第3図における試験
装置のデータの流れ及び表示スクリーン動作を説明する
機能ブロック図、第5a図は第1図の「データ取り込み
」の流れ図、第5b図は古い取り込みウィンドウを蓄積
するスタックの蓄積構造を示すブロック図、第6a図は
第5a図に示した「垂直設定」の流れ図、第6b図は第
6a図の垂直設定を決める一手順を説明する図、第7a
図は第5a図の「水平設定」の流れ図、第7b図は第7
a図の水平設定を決める手順を説明する図、第8図は第
1図の「波形に変換」の流れ図、第9図は第1図の「図
形描画」の流れ図、第10図はテレビジョン垂直インタ
ーバル試験信号(VrTS)の第1試験例を表示する初
期取り込みウィンドウを表す第4図のスクリーンの拡大
図、第11a図は信号観察コンピュータ・プログラムに
より利用可能な動作選択を表示する標準スモールトーク
−80のポツプアップ・メニューを伴った第1O図のス
クリーンを表す図、第11b図は第1図の「ズームイン
」の流れ図、第12図は標準スモールトーク−80の「
原点カーソル」を表示した第11a図のスクリーンを表
す図、第13図はユーザが指定した境界領域を強調する
影の矩形を表示した第12図のスクリーンを表す図、第
14図は第13図の矩形により指定した設定を計算し、
デジタイザに送り、2番目のVITS波形を取り込んだ
際のスクリーンの表示を表す図、第15a図はポツプア
ンプ・メニューで「ズームアウト」を選択した際の第1
4図のスクリーンを表す図、第15b図は第1図の「ズ
ームアウト」の流れ図、第16図は第15a図で選択し
たズームアウト機能で決定する新たな設定による表示を
示す図、第17a図はポンプアップ・メニューをF前の
ウィンドウ」に戻した際の第16図のスクリーンを表す
図、第17b図は前のウィンドウ・データを回復する手
順の流れ図、第17図Cは第5b図のスタックから前の
取り込みウィンドウの回復する状態を示すブロック図、
第18図はデータをデジタイザから再び取り込み第14
図の信号取り込みウィンドウに表示した図、第19図は
第18図のポツプアンプ・メニューを用いてズームアウ
ト選択「水平」を選択して処理した後のスクリーンの表
示を示す図、第20図は第1図のシステム内に用いたt
源用に刺激試験装置制御を選択した後の表示スクリーン
を示す図、第21図は第20図の電源制御の全体的な流
れ図、第22図は第2図のシステムに用いた波形発生器
の刺激試験装置制御用の表示スクリーンを示す図である

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 制御設定コマンドを試験装置に転送する外部コミニュケ
    ーション手段、及び上記コンピュータにデータを入力す
    るための入力手段を有するコンピュータを設け、 上記試験装置の機能特性を定める情報を蓄積し、上記試
    験装置の動作を制御する上記コマンドに上記試験装置の
    出力を変換し、 上記試験装置用に特定出力を定めるデータを上記コンピ
    ュータに入力し、 上記機能特性に応じて上記特定出力を変換して特定の上
    記制御設定コマンドを発生し、 上記特定の制御設定コマンドを上記試験装置に転送して
    特定出力を発生させることを特徴とする試験装置制御方
    法。
JP62298892A 1986-11-26 1987-11-26 試験装置制御方法 Expired - Lifetime JPH07122655B2 (ja)

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