JP3690961B2 - オシロスコープの動作方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に、オシロスコープ又は類似の測定機器の自動設定に関し、特に、入力信号の形式に継続的に応答して、その入力信号の特性に基づいたユーザ(又は操作者)の必要性を予測した選択肢をユーザに与えることができるオシロスコープの動作方法に関する。多数の信号ビューは、1組の多数の信号ビューに関連し、かかる設定用の選択肢の各要素は、設定の他の要素を容易にアクセスできるように機能的に結合されている。なお、本明細書において、「ビュー」は、波形などの対象物の表示を意味する。
【0002】
【従来の技術】
自動設定機能を有する従来のオシロスコープは、1つの適切なビューを他に移すことが困難なため、有用性において制限される。オシロスコープの操作者(ユーザ)インタフェースを制御するのには、新たな範例(パラダイム)が必要である。この範例は、1組の関連したビュー内における異なる信号ビューの間で、これらビューを即時に結合すると共に、これらビューの移動を行う。
【0003】
オシロスコープは、かなり以前から、正弦波又は矩形波などの簡単な信号入力に応答して、垂直利得、垂直位置、トリガ・レベル及び水平時間軸の設定を自動的に判断できた。しかし、これら自動設定は、入力信号の特性を仮定する必要があるために、この自動設定の有効性がしばしば損なわれた。
【0004】
典型的には、オシロスコープは、「工場」での「機能強化」設定により、その機能が強化された。この機能強化により、いくつかの機能が有効になった。この機能強化の代表例は、利用する周波数の設定であり、ユーザが現在行おうとする適切な設定であるか、又はそれに近くなる場合もある。たとえそうでなくても、これからの作業を適切に行える開始点とする。蓄積しておいた既知の設定が適切な開始点に近くなくても、ユーザに馴染みのある適切な開始点を利用できるので、ユーザは、現在の作業を好ましく設定するための調整を迅速且つ最少の操作で行える。オシロスコープを他のユーザと共用する場合、オシロスコープ(測定機器)が初めから工場による設定のままになっていると思っているユーザにとっては、最後のユーザによって測定機器のいくつかの設定が見慣れない設定になっていないことが望ましい。これは、機能強化した設定が、呼出によって利用可能になる蓄積された設定の中にあると仮定している。そうでなければ、同じ結果を得るのに、電源をオフしてから再びオンにする必要がある。遠隔プログラム又は遠隔制御環境で用いるためには、既知の状態にオシロスコープを機能強化することも有用である。これにより、測定機器の最終状態を確実に既知のものにするために、制御可能なパラメータの可能性のある総てに対するコマンドを送信することなく、遠隔制御プログラム又は操作者(ユーザ)は、初期状態からの変化を単に送信するのみでよい。
【0005】
本来は、自動機能は、初期設定に限定される。また、その機能が達成され、ユーザが制御権を得ると、自動機能の設定ルーチンが終了する。ところで、最近、いくつかのオシロスコープでの自動機能は、操作期間中も設定を制御し続けるようになった。しかし、かかるモードは、通常、オプションであり、ユーザにより停止できた。業界の一部では、この機能は、初期設定後に設定パラメータの制御を終える「自動設定」とは区別して、「自動レンジ」又は「連続的設定」として知られている。自動レンジ・オシロスコープは、簡単な入力における簡単な変化に応答して、水平掃引設定、垂直利得設定を変更する。また、ある場合には、変化した入力に応答して、トリガ・レベルの設定を変更する。
【0006】
ホルコム(Holcomb)のアメリカ合衆国特許第5155431号「デジタル化オシロスコープ用超高速自動スケール・トポロジー」は、ピーク検出回路を用いて、信号最大値及び信号最小値を見つけて、適切な設定を迅速に行えるオシロスコープを記載している。ウィガーズ(Wiggers)のアメリカ合衆国特許第5397981号「自動タイムベース付きデジタル蓄積オシロスコープ」は、動作期間中のタイムベース(時間軸)を調整して、入力信号の周波数が変化しても、スクリーン上のサイクル数を一定数に維持するオシロスコープを記載している。さらに、また、明らかに、同じ形式のアプリケーションにとって、このオシロスコープの表示の時間軸には、単位目盛り当たりの時間の代わりに単位目盛り当たりの等級を付けている。なお、本明細書では、デジタル蓄積オシロスコープを単にデジタル・オシロスコープと呼ぶこともある。
【0007】
従来のある種のオシロスコープは、正弦波や矩形波の如き簡単な入力信号に対して、1つ以上の自動測定を行えた。これら測定項目は、操作者が選択すべきものであるが、周波数(又は周期)、衝撃係数(デューティ・サイクル)、ピーク対ピーク振幅、立ち上がり時間、又は立ち下がり時間である。例えば、メンラブ(Menlove)のアメリカ合衆国特許第4362394号「時間インターバル測定構成」は、複雑な繰り返し波形を高精度に測定する方法及び装置を記載している。
【0008】
スコルニック(Skolnick)等のアメリカ合衆国特許第4779044号「非標準波形の電圧、電流及び周波数測定」は、規則的な2進信号の遷移を検知し、カウンタを用いて、これら遷移間のインターバルを求めることにより、この規則的な2進信号の周期を測定することを記載している。
【0009】
クメツ(Kmetz)のアメリカ合衆国特許第4271391号「波形の電気光学指示付きデジタル電圧計」に期さされたデジタル電圧計は、可能な最大垂直振幅での波形を表示すると共に、数値で電圧レベルを表示する。
【0010】
シャンク(Shank)等のアメリカ合衆国特許第4716345号「自動パルス表示器」は、2個のトリガ検出回路を用いて、パルス波形の対向する傾斜の同じレベルでトリガを行う方法を記載している。この方法は、波形のデューティ・サイクルを計算し、それをスクリーン上に示す。このオシロスコープは、入力信号の狭いパルスを自動的に拡大し表示して、完全な部分で表示の大部分を埋める。これは、パルス形式の信号のデューティ・サイクル(信号の全周期に対する信号の高状態の割合)が非常に遅いとき、便利である。
【0011】
カーダー(Carder)のアメリカ合衆国特許第5637994号「波形測定」は、不確実な、即ち、到達時が可変な波形の特性を測定する方法を記載している。複数のしきい値の1つを移動して、しきい値との個別の交点間の時間を測定する。これにより、可変インターバルで生じる繰り返し波形を点毎に再構成できる。
【0012】
フォレイ(Foley)等のアメリカ合衆国特許第4985844号「カウンタ/タイマーを用いた統計的波形概略」は、波形幅測定を繰り返し実行するオシロスコープ・システムを記載している。なお、この機能をイネーブルするために、このシステムは、自動的に適切な分解能及びオフセット設定を決定する。ホルコム(Holcomb)のアメリカ合衆国特許第5155431号に記載されたオシロスコープは、トリガ・カウンタと共に動作して、垂直スケール及びオフセット、並びに水平掃引速度を迅速に設定する専用ピーク検出ハードウェアを有する。
【0013】
ヒストグラムは、波形分析及び測定機器制御にとって有効なツールである。ホレイ(Foley)等のアメリカ合衆国特許第4985844号は、繰り返し入力信号を測定し、その結果を用いてヒストグラムを発生するヒストグラムに基づいた計数構成を記載している。特殊化したいくつかのアプローチよりも一層低速であるが、ヒストグラムは、自動測定の基本も提供できる。
【0014】
デブリエス(deVries)のアメリカ合衆国特許第5495168号「オシロスコープにおいて安定し拡大/縮小された表示を行うためにヒストグラムを用いた信号分析方法」は、振幅ヒストグラム及び時間ヒストグラムの両方を用いたオシロスコープ・システムを記載している。振幅ヒストグラム方法を用いて、先ず、信号の最小及び最大振幅レベルを求める。次に、時間ヒストグラム方法を用いて、入力信号内に生じる支配的な時間インターバルを求める。
【0015】
ジョンソン(Johnson)のアメリカ合衆国特許第5003248号「確率密度ヒストグラム表示」は、波形の従来の電圧対時間である時間領域の表示の傍に確率密度ヒストグラムをオプションとして表示するオシロスコープを記載している。クセラ(Kucera)等のアメリカ合衆国特許第5343405号「多値機能からのパルス・パラメータの自動抽出」は、多数の取り込みにわたるアイ(目)パターン・データの発生をヒストグラムがどのように追跡するかを示している。被試験信号の種々の外観(アスペクト)を決めるパルス・パラメータは、第3次元を表示に追加できる効果があるこれらヒストグラムから決定できる。
【0016】
フリスチ(Frisch)等のアメリカ合衆国特許第5793642号「アナログ信号の試験に基づくヒストグラム」は、迅速でデータ効率の良い方法を基準ヒストグラムがいかに提供して、取り込んだ波形情報を基準波形と比較し、この結果を限定された情報帯域幅で迅速に通信することを記載している。サカイ等のアメリカ合衆国特許第5122996号「実時間でえ非中断の時間インターバル対電圧変換器」は、信号周期を電圧として観察できるが、かかる周期及びその結果の電圧がサイクル毎に変化するオシロスコープに関連した機能を記載している。
【0017】
ウィガーズ(Wiggers)のアメリカ合衆国特許第5397981号「自動タイムベースを有するデジタル蓄積オシロスコープ」に記載されたオシロスコープは、操作者が水平軸及び信号サイクルの所望数に関する選択を行い、適切な表示を行って維持する。オデンヘイマー(Odenheimer)等のアメリカ合衆国特許第4743844号「自動調整オシロスコープ」に記載されたオシロスコープ・システムは、デジタイザ(アナログ入力信号をデジタル化する装置)の垂直増幅器利得及びオフセット、トリガ・レベル及びサンプリング・レートを入力信号に応答して自動的に制御できる。
【0018】
より複雑な入力信号、例えば、テレビジョン・ビデオ信号に適切に応答するように組み立てられたり、プログラムされたオシロスコープに類似した特殊な測定機器がある。クレック(Kleck)等のアメリカ合衆国特許第5027058号「オシロスコープ用マルチ標準ビデオ・オプション」に記載されたオシロスコープは、テレビジョン・ビデオ信号がどのビデオ標準に従っているかを判断し、それに応じて水平掃引を設定できる。2レベルであるか3レベルであるかの水平同期パルスの形式と、フレーム値の幅、即ちライン数とを用いて、どのビデオ標準を用いているかの判断を行っている。
【0019】
テクトロニクス社製TDS300型や他の会社のオシロスコープは、FFT(高速フーリエ変換)波形分析機能を備えており、1つの測定機器内に、スペクトラム・アナライザのいくつかの能力と、従来のオシロスコープとを組み合わせている。かかる組み込み型高調波(周波数)ベースの表示は、信号の電力対周波数のビューが観察力を助ける分野である電源設計や通信アプリケーションにおいて有用であることを証明した。
【0020】
バーチン(Berchin)のアメリカ合衆国特許第5375067号「デジタル・オシロスコープの如きデータ取り込みシステムにおける取り込みパラメータの調整方法及び装置」は、信号を周波数領域内でも分析する他のデジタル・オシロスコープを記載している。性能を最大にするためには、オシロスコープは、取り込みパラメータを特定の繰り返し波形用の値に適するように自動的に調整する。入力波形の最重要な周波数成分のエリアシングを避けるのに充分なサンプリング・レートとし、波形メモリ内に総ての又はほとんど総ての波形を取り込めるように取り込みパラメータを調整する。
【0021】
ハンセン(Hansen)等のアメリカ合衆国特許第4802098号「デジタル・バンドパス・オシロスコープ」に記載されたオシロスコープは、時間領域の波形と、周波数領域のスペクトルとを同時に表示できる。バンドパスの帯域幅を自動的に調整して、時間領域の表示におけるエリアシングを最小にする。
【0022】
ファーガソン(Ferguson)のアメリカ合衆国特許第5138252号「変調領域測定の表示用自動スケーリング」に記載された方法では、入力信号を試験し、変調領域測定機器を設定して、測定を行うと共に、信号が安定で、表示器の中心で適切なスケールで表示されるようにする。
【0023】
ジェンク(Jenq)のアメリカ合衆国特許第5081592号「データ・シーケンスを取り込み、計算し、その表示を行う試験システム」に記載された電子装置試験システムは、データ・シーケンス上の1組の数学的動作の任意の1つを実行し、その結果の波形を新たなウィンドウに表示する付加的な機能を有する。
【0024】
現在市販されているオシロスコープでは、操作者が、振幅が定まったパルス(ラント・パルスなど)、ロジック状態又は空間的パターン、時間で識別される事象(例えば、パルス幅、グリッチ、スルー・レート、セットアップ・アンド・ホールド、又はタイム・アウト)によりトリガできる。拡張したトリガ及び従来のトリガの組み合わせにより、ビデオ信号や他の捕捉困難な信号の表示を援助できる。このような進歩したトリガ機能は、試験手順を設定したりする際に、柔軟性が大幅に増し、測定作業を大幅に簡単にできる。さらに、電力測定、ジッタ分析、ディスク・ドライブ測定を自動化し且つ簡略化するソフトウェアも市販されている。
【0025】
いくつかの最新のオシロスコープ・ユーザ・インタフェースにおいては、垂直及び水平スケール摘み又はマウスを用いて、ユーザは、信号波形を一層拡大して又は圧縮して観察できる。ズーム機能には、ズーム・イン及びズーム・アウトの両方があり、ズーム・インが拡大で、ズーム・アウトが圧縮である。この機能は、1つの波形内の関心部分の周辺に、例えばマウスを用いて、ボックス(枠)を描いて制御できる。そして、一層詳細なビューとして他の垂直位置で拡大したその波形を観察できる。
【0026】
あるオシロスコープでは、波形の異なる8個のビューを垂直方向に重ねているが、ここでは、長さ(水平)は最大であるが、高さが縮んでいる。これらは、4個の異なるチャンネルまでのビューと、計算機能によって処理したこれらチャンネルの組み合わせと、拡大又は圧縮のズーム・ウィンドウとを含んでいる。これらビューの各々は、操作者が設定しなければならず、これら総ては、水平(時間)領域において互いに少なくとも部分的に相関関係になっている。いくつかのオシロスコープでは、XY表示と共に、従来の振幅対時間(YT)表示をできる能力を長い間にわたって提供してきた。XY表示は、1つの信号を(時間関数の代わりに)他の関数として示す。
【0027】
最新のデジタル・オシロスコープは、代表的には、戻す(後から使用)するのが望ましい設定を蓄積し、ラベルを付す手段をユーザに提供している。これは、しばしば使用する設定にかかるユーザの時間を節約することができると共に、比較的曖昧で頻繁には使用しない設定をどのように行うかを記憶する必要なくし、混乱を避けられことができる。これら最新のオシロスコープは、代表的には、メニュー形態で種々の設定選択肢を提供し、上述のような自動設定や自動レンジ機能のいくつかの形式がある。上述の如く、今日市販の多くのデジタル・オシロスコープは、種々の自動測定ができる。少なくとも1つの製造業者は、測定アイコンを提供している。このアイコンを波形の特徴部分にドラッグ(移動)させると、そのオシロスコープは、アイコンで指示された測定を行う。
【0028】
【発明が解決しようとする課題】
操作者は、どのように波形を観察するかということを予測しないが、異なる設定での表示をアイコンで示したり、その時に又は後でラベルを付すことができる。後でラベルを付すことは、「ツールズティップス(ToolsTips:道具の説明)」のようになり、その機能を言葉で説明する形式は、省略形や、頭文字となる。これら省略形や頭文字は、カーソルをアイコンに移動させ、そこに停止させると現れる。この機能を使用するには、特定のアイコンが示そうとしているのがどの測定かを操作者が理解しなければならない。操作者は、通常、次の波形ビューをそのビュー内でどのように観測するかの実際的な解釈を行わない。カーソルが留まっていると、「ポップアップ」の一時的なメッセージにより、永続的なメッセージを増やすように、このインタフェースを構成できる。
【0029】
よって、オシロスコープ操作者に、設定選択肢と、他のビューへの便利な経路とを継続的に示し、今までと異なり一層図形的で有用な方法が望まれている。
【0030】
したがって、本発明の目的は、入力信号の形式に継続的に応答して、その入力信号の特性に基づいたユーザの必要性を予測した選択肢をユーザに与えることができるオシロスコープの動作方法に関する。
【0031】
【課題を解決するための手段】
本発明のオシロスコープの動作方法は;信号サンプルを処理して、各々が1組のマルチ・ビューの一部である複数個のアクティブなビューを発生し;メイン波形ビューを表示し;このメイン波形ビューに測定結果の注釈を付け;次の設定選択を行うための視覚的選択のために、選択用信号ビューを提示し;操作者の入力に応じて、選択用信号ビューの設定を行うことを特徴としている。
【0032】
オシロスコープの取り込みハードウェアによるタイム・シェアリング(時分割)を用いて、信号のマルチ・ビューを発生する。測定機器のソフトウェアは、入力信号の測定設定を行い、その測定結果により、入力信号の形式を分類する。特定形式の信号は、信号の複数組のビューを暗に選択する。操作者は、利用可能な他のビューの例示を見ると共に、関連したビューをメイン波形ビューとする。初期メイン・ビューは、この形式の信号に対する最初の助言(recommendation)である。これは、比較的大きく且つ詳細に示され、スクリーン上に測定値が表示される。「ライブ」縮小型ビューとして示される代替ビュー(選択用信号ビュー)も表示さる。これら選択用信号ビューは、簡略化された形式では、メイン・ビューと並んで表示される。所望の選択用信号ビューをクリックすることにより、これら選択用信号ビューをメイン波形ビューにできる。操作者は、ビューを付加したり、変更もできる。
【0033】
各ビューにより、1組の測定が自動的に実行され、波形と共にスクリーン上に表示される。これら予め選択された測定を直ちに且つ自動的に実行するので、通常、操作者側の任意の操作を必要とせずに、操作者の要求を満足できる。オシロスコープ・ソフトウェアも、ユーザが好む1つ以上の代わりの設定を予測し、提示する。信号の異なるビューが異なる自動測定により現れる。また、測定結果を注釈としてメイン波形ビューの波形画像に付ける。次の代わりの複数の設定は、従来のメニュー・リストで利用可能であり、縮小されたサイズで、静的アイコン又は縮小型「ライブ」表示、即ち、選択用信号ビューとして表示される。これらアイコンの「ライブ」形式は、次に利用可能な表示がどのようになるかを正確にユーザに示すことができると共に、相対的に最大である大きさのビュー(メイン波形ビュー)にて示すことにより、現在表示されているメイン波形ビューの設定の一部を望ましい設定に変更してを更に表示できる。
【0034】
【発明の実施の形態】
同じ形式の波形を利用するための適切な設定に応じて、オシロスコープの設定を群にする、即ち、グループ化する。被試験信号の形式に基づいた初期ビューを操作者に与える。さらに、操作者の選択のために、この信号サンプルの代替ビュー(選択用信号ビュー)を縮小の「ライブ」波形画像をとして提示する。サンプル波形をクリックして、メイン波形として表示される波形を選択する。ビューのグループは、信号形式又は測定形式、若しくは操作者の選択により、互いにリンクされている。
【0035】
入力信号は、形式に応じて自動的に分類される。これら形式には、次のようなものがある。すなわち、不規則的なデジタル・ロジック信号、即ち、2つの主要電圧レベルを有し、周期が変動している信号。規則的なロジック信号、即ち、主要な2つのレベルを有し、(デューティ・ファクタが一定である必要はないが))サイクルから次のサイクルへの周期が一定である信号。交流電力電圧、例えば、50Hz、60Hz又は400Hzの如き周波数の交流電力電圧。整流された交流電力電圧、半波及び両波の両方、並びに直流電圧であり、これらのノイズ及びハムの分析を含む。さらに、例えば、NTSC及びPALの如き多数の標準の任意の1つに応じたテレビジョン・ビデオ信号。なお、上述は、分類する形式の総てを特定するものではない。
【0036】
操作者が次に行う選択肢を予想できるように、可能な限りオシロスコープをプログラムする。よって、ユーザが好む1つ以上の代替設定が、簡単に利用可能となる選択肢の次の設定として、自動的に利用可能になる。これら代替の次の設定は、従来のメニュー・リストでも利用可能であるし、静的アイコン又は縮小「ライブ」表示として、小さくしたサイズで表示することもできる。これらアイコンの「ライブ」形式は、次に利用可能な表示が同様になるかを正確にユーザに示すことができる一方、それをフル・サイズで表示することにより、現在のビューに重要なものを維持できる。この代わりに、DMMのような表示を選択することもできる。その表示において、信号ビューは縮小されて存在するが、表示空間の大部分は、その信号に関する情報、特に、種々の測定結果を伝えるのにためのものである。
【0037】
本発明のオシロスコープは、多数の所定信号形式の1つに入力信号を予め限定することを基にして、自動設定機能を連続的に提供している。適切な測定機器の設定、又は設定のグループは、各信号形式の分類に関係している。「設定」には、水平タイムベース設定、垂直振幅の倍率係数(増幅/減衰)設定、垂直信号オフセット設定、トリガ条件設定、表示の持続性及び明るさ設定などがある。所定の信号形式に関連した設定の1つは、ディフォルトのビューであり、その信号が利用可能な複数の選択肢から他のビューをユーザが選択するまで、このディフォルトのビューを用いる。また、ユーザは、オシロスコープのオプションや機能により指示を行う他の手段を用いる。次のビューとして利用可能な選択肢は、静的アイコンやビューの縮小ライブ表示により示される。
【0038】
本発明のデジタル・オシロスコープは、各形式から抽出された信号形式又は情報形式の知識を有する「エキスパート・システム」により実現される。オシロスコープの入力端に現れる信号は、既知の形式の1つとして分類できる。このためには、一連の自動測定を行い、その結果を、種々の信号形式の定義の各々と比較する。実行する測定の数、これら測定のいくつかを実行する際のシーケンスは、以前の測定結果に応じて可変する。代わりに、充分な時間をかけられるならば、信号を分類するたびに、測定の総てを用いることができる。
【0039】
典型的には、電圧の発生するヒストグラムを、信号分類を援助する種々の初期測定の基本にできる。高及び低電圧レベルが存在するならば、これらが信号の正及び負の極値となる。従来技術の欄で上述した従来特許の説明から判るように、ヒストグラムの発生や、その解釈を行うことは、デジタル・オシロスコープの分野で周知である。1組の自動測定には、連続した正方向のトリガ信号と、負方向のトリガ信号との間の時間測定もある。この信号を自動的に周波数領域に変換し、この信号に関する追加情報を得ることもできる。
【0040】
「規則的」又は「非規則的」のいずれかに更に分類できるロジック信号は、2つの明瞭な電圧レベル「頂部」及び「底部」から確認できる。これらが規則的なロジック信号、即ち、クロック信号ならば、それらの基本周波数にてメイン周波数空間信号を有する。規則的ロジック信号は、それらのエッジに関連して、かなりの量の奇数高調波内容を有する。「頂部」及び「底部」電圧レベルを超えた偏位を測定でき、これらは、スペクトル特性に応じて、オーバーシュート及びアンダーシュート、ノイズ、又は交流成分として識別できる。
【0041】
ロジック信号でない信号は、交流「ハム」成分、即ち、ノイズや遷移を有するか有さない交流電源の如き正弦波か、直流レベルである。非ロジック信号は、より複雑であり、例えば、交流部分及び直流部分の両方を含むテレビジョン・ビデオ信号や、異なる周波数及び電圧レベルの複雑な組み合わせ領域である。
【0042】
図1は、「規則的」なデジタル・ロジック信号を数サイクルだけ表示させた場合のデジタル・オシロスコープの表示例である。デジタル・オシロスコープでは、入力信号をデジタル化して信号サンプルを発生し、これら信号サンプルを処理して表示器に波形表示を行う。また、これら信号サンプルから必要な測定を行い、その結果を文字(テキスト)による注釈として波形と一緒に表示できる。なお、これら機能は、従来技術であるので、これ以上の詳細説明は省略する。入力信号であるデジタル・ロジック信号の高(High)及び低(Low)のロジック・レベルと、オーバーシュート(+Over)及びアンダーシュート(-Over)とを計算し、その結果を波形の傍に表示する。なお、「Ch1」は、チャンネル1を意味する。「非規則的」とは、信号の周期が変動していることを意味する。これらの周期又はデューティ・ファクタ(衝撃係数)がなんであっても、非規則的信号の3又は4サイクルが表示されている。この表示から選択できる他のビューには、立ち上がりエッジ、立ち下がりエッジ、又はパルス幅変動(オーバーレイ)がある。なお、表示スクリーンの上側に表示された「Run: 200MS/s Sample」は、200Mサンプル/秒のサンプルを行ったことを示し、「Trig'd」は、トリガ・モードであることを示し、[−T−−−−]は、メモリ全体におけるトリガ点の位置を示す。また、スクリーンの下側に表示された「Ch1」は、チャンネル1を意味し、「1V」は、垂直の1目盛りが1Vであることを示し、「M 500ns」は、水平の1メモリが1マイクロ秒であることを示し、「_/~」は、トリガの傾斜が+であることを示し、「2.76V」は、トリガ・レベルを示す。また、メイン波形ビュー内の矩形で囲まれたTは、トリガ点を示す。これらの指示は、以下の図においても同様である。
【0043】
図2は、オシロスコープで立ち上がりエッジを表示した場合の表示例である。立ち上がり時間(Rise)、オーバーシュート、高及び低ロジック・レベルは、自動的に測定でき、その結果が波形の傍に表示される。この表示を発生するには、トリガ・レベルが(高レベル及び低レベルの差の)50%に設定される。水平タイムベース及び位置を選択して、表示を3分割した真ん中に完全な遷移を示し、表示の3分割の初めと終わりとにエッジの前及び後のレベルを示す。
【0044】
非規則的なロジック信号のパルス幅における種々の表示は、最も広いパルスを示すようにタイムベースを調整するが、最良としては、制限時間内でタイムベースを確実にできるようにする。そして、10%部分でトリガし、ベクトル累積及び無限持続性を選択する。
【0045】
図3は、デューティ・ファクタが変動している、即ち、パルス幅が変調されている「非規則的」ロジック信号のオシロスコープでの表示例である。「非規則的」とは、デューティ・サイクルの変動や、パルス幅変調の存在に関係なく、信号サイクルの周期が変動することをいう。周期(Period)、周波数(Freq)、正パルス幅(+Width)、及びデューティ・サイクル(+Duty)は、自動的に計算され、波形の傍に表示される。
【0046】
図4は、「規則的」クロック・パルスでのオシロスコープの表示例を示す。約1.5サイクルが表示されている。周期、周波数、正パルス幅、及びデューティ・サイクルが、自動的に計算されて、波形の傍に表示される。
【0047】
図5は、交流電源電圧のオシロスコープでの表示例である。1周期よりもわずかに長い期間が表示されている。1サイクル当たりのRMS(実効値)電圧(cRMS)、1サイクル当たりの平均電圧(cMean)、及び交流周波数は、自動的に測定されて、波形の傍に表示される。
【0048】
図6は、交流電源の遷移信号でのオシロスコープの表示例である。この表示でも、1周期よりもわずかに長い期間が表示されている。最大電圧(Max)、最小電圧(Min)、1サイクル当たりのRMS電圧、及び1サイクル当たりの平均電圧を自動的に計算して、波形の傍に表示している。このビューは、交流電源電圧表示において利用可能な選択肢の1つである。
【0049】
図7は、半波整流した交流信号のオシロスコープでの表示例である。周波数、振幅(Ampl)、及び1サイクル当たりRMS電圧を自動的に計算して、波形の傍に表示する。
【0050】
図8は、全波整流した交流信号のオシロスコープでの表示例である。振幅、及び1サイクル当たりRMS電圧を自動的に計算して、波形の傍に表示する。高レベルのノイズが波形の低い部分に重畳しているので、測定ヒストグラムが、「かすみ(blur)」、「ヒストグラムが不安定(Unstable Histogram)」というメッセージが現れる。別の実施例では、この波形が特殊な測定問題を示し、測定振幅が表示されず、この問題の本質を操作者にメッセージ警告することをソフトウェアが判断する。(この特定画像は、信号振幅が低いときに得られるので、「低い信号振幅(Low signal amplitude)」という警告も示される。)
【0051】
図9は、直流電圧レベルのオシロスコープでの表示例である。平均電圧、及びピーク対ピーク電圧(Pk-Pk)が自動的に測定されて、波形の傍に表示される。
【0052】
図10は、直流レベルの上に顕著な交流成分が重畳した場合のオシロスコープでの表示例である。交流成分の周波数及びピーク対ピーク電圧と共に、信号全体の平均RMS電圧(cRMS)も自動的に測定されて、波形の傍に表示される。
【0053】
図11は、顕著な交流成分が存在しないときに、直流レベルにノイズが重畳した場合のオシロスコープでの表示例である。ノイズのピーク対ピーク電圧、直流レベルの平均電圧、及びRMSを自動的に計算して、波形の傍に表示する。
【0054】
図12は、NTSCフォーマット・テレビジョン・ビデオ信号のオシロスコープでの表示例である。この信号は、自動的に位置決めされ、利得設定され、適切な目盛りが与えられて、最大量の情報がスクリーンに表示されるようになる。
【0055】
図13は、パルスフォーマット・テレビジョン・ビデオ信号のオシロスコープでの表示例である。この信号は、自動的に位置決めされ、利得設定され、適切な目盛りが与えられて、最大量の情報がスクリーンに表示されるようになる。
【0056】
信号形式の判断により、1組の測定設定を用いて信号を表示するように指示する。これら設定の1つがディフォルトの設定であり、これを信号の初期ビューにおいて自動的に用いる。操作者は、複数設定の内のこの設定状態において他の設定を選択でき、他の複数設定の内の1つを、この設定状態に対するディフォルトの設定にできる。現在の信号形式に対する代替の適切な設定を、メニュー項目、又はアイコンとして操作者に示すことができる。また、縮小(miniature)した「ライブ(live:実際の)」ビューは、他の設定において、被試験信号がどのように見えるかを示す。本明細書では、縮小ライブ・ビュー、縮小ビュー、又はライブ縮小ビューとは、選択用信号ビューであり、メイン波形ビューよりも縮小した形式で示した実際のビューを意味する。
【0057】
別の「ライブ」縮小ビューを示すには、多数の設定を測定機器の制御流れにマルチプレックスする必要がある。測定機器のハードウェアは、時分割のマルチタスク動作モードにて、必要な「ライブ」表示の総てを外見上「同時に」提供する。明らかなように、各々を時間的に集約した多数の設定がまとまって、波形に「緩い(sluggish)」又は「気まぐれ(jerky)」な変化を生じさせるが、これは、通常の場合は問題がない。
【0058】
図14は、規則的なクロック信号と、いくつかの時間関連測定の結果とを示すオシロスコープでの表示例である。スクリーン上で波形が大きく表示された部分が、メイン波形ビューである。信号サンプルを処理することによる測定には、周期(Period)、周波数(Freq)、正のパルス幅(Pos Width)、負のパルス幅(Neg Width)、及びデューティ・サイクル(Duty Cycle)、即ち、デューティ・ファクタ(衝撃係数)がある。スクリーンの右側に示された4つの縮小表示(選択用信号ビュー)は、選択用信号ビューであり、夫々、時間関連測定結果を有する現在のフル表示と、同じ波形ではあるが時間関連ではなく振幅関連の測定結果を有する表示と、立ち上がりエッジ表示と、立ち下がりエッジ表示とである。これら選択用信号ビューは、上述のようにオシロスコープのプログラムに応じて、入力信号の信号形式、信号源、属性、測定結果などから処理される。以下の説明における選択用信号ビューの表示も同様である。なお、入力信号の信号形式、信号源、属性、測定の例については、後述する。この信号形式の1組の設定には、5番目の代替表示(選択用信号ビュー)が含まれておらず、この底部の代替表示はブランクになっている。最上部の縮小表示内の水平方向の矢印は、時間関連測定を有する波形表示を示し、上から2番目の縮小表示内の垂直方向の矢印は、振幅関連測定を有する波形表示を示すことに留意されたい。これらメイン波形ビュー及び選択用信号ビューが、全体としてマルチビューとなり、表示されているビューがアクティブとなっている。以下、図15〜図29においても、メイン波形ビュー及び選択用信号ビューの関係は図14と同じである。
【0059】
図15は、図14の右側の2番目のボックスに縮小して示した同じ規則的なデータ・クロック信号を示すオシロスコープでの表示例である。波形のこの形式(バージョン)は、振幅関連測定の結果を集めている。これら測定結果には、高電圧レベル(High)、低電圧レベル(Low)、電圧振幅(Ampl)、平均電圧(Mean)、ピーク対ピーク電圧(Pk-Pk)、及び1サイクル当たりRMS電圧(Crc RMS)がある。また、スクリーンに右側に示した4つの縮小表示(選択用信号ビュー)は、夫々、図14と同じ時間関連の測定結果を有する表示と、振幅関連測定結果を有する現在の表示と、立ち上がりエッジと、立ち下がりエッジとである。図14に示すように、底部の選択用表示ビューもブランクであり、この1組の設定には、5番目のビューがない。また、最上部の縮小表示内の水平方向の矢印は、振幅関連測定を伴った波形表示を示し、図15に示すメイン・ビュー(大きな表示領域に示したビュー)は、そのフル・サイズである。
【0060】
図16は、図14、図15及びこの図16における3番目の縮小ビュー(選択用信号ビュー)に示した如く、規則的データ・クロック信号の立ち上がりエッジのフル・サイズのビュー(メイン波形ビュー)のオシロスコープでの表示例ある。図16の右側の最上部及び2番目の縮小ビューは、図14及び図15でフル・サイズに示した波形に対応する。図17は、図14、図15、図16及びこの図17の4番目の縮小ビューに示した規則的データ・クロック信号の立ち下がりエッジをフル・サイズのビューを示すオシロスコープでの表示例である。図16の右側の最上部及び2番目の縮小ビューは、図14及び図15のフル・サイズのビューに示した波形に対応する。図17の右側で真ん中の縮小ビューは、図16にフル・サイズで示したのと同じ立ち上がりエッジである。
【0061】
図18は、ビデオの完全なラインよりもいくらか長いビデオ波形をメイン波形ビューとしたオシロスコープでの表示例である。ここでは、トリガ・モードにより、各ラインでトリガする。この表示モードでは、信号を表示する際に、第3領域としてグレー・スケールを用いて、動きのヒストグラムを示す。リードアウト(スクリーンに示される文字数字)(NTSC TV:Video 525 lines)は、このビデオ信号が、1フレーム当たり525ラインを有するNTSCビデオ信号のフル・サイズのビューであることを示している。この表示は、垂直軸及び水平軸のオシロスコープ設定や表示チャンネルと同様に、スクリーン上にテキストで示される。異なるTV(テレビジョン)設定により可能になる選択用信号ビューを、右側の縮小表示で示す。最上部の縮小ビュー(選択用信号ビュー)は、フル・サイズで示したビューと同じである。次の縮小ビューは、任意のフィールドでトリガした表示であり、3番目の縮小ビューは、ユーザが選択可能なライン番号に関連した表示である。4番目の縮小ビューは、カラー・バーを示す。特定のTVメモリをオプションとしてテレビジョン・ビデオ信号の表示に使用できる。かかるメモリの表示には、IREやmVビデオ目盛りがある。
【0062】
図19は、ビデオの完全なフレームよりもいくらか長いオシロスコープによる表示例である。これは、右側の2番目の縮小ビュー(選択用信号ビュー)をフル・サイズで表示したものであり、縮小ビューは図18と同様である。この一連の表示の3番目である図20は、右側に示したTV信号の3番目の縮小ビューをフル・サイズで示したオシロスコープの表示例である。この図20は、垂直帰線期間を示すビデオ波形である。このトリガ・モードでは、新たなフレームの開始にてトリガしている。右側の4番目の縮小ビューは、カラー・バーであり、そのフル・サイズでのオシロスコープの表示例を図21に示す。図21がこの一連のTV信号表示の最後である。
【0063】
図22、図23、図24及び図25は、顕著なオーバーシュートを伴ったマイクロプロセッサ・クロック信号の異なるビュー(オシロスコープでの表示)である。図14〜図17で示したのと同様に、このシーケンスでの連続した各々のフル・サイズのビューは、各図で右側に示した縮小ビュー(選択用信号ビュー)の1つに夫々対応する。図22は、スクリーンの底部にテキストで示した時間関連測定結果を伴った信号のフル・ビュー(フル・サイズのビュー)である。図23は、スクリーンの底部にテキストで示した振幅関連測定結果のフル・ビューである。平均オーバーシュートの電圧値をこのビュー内に示すこともできる。図24は、立ち上がりエッジの拡大ビューであり、図25は、同じ信号の立ち下がりエッジの拡大ビューである。この信号に関する注釈(リードアウト)は、高電圧レベル(High)、低電圧レベル(Low)、これらの差(Ampl)、立ち上がり時間(Rise Time)、立ち下がり時間(Fall Time)である。
【0064】
図26は、底部にテキストで示した時間関連及び電圧関連の測定結果を伴った交流電力信号の電圧対時間ビューのオシロスコープでの表示例である。図26の右側に示す縮小ビュー(選択用信号ビュー)の2番目をフル・サイズで示すと図27のようになる。このず27のオシロスコープ表示は、奇数高調波が付された振幅対周波数スペクトルである。図28は、交流電力メイン中立線の電圧対時間のオシロスコープにおける表示例である。この表示での注釈は、時間関連測定及び電圧関連測定の結果である。図28及び図29に示す2番目の縮小ビューは、図29にフル・サイズで示す。図28に示す信号の振幅対周波数スペクトルには、奇数高調波が付されている。
【0065】
以下の信号形式は、種々の信号形式の信号源、アトリビュート(属性)、及び自動測定を示す。しかし、これら表は、必ずしも総合的ではなく、単に分類方法を示すためのものである。
【0066】
信号形式:交流(AC)電力
信号源:アウトレット、トランス
属性:50又は60Hz。任意の振幅。非常に小さな直流オフセット。ほぼ正弦波。
測定:周波数。RMS電圧。公称値よりも大きければ直流オフセット。公称値よりも大きければ高調波歪。スプリアス・ノイズ。
【0067】
信号形式:半波整流の交流
信号源:壁のコンセントからの電力供給源。消費製品。ヘア・ドライヤーなどの低速制御器。
属性:50又は60Hz。任意の振幅。ピークの25%の直流オフセット。スペクトルとしては、ピークの50%における基本波や偶数高調波。
測定:周波数。RMS(又はピーク)電圧。公称値よりも大きければ直流オフセット。公称値よりも大きければ高調波歪。スプリアス・ノイズ。
【0068】
信号形式:全波整流交流
信号源:総ての種類の電力供給源。壁のコンセントからの電力供給源。消費製品。
属性:周波数=2×ライン周波数。任意の振幅。ピークの50%の直流オフセット。スペクトルで定義される基本波周波数と総ての高調波。
測定:周波数。RMS電圧。公称値よりも大きければ直流オフセット。公称値よりも大きければ高調波歪。スプリアス・ノイズ。
【0069】
信号形式:直流(又は「信号なし」)
信号源:任意の直流信号源又はレベル。
属性:%又は絶対値で非常に小さなピーク対ピーク。
測定:直流オフセット。平均電圧。ピーク対ピーク変動。交流又はノイズ・スパイク。
【0070】
信号形式:一般的な正弦波。
信号源:遷移が高速な2つの電圧レベル。
属性:ヒストグラムで検出可能。デューティ・ファクタによるスペクトルの変動。
測定:周波数。デューティ・ファクタ。直流オフセット。高及び低の平均。ピーク振幅。
【0071】
信号形式:一般的な三角波。
信号源:総ての遷移又はレベル。
属性:ヒストグラムからの手がかり。単調度のチェック。直線性のチェック。
測定:周波数。直流オフセット。高レベル及び低レベルの平均。ピーク振幅。非対称の程度。
【0072】
信号形式:傾斜波として知られている鋸波。
信号源:垂直側が非常に高速な三角波。
属性:既知のスペクトル。識別可能な三角波。
測定:周波数。直流オフセット。高レベル及び低レベルの平均。ピーク振幅。
【0073】
信号形式:正弦波。
信号源:50Hz又は60Hzでなく、略ゼロのオフセット。
属性:単一のピーク周波数スペクトル。
測定:周波数。振幅はピーク対ピーク又は一様なRMS。(ゼロでなければ)直流オフセット。公称値よりも大きければ高調波歪。
【0074】
信号形式:デジタル・ロジック。
信号源:不均一な正弦波。通常は、低がゼロに近く、高が典型的には3V又は5V。
属性:2レベルのヒストグラム。既知のロジック・ファミリーにおけるレベルのチェック。
測定:高及び低電圧。立ち上がり及び立ち下がり時間。リンギングであるオーバーシュート/アンダーシュート。規則的ならば周波数で、そうでなければパルス幅の変動。ビュー・エッジへのジャンプ。
【0075】
信号形式:直列データ。
信号源:エンコードされたASCIIデータ。
属性:2レベルのヒストグラム。プロトコルによる見かけの変動。
測定:電圧レベル。識別されたプロトコル。可能ならばデータ・ストリームを示す。
【0076】
信号形式:I2C。
信号源:直列プロトコル。
属性:余分なワイヤを用いるならば、2チャンネルを使用。
測定:ビット・レート。アドレス指定される装置。伝送されるデータ。
【0077】
信号形式:パルス幅変調。
信号源:制御アプリケーションでの利用。
属性:2レベルのヒストグラム。変動するパルス幅。
測定:高及び低電圧。基本周期(又は周波数)。変調の説明。
【0078】
信号形式:AM及びFM。
信号源:通信試験。
属性:スペクトルの識別。
測定:キャリア及び変調周波数。変調レベル。振幅。存在すれば直流オフセット。
【0079】
信号形式:ビデオ。
信号源:既知の標準信号源。新たに出現する表示信号源。
属性:走査に関連したスペクトル。
測定:標準。走査レート。ライン数。特殊測定?
【0080】
信号形式:オーディオ/音声。
信号源:アプリケーション?
属性:20KHz未満のスペクトル。
測定:スペクトル。実時間。
【0081】
信号形式:チョッピングした正弦波。
信号源:サイクル時間による電力調整。
属性:ライン周波数でのスペクトル。高次の高調波。
測定:ライン周波数。電圧。電圧の時間における%。信号のRMS。
【0082】
信号形式:変調された交流キャリア。
信号源:電力線を介してのデータ。
【0083】
このように設定については、蓄積されたユーザ選択肢から選択するか、作成して、設定テンプレートを選ぶ。ユーザが作成したテンプレートは、ユーザが特殊な設定を行ったときに形成され、ボタンを押すか、スクリーン上の指示されたスポットをクリックすることにより、この設定をセーブすべきことを指示する。次に、操作者は、名称を作成するように指示され、この名称により、新たな設定テンプレートを識別し、アクセスする。また、操作者は、新たな設定を作ることができるし、ディフォルトに関連していない他の組の設定部分に対しても既存の設定を作ることができる。操作者に関連した設定は、予め存在している設定又は新たな設定とすることができる。予め存在する設定は、測定機器によって与えられるか、又は、ユーザによって予め作成される。
【0084】
測定機器ソフトウェアにより与えられた設定は、使用しようとする作業環境や信号形式を説明する標準の名前を有する。ユーザが作成したこれら設定は、信号を指向した名前や、作業環境を指向した名前や、特性を元にした名前や、これらの組み合わせによる名前が付く。これにより、異なるユーザが、これらカスタム化した設定を維持できる。なお、これら設定は、他の独自なものと機能的に類似しているが、それにもかかわらず、区別可能である
【0085】
複数組の設定は、ソフトウェアに機能を確認するための属性(アトリビュート)を有することもできる。これら属性には、トリガ、時間関連特性の測定、振幅関連特性の測定、比較などの機能的特徴がある。ユーザは、この特徴情報に応じて指向された複数組の設定を調べることを依頼できるので、特定形式の設定や、ソフトウェア又はオシロスコープにより本来アライメント得られた設定を見つけることが可能になる。
【0086】
本発明の好適実施例について上述したが、本発明の要旨を変更することなく種々の変形変更が可能なことが当業者には理解できよう。これら変形変更の総ては、本発明の特許請求の範囲によりカバーされるものである。
【0087】
【発明の効果】
上述の如く本発明のオシロスコープの動作方法によれば、入力信号の形式に継続的に応答して、その入力信号の特性に基づいたユーザの必要性を予測した選択肢をユーザに与えることができるので、オシロスコープによる測定が一層容易且つ便利になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】「不規則」なデジタル・ロジック・パルスのいくつかのサイクルのオシロスコープにおける表示例を示す図である。なお、高及び低ロジック・レベル、オーバーシュート及びアンダーシュートが計算されて、その結果が波形の傍に表示されている。また、「不規則」とは、信号の周期が変動していることである。
【図2】立ち上がりエッジのオシロスコープにおける表示例を示す図である。なお、立ち上がり時間、オーバーシュート、高及び低ロジック・レベルが自動的に測定されて、波形の傍に表示されている。
【図3】デューティ・ファクタ(衝撃係数)が可変する、即ち、パルス幅変調している「規則的」なロジック信号のオシロスコープにおける表示例を示す図である。なお、「規則的」とは、デューティ・サイクル(衝撃係数)が変動することなく、即ち、パルス幅変調が行われずに、信号サイクルの周期が安定していることである。また、高及び低電圧レベルと、正及び負オーバーシュートは、自動的に計算され、その結果が波形の傍に表示されている。
【図4】「規則的」なクロック・パルスのオシロスコープにおける表示例を示す図であり、約1.5サイクルが表示されている。なお、周期、周波数、正の幅及びデューティ・ファクタが自動的に計算され、その結果が波形の傍に表示されている。
【図5】交流電源電圧のオシロスコープにおける表示例を示す図であり、1周期よりもわずかに長い期間が表示されている。なお、サイクル当たりのRMS(実効値)電圧、サイクル当たりの平均電圧、及び交流周波数が自動的に測定されて、波形の傍に表示されている。
【図6】交流電源遷移信号のオシロスコープにおける表示例を示す図であり、1周期よりもわずかに長い期間が表示されている。なお、最小及び最大電圧と共に、サイクル当たりのRMS電圧及びサイクル当たりの平均電圧が自動的に測定され、その結果が波形の傍に表示されている。
【図7】半波整流した交流信号のオシロスコープにおける表示例を示す図であり、表示された周波数は、整流後の信号周波数である。なお、周波数、振幅及びサイクル当たりのRMS電圧が自動的に測定されて、その結果が波形の傍に表示されている。
【図8】全波整流された交流信号のオシロスコープにおける表示例を示す図である。整流波形の周波数、振幅及びサイクル当たりのRMS電圧が自動的に測定されて、その結果が波形の傍に表示されている。
【図9】直流電圧レベルのオシロスコープにおける表示例を示す図である。平均電圧及びピーク対ピーク電圧が自動的に測定されて、その結果が波形の傍に表示されている。
【図10】直流レベルに顕著な交流成分が乗ったオシロスコープにおける表示例を示す図である。交流成分の周波数及びピーク対ピーク電圧と、全体的な信号の平均RMS電圧が自動的に測定され、その結果が波形の傍に表示されている。
【図11】顕著な交流成分が存在しない場合に、直流レベルにノイズが乗ったオシロスコープにおける表示例を示す図である。ノイズのピーク対ピーク電圧、直流レベルの平均電圧、RMS電圧を自動的に計算して、その結果が波形の傍に表示される。
【図12】NTSCフォーマットのテレビジョン・ビデオ信号のオシロスコープにおける表示例を示す図である。この波形は、自動的に位置決めされ、利得が設定され、適切な目盛りが与えられて、表示スクリーン内に最大量の情報を表示するようにしている。
【図13】PALフォーマットのテレビジョン・ビデオ信号のオシロスコープにおける表示例を示す図である。この波形は、自動的に位置決めされ、利得が設定され、適切な目盛りが与えられて、表示スクリーン内に最大量の情報を表示するようにしている。
【図14】規則的デジタル・クロック信号波形のフル・サイズの表示と、その右側に現在のビュー及び次の設定選択肢に関連したビューの予測されるアイコン(選択用信号ビュー)とのオシロスコープにおける表示例を示す図である。このビューは、多数の時間関連測定の結果を波形と共に表示し、別の設定により生じたビューを右側に縮小して示している。
【図15】図14に示した同じ規則的なデジタル・クロック信号のフル・サイズのオシロスコープにおける表示例である。このビューにおいて、多くの振幅関連測定の結果が付随している。また、直ぐに利用可能な代わりの設定により生じたビューが縮小されて右側に表示されている。
【図16】図14及び図15に示された規則的デジタル・クロック信号の立ち上がりエッジをフル・サイズで示したオシロスコープにおけるビューの図であり、このビューは、右側に示された5つの縮小ビュー位置の中央における縮小ビューとして示されている。
【図17】図14及び図15に示された規則的デジタル・クロック信号の立ち下がりエッジをフル・サイズで示したオシロスコープにおけるビューの図であり、このビューは、右側に示された5つの縮小ビュー位置の4番目の縮小ビューとして示されている。
【図18】テレビジョン・ビデオ信号のフル・サイズのビューと、脇に表示された選択用信号ビューと、メイン波形ビューに関連してテキストで示されたビデオ標準及びオシロスコープの設定とを表示しているオシロスコープにおける表示の図である。
【図19】この図及び図18における2番目の選択用信号ビューにて縮小されたビデオ信号の一部のフル・サイズのオシロスコープにおけるビューを示す図である。
【図20】この図並びに図18及び図19における3番目の選択用信号ビューにて縮小されたビデオ信号ビューの一部のオシロスコープにおけるフルサイズ・ビューを示す図である。
【図21】この図並びに図18、図19及び図20における4番目の選択用信号ビューにて縮小されたビデオ信号ビューの一部であるカラー・バーストのフルサイズ・ビューを示すオシロスコープにおける表示を示す図である。
【図22】顕著なオーバーシュートを伴ったマイクロプロセッサ・クロック信号のフルサイズ・ビューと、4個の縮小ビューとを示すオシロスコープにおける表示を示す図である。この信号の形式は、時間関係の測定結果により注釈されている。
【図23】図22に示したのと同じ波形のフル・サイズのオシロスコープにおけるビューを示す図であるが、この信号は、振幅関係の測定結果により注釈されている。
【図24】図22、図23、図24及び図25の3番目の選択用信号ビュー内に示した拡大立ち上がりエッジのフル・サイズのビューを示すオシロスコープにおける表示図である。
【図25】図22、図23、図24及び図25の3番目の選択用信号ビュー内に示した拡大立ち下がりエッジのフル・サイズのビューを示すオシロスコープにおける表示図である。
【図26】交流電力信号の電圧対時間と、テキストで底部に示した時間関係の測定結果及び電圧関係の測定結果とを示すオシロスコープにおける表示図である。
【図27】奇数高調波にラベルを付した振幅対周波数スペクトルをフル・サイズで示すオシロスコープにおける表示図である。
【図28】交流電力メイン中立線の電圧対時間のフル・サイズのビューを示すオシロスコープにおける表示図である。時間関係の測定結果及び電圧関係の測定結果が注釈されている。
【図29】図28の2番目に示した縮小ビューにおける信号の周波数対時間のスペクトルであるフル・サイズのビューを示すオシロスコープにおける表示図である。
Claims (2)
- 信号サンプルを処理して、各々が1組のマルチ・ビューの一部である複数個のアクティブなビューを発生し、
メイン波形ビューを表示し、
上記メイン波形ビューに測定結果の注釈を付け、
次の設定選択を行うための視覚的選択のために、選択用信号ビューを提示し、
操作者の入力に応じて、上記選択用信号ビューの設定を行う
ことを特徴とするオシロスコープの動作方法。 - 上記ビューを2つの大きさとし、
上記2つの大きさの内の大きい方のビューを上記メイン波形ビューとして表示し、
上記2つの大きさの内の小さい方のビューを上記選択用信号ビューとして表示する
ことを特徴とする請求項1のオシロスコープの動作方法。
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US7072785B2 (en) * | 2003-03-07 | 2006-07-04 | Tektronix, Inc. | Rate measurement for anomalous trigger events |
US20040189636A1 (en) * | 2003-03-27 | 2004-09-30 | Azinger Frederick A. | Automated storage of unique waveforms presented as an oscilloscope image |
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US20050165568A1 (en) * | 2004-01-28 | 2005-07-28 | Sullivan Steven K. | Alias detection when displaying FFTS |
US7663624B2 (en) * | 2004-06-30 | 2010-02-16 | Lecroy Corporation | Report generating method and apparatus |
US20060047449A1 (en) * | 2004-08-27 | 2006-03-02 | Broadcom Corporation | Graphical test development tool for use with automated test equipment |
US7280934B1 (en) * | 2006-04-24 | 2007-10-09 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Method for test of electronic component |
DE102006023914A1 (de) * | 2006-05-22 | 2007-11-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messgerät zur Vorschau-Darstellung von mehreren zeitlich veränderlichen elektrischen Signalen |
WO2009026435A1 (en) * | 2007-08-23 | 2009-02-26 | Amherst Systems Associates, Inc. | Waveform anomoly detection and notification systems and methods |
TWI346784B (en) * | 2007-10-23 | 2011-08-11 | Pegatron Corp | Automiatic jitter measurement method |
DE102008008138A1 (de) * | 2008-02-08 | 2009-08-13 | Rhode & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Konfigurierbares Messgerät und entsprechendes Messverfahren |
US8330758B2 (en) * | 2008-05-08 | 2012-12-11 | Teledyne Lecroy, Inc. | Statistically-based display processing |
CN102004177B (zh) * | 2009-08-28 | 2014-12-10 | 苏文俊 | 示波器及利用该示波器识别串行总线信号时序的方法 |
US8024141B2 (en) * | 2009-09-04 | 2011-09-20 | Tektronix, Inc. | Test and measurement instrument and method for providing post-acquisition trigger control and presentation |
CN102012444B (zh) * | 2009-09-07 | 2014-04-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 示波器及利用该示波器测试串行总线信号的方法 |
CN101762732B (zh) * | 2009-11-10 | 2012-12-26 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种具有自动测量功能的示波器及其测量数据保存方法 |
US9207263B2 (en) * | 2010-01-07 | 2015-12-08 | Tektronix, Inc. | Dynamic oscilloscope triggering |
CN102932287B (zh) * | 2011-08-11 | 2017-04-19 | 特克特朗尼克公司 | 测试和测量仪器中的时域搜索 |
JP5599378B2 (ja) * | 2011-10-26 | 2014-10-01 | 日置電機株式会社 | 表示制御装置 |
JP5599377B2 (ja) * | 2011-10-26 | 2014-10-01 | 日置電機株式会社 | 表示制御装置 |
CN103176009B (zh) * | 2011-12-22 | 2017-10-24 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种波形缩放方法、装置及示波器 |
JP6171152B2 (ja) * | 2012-05-28 | 2017-08-02 | ピーアンドダブリューソリューションズ株式会社 | 情報処理装置、方法及びプログラム |
DE102012217726B4 (de) * | 2012-09-28 | 2014-11-20 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messgerät und Messverfahren mit gekoppelter Darstellung |
CN103869125B (zh) * | 2012-12-10 | 2018-09-25 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种具有录制波形分析功能的示波器 |
DE102013206711A1 (de) * | 2013-04-15 | 2014-10-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messgerät und Messverfahren mit Mehrfachanzeige |
US9459290B2 (en) * | 2013-04-30 | 2016-10-04 | Keysight Technologies, Inc. | Oscilloscope system and method for simultaneously displaying zoomed-in and zoomed-out waveforms |
CA160905S (en) * | 2013-11-01 | 2015-05-04 | Sony Computer Entertainment Inc | Display screen with user interface |
USD760759S1 (en) | 2014-09-01 | 2016-07-05 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with graphical user interface |
EP3096152B1 (en) * | 2015-05-18 | 2019-12-18 | Fluke Precision Measurement Limited | Method and apparatus for classifying a signal waveform under test |
USD760267S1 (en) * | 2015-06-04 | 2016-06-28 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with graphical user interface |
USD799545S1 (en) | 2016-05-18 | 2017-10-10 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with icon |
USD814515S1 (en) | 2016-06-10 | 2018-04-03 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with icon |
USD814482S1 (en) * | 2016-07-29 | 2018-04-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Display screen or portion thereof with graphical user interface |
US10585121B2 (en) * | 2016-09-12 | 2020-03-10 | Tektronix, Inc. | Recommending measurements based on detected waveform type |
JP6763255B2 (ja) * | 2016-09-21 | 2020-09-30 | 富士ゼロックス株式会社 | 診断装置、診断システムおよびプログラム |
CN108254607A (zh) * | 2016-12-28 | 2018-07-06 | 北京普源精电科技有限公司 | 数字示波器波形显示方法及装置 |
USD818494S1 (en) | 2017-06-04 | 2018-05-22 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with animated graphical user interface |
EP3435246A1 (en) * | 2017-07-24 | 2019-01-30 | Tata Consultancy Services Limited | System and method for signal analysis |
CN108181492B (zh) * | 2018-01-05 | 2020-08-18 | 深圳市道通科技股份有限公司 | 一种示波器信号处理方法、装置及示波器 |
CN108802459B (zh) * | 2018-06-04 | 2020-12-08 | 北京交通大学 | 一种示波器自动测试系统及方法 |
US10852323B2 (en) * | 2018-12-28 | 2020-12-01 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement apparatus and method for analyzing a waveform of a signal |
CN110780100B (zh) * | 2019-09-24 | 2020-09-22 | 北京航空航天大学 | 一种基于频率快速测量算法的示波器自动设置方法 |
USD951978S1 (en) | 2020-06-21 | 2022-05-17 | Apple Inc. | Display screen or portion thereof with graphical user interface |
US20220043031A1 (en) * | 2020-08-06 | 2022-02-10 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method of analyzing a signal and signal analysis device |
US11867725B2 (en) | 2020-11-06 | 2024-01-09 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement instrument |
USD1006036S1 (en) | 2021-04-06 | 2023-11-28 | Apple Inc. | Display or portion thereof with icon |
CN114217298B (zh) * | 2021-12-07 | 2023-10-27 | 电子科技大学 | 一种自适应的波形模板构造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4362394A (en) | 1980-09-30 | 1982-12-07 | Marconi Instruments Limited | Time interval measurement arrangement |
US5003248A (en) * | 1986-11-10 | 1991-03-26 | Hewlett-Packard Company | Probability density histogram display |
US4766425A (en) * | 1986-12-19 | 1988-08-23 | Tektronix, Inc. | Waveform selection by touch |
US4743844A (en) | 1986-12-19 | 1988-05-10 | Tektronix, Inc. | Self-adjusting oscilloscope |
US5081592A (en) * | 1987-08-05 | 1992-01-14 | Tektronix, Inc. | Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences |
US4779044A (en) | 1987-09-08 | 1988-10-18 | Zion Educational Foundation | Voltage, current and frequency measuring of non-standard waveforms |
US5039937A (en) * | 1990-05-11 | 1991-08-13 | Nicolet Instrument Corporation | Method and apparatus for providing compressed and expanded displays on a digital oscilloscope |
US5138252A (en) | 1990-11-09 | 1992-08-11 | Hewlett-Packard Company | Automatic scaling for display of modulation domain measurements |
US5495168A (en) | 1994-09-12 | 1996-02-27 | Fluke Corporation | Method of signal analysis employing histograms to establish stable, scaled displays in oscilloscopes |
US5953009A (en) * | 1997-05-27 | 1999-09-14 | Hewlett-Packard Company | Graphical system and method for invoking measurements in a signal measurement system |
US6219142B1 (en) * | 1997-10-17 | 2001-04-17 | Southwest Sciences Incorporated | Method and apparatus for determining wave characteristics from wave phenomena |
US6229536B1 (en) * | 1998-03-05 | 2001-05-08 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for displaying simultaneously a main waveform display and a magnified waveform display in a signal measurement system |
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