JPS607221B2 - ガラス素材の分散測定方法 - Google Patents

ガラス素材の分散測定方法

Info

Publication number
JPS607221B2
JPS607221B2 JP13369776A JP13369776A JPS607221B2 JP S607221 B2 JPS607221 B2 JP S607221B2 JP 13369776 A JP13369776 A JP 13369776A JP 13369776 A JP13369776 A JP 13369776A JP S607221 B2 JPS607221 B2 JP S607221B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
measured
light
glass material
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP13369776A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5359482A (en
Inventor
正治 堀口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP13369776A priority Critical patent/JPS607221B2/ja
Publication of JPS5359482A publication Critical patent/JPS5359482A/ja
Publication of JPS607221B2 publication Critical patent/JPS607221B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明装置は、ガラス素材の分散を広い光波長範囲にわ
たって高精度に測定する装置に関するものである。
従来、ガラス素材の屈折率を測定する装置として、アッ
べの屈折計がある。
これは光源として一般にナトリウムD線(波長0.球9
rm)が使われており、この波長でしか使えない欠点が
あった。また前記の屈折計は屈折率を肉眼で読み取る方
式をとっているので、たとえ光源を変えた場合(ナトリ
ウムD線以外)でも、その測定可能な波長領域は可視光
に限定される欠点があった。本発明はこれらの欠点を除
去するため、ガラス素材の屈折率分散(屈折率の波長依
存性)を広い波長領域にわたって連続的に測定できるよ
うにしたものである。
以下図面により本発明を詳細に説明する。第1図は本発
明の実施例の構成図で、1は回折格子型分光装置、2は
同装置の光源でタングステンヨウ素ランプ、3は分光器
の2次光を除去するためのフィル夕、4,4′は単色光
束5を集東するためのコンデンサーレンズ、6は光チョ
ツパ、7は単色光東5を一定の径の光東にするための絞
り、8は被測定試料、9は3鞠方向へ微動可能なゴニオ
メータ、10は透過光をlnSb光検出素子11の受光
面に入射するための集光レンズ、12は光検出素子11
を77oKまで冷却する液体窒素、13は光検出素子1
1を3鞄方向へ微動するためのゴニオメータ、14は光
検出素子の出力を増幅するための前鷹増幅器「15は前
層増幅器14の出力をロックィソ検出するためのロック
ィン増幅器、16はロックィン増幅器を動作させるため
のIJフアレンス信号、17はロックィン増幅器15の
出力を測定するデジタル電圧計、18はデジタル電圧計
17の出力をミニコンピュー夕19に送出するためのイ
ンターフェース、2川ま分光器の波長マーカ信号、21
は計算結果を印字するためのテレタイプラィタ、22は
計算結果をグラフ化するための×−Yブロックである。
これを動作するには、タングステンヨウ素ライブ2を点
燈し、lnSb光検出素子11に液体窒素12を入れて
冷却し、動作できる状態にしておく。
ただし、光検出素子として、Siフオトダィオード、P
氏光検出素子なども使用できる。ついで被測定試料8を
入射光と垂直にゴニオメータ9に取り付け、試料8の透
過光が光検出器11の受光面に完全に集光されるように
「ゴニオメータ9および13を調整する。この際、デジ
タル電圧計亀Tの出力をモニターとして使用し、その出
力が最大出力を示すように、ゴニオメータ9,13を調
整する。次に回折格子型分光装置1の波長を変化させ、
たとえば、波長△入=100△ごとにデジタル電圧計1
7の出力電圧をインターフェース18を介してミニコン
ピュータ19に記憶させる。ついで、試料8を取り除き
、同様の測定を行う。ここで測定を開始する波長からn
番目の波長を入nとし、そのときの第1回目の波長掃引
における出力電圧をM2(^n)、第2回目の波長掃引
における出力電圧をM,(入n)とし、それらの比を「
次式のようにxnとおく肌笠舎常州 (1〕 ただし、入n一^n‐,:△入 このとき、波長^nに対する被測定ガラス素材の屈折率
N(^n)は、次式で求められる。
N(入n)= ,十ノ,一落 …”(2)Xnなお■
式の導出については後述する。
第2回目の波長婦引後、■式の計算をミニコンピュータ
19で行い、その演算結果をテレタイプラィタ21およ
びX−Yプロッ夕22によって表示する。
次に■式の導出について説明する。
第2図は、入射光強度と出射光強度の関係を示した被測
定試料8の拡大図である。
ここで、測定の波長を入n、光源のスペクトル幅を2△
^。、試料の厚さをd、波長^nにおける試料の損失係
数をQn、反射係数をR山試料の屈折率をN(^n)と
し、試料の厚さdは、波長入nに比べて十分大きいもの
とする。すなわち空羊/(ごこ)》享 が成り立つものとする。
この場合は、波長(入n−△入。)の透過光と波長(入
n十△入。)の透過光が汀以上の位相差で重なるので、
透過光(試料内の複数回の反射光を含む)に関して干渉
の効果は無視できる。したがって、第2図に示すように
、試料の両端面における複数回の反射光を加え合わせた
ものが、試料の全透過光となる。
第2図において、被測定試料の入射端側をA、出射端側
をBとする。入射光の強度(すなわち出力電圧M,(入
n)は、端面Aで1回目の反射損を受け、端面Bに到達
するときの強度は、M,(^。)(1−Rn)e‐Qが
となる。この光は、端面Bにおいて再び反射損を受け,
「透過光強度はtM,(入n)(1一Rn)2e‐Qn
dと三・なる。端面Bで反射された光は端面Aにもどり
、再び反射される。これが端面Bに到達するときの光強
度は、M,(入n)(1−Rn)Rnも‐3Qndどな
る。したがって、端面Bを透過する光強度は、M,(入
n)(1一Rn)2R〆e‐3Q汁となる。
以下、同様な反射が繰り返されるから、試料を透過する
全光強度地(^n)は、初項M,(入n)(1一Rn)
2e‐Qnd、公比M,(入n)R〆e‐2Qrの無限
等比級数の和で表わされる。
すなわち、池(人n)=M,(入n)(1‐Rn)2e
−ond十M,(入n)(1一Rn)2Rn2e‐3Q
nd+M,(^n)(1一Rn)2Rn4e‐5Qnd
+…...M,(入ジ(1−Rn)も‐Qnd (3,
1一Rn2e‐2Qndを得る。
【3}式で試料の厚さは薄く、数肋以下とすれば、Qn
d《10‐2となり、糊式から次のような近似式が得ら
れる。
地(入n)≦M・(入n)く宇美さ =M・(^n〉三骨……■ {1’,■式より Xn三三骨肌■ 一方、反射係数Rnは垂直入射の場合、フレネルの式よ
り屈折率N(^n)の関数として次式のように表わされ
る。
Rn=さ器台三}2‐‐‐‐”(6) 【動,【6}式より波長入nにおける屈折率N(^n)
はxnの関数として、N(入n)=1十ゾFをn,..
,..,..■Xnで与えられる。
第3図はm枚の同一試料を並べて測定する場合の入射光
強度と出射光強度の関係を示した被測定試料の拡大図で
あって、透過光強度M2(入n)は次式で表わされる。
地(^n)=M・(入n)(吉を)〜…州ただしmQn
d《10‐2 ‘1),【6},{7}式より、被測定試料の屈折率N
(入n)はN(^n)=・十ゾ・−mある .....
.(8〕m反古から求められる。
なお測定方法は、前述の方法と同様である。以上説明し
たように、本発明のガラス素材の分散測定方法は、ガラ
ス素材の分散を広い波長領域にわたって細かく測定でき
るので、光ガラスフアィバ特にグレーデッド形光フアィ
バの最適設計に有効なデータを提供する利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図、第3図は
入射光強度と出射光強度の関係を示した被測定試料の拡
大図である。 1・・・・・・回折格子型分光装置、2・・・・・・タ
ングステンヨウ素ランプ、3……フィル夕「4,4′…
…コンデンサレンズ、5・・…・単色光東、6・・・・
・・光チョツパ、7・・・・・・絞り、8…・・・被測
定試料、9・・・…ゴニオメータ、10……レンズ、1
1……lnSb光検出素子、12・・・・・・液体窒素
、13・・・・・・ゴニオメータ、14・・・・・・前
層増幅器、15…・・・ロックィン増幅器、16・…・
・リファレンス信号、17・・・・・・デジタル電圧計
、18・・・・・・インターフェース、19…・・・ミ
ニコンピュー夕、20…・・・波長マーカ信号し 21
……テレタイプライタ、22……X−Yプロツタ。 第2図 第1図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定ガラス素材の1枚の厚さをdとし、この素材
    の損失係数をα_nとし、この素材の枚数を少くとも1
    枚以上のm枚とし、mα_nd《10^−^2なる薄く
    、平行に研摩された被測定ガラス素材に、分光装置より
    導いた単色光を垂直に入射せしめ、該分光装置の波長を
    一定の波長差を逐次もたせてn回変化させ、各波長に対
    する透過光強度を光検出素子でn回測定し、ついで被測
    定ガラス素材を取り除き、同様の測定をn回行い、各波
    長に対する透過光強度の比x_nを求め、前記測定の第
    n回目の波長λ_nにおける被測定ガラス素材の屈折率
    N(λ_n)をN(λ_n) ▲数式、化学式、表等があります▼ なる式から求めることにより、被測定ガラス素材の屈折
    率分散を求めることを特徴とするガラス素材の分散測定
    方法。
JP13369776A 1976-11-09 1976-11-09 ガラス素材の分散測定方法 Expired JPS607221B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13369776A JPS607221B2 (ja) 1976-11-09 1976-11-09 ガラス素材の分散測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13369776A JPS607221B2 (ja) 1976-11-09 1976-11-09 ガラス素材の分散測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5359482A JPS5359482A (en) 1978-05-29
JPS607221B2 true JPS607221B2 (ja) 1985-02-22

Family

ID=15110756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13369776A Expired JPS607221B2 (ja) 1976-11-09 1976-11-09 ガラス素材の分散測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS607221B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6210112U (ja) * 1985-07-04 1987-01-22
JPH0370516U (ja) * 1989-11-15 1991-07-16

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6210112U (ja) * 1985-07-04 1987-01-22
JPH0370516U (ja) * 1989-11-15 1991-07-16

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5359482A (en) 1978-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5694931A (en) Method and apparatus for measuring concentration of absorptive constituent in scattering medium
EP0586146A1 (en) Particle measurement apparatus
JPS6049847B2 (ja) 光の強度を測定する方法及び分光計
JPH03505130A (ja) 粒子寸法分析方法および装置
CN101464256A (zh) 偏振光谱仪的偏振精度定标系统
Müller et al. Remote nanoscopy with infrared elastic hyperspectral lidar
KR900002116B1 (ko) 스펙트럼 분석 및 방향 표시 시스템
US5229839A (en) Method and apparatus for measuring the size of a single fine particle and the size distribution of fine particles
US4222667A (en) Fizeau fringe light evaluator and method
EP0071143A1 (en) Refractometer
CA1153579A (en) Optical reflection meter
CN212844874U (zh) 一种基于光学腔增强的液体测量系统
JPS607221B2 (ja) ガラス素材の分散測定方法
Hutley et al. The use of a zone-plate monochromator as a displacement transducer
JP3131242B2 (ja) 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び該装置を距離測定に使用する方法
EP3608653B1 (en) Apparatus and method for measuring particle size using backscattered light
US3669547A (en) Optical spectrometer with transparent refracting chopper
CN112986177A (zh) 一种基于新型光谱采集结构的近红外光纤光谱仪
Koski et al. High pressure angle-dispersive Brillouin spectroscopy: A technique for determining acoustic velocities and attenuations in liquids and solids
WO1996000887A1 (en) An improved optical sensor and method
CN107525589A (zh) 一种波长定标系统及方法
JPH0735610A (ja) 自己較正型電力計
Workman Optical spectrometers
EP0037761B1 (fr) Méthode de mesure de la réflectance globale d'un échantillon et réflectomètre de mise en oeuvre
CN111537414A (zh) 一种液体光学腔增强测量系统