JPH10197510A - 特にウェスタン・ブラットあるいはドッド・ブラットストライプのピーク図形の比較方法 - Google Patents
特にウェスタン・ブラットあるいはドッド・ブラットストライプのピーク図形の比較方法Info
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- JPH10197510A JPH10197510A JP9308934A JP30893497A JPH10197510A JP H10197510 A JPH10197510 A JP H10197510A JP 9308934 A JP9308934 A JP 9308934A JP 30893497 A JP30893497 A JP 30893497A JP H10197510 A JPH10197510 A JP H10197510A
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S436/00—Chemistry: analytical and immunological testing
- Y10S436/805—Optical property
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ストライプパターンを走査するブラットスト
ライプに或る一定の基本カラーがあるなら、ピーク図形
が形成する基本線はよく起こる変動を受ける、そのため
ピーク図形の比較に不正確が生じるが、これを除去でき
るピーク図形の比較方法を提供する。 【解決手段】 特にウェスタン・ブラットあるいはドッ
ド・ブラットストライプ２，１８のピーク図形を比較す
る方法にあって、第一の試料１に対してピークライン８
の傾斜線１０を求め、第二の試料１７に対してピークラ
イン２２の傾斜線２３を求め、試料１，１７の傾斜線１
０，２３を互いに比較する。
ライプに或る一定の基本カラーがあるなら、ピーク図形
が形成する基本線はよく起こる変動を受ける、そのため
ピーク図形の比較に不正確が生じるが、これを除去でき
るピーク図形の比較方法を提供する。 【解決手段】 特にウェスタン・ブラットあるいはドッ
ド・ブラットストライプ２，１８のピーク図形を比較す
る方法にあって、第一の試料１に対してピークライン８
の傾斜線１０を求め、第二の試料１７に対してピークラ
イン２２の傾斜線２３を求め、試料１，１７の傾斜線１
０，２３を互いに比較する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、特にウェスタン
・ブラット（western blot）ストライプあるいはドッド
・ブラット（dot blot) ストライプのピーク図形の比較
方法に関する。
・ブラット（western blot）ストライプあるいはドッド
・ブラット（dot blot) ストライプのピーク図形の比較
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】多くの技術応用、特に分析方法では、ピ
ーク図形の比較から一定の結果を推定するためこれ等の
ピーク図形を比較する必要がある。これは特に経費のか
かる方法である。何故なら、ピーク図形では比較すべき
二つのピーク図形の類似性に付いて評価を与えるため、
両方のピーク図形の位置、高さおよび面を求める必要が
あるからである。
ーク図形の比較から一定の結果を推定するためこれ等の
ピーク図形を比較する必要がある。これは特に経費のか
かる方法である。何故なら、ピーク図形では比較すべき
二つのピーク図形の類似性に付いて評価を与えるため、
両方のピーク図形の位置、高さおよび面を求める必要が
あるからである。
【０００３】この種のピーク図形は、例えばガスクロマ
トグラフィーで出現する。しかし、ピーク図形を比較す
る機会の多い応用分野はガスクロマトグラフィーあるい
は電気泳動法で着色したストライプの比較にあり、この
ストライプのパターンは光センサで検出される。このス
トライプは、抗体反応がストライプの上で異なった帯状
領域により表示される場合、ブラット（斑点）と称さ
れ、特にウェスタン・ブラットあるいはドット・プロッ
トと称されている。
トグラフィーで出現する。しかし、ピーク図形を比較す
る機会の多い応用分野はガスクロマトグラフィーあるい
は電気泳動法で着色したストライプの比較にあり、この
ストライプのパターンは光センサで検出される。このス
トライプは、抗体反応がストライプの上で異なった帯状
領域により表示される場合、ブラット（斑点）と称さ
れ、特にウェスタン・ブラットあるいはドット・プロッ
トと称されている。
【０００４】ピーク図形の比較で特別な問題は、ストラ
イプパターンを走査するブラットストライプにある一定
の基本カラーがあるなら、ピーク図形が形成する基本線
はよく起こる変動を受ける点にある。基本カラーのこの
種の相違は、例えば異なったメーカーのストライプで生
じる。しかし、この相違は異なった処理あるいはストラ
イプを異なるように付けることによっても生じる。
イプパターンを走査するブラットストライプにある一定
の基本カラーがあるなら、ピーク図形が形成する基本線
はよく起こる変動を受ける点にある。基本カラーのこの
種の相違は、例えば異なったメーカーのストライプで生
じる。しかし、この相違は異なった処理あるいはストラ
イプを異なるように付けることによっても生じる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】それ故、この発明の課
題は、上に説明した不正確を除去できるピーク図形の比
較方法を提供することにある。
題は、上に説明した不正確を除去できるピーク図形の比
較方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、この発明
により、特にウェスタン・ブラットあるいはドッド・ブ
ラットストライプ２，１８のピーク図形を比較する方法
において、第一の試料１に対してピークライン８の傾斜
線１０を求め、第二の試料１７に対してピークライン２
２の傾斜線２３を求め、試料１，１７の傾斜線１０，２
３を互いに比較する、ことによって解決されている。
により、特にウェスタン・ブラットあるいはドッド・ブ
ラットストライプ２，１８のピーク図形を比較する方法
において、第一の試料１に対してピークライン８の傾斜
線１０を求め、第二の試料１７に対してピークライン２
２の傾斜線２３を求め、試料１，１７の傾斜線１０，２
３を互いに比較する、ことによって解決されている。
【０００７】この発明による他の有利な構成は特許請求
の範囲の従属請求項に記載されている。
の範囲の従属請求項に記載されている。
【０００８】
【発明の実施の形態】この発明はピーク面の比較が著し
い不正確さを与え、ピークラインの微係数をその都度形
成し、傾斜ラインの求めた振動を互いに比較してこの問
題を解決できることに基礎を置いている。前記振動はバ
ックグランドに無関係であるから、比較すべき二つのピ
ーク図形が異なったバックグランドのカラーを持ってい
る場合でも信頼のおける値を与える。
い不正確さを与え、ピークラインの微係数をその都度形
成し、傾斜ラインの求めた振動を互いに比較してこの問
題を解決できることに基礎を置いている。前記振動はバ
ックグランドに無関係であるから、比較すべき二つのピ
ーク図形が異なったバックグランドのカラーを持ってい
る場合でも信頼のおける値を与える。
【０００９】この発明の特に望ましい応用分野は、第一
の試料が基準試料で、第二の試料が試験試料である場合
である。バックグランドに依存しないことにより、一度
だけ基準試料を調べ、この基準試料を異なった試験試料
と比較することができる。試験試料が長い試験期間を経
過して異なった基本カラーの試験ストライプに由来する
場合でも、各基本カラーに対して余分な基準試料を作る
必要はなく、一度求めた基準試料を全ての試験試料と比
較でき、異なったバックグランドカラーが検査結果に誤
りを与えることはない。
の試料が基準試料で、第二の試料が試験試料である場合
である。バックグランドに依存しないことにより、一度
だけ基準試料を調べ、この基準試料を異なった試験試料
と比較することができる。試験試料が長い試験期間を経
過して異なった基本カラーの試験ストライプに由来する
場合でも、各基本カラーに対して余分な基準試料を作る
必要はなく、一度求めた基準試料を全ての試験試料と比
較でき、異なったバックグランドカラーが検査結果に誤
りを与えることはない。
【００１０】調べるべきピークラインは主に検査ストラ
イプを走査して求まる。この場合、検査ストライプは例
えば光センサで検知されデジタル化される。このような
検出器の一例は面スキャナーを形成する。ピークライン
から傾斜線を求めるため、この傾斜を画像処理装置でコ
ントラストの変化として求めることを提案している。コ
ントラストを求めるこの種のプログラムは周知であり、
この発明による方法に採用できる。
イプを走査して求まる。この場合、検査ストライプは例
えば光センサで検知されデジタル化される。このような
検出器の一例は面スキャナーを形成する。ピークライン
から傾斜線を求めるため、この傾斜を画像処理装置でコ
ントラストの変化として求めることを提案している。コ
ントラストを求めるこの種のプログラムは周知であり、
この発明による方法に採用できる。
【００１１】不正あるいは系統誤差を与える重要でない
普通のコントラト変化をなくすため、傾斜線を比較する
場合、振幅が一定値以下である傾斜線の振動を考慮しな
いでおく。考慮すべき傾斜線の振幅の最小値を一度確定
しておくかあるいは可変設定できる。この最小振幅値を
決めるため、しきい値試料に対してピークラインの傾斜
線と傾斜線の振幅を求め、第二の試料に関して傾斜線の
振幅の小さい全ての振動を考えないでおくことが提唱さ
れている。これにより、振幅の限界値をしきい値試料で
簡単に決めることができる。
普通のコントラト変化をなくすため、傾斜線を比較する
場合、振幅が一定値以下である傾斜線の振動を考慮しな
いでおく。考慮すべき傾斜線の振幅の最小値を一度確定
しておくかあるいは可変設定できる。この最小振幅値を
決めるため、しきい値試料に対してピークラインの傾斜
線と傾斜線の振幅を求め、第二の試料に関して傾斜線の
振幅の小さい全ての振動を考えないでおくことが提唱さ
れている。これにより、振幅の限界値をしきい値試料で
簡単に決めることができる。
【００１２】この発明による比較を評価できる可能性
は、傾斜線の振動の位置とタイプからデータの組を求め
る点にある。これ等の値はフィルター系で求まり、調べ
た振動の位置、振幅、そして好ましくは周波数もデータ
の組にして記録される。データの組を求める代わりの方
法は、傾斜線の振動をパターン比較により互いに比較
し、一致のデータの組を求める点にある。例えばフィル
ター系、神経細胞系あるいはファジー系で決定できるパ
ターン比較により、比較する試料間の一致を与える非常
に正確な値のデータの組を求めることができる。
は、傾斜線の振動の位置とタイプからデータの組を求め
る点にある。これ等の値はフィルター系で求まり、調べ
た振動の位置、振幅、そして好ましくは周波数もデータ
の組にして記録される。データの組を求める代わりの方
法は、傾斜線の振動をパターン比較により互いに比較
し、一致のデータの組を求める点にある。例えばフィル
ター系、神経細胞系あるいはファジー系で決定できるパ
ターン比較により、比較する試料間の一致を与える非常
に正確な値のデータの組を求めることができる。
【００１３】更に、この発明はこのようにして求めたデ
ータの組に検査結果の提案が付属していることにある。
この検査結果の提案はこの発明による方法で求めたデー
タの組の評価となり、このデータの組を実際に直接使用
できる。この方法を使用者に好ましく構成するため、た
だ、データの組をパーサー（parser) を用いて、主にグ
ラフを伴う検査結果テキストに移すことを提唱してい
る。これは、この発明による方法の利用者が自動的に作
成されたテキストを貰い、このテキスト中にピーク図形
の比較を記載し、主に求めた結果を評価もすることにな
る。
ータの組に検査結果の提案が付属していることにある。
この検査結果の提案はこの発明による方法で求めたデー
タの組の評価となり、このデータの組を実際に直接使用
できる。この方法を使用者に好ましく構成するため、た
だ、データの組をパーサー（parser) を用いて、主にグ
ラフを伴う検査結果テキストに移すことを提唱してい
る。これは、この発明による方法の利用者が自動的に作
成されたテキストを貰い、このテキスト中にピーク図形
の比較を記載し、主に求めた結果を評価もすることにな
る。
【００１４】
【実施例】この発明による方法の実施例を図面に示し、
以下により詳しく説明する。図１に示す第一試料１は基
準試料であり、この試料では基準ストライプ２の上に抗
体反応によりカラーでバックグランドから浮き上がった
帯状領域３，４，５，６が生じている。
以下により詳しく説明する。図１に示す第一試料１は基
準試料であり、この試料では基準ストライプ２の上に抗
体反応によりカラーでバックグランドから浮き上がった
帯状領域３，４，５，６が生じている。
【００１５】この基準狩猟１をスキャナー７（図４を参
照）で分析すると、図１b に示すピークライン８が求ま
る。この場合、各帯状領域３，４，５，６には一つのピ
ーク３',４',５',６' が付属している。ピークライン８
からコンピュータ９（図４を参照）により、図１c に示
す傾斜線１０が算出される。傾斜線１０上には、基準試
料１の各帯状領域３，４，５，６に一つの振動３'',
４'', ５'', ６''が付属している。
照）で分析すると、図１b に示すピークライン８が求ま
る。この場合、各帯状領域３，４，５，６には一つのピ
ーク３',４',５',６' が付属している。ピークライン８
からコンピュータ９（図４を参照）により、図１c に示
す傾斜線１０が算出される。傾斜線１０上には、基準試
料１の各帯状領域３，４，５，６に一つの振動３'',
４'', ５'', ６''が付属している。
【００１６】しきい値を決めるため、図２a に示すしき
い値試料１１が使用される。この試料はしきい値ストラ
イプ１２の上のどこかにある帯状領域１３を持ってい
る。この帯状領域のバックグランドに対するコントラス
の変化は、確実に免疫反応と判定できるのに必要な最小
のコントラスト変化を与えるように決まる。このしきい
値試料１１も図２b に示すピークライン１４を求めるた
めスキャナー７で走査される。このピークライン１４で
は帯状領域１３はピーク１３' に対応している。コンピ
ュータ９（図４を参照）によりこのピークライン１４も
傾斜線１５に変換される。この傾斜線１５を図２c に示
す。そしてこの傾斜線の上で帯状領域１３は振幅１６を
持つ振動１３''に対応する。
い値試料１１が使用される。この試料はしきい値ストラ
イプ１２の上のどこかにある帯状領域１３を持ってい
る。この帯状領域のバックグランドに対するコントラス
の変化は、確実に免疫反応と判定できるのに必要な最小
のコントラスト変化を与えるように決まる。このしきい
値試料１１も図２b に示すピークライン１４を求めるた
めスキャナー７で走査される。このピークライン１４で
は帯状領域１３はピーク１３' に対応している。コンピ
ュータ９（図４を参照）によりこのピークライン１４も
傾斜線１５に変換される。この傾斜線１５を図２c に示
す。そしてこの傾斜線の上で帯状領域１３は振幅１６を
持つ振動１３''に対応する。
【００１７】求めた基準試料１の傾斜線１０および求め
たしきい値試料１１の振幅１６は、コンピュータ９の中
に保管され、後で第二試料１７，つまり試験試料を評価
するために使用される。試験試料１７としては図３a に
試験ストライプ１８が示してある。この試験ストライプ
は抗体反応で生じた３つの帯状領域１９，２０，２１を
有する。試験ストライプ１９も、図３b に示すピークラ
イン２２を求めるため、試験試料１７としてスキャナー
７で走査される。ピークライン２２は３つのピーク１
９',２０'と２１' を有し、これ等のピークは試験スト
ライプの帯状領域１９，２０と２１に相当する。
たしきい値試料１１の振幅１６は、コンピュータ９の中
に保管され、後で第二試料１７，つまり試験試料を評価
するために使用される。試験試料１７としては図３a に
試験ストライプ１８が示してある。この試験ストライプ
は抗体反応で生じた３つの帯状領域１９，２０，２１を
有する。試験ストライプ１９も、図３b に示すピークラ
イン２２を求めるため、試験試料１７としてスキャナー
７で走査される。ピークライン２２は３つのピーク１
９',２０'と２１' を有し、これ等のピークは試験スト
ライプの帯状領域１９，２０と２１に相当する。
【００１８】ピークライン２２からコンピュータ９によ
り、図３c に示す傾斜線２３が算出される。傾斜線２３
上では帯状領域１９が振動１９''に対応し、帯状領域２
０が振動２０''に、そして帯状領域２１が振動２１''に
対応している。図２c に示す振幅１６に合わせて、図３
c には振動範囲２４が１点鎖線で囲われている。振動範
囲２４内にある振動２０''のような振動は、しきい値試
料１１で確認されたしきい値以下にあり、試験試料１７
の傾斜線２３を基準試料１の傾斜線１０と比較する時、
考慮されない。
り、図３c に示す傾斜線２３が算出される。傾斜線２３
上では帯状領域１９が振動１９''に対応し、帯状領域２
０が振動２０''に、そして帯状領域２１が振動２１''に
対応している。図２c に示す振幅１６に合わせて、図３
c には振動範囲２４が１点鎖線で囲われている。振動範
囲２４内にある振動２０''のような振動は、しきい値試
料１１で確認されたしきい値以下にあり、試験試料１７
の傾斜線２３を基準試料１の傾斜線１０と比較する時、
考慮されない。
【００１９】試験試料１７の傾斜線２３を求めた後、コ
ンピュータ９内で行われるパターン比較により前記傾斜
線２３を基準試料１の傾斜線１０と比較する。振動範囲
２４内にある振動２０''は考慮されず、基準試料１の傾
斜線１０上の振動３'', ６''に対応する振動１９''，２
１''はデータの組として、データの組を検査結果テキス
トに移すパーサー２５に伝達される。この検査結果テキ
ストは画面２６に表示され、プリンタ２７により記録２
８として出力されるか、あるいは例えばハードディスク
のような記憶器に記憶される。
ンピュータ９内で行われるパターン比較により前記傾斜
線２３を基準試料１の傾斜線１０と比較する。振動範囲
２４内にある振動２０''は考慮されず、基準試料１の傾
斜線１０上の振動３'', ６''に対応する振動１９''，２
１''はデータの組として、データの組を検査結果テキス
トに移すパーサー２５に伝達される。この検査結果テキ
ストは画面２６に表示され、プリンタ２７により記録２
８として出力されるか、あるいは例えばハードディスク
のような記憶器に記憶される。
【００２０】対応を良くするため、そして他の情報を伝
達するため、ストライプ１，１１と１７の上に符号や見
出し文字２９，３０，３１のようなマークがある。これ
等のマークをスキャナー７で読み取り、データの組に入
れる。これ等のマークは検査結果テキストの作成に使用
されるか、あるいは異なったストライプタイプを認識す
るために使用される。
達するため、ストライプ１，１１と１７の上に符号や見
出し文字２９，３０，３１のようなマークがある。これ
等のマークをスキャナー７で読み取り、データの組に入
れる。これ等のマークは検査結果テキストの作成に使用
されるか、あるいは異なったストライプタイプを認識す
るために使用される。
【００２１】
【発明の効果】以上、説明したように、この発明による
ピーク図形の比較により不正確を防止できる。
ピーク図形の比較により不正確を防止できる。
【図１】 基準試料の試験ストライプ、ピーク図形、お
よび傾斜線、
よび傾斜線、
【図２】 しきい値試料の試験ストライプ、ピーク図
形、および傾斜線、
形、および傾斜線、
【図３】 試験試料の試験ストライプ、ピーク図形、お
よび傾斜線、
よび傾斜線、
【図４】 この方法の模式図。
１ 基準試料 ２ 基準ストライプ ３，４，５，６ 帯状領域 ３',４',５',６' ピーク ３'', ４'', ５'', ６'' 振動 ７ スキャナー ８ ピークライン ９ コンピュータ １０ 傾斜線 １１ しきい値試料 １２ しきい値ストライプ １３ 帯状領域 １４ ピークライン １５ 傾斜線 １６ 振幅 １７ 試験試料 １８ 試験ストライプ １９，２０，２１ 帯状領域 １９',２０',２１' ピーク １９'', ２０'', ２１'' 振動 ２２ ピークライン ２３ 傾斜線 ２４ 振動範囲 ２５ パーサー ２６ 画面 ２７ プリンタ ２８ 記録文書 ２９，３０，３１ 表書 ３２ 記憶器
Claims (10)
- 【請求項１】 特にウェスタン・ブラットあるいはドッ
ド・ブラットストライプ（２，１８）のピーク図形を比
較する方法において、 第一の試料（１）に対してピークライン（８）の傾斜線
（１０）を求め、 第二の試料（１７）に対してピークライン（２２）の傾
斜線（２３）を求め、 試料（１，１７）の傾斜線（１０，２３）を互いに比較
する、ことを特徴とする方法。 - 【請求項２】 第一の試料（１）は基準試料であり、第
二の試料（１７）が試験試料であることを特徴とする請
求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 両方のピークライン（８，２２）はスト
ライプ（２，１８）を走査して求めることを特徴とする
請求項１または２に記載の方法。 - 【請求項４】 表書あるいは記号のようなマーク（２
９，３０，３１）はストライプを走査して求めることを
特徴とする請求項３に記載の方法。 - 【請求項５】 傾斜線（１０，１５，２３）は画像処理
装置（７，９）によりコントラスの変化として求めるこ
とを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に記載の方
法。 - 【請求項６】 しきい値試料（１１）に対してピークラ
イン（１４）の傾斜線（１５）および傾斜線（１５）の
振幅を求め、第二の試料（１７）に対して傾斜線（２
３）の振幅の小さい振幅の全て（２０''）を考慮しない
でおくことを特徴とする請求項１〜５の何れか１項に記
載の方法。 - 【請求項７】 傾斜線（１０；２３）の振動（３'',
４'', ５'', ６''；１９'', ２０'', ２１''）の位置と
タイプからデータの組を求めることを特徴とする請求項
１〜６の何れか１項に記載の方法。 - 【請求項８】 傾斜線（１０；２３）の振動（３'',
４'', ５'', ６''；１９'', ２０'', ２１''）をパター
ン比較により互いに比較し、一致のためのデータの組を
求めることを特徴とする請求項１〜６の何れか１項に記
載の方法。 - 【請求項９】 データの組には検査結果の提案が付属し
ていることを特徴とする請求項７または８に記載の方
法。 - 【請求項１０】 データの組はパーサー（２５）によ
り、好ましくはグラフ付きの試験結果テキストに移され
ることを特徴とする請求項７〜９の何れか１項に記載の
方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19646720:9 | 1996-11-12 | ||
| DE19646720A DE19646720C2 (de) | 1996-11-12 | 1996-11-12 | Verfahren zum Vergleich von Peak-Darstellungen, insbesondere von Westernblot- oder Dot Blot-Streifen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10197510A true JPH10197510A (ja) | 1998-07-31 |
Family
ID=7811427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9308934A Withdrawn JPH10197510A (ja) | 1996-11-12 | 1997-11-11 | 特にウェスタン・ブラットあるいはドッド・ブラットストライプのピーク図形の比較方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6130099A (ja) |
| EP (1) | EP0841567A1 (ja) |
| JP (1) | JPH10197510A (ja) |
| DE (1) | DE19646720C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002025253A1 (en) * | 2000-09-25 | 2002-03-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for chromatographic quantitative measurement |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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