JPS63126229A - 処理装置 - Google Patents
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- JPS63126229A JPS63126229A JP27183086A JP27183086A JPS63126229A JP S63126229 A JPS63126229 A JP S63126229A JP 27183086 A JP27183086 A JP 27183086A JP 27183086 A JP27183086 A JP 27183086A JP S63126229 A JPS63126229 A JP S63126229A
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- reaction chamber
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- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims abstract description 19
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 9
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 26
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N disilane Chemical compound [SiH3][SiH3] PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract description 9
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract 1
- 230000036632 reaction speed Effects 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910000069 nitrogen hydride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、表面処理技術、特に、光を励起手段とする表
面処理技術に適用して有効な技術に関する。
面処理技術に適用して有効な技術に関する。
表面処理技術の一つに、たとえば半導体装置を製造する
際の薄膜形成技術である、いわゆるCVD (Cham
ical Vapor Deposition)法があ
り、この技術については、昭和60年11月20日、工
業調査会発行、「電子材料J 1985年別冊、Pb0
に説明されている。
際の薄膜形成技術である、いわゆるCVD (Cham
ical Vapor Deposition)法があ
り、この技術については、昭和60年11月20日、工
業調査会発行、「電子材料J 1985年別冊、Pb0
に説明されている。
上記CVD法には、反応ガスの励起を光で行う光CVD
法がある。これは、たとえば紫外線(以下、UVともい
う。)ランプを備えた反応室に反応ガスを導入し、上記
UVランプを反応ガスに照射して反応を起こさせ、その
反応生成物を予め収容しである半導体ウェハの表面に堆
積せしめ、上記反応生成物からなる被膜の形成を行うも
のである。
法がある。これは、たとえば紫外線(以下、UVともい
う。)ランプを備えた反応室に反応ガスを導入し、上記
UVランプを反応ガスに照射して反応を起こさせ、その
反応生成物を予め収容しである半導体ウェハの表面に堆
積せしめ、上記反応生成物からなる被膜の形成を行うも
のである。
ところが、上記光CVD法を適用して形成できる被膜の
中には、たとえば窒化ケイ素(Si、N、)のように、
ジシラン(s iz Hs )とアンモニア(NH3)
とからなる反応ガスを反応室内に導入した後、該反応ガ
スにUVを照射しても十分な速度で反応を起こすことが
できないものもある。
中には、たとえば窒化ケイ素(Si、N、)のように、
ジシラン(s iz Hs )とアンモニア(NH3)
とからなる反応ガスを反応室内に導入した後、該反応ガ
スにUVを照射しても十分な速度で反応を起こすことが
できないものもある。
そのため、上記のような場合には、被膜形成に長時間を
要してしまうという問題のあることが本発明者により見
い出された。
要してしまうという問題のあることが本発明者により見
い出された。
本発明の目的は、表面処理技術においてその処理速度を
向上できる技術を提供することにある。
向上できる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、処理装置の反応室に連結されているガス導入
管内を通過する反応ガスの励起手段を設けるものである
。
管内を通過する反応ガスの励起手段を設けるものである
。
上記した手段によれば、反応ガスを反応室に入る前に予
備励起することができるため、該反応室内に導入された
上記反応ガスの反応速度を大巾に促進でき、結果として
処理速度の向上を達成できるものである。
備励起することができるため、該反応室内に導入された
上記反応ガスの反応速度を大巾に促進でき、結果として
処理速度の向上を達成できるものである。
第1図(a)は本発明による一実施例であるCVD装置
のガス導入管の概略を示す拡大部分断面図であり、第1
図(b)は上記第1図(a)におけるIB−IB断面図
である。また、第2図は上記CVD装置を示す概略説明
図である。
のガス導入管の概略を示す拡大部分断面図であり、第1
図(b)は上記第1図(a)におけるIB−IB断面図
である。また、第2図は上記CVD装置を示す概略説明
図である。
本実施例のCVD装置は、紫外線(UV)をその励起エ
ネルギーとして利用するものであり、箱形の容器1から
なるもののである。
ネルギーとして利用するものであり、箱形の容器1から
なるもののである。
上記容器1は、縦方向に3つの部屋に分けられており、
中央には反応室2が位置され、その上部には石英ガラス
からなる窓3で仕切られた部屋4が、またその下部には
同じ(石英ガラスの窓5で仕切られた部屋6が設けられ
ている。上記部屋4には赤外線ランプ7が、部屋6には
UVランプ8がそれぞれ設置されている。
中央には反応室2が位置され、その上部には石英ガラス
からなる窓3で仕切られた部屋4が、またその下部には
同じ(石英ガラスの窓5で仕切られた部屋6が設けられ
ている。上記部屋4には赤外線ランプ7が、部屋6には
UVランプ8がそれぞれ設置されている。
そして、上記反応室2には、上部の部屋4を仕切ってい
る上記窓3に対して平行に、試料設置板9が設けられて
おり、該試料設置板9の所定位置には赤外線の照射口9
aが形成されている。さらに、上記反応室2の一側壁に
は、2本のガス導入管10,108が連結されており、
該導入管10゜10aと対向する側の壁部には、排気口
11が設けられている。
る上記窓3に対して平行に、試料設置板9が設けられて
おり、該試料設置板9の所定位置には赤外線の照射口9
aが形成されている。さらに、上記反応室2の一側壁に
は、2本のガス導入管10,108が連結されており、
該導入管10゜10aと対向する側の壁部には、排気口
11が設けられている。
本実施例においては、第1図に拡大して示すように、一
方のガス導入管10の周囲にUVランプ12が設けられ
ているものである。すなわち、容器1に近接する位置の
ガス導入管10が、ガス導入部13と該ガス導入部13
を取り囲む放電空間14を形成する外周壁15とからな
る二重構造で形成されている。上記空間140両端部に
は、電RI6に接続された対向電極17.178が取付
けられている。そして、上記空間14中には水銀蒸気が
封入されている。また、外周壁15の内面には、金属の
蒸着膜からなる鏡面15aが形成されている。
方のガス導入管10の周囲にUVランプ12が設けられ
ているものである。すなわち、容器1に近接する位置の
ガス導入管10が、ガス導入部13と該ガス導入部13
を取り囲む放電空間14を形成する外周壁15とからな
る二重構造で形成されている。上記空間140両端部に
は、電RI6に接続された対向電極17.178が取付
けられている。そして、上記空間14中には水銀蒸気が
封入されている。また、外周壁15の内面には、金属の
蒸着膜からなる鏡面15aが形成されている。
上記UVランプ12は、対向電極17および17aの間
に所定の電圧を印加することにより放電が起こり、発光
が開始されるものである。その際、外周壁15に鏡面1
5aが被着されているため、全ての光をガス導入部13
の中を流れる反応ガスに集中的に照射することができる
ものである。
に所定の電圧を印加することにより放電が起こり、発光
が開始されるものである。その際、外周壁15に鏡面1
5aが被着されているため、全ての光をガス導入部13
の中を流れる反応ガスに集中的に照射することができる
ものである。
次に、本実施例の作用について、窒化ケイ素(Si、H
4)膜の被着形成を具体例として説明する。
4)膜の被着形成を具体例として説明する。
まず、試料である半導体ウェハ18を上記試料設置板9
に取付ける。その際、半導体ウェハ18の裏面で照射口
9aを塞ぐようにする。
に取付ける。その際、半導体ウェハ18の裏面で照射口
9aを塞ぐようにする。
半導体ウェハ18の取付けが完了した後、該ウェハ18
を加熱するための赤外線ランプ7、反応を起こさせるた
めのUVランプ8右よびガス導入管10に周設されたU
Vランプ12をそれぞれ作動させ、処理開始条件を整え
る。その後、反応ガスの一つであるアンモニア(NH3
)を上記ガス導入管10から、他の一つであるジシラン
(Si2 H6)を上記ガス導入管10aからそれぞれ
反応室2の中へ供給する。その結果、反応室2の内部で
はUVで励起されたアンモニアとジシランとが反応して
窒化ケイ素が生成し、この生成した窒化ケイ素が上記半
導体ウェハ18の表面に順次堆積していくことになる。
を加熱するための赤外線ランプ7、反応を起こさせるた
めのUVランプ8右よびガス導入管10に周設されたU
Vランプ12をそれぞれ作動させ、処理開始条件を整え
る。その後、反応ガスの一つであるアンモニア(NH3
)を上記ガス導入管10から、他の一つであるジシラン
(Si2 H6)を上記ガス導入管10aからそれぞれ
反応室2の中へ供給する。その結果、反応室2の内部で
はUVで励起されたアンモニアとジシランとが反応して
窒化ケイ素が生成し、この生成した窒化ケイ素が上記半
導体ウェハ18の表面に順次堆積していくことになる。
上記反応を所定時間継続することにより、所望の膜厚か
らなる窒化ケイ素膜の被着形成を達成できるものである
。
らなる窒化ケイ素膜の被着形成を達成できるものである
。
このように、本実施例によれば以下の効果を得ることが
できる。
できる。
(1)3反応室2に連結されているアンモニア供給用の
ガス導入管10について、ガス導入部13を取り囲む形
状のUVランプ(反応ガスの励起手段)を設けることに
より、該アンモニアを反応室2の中でジシランと共にU
Vランプ8により励起して反応させる前に、予め励起さ
せることができるので、上記アンモニアとジシランとの
反応を促進させることができる。
ガス導入管10について、ガス導入部13を取り囲む形
状のUVランプ(反応ガスの励起手段)を設けることに
より、該アンモニアを反応室2の中でジシランと共にU
Vランプ8により励起して反応させる前に、予め励起さ
せることができるので、上記アンモニアとジシランとの
反応を促進させることができる。
(2)、上記(1)により、半導体ウェハ18への窒化
ケイ素膜の被着形成を速やかに行うことができるので、
上記被膜形成工程の所要時間を短縮することができる。
ケイ素膜の被着形成を速やかに行うことができるので、
上記被膜形成工程の所要時間を短縮することができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発胡は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発胡は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、前記実施例では、予め励起するためのUVラ
ンプ12がアンモニアを供給するためのガス導入管10
にのみ設けられている場合について説明したが、逆にジ
シラン供給用のガス導入管10aについてのみ設けたも
のであっても、また上記ガス導入管10および10aの
両者に設けたものであってもよい。さらに、上記2種の
反応ガスを別々なガス導入管より供給するものに限らず
、予備励起用のUVランプを上記2種の反応ガスからな
る混合ガスを供給する1つのガス導入管に設けることも
できる。
ンプ12がアンモニアを供給するためのガス導入管10
にのみ設けられている場合について説明したが、逆にジ
シラン供給用のガス導入管10aについてのみ設けたも
のであっても、また上記ガス導入管10および10aの
両者に設けたものであってもよい。さらに、上記2種の
反応ガスを別々なガス導入管より供給するものに限らず
、予備励起用のUVランプを上記2種の反応ガスからな
る混合ガスを供給する1つのガス導入管に設けることも
できる。
また、窒化ケイ素膜を被着させる場合であっても、反応
ガスはジシランとアンモニアに限るものでないことはい
うまでもない。被膜の種類も当然のことながら、窒化ケ
イ素に限るものでなく、シリコン酸化膜等の如何なるも
のであってもよい。
ガスはジシランとアンモニアに限るものでないことはい
うまでもない。被膜の種類も当然のことながら、窒化ケ
イ素に限るものでなく、シリコン酸化膜等の如何なるも
のであってもよい。
したがって、反応ガスの数も2つからなるものに限らず
、1つまたは3つ以上の反応ガスを使用するものであっ
てもよい。そして、3つ以上のガス導入管を有する場合
についても、UVランプはその一部に設けてもよく、ま
た、全部に設けてもよい。
、1つまたは3つ以上の反応ガスを使用するものであっ
てもよい。そして、3つ以上のガス導入管を有する場合
についても、UVランプはその一部に設けてもよく、ま
た、全部に設けてもよい。
さらに、反応ガスを予め励起するための手段は、前記実
施例の如<UVランプ12に限るものでなく、使用する
反応ガスにより加熱手段等の他の励起手段であってもよ
いことはいうまでもない。また、UVを上記励起手段と
して使用する場合であっても、実施例に示したVUラン
プ12である必要はなく、ガス導入管を通る反応ガスに
UVを照射できるものであれば如何なる構造のものであ
ってもよい。特に実施例では、外周壁15の内面に被着
されている金属鏡面15aが露出されている構造のもの
を示したが、該鏡面15aの上にガラス膜等の透明膜を
被着形成してもよい。こうすることにより、上記鏡面を
有効に保護することができる。
施例の如<UVランプ12に限るものでなく、使用する
反応ガスにより加熱手段等の他の励起手段であってもよ
いことはいうまでもない。また、UVを上記励起手段と
して使用する場合であっても、実施例に示したVUラン
プ12である必要はなく、ガス導入管を通る反応ガスに
UVを照射できるものであれば如何なる構造のものであ
ってもよい。特に実施例では、外周壁15の内面に被着
されている金属鏡面15aが露出されている構造のもの
を示したが、該鏡面15aの上にガラス膜等の透明膜を
被着形成してもよい。こうすることにより、上記鏡面を
有効に保護することができる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその利用分野であるCVD装置に適用した場合につい
て説明したが、これに限定されるものではなく、たとえ
ば反応室に供給された反応ガスを励起させて被処理物の
表面処理を行う処理技術であれば種々のものに適用して
有効である。
をその利用分野であるCVD装置に適用した場合につい
て説明したが、これに限定されるものではなく、たとえ
ば反応室に供給された反応ガスを励起させて被処理物の
表面処理を行う処理技術であれば種々のものに適用して
有効である。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。
すなわち、処理装置の反応室に連結されているガス導入
管内を通過する反応ガスの励起手段を設けることにより
、反応ガスを上記反応室に入る前に予備励起することが
できるので、反応室内に導入された上記反応ガスの反応
速度を大巾に促進することができる。したがって、処理
速度を向上することができるため、上記処理工程の所要
時間を短縮することが可能となるものである。
管内を通過する反応ガスの励起手段を設けることにより
、反応ガスを上記反応室に入る前に予備励起することが
できるので、反応室内に導入された上記反応ガスの反応
速度を大巾に促進することができる。したがって、処理
速度を向上することができるため、上記処理工程の所要
時間を短縮することが可能となるものである。
第1図(a)は本発明による一実施例であるCVD装置
のガス導入管の概略を示す拡大部分断面図、第1図ら)
は第1図(a)におけるIB−rB断面図、第2図は上
記CVD装置を示す概略説明図である。
のガス導入管の概略を示す拡大部分断面図、第1図ら)
は第1図(a)におけるIB−rB断面図、第2図は上
記CVD装置を示す概略説明図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、反応室に連結されているガス導入管を通して該反応
室内に反応ガスを供給して処理を行う処理装置であって
、上記ガス導入管内を通過する反応ガスを励起する手段
が設けられてなる処理装置。 2、上記励起手段が、ガス導入部を囲繞する紫外線発生
手段であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の処理装置。 3、ガス導入管が複数あり、少なくともその一つのガス
導入管に上記励起手段が設けられていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27183086A JPS63126229A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27183086A JPS63126229A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63126229A true JPS63126229A (ja) | 1988-05-30 |
Family
ID=17505454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27183086A Pending JPS63126229A (ja) | 1986-11-17 | 1986-11-17 | 処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63126229A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120055402A1 (en) * | 2009-03-31 | 2012-03-08 | Tokyo Electron Limited | Processing apparatus |
JP2014104386A (ja) * | 2012-11-26 | 2014-06-09 | Ushio Inc | ガス活性化装置および窒素酸化物処理装置 |
-
1986
- 1986-11-17 JP JP27183086A patent/JPS63126229A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120055402A1 (en) * | 2009-03-31 | 2012-03-08 | Tokyo Electron Limited | Processing apparatus |
US9150965B2 (en) * | 2009-03-31 | 2015-10-06 | Tokyo Electric Limited | Processing apparatus |
JP2014104386A (ja) * | 2012-11-26 | 2014-06-09 | Ushio Inc | ガス活性化装置および窒素酸化物処理装置 |
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