JPS63125680A - 気相堆積装置 - Google Patents
気相堆積装置Info
- Publication number
- JPS63125680A JPS63125680A JP26851586A JP26851586A JPS63125680A JP S63125680 A JPS63125680 A JP S63125680A JP 26851586 A JP26851586 A JP 26851586A JP 26851586 A JP26851586 A JP 26851586A JP S63125680 A JPS63125680 A JP S63125680A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- substrates
- substrate
- cvd
- chambers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 title abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 81
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 25
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 27
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 11
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 6
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims description 6
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims description 5
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 23
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 8
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010574 gas phase reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000010512 small scale reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は気相堆積装置に係り、特に基板の処理枚数を向
上させるに好適な気相堆積装置に関する。
上させるに好適な気相堆積装置に関する。
基板上にSiO2等の薄膜?形成するに際しては、真空
状態にした反応容器内に基板載置き、導入した反応ガス
ケ紫外光によって励起し、基板上に薄膜を形成する気相
堆積装置が用いられる。
状態にした反応容器内に基板載置き、導入した反応ガス
ケ紫外光によって励起し、基板上に薄膜を形成する気相
堆積装置が用いられる。
この種装置に関するものとして、特開昭60−3012
2、特開昭59−52836および特開昭60−520
13等がある。
2、特開昭59−52836および特開昭60−520
13等がある。
第4図は特開昭60−30122に示された構成乞示す
断面図である。密封構造の反応容器31の天井部に設げ
られた光透過窓33の上部には、紫外線ランプ32が配
設されている。反応容器内の底面寄りにサセプタ34が
設げられ、このサセプタ34上に基板35が載置される
。基板35の近傍には反応ガス供給管36が設けられる
と共に、光透過窓33の下部にはその汚れをガス噴射に
よって清掃するための不活性ガス供給管37が設けられ
ている。反応容器31の側壁には、気相反応に用いられ
なかった反応ガス2排出させろための排気管38が設げ
られている。また、サセプタ34の下部には基板35を
加熱し、反応を促進させるための加熱体39が配設され
ている。
断面図である。密封構造の反応容器31の天井部に設げ
られた光透過窓33の上部には、紫外線ランプ32が配
設されている。反応容器内の底面寄りにサセプタ34が
設げられ、このサセプタ34上に基板35が載置される
。基板35の近傍には反応ガス供給管36が設けられる
と共に、光透過窓33の下部にはその汚れをガス噴射に
よって清掃するための不活性ガス供給管37が設けられ
ている。反応容器31の側壁には、気相反応に用いられ
なかった反応ガス2排出させろための排気管38が設げ
られている。また、サセプタ34の下部には基板35を
加熱し、反応を促進させるための加熱体39が配設され
ている。
第4図において、反応容器31内のサセプタ34に基板
35を載置し、内部を真空状態にしたのち反応ガス供給
管36よっ反応ガスを供給すると共に紫外線ランプ32
を点灯する。ランプ320発生する紫外線によって反応
ガスが励起され、基板35上に薄膜(Si02)が形成
される。ま1こ、このとき加熱体39に通電し、サセプ
タ34を介して基板35を加熱し、反応ン容易にする。
35を載置し、内部を真空状態にしたのち反応ガス供給
管36よっ反応ガスを供給すると共に紫外線ランプ32
を点灯する。ランプ320発生する紫外線によって反応
ガスが励起され、基板35上に薄膜(Si02)が形成
される。ま1こ、このとき加熱体39に通電し、サセプ
タ34を介して基板35を加熱し、反応ン容易にする。
ところで、このような装置において、基板の処理枚数Z
増加すなわちスループットを向上させたい場合、装置を
大型化し、反応容器内に載置する基板枚数を増加するこ
とによって対処している。
増加すなわちスループットを向上させたい場合、装置を
大型化し、反応容器内に載置する基板枚数を増加するこ
とによって対処している。
この−例を示したのが第5図である。
反応容器41は複数枚の基板45を同時にセットするこ
とができ、その天上部に設けられた光透過窓43の上部
には紫外線ランプ42が設けられている。反応容器41
の側壁には排気管46が設けられ、また反応容器41の
底面には先端部を基板45側に向Bz反応ガス供給管4
8が設げられている。さらに反応容器41内の上部には
、管口を光透過窓43に向16 r、−不活性ガス供給
管49が配設されている。
とができ、その天上部に設けられた光透過窓43の上部
には紫外線ランプ42が設けられている。反応容器41
の側壁には排気管46が設けられ、また反応容器41の
底面には先端部を基板45側に向Bz反応ガス供給管4
8が設げられている。さらに反応容器41内の上部には
、管口を光透過窓43に向16 r、−不活性ガス供給
管49が配設されている。
第5図の構成にあっては、複数の基板45Y同時にセッ
トし、以後、第3図の場合と同様に気相反応を行なわせ
る。
トし、以後、第3図の場合と同様に気相反応を行なわせ
る。
しかし、上記の如き従来例にあっては、装置を大型化し
た場合、基板枚数に比例した大きさのランプ、光透過窓
を用いると共に、透過窓に設置する合成石英ガラスの板
厚を厚くする必要がある。
た場合、基板枚数に比例した大きさのランプ、光透過窓
を用いると共に、透過窓に設置する合成石英ガラスの板
厚を厚くする必要がある。
ところが合成石英ガラスは第6図に示すように。
ガラスの厚みが厚くなると、紫外線ランプ(通常低圧水
銀ランプ)による共鳴線(185nm。
銀ランプ)による共鳴線(185nm。
254nmの波長)での透過率が減少する。一方、光照
射のなされた反応ガスによる膜堆積は、紫外線強度に関
係のあることが学会発表(第46回応用物理学会(19
85年度秋期)扁桃ほか2名「5i02膜の光CVD過
程の照射波長依存性、J2P−W−S)等で報告されて
いる。このことから明らかなように、光透過窓のガラス
板厚ン厚くすることは、膜堆積速度を遅くし、スループ
ットの減少を招くことになる。
射のなされた反応ガスによる膜堆積は、紫外線強度に関
係のあることが学会発表(第46回応用物理学会(19
85年度秋期)扁桃ほか2名「5i02膜の光CVD過
程の照射波長依存性、J2P−W−S)等で報告されて
いる。このことから明らかなように、光透過窓のガラス
板厚ン厚くすることは、膜堆積速度を遅くし、スループ
ットの減少を招くことになる。
また、合成石英ガラスは、8 i Cj4等を原料とし
て製造した超高純度の二酸化珪素の結晶体であって、特
殊な製法を用いているため、製造能力に限界があり、大
きなものは作れない。し定かって量産性が悪いと共に製
造コストが高くつくという問題がある。
て製造した超高純度の二酸化珪素の結晶体であって、特
殊な製法を用いているため、製造能力に限界があり、大
きなものは作れない。し定かって量産性が悪いと共に製
造コストが高くつくという問題がある。
さらに、光透過窓43の曇りを防止するために不活性ガ
スによるパージを行っているが、窓面積が大きくなると
パージ面積も大きくなるため、全面の曇り防止は極めて
困難である。
スによるパージを行っているが、窓面積が大きくなると
パージ面積も大きくなるため、全面の曇り防止は極めて
困難である。
以上より明らかなように、従来の気相堆積装置にあって
は、工業的に大量に薄膜を製造することは、多大なコス
トと技術的課題?解決せねばならないという問題がある
。
は、工業的に大量に薄膜を製造することは、多大なコス
トと技術的課題?解決せねばならないという問題がある
。
本発明の目的f工、上記従来技術の実情に鑑みてなされ
たもので、小規模の反応容器を用いながら薄膜作製のス
ルーブツトを向上できるようにした気相堆積装置を提供
することにある。
たもので、小規模の反応容器を用いながら薄膜作製のス
ルーブツトを向上できるようにした気相堆積装置を提供
することにある。
上記問題点を解決するため、本発明は、反応ガスに光エ
ネルギーを照射して気相化学反応ビ生じさせ、雰囲気中
に配設された基板に漠膜を堆積させる気相堆積装置にお
いて、連結された各室へ処理対象の基板を搬入・搬出す
る際の中継部となる予備室と、該予備室にゲート弁を介
して連結されて反応ガス及び光エネルギーの気相化学反
応によって雰囲気中の基板に膜堆積を行なう複数の光C
VD室と、該光CV ])室の各々より順番に搬入され
た基板に対し反応ガス及び熱エネルギーの気相化学反応
によって膜堆積を行なう減圧CVD室と、前記各光CV
D室より前記減圧CVD室へ前記予備室を介して基板?
搬送する基板搬送機構と暑設げて構成しである。
ネルギーを照射して気相化学反応ビ生じさせ、雰囲気中
に配設された基板に漠膜を堆積させる気相堆積装置にお
いて、連結された各室へ処理対象の基板を搬入・搬出す
る際の中継部となる予備室と、該予備室にゲート弁を介
して連結されて反応ガス及び光エネルギーの気相化学反
応によって雰囲気中の基板に膜堆積を行なう複数の光C
VD室と、該光CV ])室の各々より順番に搬入され
た基板に対し反応ガス及び熱エネルギーの気相化学反応
によって膜堆積を行なう減圧CVD室と、前記各光CV
D室より前記減圧CVD室へ前記予備室を介して基板?
搬送する基板搬送機構と暑設げて構成しである。
上記手段によると、複数の光CVD室によって基板上に
一次的に薄膜を形成し、ついで各党CVD室より搬入さ
れた基板に対し減圧CVD室で減圧CVD法によって多
数枚の基板に薄膜が形成できるため、大型の光源や光透
過窓を用いることなく気相堆積装置を構成できる。
一次的に薄膜を形成し、ついで各党CVD室より搬入さ
れた基板に対し減圧CVD室で減圧CVD法によって多
数枚の基板に薄膜が形成できるため、大型の光源や光透
過窓を用いることなく気相堆積装置を構成できる。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例ケ説明する平面図、第2図は
第1図の装置の■−■矢視断面図である。
第1図の装置の■−■矢視断面図である。
気相処理過程にあって基板の移送中継所となる予備室1
には、光CVD (Chemica/ VaporDe
pos i t i on )室2.3、減圧CVD室
4及びローダ・アンローダ室5の各々が、ゲート弁6゜
7.8及び9の各々を介して連結されている。
には、光CVD (Chemica/ VaporDe
pos i t i on )室2.3、減圧CVD室
4及びローダ・アンローダ室5の各々が、ゲート弁6゜
7.8及び9の各々を介して連結されている。
第2図に示すように、光CVD室2の天井部には光通過
窓13が設けられ、その上部に紫外線ランプ12が配設
されている。光CVD室2の底部に加熱ヒータ15及び
排気管16が設げられている。ま1こ、光通過窓13の
下部にf工不活性ガス供給管17が配設され、加熱ヒー
タ15の上部にはサセプタ18が設けられている。
窓13が設けられ、その上部に紫外線ランプ12が配設
されている。光CVD室2の底部に加熱ヒータ15及び
排気管16が設げられている。ま1こ、光通過窓13の
下部にf工不活性ガス供給管17が配設され、加熱ヒー
タ15の上部にはサセプタ18が設けられている。
また、縦長に構成された減圧CVD室4は、天井壁内お
よび側壁内に加熱ヒータ20が埋設され、底部より反応
ガス供給管21が突設されている。
よび側壁内に加熱ヒータ20が埋設され、底部より反応
ガス供給管21が突設されている。
さらに底面には排気管22が設けられると共に基板ボー
ト24の位置を調整するボート移動機構23が設けられ
ている。基板ボート24を工、予備室1より搬入された
基板11χ順次積み重ねるものである。
ト24の位置を調整するボート移動機構23が設けられ
ている。基板ボート24を工、予備室1より搬入された
基板11χ順次積み重ねるものである。
予備室1を工、処理対象の基板11を真空下において各
CVD室へ搬入用する1こめの中継基地として機能する
。
CVD室へ搬入用する1こめの中継基地として機能する
。
減圧CVD室4は、光CVDを行なうための光CVD室
2及び3より搬入された基板11’&加熱し、減圧下に
て熱CVD−g行なうものである。
2及び3より搬入された基板11’&加熱し、減圧下に
て熱CVD−g行なうものである。
ローダ−アンローダ室5は、処理対象の基板7セツトし
、或いは処理済みの基板を取り出″′fためのものであ
る。
、或いは処理済みの基板を取り出″′fためのものであ
る。
ゲート弁6〜9は、予備室1と各反応室及びローダ・ア
ンローダ室5の各々と7区分する機能を持っている。
ンローダ室5の各々と7区分する機能を持っている。
なお、このほか第1図及び第2図には図示していないが
、反応室内を減圧状態に保持jる1こめの排気ポンプが
設げられている。
、反応室内を減圧状態に保持jる1こめの排気ポンプが
設げられている。
さらに、予備室1は第2図に示すように、予備室1は、
基板11を光CVD室2及び3.ローダ−アンローダ室
5、減圧CVD室4等、各部屋間の基板移動Z行なうた
めの基板搬送機構19、予備室1内を真空に保つ(図示
せず)ための排気ポンプにより構成される。尚、25は
排気管である。
基板11を光CVD室2及び3.ローダ−アンローダ室
5、減圧CVD室4等、各部屋間の基板移動Z行なうた
めの基板搬送機構19、予備室1内を真空に保つ(図示
せず)ための排気ポンプにより構成される。尚、25は
排気管である。
次に、第1図及び第2図に示す実施例の動作について説
明する。
明する。
基板11は、ローダ・アンローダ室5に多数枚が同時に
入れられた後、ゲート弁6を開けて基板搬送機構19に
より予備室1内に1枚だけ搬入される。次にゲート弁6
を閉めて、排気管25より排気し、予備室1内を真空に
する。次にあらかじめ真空に保たれていた光CVD室2
へ、ゲート弁7Z開げ、基板搬送機構19により基板1
1が搬入される。光CVD室1ではゲート弁7が閉めら
れπ後、加熱ヒータ15により基板11Y加熱し。
入れられた後、ゲート弁6を開けて基板搬送機構19に
より予備室1内に1枚だけ搬入される。次にゲート弁6
を閉めて、排気管25より排気し、予備室1内を真空に
する。次にあらかじめ真空に保たれていた光CVD室2
へ、ゲート弁7Z開げ、基板搬送機構19により基板1
1が搬入される。光CVD室1ではゲート弁7が閉めら
れπ後、加熱ヒータ15により基板11Y加熱し。
紫外線ランプ12より光透過窓13を通して基板上に紫
外線を照射すると共に、反応ガス供給管14より反応ガ
スを吹き出てことによって、基板11上に5i02の薄
膜を堆積させる。同時に不活性ガス馨不活性ガス供給管
17より吹き出すことにより、光透過窓13への反応生
成物の付着乞防止し、光の透過率馨一定に保つようにす
る。この膜厚は最終的に本装置で必要とされる膜厚以下
でよく、光照射時間も数十秒〜数分で良い。
外線を照射すると共に、反応ガス供給管14より反応ガ
スを吹き出てことによって、基板11上に5i02の薄
膜を堆積させる。同時に不活性ガス馨不活性ガス供給管
17より吹き出すことにより、光透過窓13への反応生
成物の付着乞防止し、光の透過率馨一定に保つようにす
る。この膜厚は最終的に本装置で必要とされる膜厚以下
でよく、光照射時間も数十秒〜数分で良い。
一方、光CVD室2内に基板11を搬入し、ゲート弁7
を閉めに後、予備室1内は大気圧に戻され、再びゲート
弁6を開け、ローダ・アンローダ室5より1枚の基板1
1が搬入される。ゲート弁6を閉めた後、再び予備室1
を真空にし、光CVD室2の場合と同じ手順で、光CV
D室3に搬入し、ここで基板11上に薄膜を作製する。
を閉めに後、予備室1内は大気圧に戻され、再びゲート
弁6を開け、ローダ・アンローダ室5より1枚の基板1
1が搬入される。ゲート弁6を閉めた後、再び予備室1
を真空にし、光CVD室2の場合と同じ手順で、光CV
D室3に搬入し、ここで基板11上に薄膜を作製する。
光CVD室2での反応が終了すると、残留ガスを排気管
16より排出させ、ゲート弁7ビ開げ、基板11を予備
室1に取り出し、次にゲート弁9を開け、基板11を減
圧CVD14に搬入してゲート弁9を閉める。基板11
はあらかじめボート移動機構23により適切な位置に設
定されに基板ボートに納められろ。次に未処理基板を前
述と同様の方法で光CVD室2へ搬入し、基板11に薄
膜を堆積させる。また、同様にして、光CVD室3にて
処理済の基板11を前述と同様にして減圧CVD室4に
納める。このような手順乞繰り返し減圧CVD室4内に
基板11ケ所定枚数載置した後、加熱ヒータ20を用い
て基板11’4加熱し、反応ガス供給管21より反応ガ
スを供給して基板11上に薄膜を堆積させる。この場合
、加熱温度は前述した如く、従来の減圧CVDと異なり
、光CVDに用いた温度程度の低温である。反応終了後
は、ゲート弁9を開げ、基板ボート移動機構23を移動
させながら、順次基板をローダ・アンローダ室5へ搬送
する〇 以上のように、光CVDと減圧CVDを組合せることに
より、従来の問題点ン解決することができる。
16より排出させ、ゲート弁7ビ開げ、基板11を予備
室1に取り出し、次にゲート弁9を開け、基板11を減
圧CVD14に搬入してゲート弁9を閉める。基板11
はあらかじめボート移動機構23により適切な位置に設
定されに基板ボートに納められろ。次に未処理基板を前
述と同様の方法で光CVD室2へ搬入し、基板11に薄
膜を堆積させる。また、同様にして、光CVD室3にて
処理済の基板11を前述と同様にして減圧CVD室4に
納める。このような手順乞繰り返し減圧CVD室4内に
基板11ケ所定枚数載置した後、加熱ヒータ20を用い
て基板11’4加熱し、反応ガス供給管21より反応ガ
スを供給して基板11上に薄膜を堆積させる。この場合
、加熱温度は前述した如く、従来の減圧CVDと異なり
、光CVDに用いた温度程度の低温である。反応終了後
は、ゲート弁9を開げ、基板ボート移動機構23を移動
させながら、順次基板をローダ・アンローダ室5へ搬送
する〇 以上のように、光CVDと減圧CVDを組合せることに
より、従来の問題点ン解決することができる。
本来、減圧CV D +’l!、熱エネルギーを利用し
た薄膜製造プロセスであり、膜作製時の温度は。
た薄膜製造プロセスであり、膜作製時の温度は。
800℃〜1000℃χ用いている。このため、半導体
中の不純物プロファイルの変化を生じせしめたり、電極
材であるアルミニウム等の低融点金属上に膜を作製し多
層構造のデバイス?製作することができないなどの欠点
がある。しかし、基板を容器内に多数載置(−1加熱す
ることで膜膜作製できるため、スループットが大きいと
いう利点がある。
中の不純物プロファイルの変化を生じせしめたり、電極
材であるアルミニウム等の低融点金属上に膜を作製し多
層構造のデバイス?製作することができないなどの欠点
がある。しかし、基板を容器内に多数載置(−1加熱す
ることで膜膜作製できるため、スループットが大きいと
いう利点がある。
一方、光CVD″′cは、光エネルギーを利用している
ので、常温〜400℃程度の低温で膜乞作製できるとい
う特徴があるため、熱CVDにおける不純物プロファイ
ルの変化発生、多層構造のデバイスの製作困難さ等の問
題を生じない利点がある。
ので、常温〜400℃程度の低温で膜乞作製できるとい
う特徴があるため、熱CVDにおける不純物プロファイ
ルの変化発生、多層構造のデバイスの製作困難さ等の問
題を生じない利点がある。
また、近年の学会発表(昭和61年、応用物理学会予稿
集、2P−C−1Or光CVD法による絶縁膜の堆積」
検波ほか1名等)によれば、一旦光を照射して堆積した
膜の上には、1気圧のN2ガスで表面被覆をしない限り
、光の照射り行なわなくても減圧CVDにおいて膜が堆
積しない低い温度で膜堆積が持続するという効果がある
ことが実験的に明らかにされてきている(光イニシェー
ション効果)。
集、2P−C−1Or光CVD法による絶縁膜の堆積」
検波ほか1名等)によれば、一旦光を照射して堆積した
膜の上には、1気圧のN2ガスで表面被覆をしない限り
、光の照射り行なわなくても減圧CVDにおいて膜が堆
積しない低い温度で膜堆積が持続するという効果がある
ことが実験的に明らかにされてきている(光イニシェー
ション効果)。
このような例から、−担光CVDを行なった後減圧CV
D7行なうことで、熱CVD乞低温で行なうことができ
るようになるため、高温プロセスとしての前述の問題が
なくなると共に、光CVD装置において、基板処理枚数
を多くできないという問題馨も同時に解決することがで
きろ。
D7行なうことで、熱CVD乞低温で行なうことができ
るようになるため、高温プロセスとしての前述の問題が
なくなると共に、光CVD装置において、基板処理枚数
を多くできないという問題馨も同時に解決することがで
きろ。
以上示した本発明の実施例によれば、具体的に次のよう
な問題点?解決することができる。
な問題点?解決することができる。
(1)光CVD室の基板処理枚数はせいぜい1枚で良い
ため、高スルーブツトの光CVD装置であるにもかかわ
らず、光CVD室を小型にできるために、大型の光源、
大口径の光透過窓が不必要となり、前述した製造能力の
問題やコスト上の問題を解決するばかりでなく、窓くも
りの防止も容易となる。
ため、高スルーブツトの光CVD装置であるにもかかわ
らず、光CVD室を小型にできるために、大型の光源、
大口径の光透過窓が不必要となり、前述した製造能力の
問題やコスト上の問題を解決するばかりでなく、窓くも
りの防止も容易となる。
(2) また、本発明になる装置は減圧CVD室で基
板ン上下に重ねて処理できるため、装置の設置単位面積
当りの基板処理枚数が飛躍的に増大L、安価な膜を提供
できる。
板ン上下に重ねて処理できるため、装置の設置単位面積
当りの基板処理枚数が飛躍的に増大L、安価な膜を提供
できる。
(3)前述の如く、減圧CVD室においても低温で膜馨
作製できろため、従来の熱CVDで問題となっていた、
不純物プロファイルの変化がなく、且つ多層配線も可能
となるので、集積度の高いデバイスにも利用できる。
作製できろため、従来の熱CVDで問題となっていた、
不純物プロファイルの変化がなく、且つ多層配線も可能
となるので、集積度の高いデバイスにも利用できる。
(4)最初の膜は光CVDを用いて作製するため、下地
となる膜又は基板にダメージを与えないので界面特性の
良好な膜が作製できる。
となる膜又は基板にダメージを与えないので界面特性の
良好な膜が作製できる。
以上に示す如く1本発明による気相堆積装置を用いれば
、安価で良質な膜を提供できる。
、安価で良質な膜を提供できる。
第5図は本発明の他の実施例を示す平面図である。本実
施例は、光CVD室を3室(62,63゜64)を設け
、これらをゲート弁69.70及び71乞介して予備室
61に連結すると共に、独立したローダ66とアンロー
ダ67をゲート弁72及び68を介して予備室61に連
結し、更にゲート弁73乞介して減圧CVD室655−
予備室61に連結したものである。
施例は、光CVD室を3室(62,63゜64)を設け
、これらをゲート弁69.70及び71乞介して予備室
61に連結すると共に、独立したローダ66とアンロー
ダ67をゲート弁72及び68を介して予備室61に連
結し、更にゲート弁73乞介して減圧CVD室655−
予備室61に連結したものである。
本実施例は、第1図の実施例のローダ・アンローダ室5
を各々の機能に独立させると共に、光VCD室を増設し
1こものであり、その動作を工、基本的に前述の実施例
と同様であるが、光CVD室が増加した分だけ、効率良
く減圧CVD室65に基板を送り込むことができるため
、時間当りの処理枚数を増加大できるという利点がある
。
を各々の機能に独立させると共に、光VCD室を増設し
1こものであり、その動作を工、基本的に前述の実施例
と同様であるが、光CVD室が増加した分だけ、効率良
く減圧CVD室65に基板を送り込むことができるため
、時間当りの処理枚数を増加大できるという利点がある
。
以上説明した通り、本発明によれば、光源および光透過
窓?大型化することなく、大量の薄膜製造が可能となり
、スルーブツトが高く安価な気相堆積装置が得られる。
窓?大型化することなく、大量の薄膜製造が可能となり
、スルーブツトが高く安価な気相堆積装置が得られる。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図の■−■矢視断面図、第3図は本発明の他の実施例を
示す平面図、第4図は従来の気相堆積装置を示す断面図
、第5図は薄膜製造の大量化ケ図った従来の気相堆積装
置を示す断面図、第6図は光透過窓に用いられる合成石
英ガラスの厚みに対する透過率と波長の関係ン示す特性
図である。 1.61・・・・・・予備室、2,3,62,63゜6
4・・・・・・光CVD室、4,65・・・・・・減圧
CVD室。 5・・・・・・ローダ番アンローダ室、6〜9.68〜
73・・・・・・ゲート弁、66・・・・・・ローダ、
67・・・・・・アンローダ。 「′ 〜 l−… 第4図 第5図 第6図 ム 波長(μm)
図の■−■矢視断面図、第3図は本発明の他の実施例を
示す平面図、第4図は従来の気相堆積装置を示す断面図
、第5図は薄膜製造の大量化ケ図った従来の気相堆積装
置を示す断面図、第6図は光透過窓に用いられる合成石
英ガラスの厚みに対する透過率と波長の関係ン示す特性
図である。 1.61・・・・・・予備室、2,3,62,63゜6
4・・・・・・光CVD室、4,65・・・・・・減圧
CVD室。 5・・・・・・ローダ番アンローダ室、6〜9.68〜
73・・・・・・ゲート弁、66・・・・・・ローダ、
67・・・・・・アンローダ。 「′ 〜 l−… 第4図 第5図 第6図 ム 波長(μm)
Claims (1)
- 反応ガスに光エネルギーを照射して気相化学反応を生じ
させ、雰囲気中に配設された基板に漠膜を堆積させる気
相堆積装置において、連結された各室へ処理対象の基板
を搬入・搬出する際の中継部となる予備室と、該予備室
にゲート弁を介して連結されて反応ガス及び光エネルギ
ーの気相化学反応によつて雰囲気中の基板に膜堆積を行
なう複数の光CVD室と、該光CVD室の各々より順番
に搬入された基板に対し反応ガス及び熱エネルギーの気
相化学反応によつて膜堆積を行なう減圧CVD室と、前
記各光CVD室より前記減圧CVD室へ前記予備室を介
して基板を搬送する基板搬送機構とを具備することを特
徴とする気相堆積装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26851586A JPS63125680A (ja) | 1986-11-13 | 1986-11-13 | 気相堆積装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26851586A JPS63125680A (ja) | 1986-11-13 | 1986-11-13 | 気相堆積装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63125680A true JPS63125680A (ja) | 1988-05-28 |
Family
ID=17459584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26851586A Pending JPS63125680A (ja) | 1986-11-13 | 1986-11-13 | 気相堆積装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63125680A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02294018A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-05 | Hitachi Ltd | 成膜装置 |
JPH03505946A (ja) * | 1988-06-17 | 1991-12-19 | アドヴァンスド、セミコンダクター・マテリアルズ・アメリカ・インコーポレーテッド | ベルヌーイのピックアップを備えるウエーハ取り扱いシステム |
US5156881A (en) * | 1987-03-18 | 1992-10-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
JPH04314349A (ja) * | 1991-04-11 | 1992-11-05 | Mitsutoyo Corp | 真空リソグラフィ装置 |
JP2005169267A (ja) * | 2003-12-11 | 2005-06-30 | Dainippon Printing Co Ltd | 成膜装置および成膜方法 |
-
1986
- 1986-11-13 JP JP26851586A patent/JPS63125680A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5156881A (en) * | 1987-03-18 | 1992-10-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
US5385763A (en) * | 1987-03-18 | 1995-01-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
US5458919A (en) * | 1987-03-18 | 1995-10-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
US5591486A (en) * | 1987-03-18 | 1997-01-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
US5776557A (en) * | 1987-03-18 | 1998-07-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for forming a film on a substrate by activating a reactive gas |
JPH03505946A (ja) * | 1988-06-17 | 1991-12-19 | アドヴァンスド、セミコンダクター・マテリアルズ・アメリカ・インコーポレーテッド | ベルヌーイのピックアップを備えるウエーハ取り扱いシステム |
JPH02294018A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-05 | Hitachi Ltd | 成膜装置 |
JPH04314349A (ja) * | 1991-04-11 | 1992-11-05 | Mitsutoyo Corp | 真空リソグラフィ装置 |
JP2005169267A (ja) * | 2003-12-11 | 2005-06-30 | Dainippon Printing Co Ltd | 成膜装置および成膜方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6753506B2 (en) | System and method of fast ambient switching for rapid thermal processing | |
US6835417B2 (en) | Method and device for depositing thin layers via ALD/CVD processes in combination with rapid thermal processes | |
JP6944990B2 (ja) | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム | |
JPH05275519A (ja) | 多室型基板処理装置 | |
TW200937561A (en) | Heat treatment apparatus, and method for controlling the same | |
CN110299304A (zh) | 基板处理装置、半导体装置的制造方法和记录介质 | |
JP2011066254A (ja) | 基板処理装置 | |
JPS63125680A (ja) | 気相堆積装置 | |
TW201729328A (zh) | 裝載鎖定裝置中的基板冷卻方法、基板搬運方法及裝載鎖定裝置 | |
JPH03218017A (ja) | 縦型熱処理装置 | |
TW201133560A (en) | Method of manufacturing semiconductor device and substrate processing apparatus | |
JP4003206B2 (ja) | 熱処理装置および熱処理方法 | |
US7211514B2 (en) | Heat-processing method for semiconductor process under a vacuum pressure | |
JP2010135505A (ja) | 真空装置 | |
JP2003224079A (ja) | 熱処理方法、熱処理装置およびシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法 | |
JPH09181060A (ja) | 薄膜成膜装置 | |
JP2022182381A (ja) | 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理方法およびプログラム | |
JP2000031058A (ja) | アモルファスシリコン薄膜製造方法 | |
JP2005019499A (ja) | 成膜装置及び成膜方法 | |
JPS63144537A (ja) | ウエハ搬送装置 | |
JP2023141761A (ja) | 半導体装置の製造方法、基板処理方法、プログラム、及び基板処理装置 | |
JP2000012480A (ja) | 熱処理装置 | |
JPS62133075A (ja) | Cvd薄膜形成装置 | |
JP2001107251A (ja) | 化学蒸着方法及び化学蒸着装置 | |
JP2008144277A (ja) | アモルファスシリコン薄膜製造方法 |