JPS63137386A - 書類の認証システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は書類の認証システムに関する。

〔従来技術及び発明の解決すべき問題点〕ある書類認証
技術においてはデータの相関に関して問屋が生じる。例
えば、書類からの特徴的なデータを表示的な電気信号の
形でいろいろに感知することが提案されている。このよ
うな信号は次にレファレンスとして記憶され、新たに感
知された信号と引き続き比較され、書類の認証が行われ
る。この方法は、例えばラベル、胚埋ｉＦ類、身分証明
書、評価カード、クレジットカード等のいろいろな性質
の書類に用いることが提案されている。

書類は使用時や処理時において実際には変化するもので
ある。従って書類を認証するために用いられる処理方法
も又変化することになり、引き続く認証がいっそう困難
になることがある。特定の例として書類がその元の透過
″４あるいは特定領域が半透明であることで特徴づけら
れる場合、この性質線計測されるとレファレンスアナロ
グトシテ記録される。その後に書類全認証するために前
記性質は再び試験信号で感知されレファレンスと比較さ
れる。書類にマークが付されていたり、破れてい之シ、
その他いろｈろに変化していると、認証はますます困難
になる。その結果、書類の認証全指示するために、レフ
ァレンスブータラ新たに感知された試験データと相関す
るための効果的、経済的かつ実際的なシステムが必要に
なる。

〔問題点を解決するための手段〕

一般に本発明は、オフセットされオーバーラッグされる
サンプルデータグルーグのシフトされたセットに細かく
分けられるデータパッケージに用いられる相関技術の使
用を含んでいる。デジタルフォーマットではあらかじめ
決められた数の（アナログから引き出され念）サンプル
のグループがあらかじめ決められた数のサンプルによっ
てオフセットされる。次にこのグループは個々に相関さ
れる。個々のアグリケーシ、ンに通用される前記あらか
じめ決められる数は、もとの書類の性質、このような４
Ｆ類に起こりそうな損傷及びこの書類の使用上の性質を
考慮した分析を基本として決めるのが最も良い。

システムの動作に従い、センサーは書類の性質に表すア
ナログ、例えば狭い領域に治った不透明さを提供する。

デジタルフォーマットでは書類の性質のアナログはサン
プル化されるか、ある麿は実際には複数のデジタル化さ
れた個々の信号に細かく分けられる。矢にこの信号はオ
フセット、オーバーラッピング試験グルーグのノ臂ター
ンに形成される。システムによシ同じようなフォーマッ
トのレファレンスデ−タが提供される。グループごとに
オフセット、オーバーラッグ信号が相関されて相関を表
示するスコアが提供される。そしてスコアはあらかじめ
決められた書類の認証′を表す基準に従って論理的に分
析される。

〔実施例〕

ここで本発明の実施例全詳細に説明する。しかし本発明
に従って構成された物理的なアイデンティフィケーショ
ン媒体、データ７オーマツト、相関方式及び動作システ
ムは広い範囲にわたる形態で実施されておシ、その内の
幾つかは記載された実施例とにか７！ジ異なっている。

したがって、ここで記載される特定の構成及び構造は単
なる例示に過ぎず、その範囲で公開という目的に最上の
実施例を与え、又本発明の技術的範囲を限定する添付の
特許請求の範囲の基礎を提供するものである。

第１図には、書類Ｄ（上方左）がその書類を真性と認証
するためのシステムに旧って置かれてｈる。図示されて
いるように、を類りは磁気ストライブ１０を搬送し、領
域１２にはマシーン読み取シ可能な特別の性質全保持し
ている。一般に磁気ストライプ１０は、特定の領域１２
のマシーン読み取り可能な性質を表すデータ全記録する
。従って書類は、磁気ストライブ１０でレファレンスデ
ータを読み取り、領域１２からの試験データで書類の性
質を感知し、この２つのデータのセットを比較あるいは
相関して一致させることによって、検証されあるいは認
証される。勿論一致の程度は書類認証の明示性となる。

書類りはいろいろな異なる形態を取ることができ、その
内の幾つかは、米国特許第４，４２３，４１５号明細書
（名称：非模造書類システム、公告：１９８３年、１２
月２７日）に記載されている。

書類Ｄｔ：Ｃその小さな個々の領域の透過率あるいは不
透明度が異なっている。従って書類Ｄを後方から照射し
た状態で領域１２に溢って光センサーで走査すると、領
域１２に溢りた元の半透明パターンを表すアナログ信号
が形成される。走査を達成するために、＄周りは矢印１
５に示されるようにセンサ１４に関連して、良く知られ
たいろいろな任意の機構から成るトランスポート１２で
移動される。書類りは又磁気ストライブ１０を感知する
磁気読み取りヘッド１６に関連して移動される。

このように書類りの認証全明示するために、磁気ストラ
イブ１０と領域１２からの２つのデータ流が処理される
のである。第１図に示された処理システム全詳細に説明
する前に、動作の基本的な考えかたを説明するのが適当
であるので、ここで第２図のグラフ光示金兄ることにす
る。

相関されるべきアナログ表示を示している一組の曲線１
８及び２０ｆ考える。この曲＠ｘｇと２０は書類りから
のアナログ信号を示していると仮定する。特に曲線１８
は磁気ストライブ１゜（、第１図）から得られるであろ
うと考えられるレファレンス信号であり、曲線２ｏはセ
ンサ１４によりて領域１２から新たに感知される性質を
表している。従って曲線１８と２０は同じ源、すなわち
領域１２（第１図）から来ているけれども、時間を相異
して感知され処理されている念め、書類ＤｉｌＣその問
いくらか変化しているであろうと考えられる。本発明の
一般的な基本思想には、曲線１８と２０全細かく分け、
これらの曲線のオフセット、オーバーラッピング部分音
用いて複数の相関を行うことが含まれている。

通常の方法に従って、曲線１８と２０に時間ベースの信
号逗幅（例えば半透明）を表す図となっている。従って
線Ｌ１μ曲線１８と２０の特定フラグメント全限定して
いる。同様に＠ＬＸないしＬ８は、曲線１８と２０の共
通イースでの正確な長さの時間を限定することによって
、それぞれ曲線１８と２０の他の特定のフラグメントを
指示している。線Ｌ１ないし線Ｌ８はそれぞれ曲線１８
と２０のオフセット、オーバーラップインクフラグメン
トを指示していることに注目されたい。すなわち、線Ｌ
２ば、線Ｌ１によって指示されたフラグメントからオフ
セットされ比曲線１８と２０の各々での時間あるｈは空
間の７ラグメント（横座標）を指示している。しかし２
つの朦Ｌ１及びＬ２に共通部分でオーバーラッグインク
している曲線のセグメント全指示している。

線Ｌ１ないしＬ８の各々の前縁部はすぐ前の線の前縁部
から距ｆａＭだけオフセットされ、線Ｌ１ないしＬ８の
長さはすべてＮで均一である。通常のように、これらの
距離は曲線１８と２０によって表されるアナログに関す
る時間及び空間の表示となっている。

本発明に従って第２図に示されているように。

曲線１８と２０の比較はオフセット、オーバーラッグイ
ンク曲線フラグメントの８個の分離した相関によって行
われる。特に線Ｌ１で指示された曲線１８と２０の７ラ
グメントは相関されて、示されているように第１の相関
スコアＣ１ｆ提供している。同様に、線Ｌ２によって示
された曲線１８と・２０のフラグメントは相関されて第
２の相関スコアＣ２１ｆｒ：提供している。すなわち線
Ｌ１ないしＬ８の各々のセグメントによって示される曲
線７ラグメントを相関することで、個々の相関スコアＣ
ＪないしＣ８が与えられている。

ここで興味深い現象がいくつか見られる。曲線１８と２
０に沿って表わさせる各時間は３つの異なる近接した相
関で処理される。例を挙げてみよう。書類りにインクの
じみが付いて曲線２０内に線のずれ２４が現れたと仮定
しよう。すなわち書類りに黒い副領域が生じたことによ
りそこが実質的に不透明となり、負の方向にずれた線２
４となったのである。記録曲線１８から急激にずれた線
２４が生じたために、相関では否定的に受は取られる。

しかし図示されるように分割を限定して相関するために
、ずれた線２４が否定的なイン・ダクトを与えるのは、
矢印２９によって第２図に図示されているスコアＣ４、
Ｃ５及びＣ６のみである。

従って第２図の例のように３つの近接する相関スコアの
セットから、書類にはインクのしみ、破れその他同様の
巣−の損傷があることが予想される。

要約してみよう。相関スコアＣ１ないしＣ８には線Ｌ１
ないしＬ８によりて示されるあらかじめ決められたデー
タ曲線フラグメントが含まれていることに注目する。こ
の範囲においては曲線１８と２０に閉ループとして処理
されており、その結果ＩＩＩＬ７とＬ８は曲線１８と２
０の端部フラグメントラ特定している。曲＃ｊ１Ｂと２
０の閉ルーズの処理は破線ルーズ２６と２８で指示され
ている。

前記に示唆されているように、比較データ全オフセット
、オーバーラッグインクフラグメント（線Ｌ１ないしＩ
、８）に細かく分割することにより、情報を与える相関
スコアが提供される。情報ハ実質的にフラグメントのオ
フセットと長さの判断の妥当な選択によって促進される
。すなわち距離Ｍ（第２図）と長さＮｉ注意深く選択す
ることで分析が促進される。例えば、距離Ｍによる空間
あるいは時間の明示は書類の損傷のたぶん副領域であろ
う領域の大きさに関係する。又例えば鉛筆の印の幅が考
慮されるであろう。すると長さＮによって明示される空
間あるいは時間によって重要な特徴及び統計の分析が行
われる。従って論理的な予想は相関スコアを基礎にして
行うことができる。

前記のように第２図が表示及び記述されることによって
、曲線１８と２０により表わされる一対のアナログ信号
が推定された。記載されている実施例では、２つのアナ
ログ表示がデジタル化されている。一般にこの範囲にお
いては、曲線１８のデータはサンプル化され、デジタル
化されて磁気ストライブ１０（第１図）上に記録される
。認証時において曲線２０のデータ（第１図のセンサ１
４からの）はサンプル化され相関のためにサンプル化さ
れる。このような分割のフォーマットにおいては、線Ｌ
１ないしＬ８はあらかじめ決められた数のサンプルによ
って特定される。例えば曲線１８と２０は２５のサンプ
ルに細かく分割され、＠ＬｌないしＬ８は各々長さにし
てｌＯのサンプルであり３つのサンプルの空間あるいは
時間によってオフセットされる。勿論この１ような図は
値Ｍ及びＮを単に示したものでちゃ、実際にはいろいろ
な可能性が存在する。

第１図に示されたシステムは上記の分析により十分に理
解される。・従ってシステムの残りをここで説明する。

書類りのストライブ１０の磁気読み取りヘッド１６はレ
ファレンス信号グロセッサ３４に接続しており、従来技
術において良く知られた技術及び装置音用いて十分に限
定されたデジタル信号全提供している。磁気ストライブ
１０には書類りあるいはその認証に関するいろいろなデ
ータが含まれているが、図示された実施例に関しては、
重要な情報にセンサ１４と同様なユニットによって感知
されるような領域１２の特徴上表すデノタルデータから
成っている。

センサーＪ４ＦＸ、試験信号グロセッサ３６ヘアナログ
信号を与え、そこで試験データは増幅され、サンプル化
てれデジタル化される。グロセッサ３６として使用され
る装置の詳細は前記米国ｔｒｆ許第４．４２３，４１５
号明細書に記載されている。従って試験信号グロセッサ
からは予備試験ユニット３８へ一連のデジタル信号表示
が与えられる。信号は第２図の曲線２０で示される特性
？有する一連のデジタルサンプルを表わす。従ってデジ
タル表示シーケンスは領域１２を横切る走査でセンサ１
４で検出される半透明値のシーケンスを示す。

予備試験ユニット３８は、認証試験全実行するための条
件として観察された値に予備の必要条件を課している。

特に予備試験ユニット３８は領域１２でｇ矧され九半透
明の平均値全ａ察する。例えば書類りの原本が写真に代
替されると、半透明の値レベルによってこの事実が指示
される。従ってユニット３８からはコンダクタを通して
拒否信号全供給し、ディスグレイ４２が書類りを拒否す
るように操作される。別の可能性としては、二二ット３
Ｂが最大ピーク値、最低あるいは平均の組み合わせで動
作し、色々な基準を課する。もっともらしい黒いじみや
他の欠点はこのような技術では無視されることもありう
る。

この他にも予備試験ユニット３８は書類りの領域１２が
変形されているかあるいはいないかを指示するいろいろ
な試験を実行する。極端な信号値の範囲は近接した信号
値の間の変化の程度と同様に情報を与える。勿論ユニッ
ト３８によって使用される個々の試験はある程度書類り
の材料やセンサ１４の性質に依存する。

予備試験全実行することに加えて、ユニット３８からは
又試験信号アセンブラ４４に連続したデジタル信号が送
られる。この試験信号アセンブラは構造がレファレンス
信号アセンブラ４６（右上）に類似している。詳細に説
明すると、これらのユニットは受は取った連続デジタル
値をオフセット、オーバーラッピンググループに調整す
る。

すなわち個々のデジタル値は、領域１２の一連のオフセ
ット、オーバーラッピングフラグメントが一個々の相関
を表すように、第２図に示されたようにノイターン化さ
れる。さらにアセンブラ４４と４６は通常以下に示され
るように相関の演算操作全実行する。ここではアセンブ
ラ４４と４６が計測あるいはサンプルのグループを表す
信号のシーケンスを与え、その信号の各々は領域１２の
オフセット、オーバーラッグイングセクション全説明し
、又相関のために演算ユニット５０に送られることが重
要であることを理解しなければならない。

相関は、演算二ニット５０が対のグループ、すなわちレ
ファレンス信号のセットと試験信号のセラ）？含む対の
間の相関全表す一連のスコア信号を得ることによって行
われる。相関スコアはスコア信号によってレジスタ５２
に明示され、そしてレジスタ５２はケーブル５４によっ
て論理アナライザ５６に結合している。アナライプ５６
によって実行される分析を明示する信号は、ディスグレ
イ４２に送られ、この分析からの結論’ｋ［示する。

一般に可能な指示としては、書類認証、書類非認証、書
類認証に近いが汚れているか、あるいは認証の決定は不
可能であるというものである。

上記により、ここで書類りが第１図に示され之システム
に現れるある要素を用いてどのように処埋されるかをみ
てみる。上記のように元のカード（印刷され磁気ストラ
イブ１０が付いているもの）は領域１２’ｆｆ感知する
ことによって前処理されて聚示的なデジタル信号を形成
し、この信号を磁気ストライブ１０に記録する。このよ
うな記録を行うために、センサ（センサ１４のような）
がグロセッサ（試験信号グロセッサ３６と同様のもの）
と共に使用される。磁気記録ヘッド（図示されていない
）はこのグロセッサからの信号を受は取り、記録する。

ここでグロセッサ３６の操作をさらに詳細に述べる。

第３図には曲線２０のフラグメントが図示されている。

すなわち曲線２０は領域１２用のセンサ１４から与えら
れるアナログである。第３図に示された曲線２０の７ラ
グメントはグリッドに表されており、ここでは横座標が
サンプリングの個々のサンプリング時間を、又縦座標が
デジタル化の目盛シを茨している。

先行技術の良く知られた装＃ＩＬを用いて、曲線２０に
よって表された信号（第３図）はＨｅ　ｏＶｃよって指
示されるように、個々の分離した間隔でサンプリングさ
れる。すなわち、時間のシーケンスにおいて、信号はサ
ンプリングされ、あらかじめ決められた振幅で記憶され
る。次にこの振幅は垂直目盛りで指示されているように
デジタル化される。ある動作を考えてみると、曲線２０
で示された信号の初めのフックメン）ｆ−１ｍ数字“ｌ
”で指示される時間でサンプルとして取られ、次にこの
サンプルの振幅の目盛りをとり、丸められて（端数が切
り捨てられて）サンプルにデジタル値″Ｉｌｊが与えら
れる。

従って試験信号グロセッサ３６（第１図）は曲線２０の
アナログ信号の振幅を表すデジタル信号流を与える。こ
のデジタルデータの流れは新九に領域１２から感知され
念データとの比較のレファレンスとして次に用いられる
ように、磁気ストライブ１０に記録される。比較の開所
たに感知され之データは第３図に関する説明で述べたよ
うに、グロセッサ３６によって処理されデジタル値流を
与える。

デジタル値の２つの流れ（グロセッサ３４及び３６から
の）はいろいろに相関されるが、ここにおける予備とし
て前記のようにオフセット、オーバーラッピング試験グ
ループに組織化され、限定される。さらに記載されてい
る実施例では、相関はある積の値を用いている。特にこ
れに関して、演算ユニット５０における相関はいろいろ
な相関方式で実行される。例えば「新しい統計学へのア
グローチ」（フリー出版、ニューヨーク；　１９６５年
、第５４４頁）では相関係数として以下の式が呈示され
ている。

の積の合計およびＳと凡の２乗の合計というｔを含む良
く知られている式が外にもある。

上記から幾らか要約すると、相関計算のためにはあるい
くつかの値が形成されなげればならない。

計算のための別の式にはＳと凡の合計が含まれる。

例えば 相関係数式に基づいているいろな計算を行うためには、
個々の分離した信号値から、合計（Ｒ）、合計（Ｒ）、
合計（Ｒ８）、合計Ｃ８）及び合計（Ｓ）が得られるよ
うに、信号値を処理しなければならない。これらの処理
は多少形態が類似している信号アセンブラ４６と４４に
よって行われる。

レファレンス信号アセングラ４６の実施例は第４図に詳
細に示されており、ここで検討する。各アセンブラはＳ
及びＲの表示信号を受は取る。

信号の表示はデジタル値流として入力ライン７０（第４
図左上〕に与えられる。特にデジタル値Ｒ１ｆｌレファ
レンスデータのシーケンスにおける最初のデジタル値で
ある。第２のデジタル値はＲ２で指示されておシ、続く
デジタル値も同様にＲＮで通して指示されている。デジ
タル値流（通常信号Ｒによって示される）はライン７０
を通して閉ループであるシフトレジスタ７２によって受
ケ取うれる。レジスタ７２の制御及びシーケンスは先行
技術において良く知られているシーケンサ２４によって
行われる。

個々のデジタル値Ｒ１ないしＲＮはレジスタ７２に含ま
れており、合計回路７６に関して順次シフトされる。す
なわち、レジスタ７２の幾つかの段階は合計回路７６に
接続されており、値のグループを定義するようになって
いる。シーケンサ７４０制御下において、合計回路７６
は周期的に合計（Ｒ）の値を表す信号を与える。

合計（Ｒ２）と合計（Ｒ８）？表す信号生成の構造には
類似の点がある。特に入力ライン７０からは信号Ｒが２
乗回路８０に与えられ、２乗回路８０の出力は閉ループ
であるシフトレジスタ８２に与えられる。レジスタ８２
０段階（グループ全定義する）の部分は合計回路８４に
与えられる。

下記に詳細に述べるように、合計回路８４からは合計（
Ｒ２）を衆す信号が与えられる。

ライン７０は又信号５（ＳｌないしＳＮ　）と共に乗算
器８６に入力している。従って乗算器からは積の信号Ｒ
８が閉ループであるシフトレジスタ８８に送られる。そ
して他の量と共にレジスタ８８の段の一部分は合計回路
９０に結合しており、合計回路９０の出力は合計（Ｒ８
）を表わす。

第４図に示されている構成はレファレンス信号アセンブ
ラ４６（第１図）を表していることに注目されたい。試
験信号アセンブラ４４（第１図）も同様である。しかし
シフトレジスタ８８及び回路９０ｉｌ！：”合計（Ｒ８
）”が共通であり二度繰シ返す必要がないため、乗算器
８６と共に除去されている。従ってアセンブラはオフセ
ット信号値の各グループに合計（Ｒ）、合計（Ｒ）、合
計（ａＳ　）、合計（Ｓ　　）及び合計（Ｓ）の値を与
える。上記の説明に鑑みここでシステムの動作について
詳細に考察する。書類Ｄ（第１図）を認証のために呈示
してみよう。さらに書類りは、領域１２で計測された透
明度がいろいろに変化する一枚の紙でできているとする
。又前記のようにアナログからサンブリングし、デジタ
ル化することによって、変化する透明度が記載されたよ
うにデジタル表示に縮小されるとする。最後に前記のよ
うに磁気ストライブ１０には書類りに関する他のデータ
、特徴的なロケーションデータ及び領域１２からの選択
された特別なデータが含まれるとする。

書類りは認証するために、センサ１４とヘッド１６の下
で動的な読取ｖを行うために駆動される。

磁気ストライブ１０からのデジタルデータは細かく区別
するためにヘッド１６からプロセッサ３４に与えられ、
次に第４図に示された装置における第２図に関して記載
された技術を用いてアセンブラ４６によって組織化され
る。特に特徴的なデジタル値Ｒ１ないし訳の各々は処理
されてレジスタ７２（第４図）に置かれる。同時に値Ｒ
１ないしＲＮは回路８０で２乗されて信号表示Ｒ１ない
しＲ２Ｈとなり、これらはレジスタ８２に登録される。

同時に乗算器８６では個々の信号Ｒ１ないし訳及びＳｌ
ないしＳＮがセットとして乗算されて（例えばＲ１−８
１，Ｒ２・Ｓｌなど）、信号Ｒ８ＪないしＲ２Ｈとなり
、レジスタ８８にセットされる。

シーケンサ７４の制御の下で、生成された信号はレジス
タ７２．８２及び８８の各々の中で循環する。その結果
特定の時間で、信号のオフセット、オーバーラッピング
グループがレジスタ７２゜８２及び８８の各々の選択段
階からそれぞれ関連する合計回路７６．８４及び９０に
与えられる。

初期の時間では、例えばＲ１ないしＲＩＯの初期信号の
グループが合計回路７６によって合計され、出力信号合
計（Ｒ）に与えられる。同時に、例えば信号Ｒ１ないし
ＲＩＯの同じ順番の段階が回路８４によって合計されて
出力信号合計（Ｒ）に与えられる。又例えば信号Ｒ８Ｊ
　ｎいしＲ８ｌ０は合計回路９０によって信号合計（Ｒ
８）　を与える。従って信号のセラ）Ｕ合計フォーマッ
トに与えられ、初期相関が行われる。

初期合計信号が与えられた後、レジスタ７２゜８２及び
８８の内容がシーケンサ７４によって、例えば３つの段
階のオフセラ）Ｍ（第２図参照）だけシフトされる。そ
の後に値の選択段階が再び合計される。特別な例を見て
みると、合計された第２のグループには段階Ｒ４ないし
Ｒ１４が含まれる。その結果合計信号の第２のセットが
与えられ、これは第２の相関のオフセット、オーバーラ
ッピング値の第２のグループを表す。

このサイクルは第２図に関して説明されたオフセット、
オーバーラッピンググループの各々に信号が与えられる
まで繰り返される。従って各グループごとに合計信号、
例えば合計（Ｒ）、合計（Ｒ２）及び合計（Ｒ８）がア
センブラ４６（第１図）から演算ユニット５０に与えら
れる。同時にセンサ１４によって感知された試験信号Ｓ
が処埋されて同様に演算ユニット５０に与えられる。

この動作をさらに詳細に説明する。特別な適用には、小
さな相関が他のいろいろな試験基準で実行することがで
きることに注目されたい。

センサ１４からの試験信号はプロセッサ３６によって細
かく分けられ、ユニット３８内のある予備試験にかけら
れる。勿論、ユニット３８からの信号がディスグレイ４
２に送られ、システムをさらに動作し、および拒絶を指
示するこのような予備試験を基礎として、書類Ｄを拒絶
することに可能である。予備試験を通過し、感知された
デジタル表示あるいは試験値Ｓ１７！いしＳＮが、レフ
ァレンス信号Ｒ１ないしＲＮに関して説明したように７
センプラ４４によって組織化され、又第４図に関して処
理されたようにアセンブラ４６によって組織化される。

従って試験信号Ｓとレファレンス信号Ｒの各グループの
合計の形式の値が演算ユニット５０に送られる。

演算ユニット５０（第１図）は合計（Ｓ）、合計（Ｓ　
）、合計（Ｒ８）、合計（Ｒ）及び合計（Ｒ２）の信号
を受は取ると、第２図に関して説明し友ように信号の個
々のセットにおける個々の相関を行って相関係数スコア
を得る。実施例の相関公式は前に示されており、この場
合は演算ユニットΔ０は巣に計算を行ってレジスタ５２
にスコア値を与える。マイクロコンピュータを含むいろ
いろな演算ユニットを使用することができることに注目
されたい。この場合相関係数スコアは−１００００と＋
１００００の間の値が取られる。従って値は以下のよう
になる。

＋１００００　　　　２つの相関されたプレイの完全な
適合 ０−１００００　　　　２つのアレイの間の類似性の程
度 Ｏ全く相関していないアレイ ０−（−１Ｏ０００）　　　プレイの鏡像の類似性の計
５１１　（相異） −１００００全く反対の２つのアレイ スコアＣを表す信号がレジスタ５２からアナライザ５６
に送られて、そこでいろいろな論理操作が行われて結果
が決定される。もちろん１００００に近付くスコアＣの
任意の主なアレイはアナライプ５６によって検出され、
ディスグレイ４２を付勢して書類りの認証を明示する。

又高スコアが強力に多数ある場合は認証が促進される。

第２図に関して述べたように、スコアに関するオフセッ
ト試験グルーグの近接に重要である。第２図に示され比
例では、ずれ九線２４によって示され念欠点は３つの近
接したオフセットダルーズに明示されている。従ってア
ナライプ５６は又３つの近接したスコアの相関の減縮さ
れた値を認めて、書類りの非模造領域１２へ傷、印、穴
あるいは他の損傷を明示する。オフセット、オーバーラ
ッピング試験グルーグの結果として他の可能性もある。

例えば相関スコアの分析によって比較から領域１２内の
限定され、た部分区域を除くために新しく相関し、また
ある信号を除去しながら分析を積み重ねくりかえすこと
が示唆される。又アナライプの論理装置によっても相関
全実行する上でのより大きな選択性の基礎としてノ４ラ
メータＭ及びＮ（第２図）が変形される。

もちろんアナライザ５６による繊細さ及び複雑さによっ
て、特別の適用及び書類りへの依存が大きく変化する。

しかし本発明に関して重要な点は。

オフセット、オーバラッピングのデータ試験グルーグを
基礎とした複数の相関スコアから出た論理分析を実行す
ることができるという考えである。

平均を取るいろいろな方式も又導入されている。

図に示されているようにこのシステムのこのような特徴
は他の特徴と合わせて実際にいろいろに実行され、本発
明に付随する有益な結果をもたらしている。従ってここ
における技術的範囲は添付の特許請求の範囲に従って゛
限定され名べきである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従ったシステムの概略的な！ロックダ
イヤグラムであり、第２図は第１図に示されたシステム
の動作を衣す分析のグラフであシ、第３図は第２図に示
された曲線のフラグメント全詳細に分析するために作図
された拡大図であり、第４図は第１図に示され之システ
ムの部品の１０ツクダイヤグラムでアル。 １０・・・磁気ストライブ、１２・・・領域、１４・・
・光センサ−，１７・・・トランスポート、１６・・・
磁気読み取りヘッド、１８．２０・・・曲線、３４・・
・レファレンス信号グロセッサ、３６・・・試験信号グ
ロセッサ、３　ｇ−・・予備試験ユニット、４２・・・
ディスグレイ、４６・・・レファレンス信号ア七ンプラ
、５０・・・演算ユニット、５２・−・レジスタ、５６
・・・論理アナライザ、７２．８２・・・シフトレジス
タ、７４・・・シーケンサ、８０・・・２乗回路、８６
・・・乗算器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）書類等から感知される信号表示を登録された値と
   比較して書類等を認証するシステムにおいて、 前記信号表示のサンプルを実際の個々の信号表示された
   複数の値として与える手段と、 前記個々の信号表示された複数の値をオフセットのパタ
   ーンに定義し、試験グループにオーバーラップさせる手
   段と、 前記登録された値を前記試験グループのようにレフアレ
   ンスグループのパターンに与える手段と、前記試験グル
   ープを前記レフアレンスグループに相関させて比較を示
   す複数のスコアを与える手段とを具備することを特徴と
   する認証システム。 （２）前記試験グループの各々が前記信号表示の少なく
   とも２つの近接したサンプルから成り，このグループは
   少なくとも前記サンプルの１つによってオフセットされ
   る特許請求の範囲第１項記載のシステム。 （３）前記スコアを処理して認証表示を与える手段を有
   する特許請求の範囲第１項記載のシステム（４）さらに
   前記個々の信号表示の値を、積み重なった認証を与える
   ための前記相関手段と独立して試験する手段を保持する
   特許請求の範囲第１項に記載のシステム。 （５）前記試験のための手段は信号表示の値を補足認証
   として平均化する手段を有する特許請求の範囲第４項に
   記載のシステム。 （６）前記相関手段及び前記試験の手段の組み合わされ
   た表示を、認証表示を与えるために試験するための手段
   を有する特許請求の範囲第４項に記載のシステム。 （７）前記相関手段は前記試験グループ及び前記レフア
   レンスグループを合計する手段を有する特許請求の範囲
   第１項に記載のシステム。 （８）前記相関手段は前記試験グループ及び前記レフア
   レンスグループを乗算し合計するための手段を保持する
   特許請求の範囲第１項に記載のシステム。