JPS63131610A - 検出回路 - Google Patents

検出回路

Info

Publication number
JPS63131610A
JPS63131610A JP61278384A JP27838486A JPS63131610A JP S63131610 A JPS63131610 A JP S63131610A JP 61278384 A JP61278384 A JP 61278384A JP 27838486 A JP27838486 A JP 27838486A JP S63131610 A JPS63131610 A JP S63131610A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
output
comparator
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61278384A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Makinou
槙納 一博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Keyence Corp
Original Assignee
Keyence Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Keyence Corp filed Critical Keyence Corp
Priority to JP61278384A priority Critical patent/JPS63131610A/ja
Publication of JPS63131610A publication Critical patent/JPS63131610A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は光電スイッチ等の検出器の入力信号を2値化
することにより、検出物体の検出信号を出力する検出回
路に係り、特に入力信号にノイズが重畳されてもその影
響を除去し得る検出回路に関する。
〔従来の技術〕
従来技術を光電スイッチを例に採り、以下説明する。第
4図に示すように、発振回路1の出力パルスに同期して
投光素子2が発光する。このパルス光を受光して、受光
素子3に受光信号が発生する。この受光信号は増幅器4
で増幅された後、前記出力パルスに同期してスイッチ5
が閉じている間に伝達され、抵抗R1およびコンデンサ
C9からなる積分回路で積分される。この積分値が比較
器6の設定レベルを越えると、投光素子2がらのパルス
光を受光した旨の検出信号が出力される。
しかしこの技術では、光量の大きなパルス光が受光素子
3に入光すると、受光信号のピークが大きなレベルにな
る。すると比較器6の設定レベルに達する時間が速まり
、また光量が小さいとその逆になり、応答速度が受光量
の変化により変動し常時一定でないという問題点がある
この問題点を解決するために、次に述べる2つの技術が
提案されている。まず第1の技術は2つの比較器を設置
し、受光素子の受光信号を増幅した後、1番目の比較器
で一定レベル以上の受光信号のみを取り出す。この受光
信号を積分回路で積分し、これを2番目の比較器に入力
する。そして、この比較器の基準レベルを越えると検出
信号を出力する。
第2の技術は比較器で一定レベル以上の受光信号のみを
取り出した後、この受光パルス信号をカウンタ等を用い
て計数する。この場合に所定個数の受光パルス信号が連
続して来ない限り、検出信号を出力しないように構成す
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、これら2つの従来技術には以下に述べる問題
点がある。第1の技術は1番目の比較器である一定レベ
ル以上の受光信号を選別するが、この場合に外乱光等の
ノイズが重畳すると、上述の従来例と同様に応答速度の
不均一という問題点がなお残存する。またノイズの影密
により受光信号の欠落が生じたり、受光していないにも
拘わらず受光信号の出力が発生する。よって誤検出を招
来する。第2の技術にも第1の技術同様、ノイズの影響
による誤検出という問題点がある。
この発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、ノ
イズの影響下であっても正確な検出をなし得、誤動作を
生じることがない検出器に用いられる検出回路の提供を
目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決し、この目的を達成するための具体的
手段は、一定タイミングの入力信号を2値化する比較器
と、この比較器の出力信号を前記一定タイミングに同期
して順次記憶する記憶回路と、この記憶回路に記憶され
た所定個数の前記比較器の出力信号を設定された論理に
基づいて判断し検出信号を出力する相関演算回路を具備
したことである。 ′ 〔作  用〕 この発明は前述のような手段を採ったので、次のような
作用がもたらされる。光電スイッチ等の検出器のアナロ
グの入力信号は比較器で2値化され、発振回路の出力パ
ルスにより記憶回路で順次記憶される。相関演算回路は
、この記憶された所定個数の比較器の個々の2値化信号
の旧GO(以下“H”と言う)またはLOW (以下“
L”と言う)の状態を常時検査する。そして予め設定さ
れた論理、例えば“H”の2値化信号が50%以上であ
れば検出信号を出力する等の論理、に基づき判断し検出
信号の出力の要否を決定する。
〔実 施 例〕
この発明を光電スイッチの検出回路を例に採り、以下1
実施例に基づいて詳細に説明する。なお、従来例と同一
部分は同一記号を付しその説明を簡略化する。
まず、この発明の基本概念を第1図に基づいて説明する
。発振回路1の出力パルスは、記憶回路7の各々のD−
フリップフロップ(以下D−FFと言う)のクロック端
子に入力される。記憶回路7は、任意のn個のD −F
 F71.72.−、7(n−1)。
7nが直列に接続された構成からなる。初段のD−FF
71のD端子には、比較器6において一定レベルで選別
された“H”の2値化受光信号が入力される。D−FF
71のQ端子は、次段のD−FF72のD端子および相
関演算回路8に接続されている。
また、S(セット)端子はモノマルチ回路10を経由し
て、相関演算回路8のQ端子、検出信号を外部機器に伝
達する端子11、および比較器6に接続されている。さ
らに、R(リセット)端子はモノマルチ回路9を経由し
て、相関演算回路8のご端子およびT(テストビット)
端子に接続されている。記憶回路7においては、第2段
のD−FF72から最終段のD−FF7nまで同様の接
続がなされている。
したがって、n個のD−FFのQ出力信号が相関演算回
路8の入力データとなり、相関演算回路8においてT端
子入力とこの入力データとの相関が採られる。相関演算
回路8のQ端子はこの相関による出力信号を、前述のよ
うに端子11およびモノマルチ回路10に伝達するとと
もに、比較器6に対してヒステリシスを付与している。
このような構成であるので検出物体が近接する等して、
受光素子3にパルス光の受光がなされ受光信号が発生す
ると、この受光信号は増幅器4で増幅された後、比較器
6で一定レベルを基準にして2値化される。この2値化
受光信号は発振回路1からの出力パルスに基づいて、記
憶回路7により記憶される。以後出力パルスに基づいて
、2値化受光信号は順次記憶回路7に記憶されて行く。
相関演算回路8は予め設定された論理により、常時記憶
回路7に記憶された2値化受光信号を検査する。ここで
仮に、相関演算回路8の入力データがm個(man)以
上T端子入力(Q端子出力)と同一であるならば、検出
信号を出力するという論理を設定する。さすれば、相関
演算回路8は記憶回路7に記憶されたT端子入力(一端
子出力)と同一の入力データの個数を検査し、m個との
多少を比較する。
そしてm個より多い場合には、相関演算回路8はQ出力
信号を反転する。ここでは“H”に反転すると仮定する
。これを受けて端子11は外部機器に検出信号を伝達す
る。またモノマルチ回路10を経由して、記憶回路7の
各々のD−FFのS端子に“H”の信号が伝達されるの
で、すべてのD−FFがセットされそれまでの記憶が消
去される。
したがって、強制的に各々のD−FFのQ出力信号は“
H”になる。さらに、相関演算回路8の“H”のQ出力
信号は比較器6に伝達され、比較器6にヒステリシスを
付与するように基準レベル(しきい値)を上昇させる。
この状態において、検出物体の離間等により受光素子3
からの受光信号が衰退して来ると、比較器6の2値化受
光信号が“し”に反転する。すると、記憶回路7に記憶
される2値化受光信号は“L“のものの数が多くなる。
そして記憶されている“L”の2値化受光信号の個数が
m個を越えた場合には、相関演算回路8はQ出力信号を
“L゛に、ζ出力信号を“H”に反転し、検出信号の出
力を停止する。これを受けて記憶回路7のすべてのD−
FFはリセットされ、記憶が消去される。そして各々の
D−FFのQ出力信号は“し”に反転する。それととも
に相関演算回路80T端子に、“H”の信号が入力され
る。また、相関演算回路8のQ出力信号がL″になった
ので比較器6のヒステリシスが解除され、比較器6の基
準レベルが低減する。
以後同様に、セントあるいはリセットされ記憶が消去さ
れた後に新たに記憶回路7に記憶されるデータに基づき
、常時相関演算回路8がT端子(一端子出力)と同一の
入力データの個数を設定論理であるm個との多少の比較
をして、検出信号の出力の要否を判断する。なお、相関
演算回路8は論理回路、アナログ演算回路等を用いて構
成可能である。
次にこの発明に係る概念を明確化するために、より詳細
な1実施例に基づいて説明する。第2図に示すように、
概念図(第1図参照)と構成は同一である。主要な相違
点は、相関演算回路8がカウンタを用いて形成されてお
り、その構成を例示していることである。相関演算回路
8は、排他的論理和ゲート12の出力側にANI)ゲー
ト13.14が接続され、これらの出力側に9進のアッ
プ/ダウン・カウンタ15が接続され、この出力側にR
Sフリップフロップ(以下R3−FFと言う)16が接
続された構成からなる。また記憶回路7は、15段のD
−FFが直列に接続された構成からなるシフトレジスタ
である。
以下この実施例の動作について説明する。第3図(n)
に示すように、発振回路1から出力のタイミングがずれ
た3つの出力パルスI、n、IIIが出力される。この
出力パルス■の“H”の時に投光素子2は発光する。同
図(1)に示すように、出力パルスIの立ち上がりのタ
イミングで記憶回路7のD−FF71は、比較器6の2
値化受光信号を記憶する。以後出力パルス■に基づき発
光がなされ、記憶回路7は出力パルスIにより2値化受
光信号を順次記憶して行く。相関演算回路8は、記憶回
路7°の初段のD−FF71および最終段のD−F F
715の両Q出力信号が合致しない場合に、同図(II
I)に示すように、出力パルス■の立ち上がりのタイミ
ングで、排他的論理和ゲート12の出力信号をゲートす
る。すなわち、初段のD−FF71のQ出力信号が”H
”で、最終段のD−FF715のQ出力信号が”L”の
場合には、へNDゲート13の出力信号は“H”になり
アップカウンタとして機能する。反対に、初段のD−F
F71がH”で最終段のD−FF715が“L”の場合
には、ANDゲート13の出力信号は”L”になりダウ
ンカウンタとして機能する。   ゛ したがって、アップ/ダウン・カウンタ15の計数値が
8になるとそのQ、出力は“H”になり、R3−FF1
6をセットするとともに記憶回路7の各々のD−FFも
セットする。それゆえ、R3−FF16は受光している
旨の検出信号を端子11に伝達する。また、初段のD−
FF71および最終段のD −F F715のQ出力信
号はいずれも“H”となる。
この状態において、比較器6の2値化受光信号が”L″
になると、アップ/ダウン・カウンタ15はダウンカウ
ンタとして機能する。そして計数値がOになるとそのQ
0出力は“H”になり、R3−FF16をリセットする
とともに記憶回路7の各々のD−FFもリセットする。
それゆえ、R3−FF16は受光していない旨の信号を
端子11に伝達する。また、初段のD −F F71お
よび最終段のD−F F715のQ出力信号はいずれも
“L”となる。
この状態において、比較器6の2値化受光信号がH”に
なると、アップ/ダウン・カウンタ15はアップカウン
タとして機能する。以下前述のような動作がなされる。
なお、この実施例においては、15段のシフトレジスタ
を用いて記憶回路7を構成するとともに相関演算回路8
を9進アツプ/ダウン・カウンタで構成したので、比較
器6の2値化受光信号が8個“H”であれば検出信号を
出力し、8個“L“であれば検出信号を出力しない。し
たがって、相関演算回路8の相関度はm/14=8/1
4となり、約57.1%となる。
この実施例においては、この発明に係る検出回路を検出
器として光電スイッチに用いた場合を例に採ったが、他
の検出器でも良いことは言うまでもない。また、記憶回
路7および相関演算回路8の構成は同様の機能を有する
ものであるならば、どのようなもので構成しても構わな
い。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、この発明は、一定タイ
ミングの入力信号を2値化する比較器と、この比較器の
出力信号を前記一定タイミングに同期して順次記憶する
記憶回路と、この記憶回路に記憶された所定個数の前記
比較器の出力信号を設定された論理に基づいて判断し検
出信号を出力する相関演算回路を具備したので、ノイズ
の影響により受光信号の欠落あるいは非受光時の受光信
号の発生が生じても、また増幅器の内部ノイズ等が無視
し得ない場合でも、所定個数の受光信号を検査するため
総体的に見てノイズの影響を軽減し得る。
また、記憶回路で記憶された受光信号を相関演算回路の
所定論理で判断するため、応答速度は受光信号のレベル
と無関係であり、常時路一定の速度を維持できる。さら
に、検出回路全体をデジタル回路で構成できるため、集
積回路化に適し検出回路の小型化を達成し得る。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図はこの発明に係る検出回路Φ説明図
であり、 第1図は概念図、 第2図は1実施例の回路図、 第3図はこの実施例の発振回路の出力パルスの波形図、 第4図は従来例の回路図である。 1・・・発振回路、6・・・比較器、7・・・記憶回路
、71゜72、 〜.715 、 〜. 7(n−1)
、 7n  ・Dフリップフロップ、8・・・相関演算
回路、12・・・排他的論理和ゲート、13.14・・
・ANDゲート、15・・・アップ/ダウン・カウンタ
、16・・・RSフリップフロップ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一定タイミングの入力信号を2値化する比較器と
    、 この比較器の出力信号を前記一定タイミングに同期して
    順次記憶する記憶回路と、 この記憶回路に記憶された所定個数の前記比較器の出力
    信号を設定された論理に基づいて判断し検出信号を出力
    する相関演算回路を具備することを特徴とする検出回路
  2. (2)検出信号を出力する際に、比較器にヒステリシス
    を付与するとともに記憶回路の記憶を消去する特許請求
    の範囲第1項記載の検出回路。
  3. (3)記憶回路がシフトレジスタである特許請求の範囲
    第1項および第2項記載の検出回路。
JP61278384A 1986-11-20 1986-11-20 検出回路 Pending JPS63131610A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61278384A JPS63131610A (ja) 1986-11-20 1986-11-20 検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61278384A JPS63131610A (ja) 1986-11-20 1986-11-20 検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63131610A true JPS63131610A (ja) 1988-06-03

Family

ID=17596588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61278384A Pending JPS63131610A (ja) 1986-11-20 1986-11-20 検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63131610A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107132469A (zh) * 2017-03-29 2017-09-05 北京集创北方科技股份有限公司 多路信号检测方法和电路及控制芯片

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61353B2 (ja) * 1976-03-02 1986-01-08 Ii Ai Deyuhon De Nimoasu Ando Co

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61353B2 (ja) * 1976-03-02 1986-01-08 Ii Ai Deyuhon De Nimoasu Ando Co

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107132469A (zh) * 2017-03-29 2017-09-05 北京集创北方科技股份有限公司 多路信号检测方法和电路及控制芯片
CN107132469B (zh) * 2017-03-29 2024-04-26 北京集创北方科技股份有限公司 多路信号检测方法和电路及控制芯片

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920005171A (ko) 테스트 모드 진입을 위한 연속적으로 클럭크된 호출 코드들을 가진 반도체 메모리
US4353032A (en) Glitch detector
KR890012236A (ko) 래피드 신호 유효성 조사장치
KR920005167A (ko) 테스트 모드 진입을 위한 복수의 클럭킹을 가진 반도체 메모리
KR910008606A (ko) 물품 검출방법 및 그 장치
US4107651A (en) Glitch detector
JP2005354676A (ja) 信号処理回路及び方法ないしこの方法を用いた時間遅延検出装置及び物体位置特定装置
KR940006109A (ko) 동기 신호 검출기 및 동기 신호 검출 방법
KR910005056A (ko) 셀프-타이밍을 인정하는 채널
JPS63131610A (ja) 検出回路
US3944934A (en) False triggering prevention circuit
KR890001272A (ko) 신호 판별회로
JP2572249B2 (ja) レーザドップラ速度計
RU2042270C1 (ru) Устройство для поиска шумоподобного сигнала
JPH0749428Y2 (ja) 光電スイッチ回路
KR940016070A (ko) 듀티판별회로
JPH06326566A (ja) デジタル信号の受信装置
SU1760636A1 (ru) Устройство дл обнаружени сигнала фазового пуска
KR940007251B1 (ko) 클럭 듀티 검출회로
SU913327A1 (ru) Устройство для измерения временного интервала между симметричными импульсами 1
SU1651362A2 (ru) Устройство дл контрол последовательности чередовани импульсных сигналов
JPS5948658A (ja) エイリアシングエラ−検出回路
KR100563073B1 (ko) 샘플링 클럭신호 발생기
KR100362587B1 (ko) 다이알 펄스 측정 방법
KR900002618A (ko) 팩시밀리의 코드 감지회로