JPS63127128A - 光パワ−測定器 - Google Patents

光パワ−測定器

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JPS63127128A
JPS63127128A JP27327786A JP27327786A JPS63127128A JP S63127128 A JPS63127128 A JP S63127128A JP 27327786 A JP27327786 A JP 27327786A JP 27327786 A JP27327786 A JP 27327786A JP S63127128 A JPS63127128 A JP S63127128A
Authority
JP
Japan
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filter
light
lambda
power
light receiver
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP27327786A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Ono
義弘 大野
Hideo Nishiyama
西山 英夫
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザーやLED、照明用各種光源などの光
放射パワーを求める測定器に闇するものである。
従来の技術 従来の光パワー測定器は、標準器としては感度の波長選
択性のない熱形検出器が使われている。
また、実用的な測定器としては、シリコンホトダイオー
ドやPbSなど、波長選択性があってもより感度の高い
量子型検出器を用いて、測定する波長を狭い範囲に限定
して実用的な放射パワーの測定を行なっている。
発明が解決しようとする問題点 上記のように、波長選択性のない熱形検出器は感度が低
く、交流動作のためチョッパーを必要とし、低レベルの
放射測定時はロックインアンプを必要とするなど、扱い
も難しく、実験室での校正用の標準器として、あるいは
レーザーなどのパワー密度の高い光の測定に使用されて
いるが、光パワーの低い光源の測定は非常に困難である
。一方、シリコンフォトダイオードなどの高感度の量子
型光検出器は、感度の波長選択性が大きいため、レーザ
ー光のように波長のわかった輝線スペクトルを、M象と
する場合は、その波長の値により測定値を゛′補正する
方法で比較的高い精度が得られる。しかしながら、LE
Dや照明用光源など発光スペクトルの広いものや波長の
判らない輝線スペクトルの放射に対しては、その分光分
布を測定する以外に測定値を補正する方法がなく、その
ような光源を対象に精度の高い測定をすることは困難で
あった。
また、量子型光検出器に光学フィルタをかけて相対分光
感度をフラットにする方法もあるが、精度の高いフラッ
トな分光感度を得ることは非常に困難であり、広い波長
範囲にわたって高精度でレベルの低い放射パワーを測定
する実用的な方法がなかった。
問題点を解決するための手段 本発明は、上記問題点を解決するもので、分光感度はフ
ラットではないが感度の高い量子型光検出器を用い、連
続的な分光分布をもつ光源の放射パワーや、数本の輝線
の混合したレーザー光のパワーを、補助的な波長測定の
手段なしに高精度で、゛かつ低い光パワーのレベルで測
定する光パワー測定器を提供することを目的とする。
本発明は、量子効率の高いシリコンフォトダイオードな
と、高感度でかつ分光感度カーブが直線<tcrtきは
任意)にきわめて近い受光素子と、分光感度特性を受光
素子のみの場合とは異なった傾きの直線に近似できるよ
うな光学フィルタと、以下に示すような演算を行なう演
算器とから構成される。
以下、上述の特性の受光器とフィルタを用いて、連続し
た分光分布をもつ光源の放射パワーを測定する方法につ
いて説明する。連続した分光分布をもつ光源の放射は多
数のIIJ uの集合と考えられるので、まず、波長の
わからない2本の輝線の合計のパワーを求める場合を考
える。
いま、分光感度カーブが直線にきわめて近い受光素子の
絶対分光感度Ra(λ)を、 Ra(λ)=aλ+b   ・・・・・・・・・・・・
・(1)で表すものとする。次に、この受光素子に、分
光透過率τ(λ)が、 τ(λ)=(cλ+d)/{aλ+b)。
C≠a ・・・・・・・・・・・・・・・(2)で表さ
れる光学フィルタをかけた場合、総合の分光感度Rb(
λ)は、 Rb(λ)=cλ+d   (a≠C’)   −−−
−・(3)と表され、傾きの異なった直線となる。
次に、第2図に示すように、波長がλ1.λ2、放射パ
ワーがPleP2の2本の輝線のビームを受光素子で受
ける場合および受光素子午光学フィルタで受ける場合、
それぞれの出力信号Sa、Sbは、Sa =p+ Ra
(λl)+P2 Ra(λ2)・・・(4)Sb =P
I Rb(λI)+P2 Rb(λ2)・・・(5)で
表される。また、Ra(λ)、 Rb(λ)は、直線で
あるから、λ1とλ2の間でPlとP2の割合に応じて
次式で示される重心波長λXが存在する。
λX二λ1+P2(λ2−λt)/ (P t+ P 
2)・・(6)(4)式、(5)式を展開し整理すると
、(6)式の関係よりλ1、λ2が消去されて、 Sa =(P1+P2)(aλx+ b) =(7)S
b =(P1+P2)(cλx十d)=(8)が得られ
る。(7)、(8)式は、λXが判れば出力信号Saま
たはsbから入射パワーの総ffl P t ” P 
2が求められることを示している。しかしながら、λい
λ2、PL’、P2の各位が未知であるので、(5)式
によりλXを求めることはできない。そこで、受光器出
力Saz  Sbの比kf!:とり、k=5a/Sb 
 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)と定義
すると、(7)式、(8)式より、k =(aλx+b
)/(cλx+d) ”(10)となり、この式を変形
して、 λx=(kd−b)/{a−kc)  ・・・・(11
)が得られ、受光器出力の比kからλXを導くことがで
きる。λXが求まれば、(7)式を用いて、P1+P2
=Sa/{aλx+b) = Sa/{a(d−S a/ S b−b) (a−
c−S a/ S b)+b) (12)が得られ、P
l、P2、λ1、λ2の個々の値を知る必要なく、各受
光器の出力信号の読みS a % S bから入射パワ
ーの合計を求めることができる。
以上の計算により、合計のパワーと受光器の出力電流(
フィルタあり、なしの場合)を変えることなく、波長λ
1、λ2の2本の輝線を波長λ×の1本の輝線に置き換
えることができる。この状態にもう1本輝線λ3が加わ
った場合、同じ計算を行なって、やはり合計のパワーと
受光器の出力電流を変えることなく1本の輝線λX°に
置き換えることができ、このときの重心波長は、λいλ
2、λ3の輝線が受光器に入射したときの出力電流(フ
ィルタありとなしの場合)の比から求めた重心波長と一
致する。したがって、輝線が多数ある場合も結局、同じ
原理で、受光器の出力信号(フィルタあり、なしの場合
)の比から重心波長λx”の1本の輝線に置き換えられ
、入射パワーを求めることができる。さらに、分光分布
が連続的に変化する光源は、多数の輝線の集合と考えら
れるので、同じ原理で入射光のパワーを求めることがで
きる。
以上のように、分光感度が波長に対って直線的に変化し
、かつ絶対分光感度の値の付けられた受光器および受光
器とフィルタの組合せを用いることにより、各受光器の
出力信号の読みから入射光の放射パワーの総量を求める
手段を実現できる。
作用 本発明は、感度が高くかつ分光感度カーブが直線に近似
!きるような量子型光検出器と前記の特性をもつ光学フ
ィルタとを備え、その光学フィルタを挿入した場合と挿
入しない場合の受光素子の出力を順次読み取ることによ
り、入射光の分光分布や輝線の波長を知る必要なく入射
パワーの絶対値を容易に精度よく測定できる。
実施例 第1図は、本発明の実施例における光パワー測定−2の
構成図を示すものであり、1は被測定光源、2はアパー
チャ、3はシリコンフォトダイオード、4はガラスフィ
ルタ、5はフィルタ切換器、6は逆バイアス用電源、7
は電流電圧変換器、8はA/D変換器、9はマイクロコ
ンピュータである。
第3図は、マイクロコンピュータ9のプログラムの概略
フローチャートである。
第1図において、前記被測定光源1は照明用ランプやレ
ーザーなどの光源で、発光スペクトルがλ1からλ2の
範囲にあるものとする。また、本実施例の光パワー測定
器は前記アパーチャ2を通過した光のパワーを測定する
ものであり、アパーチャ2の開口部の大きさは、通過し
た光がすべてシリコンフォトダイオード3の受光面に当
るように決定されている。シリコンフォトダイオード3
は、逆バイアス用電源6による逆バイアス電圧を印加す
ることによりその量子効率を高めている。
一般にシリコンフォトダイオードの絶対分光感度R(λ
)は、 R(λ)=(1−ρ(λ))ε(λ)λ・e  ・・・
・(13)で表される。ここで、ρ(λ)はシリコン表
面の分光反射率、ε(λ)は内部量子効率を表している
eは定数である。内部量子効率ε(λ)は十分な逆バイ
アス電圧を印加することにより100%に近いレベルま
で高めることができる。従って、表面反射率ρ(λ)の
小さい、あるいは波長選択性の少ないものを選べばR(
λ)はかなりの波長範囲内で(例えば可視域内で)分光
感度がほぼ直線的に変化するものが実現できる。本実施
例では直線的変化の波長範囲なλ1からλ2までとする
。フォトダイオード3は、13式の各項の係数を別々の
測定で求める自己校正法と呼ばれる手法で絶対感度が値
付できるので、この方法もしくは別の方法で絶対分光感
度を値付し1式における係数a、bを求めておく。
次に、ガラスフィルタ4はフィルタ切換器5に固定され
ており、フィルタ切換器5を回転させることによりフィ
ルタなし状態、ダーク状態、フィルタありの状態を切り
換えて設定できる。ガラスフィルタ4は、分、光透過率
が2式を満足するように、つまり、シリコンフォトダイ
オード3と組合せたとき、分光感度がλ1からλ2の範
囲で直線的に変化するように分光透過率を調節する。こ
の調節は数枚のガラスフィルタを組合せて行なうが、直
線の傾きが係数aとは異なる任意の値でよいので、分光
感度をフラットにするよりもはるかに容易である。なお
、ガラスフィルタ4の分光透過率とシリコンフォトダイ
オード3の絶対分光感度から3式における係数c、dを
求めておく。
フォトダイオード3の出力信号は、電流電圧変換器7、
A/D変換器8を介してマイクロコンピュータ9に取り
込まれる。マイクロコンピュータ9は、第3図のフロー
チャートに示すごとく、フィルタ切換器5とA/D変換
器8を制御し、ダーク状態、フィルタなし状態、フィル
タありの各試態のシリコンフォトダイオード3の出力信
号(4式、5式におけるSa、Sb)を取り込み、受光
器出力の比k(9式)から重心波長λx(11式)を求
め、Saの値とλ×から入射パワー(12式)を求め、
表示する。
発明の効果 本発明の光パワー測定器は、シリコンフォトダイオード
などの、高感度であるが感度の波長選択性のある光検出
器を用いながら、入射光の分光分布を知る必要なく、広
い波長範囲にある光放射のパワーを容易に測定すること
ができ、高感度で測定精度が高く用途の広い光パワー測
定器を提供するものであり、その実用性はきわめて高い
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例における光パワー測定器の構
成図、第2図は、本発明に用いる受光素子の分光感度特
性と光学フィルタをかけた場合の分光感度特性の特性図
、第3図は同装置のマイクロコンピュータのプログラム
のフローチャートである。 1・・・・被測定光源    2・・・・アパーチャ3
・・・・シリコンフォトダイオード 4・・・・ガラスフィルタ  5・・・・フィルタ切換
器6・・・・逆バイアス用電源 7・・・・電流電圧変
換器8・・・・A/D変換器 9・・・・マイクロコンピュータ 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶対分光感度Ra(λ)が、近似的にRa(λ)=aλ
    +bなる式で表される受光器と、分光透過率τ(λ)が
    、近似的にτ(λ)=(cλ+d)/(aλ+b)で表
    されるフィルタと、このフィルタをかけない状態の受光
    器出力信号Saと前記フィルタを前記受光器前面にかけ
    た状態の受光器出力信号SbとからP=Sa/{a(d
    ・Sa/Sb−b)/(a−c・Sa/Sb)+b}な
    る式により入射放射パワーPを求める演算器とから構成
    されることを特徴とする光パワー測定器。
JP27327786A 1986-11-17 1986-11-17 光パワ−測定器 Withdrawn JPS63127128A (ja)

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JP27327786A JPS63127128A (ja) 1986-11-17 1986-11-17 光パワ−測定器

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JP27327786A JPS63127128A (ja) 1986-11-17 1986-11-17 光パワ−測定器

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JPS63127128A true JPS63127128A (ja) 1988-05-31

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JP (1) JPS63127128A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063311A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Yamatake Corp ガス検知装置
JP2009162592A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Nippon Applied Technology Inc 微弱発光分析装置

Cited By (2)

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JP2009063311A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Yamatake Corp ガス検知装置
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