JPS63115039A - 検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）利用分野 この発明は、一般に容器及びその他の物体を検査するた
めの装置及び方法に関係しており、更に詳しくはそのよ
うな物体におけるきず及びその他の特徴を光学的に検出
する１こめの装置及び方法を扱っている。

（ロ）従来技術及びこの発明が解決しようとする問題点
ガラス製品におけるきすはひびの形式をとることがあり
、三つσ）工〈ある形式のひびは垂直のひび、水平環状
のひび及び水平糸状のひびである。

ひびはしばしば、ガラス製品の仕上げ部分で生じ。

ガラス製品を著しく弱めて割れに導くので好ましくない
。

そのようなひびを検出するための既知の装置は、８６仕
上げの異なった局所部分にそれぞれ光を導く複数の白熱
電球、及びひびからの反射後の白熱電球の関連のものの
光を受けるように配置された複数の光学的上ンサを備え
ている。白熱電球及びセンサは検査場所で支持され、こ
の場所において容器は回転させられて仕上げ部分におけ
る各ひびが少なくとも一つの白熱電球による照明及び少
なくとも一つのセンサによる観察にさらされる。

各ひびの形状及び位置は正確には予測され得ないので、
白熱電球及びセンサは試験容器におけるひびを検出する
ように実験的に配置されろ。そのような実験中、まず白
熱電球は水平に対」−で前もって決定された角度でひび
のある仕上げ領域の方へ光７投射てるように配置されろ
。次に、試験容器が回転させられ、そして操作員は容器
におけるひびが関連の白熱電球からの光を反射する角度
を視覚的に決定する。最後に、光学的センサがこの反射
角度に沿って配置される。この手順は各対の白熱電球及
び関連の光学的センサに対して繰り返される。注意する
べきことであるが、白熱電球からの光の可視性は調整手
順を容易にする。

この方式は有効であることがわかっているが。

白熱電球によって放出され１こ光が周囲光から定性的に
識別不可能であるので、ひびから反射１−だ光に対して
十分な信号対雑音比乞与える際には幾つかの困難が経験
されている。又、各白熱電球からの光が別の白熱電球の
光学的センサに時折反射することがあるので、クロスト
ークについて＜４つかの難点が存在する。このような反
射が容器の非欠陥領域の照明から生じた場合には、欠陥
のない瓶が欠陥のあるものとみなされて抜根排除されろ
ことがある。

セレ、ト（Ｓｅｒｒｅｔ）への米国特許第３８５１９７
５号は、白熱電球、この白熱電球と容器との間に配置さ
れた機械的な変調用円板、複数の光学的センサ、及びこ
の光学的センサに接続された複数の電子的受信器からな
る検査装置を開示（−でいろ。変調用円板は複数群のオ
リフィスを備えており、各群のオリフィスは等間隔に配
置され且つ円板軸の周りに円心的に配置されている。白
熱電球からの元は各群のオリフィスを通過し且つ断続さ
れてパルス状の照明パターンが形成されろ。各群のオリ
フィスの数及び間隔は他の群のオリフィスの数及び間隔
とは異なっているので、各群を通過した光は他の群の光
とは異なったパルス周波数を持つている。各受信器は関
連の光学的センサの放出光の周波数に同調させられてい
る。従って、各群のオリフィスによって変調され且つ容
器によって反射された光は他のオリフィスの光とは区別
され得るので、クロストークは最小化される。そのよう
な同調は又信号対雑音比を改善する。しかしながら。

ある種の装置のためには、米国特許第３８５１９７５号
のこの機械的方式はかさばりすぎ且つ他の変調周波数を
導入する振動に感じやすいことがある。

従って、この発明の一般的な目的は、高い信号対雑音比
、低度のクロストーク、扱いやすい大きさ、及び可動部
品の欠如を与える。容器におけるきず及びその他の特徴
ン検出するための検査装置を提供することである。関係
の方法も又望まれる。

（ハ）問題点を解決する１こめの手段 この発明は欠陥及びその他の特徴について容器乞検査す
るための装置に存する。この装置は、前記の容器の第１
領域を照明するように配置された第１の発光ダイオード
又はその他の源、第１被変調方式で発光ダイオード又は
その他の源を駆動するための第１駆動器、及び容器の第
１領域を照明する第１の源の光を受けるように配置され
た第１の光検出器又はその他のセンサ、を備えている。

第１復調器が第１光検出器の出力を復調して検査情報乞
抽出する。この装置は又、容器の第２領域を照明するよ
うに配置された第２の発光ダイオード又はその他の光源
、第２被変調方式で第２の発光ダイオード又はその他の
源を駆動するための第２駆動器、及び容器の第２領域を
照明する第２光源の光を受けるように配置された第２の
光検出器又はその他のセンサ、を備えている。第２復調
器が第２元検出器の出力を復調１−１従って第１及び第
２の発光ダイオード又はその他の源の間のクロストーク
が最小化されろ。

（ニ）実施例 今度は図面に移ると、第１図はこの発明が具体比されて
いる。総括的に１０で示された検査装置が図解されてい
る。装置１０は三つの発光ダイオード装置１２．１４及
び１６．これらの発光ダイオード装置１２．１４及び１
６のそれぞれとそれぞれ関連した三つの光検出器ダイオ
ード装置１８．２０及び２２．これらの発光ダイオード
装置及び光検出器装置ヶ支持するためのブラケット２６
．並びにそれぞれの装置内にある高輝度可視光の発光ダ
イオードを駆動【７且つそれぞれの装置内にある光検出
器ダイオードによって与えられた信号を処理するための
電子制御器６０を備えている。発光ダイオード装置及び
光検出器ダイオード装置はそれぞれガラス容器６２の仕
上げ部分に向けられている。例として１発光器／受光器
対１２．１８は垂直のひびに対して走査を行い、発光器
／受光器対１４゜２０は環状のひびに対して走査を行い
、且つ発光器／受光器対１６．２２は糸状のひびに対し
て走査を行う。やはり例として、各対の光検出器ダイオ
ード装置はひびから反射した光の経路に対応して関連の
発光ダイオード装置に対（−て相当の円周方向の角度で
配置されている。

第２図に例示されたように、発光ダイオード装置１２は
反射光の前述の経路に対応するように垂直方向に相当の
角度、関連の光検出器ダイオード装置１Ｂからずらされ
ている。例えば１発光ダイガード装置は容器仕上げ部の
方へ水平からＦＪ６０゜の上向き角度で光７投射てろよ
うに支持され且つ関連のセンサ１８は水平の上方：ｆＪ
３０°の角度で容器仕上げ部から上方へ投射された光を
受けるように支持されている。第２図には示、されてい
ないが。

他の対１ａ、２０及び１６．２２の発光ダイオード装置
及び光検出器ダイオード装置も同様に互いに垂直方向に
ずらされている。

検査中容器３２は二つの転輪３５．ろ５に対（−て作用
するプーリ３１及びベルト３３に工って回転させられる
。

図面には例示されていないけれども、発光ダイオード装
置１２．ｉ４及び１６並びに光検出器ダイオード装置１
８．２０及び２２の正確な位置は実験的に決定された。

まず、操作員は各発光ダイオード装置を配置して動作さ
せ、それから容器３２をゆっくり回転させた。次に操作
員はセンサ光学系乞通Ｉ、て観察により関連のひびの形
式から反射の角度乞視寛的に決定（７た。それから、操
作員は反射の角度に沿って光検出器ダイオード装置を配
置Ｌ　７Ｃ。ブラケット２６の溝穴６４は発光ダイオー
ド装置及び光検出器ダイオード装置のそのような精密な
配置を容易にする。

今度はこの発明に焦点を合わせろと、第３図及び４図は
発光ダイオード装置１２．１４及び１６並び如関連の光
検出器ダイオード装置１８．２０及び２２を制御する。

電子制御器６０の回路部乞概略的に図示している。第３
図に例示され１こ工うに。

電子制御器３０は周波数Ｆｏの正弦波を供給するための
、外部周波数制御用コンデンサ４２を備えた発振器４０
を備えている。例と【−で１発Ｓ器４０σ）周波数は１
５キロヘルツである。発振器７ｉＱは正弦波形を二つの
同じ電流運動器５２ａ及び５２ｂに供給（−１これらの
駆動器はそれぞれ正弦波形を方形比して発光ダイオード
装置１２及び１４乞駆動する。従って１発光ダイオード
装置１２及び１４は周波数ＦＯで脈動する被変調光を放
出する。

発光ダイオード装置１２によって原始的に送出され且つ
容器３２から光検出器ダイオード装置１８の万へ反射さ
れた光は第５図に図解されているが、光検１ｆ５器ダイ
オード装置１８はこの光に工り、Ｆ。

に等しい基本周波数を持った信号を出力する。この光に
より光検出器装置１８の出力は又、容器３２の回転と、
垂直σ）ひびが発光器／受光器対１２．１４の場を通過
するときの反射光の輝度における変動と【−で起因する
基本周波数のわずかに上及び下の周波数成分を含んでい
ろ。光検出器装置１８の出力は又１発光ダイオード装置
１６による照明と。

光検出器装置１８により受光された容器３２からの反射
とに起因する別の基本周波数？含んでいろ。

第５図のパターンの比較的高輝度の部分は符号５４によ
って総括的に示されていて、垂直のひびからの装置１２
の光の反射に対応（−でおり、又第５図のパターンの比
較的低輝度の部分５６．５６は、垂直のひびを含んでい
ない容器３２の仕上げ部の領域からの装置１２の元の反
射に対応している。

光検出器ダイオード装置１８の出力は受信器６０ａに供
給されるが、この受信器はその信号を増幅するものであ
り１周波数Ｆｏ乞中心とする帯域フィルタを選択的に含
んでいろ。受信器６０　ａの出力は復調器６２ａに供給
されろが、この復調器は。

例えば、乗算６６３ａ及び低域フィルタ６５ａを備えて
いる。乗算器６３ａＶｃは二つの入力がありて、一方は
受信器６０ａに接続されており且つ他方は発振器４０の
出力に接続されている。乗算器６３ａの出力は、容器３
２の回転によって引き起こされた振幅変調のものに近い
第１の低周波数範囲１周波数Ｆ。のほぼ２倍の第２の比
較的高い周波数範囲、並びに光検出器装置１８によって
受光された発光ダイオード装置１６の元に起因する第１
の範囲より十分上の第３及び第４の周波数範囲において
実質的なエネルギーを含んでいる。乗算器の出力は低域
フィルタ６５ａ？：通されて、第２゜第３及び第４の範
囲の比較的高い周波数成分が減衰させられ、これにより
乗算信号の第１範囲の比較的低い周波数の包絡線が検出
されろ。この包絡線は垂直のひび部分５４に対応する比
較的高い大きさの部分、及び正常な部分５６．５６に対
応５ｊる比較的低い大きさの部分を備えている。別の方
法として、復調器６２は位相同期ループ回路を含むこと
もできる。

復調器６２ａの出力は、垂直σ）ひびに対応する比較的
高い大きさの包絡線部分を仕上げ部のひび無し部分に対
応する比較的低い大きさの包絡線部分から区別するため
にしきい値検出器６ｄａに供給されろ。１．きい値検出
器６１１ａは排除制御器７０に出力を送るための増幅器
を選択的に含んでいろが、この排除制御器は垂直のひび
を含んでいろ容器を排除するための排除器（図示されて
いない）に信号を送るものである。

発光ダイオード装置１４によって原始的に送出され且つ
環状ひびによって光検出器ダイオード装置２０の方へ反
射された光は同様に、前述の受信器６０ａ、復調器６２
ａ及びしきい値検出器６４ａとそれぞれ同じである受信
器６０ｂ、復調器６２ｂ及びしきい値検１ｆｌｌｌ器６
４ｂＫよって処理されろ。

しきい値検出器６４ｂの出力も又、環状ひびの存在乞指
示し且つその後環状ひびを含んでいろ容器の排除を生じ
させるために排除制御器７０に供給される。

発光ダイオード装置１２及び１４の変調又はパルス比動
作方式並びに対応する復調回路部６２ａ及び６２ｂの利
用は、復調６６２ａ及び６２ｂ（並びに受信器６０ａ及
び６Ｏｂ内の選択的な帯域フィルタ）が周囲光に対応す
る信号を区別し且つ減衰させるので、「この発明の背景
」において記載された白熱電球方式のものの信号対雑音
比に比べて反射光の信号対雑音比を改善する。注意され
るべきことであるが１発光ダイオード装置１２及び１４
は同じ変調又はパルス比周波数で動作するので１発光ダ
イオード装置１２によって放出された光の周波数成分は
発光ダイオード装置１４から放出された光のそれとは容
易には区別され得ない。しかしながら１図示の例では１
発光ダイオード装置１２及び１４と光検出器ダイオード
装置２０及び２２との間の相対的配置のために、そσ）
ような区別は必要でない。発光ダイオード装置１２によ
って放出された元はほとんど光検出器ダイオード装置２
０に、！：って捕えられず、又発光ダイオード装置１４
によって放出された光はほとんど光検出器ダイオード装
置１８によって捕えられない。

第４図に例示されたように、電子制御器３０は又、外部
の周波数制御用コンデンサ７５１有する発振器７３を備
えている。発振器７３は１例えば約１９キロヘルツであ
る周波数Ｆ１を持った正弦波形を出力する。選択的な１
９キロヘルツは発振器４０の選択的な１５キロヘルツか
ら十分に分離゛されているので、関連の光検出器装置に
工っ一〇発生された。結果として生じるそれらの信号は
関連の復調器の適当な低域フィルタ又はその他の特徴に
よって互い忙区別され得る。発振器７３の出力は電流駆
動器５２ｃに供給されろが、この駆動器は駆動器５２ａ
及び５２ｂと同じであって１発光ダイオード装置１６を
駆動する。装置１６によって放出され且つ糸状のひびに
よって関連の光検出器ダイオード装置２２の方へ反射さ
れ定光のために装置２２は発振器７６のＦｌ　に等しい
基本周波数と糸状のひびが光検出器ダイオード装置２２
の場を通過することによって引き起こされたわずかによ
り低い周波数及びより高い周波数とを持った信号を出力
する。元検Ｉｆｌ器ダイオード装置１６は又１発光ダイ
オード装置１２及び１４によって原始的に放出された。

他方の周波数Ｆ。の光を受ける。受信器７４は光検出器
ダイオード装置２２の出力を増幅するものであり、周波
数Ｆ、を中心とする帯域フィルタタ選択的に備えている
。受信器７４の出力は復調器６２ｃに供給されるが、こ
の復調器は、装置１６によって放出されたＦ、の光に対
応する増幅器７４の出力官号の包絡ｉを検出するもので
ある。例として１幅調器６２ｃは復調ｅ６２ａ及び６２
ｂに類似しており、基本周波数Ｆ、を待った信号の包絡
線を検出するように溝底されている。復調器６２ｃの出
力はしきい値検出’６６１１ａ及び６４ｂに類似してい
るしきい値検出器６４ｃに供給され、そしてしきい値検
出器６４ｃの出力も又排除制御器に供給される。

発光ダイオード装置１６のパルス化変調、及び周波数Ｆ
１　に同調している対応する処理回路部７４及び６２ｃ
は、上述の理由のために信号の信号対雑音比を改善する
。更に、この発明の目的に従って１発光ダイオード装置
１６及び関連の電子回路は周波数Ｆ、で動作し且つ発光
ダイオード装置１２゜１４及び関連の電子回路は周波数
Ｆ。で動作【−１且つ周波数Ｆ１は周波数Ｆ。とは実質
的に分離されて（・るので、クロストークは最小ｆヒさ
れろ。すなわち、１ことえ発光ダイオード装置１２又は
１４から放出された光が容器６２から光検出器ダイオー
ド装置２２の方へ反射しても又は光検出器ダイオード装
置２２の方へ直接放出されても、そのような光から生じ
た電気信号は受信器７４内の選択的な帯域フィルタ及び
復調器６２ｃによって減衰させられるので、そのような
光は発光ダイオード装置１６によって放出され且つ糸状
のひびによって光検出器ダイオード装置２２の方へ反射
された光と混同されない。逆に、発光ダイオード装置１
６カしくルス比変調周波数Ｆ、で光？放出し且つ復調器
６２ａ及び６２ｂがＦｏに同調しく且つ選択的な受信器
６０ａ及び６０ｂがＦｏに同調し）ているので、光検出
器ダイオード装置１８又は２０によって捕えられたその
ような任意の光は１発光ダイオード装置１６から放出さ
れ且つ容器仕上げ部におけるひびによって反射された光
とは区別可能である。

又注意されるべきことであるが、この発明の他の目的に
従って、この検査装置は可動部分を必要とせず、撮動に
対して免疫性がある。

前述の事柄により、容器及びその他の装置を検査するた
めの装置及び方法が開示された。（−かしながら、この
発明の範囲から逸脱することなく多くの変更例及び置換
例を作ることができろ。例えば、所望ならば容器におけ
るその他のきす、又は容器断面のようなその他の特徴を
検出するために。

一つ以上の付加的な発光器／受光器対を鵡備１−でもよ
い。そのような付加的な発光器／受光器対は。

クロストークを避けろために第３の周波数１例えば２５
キロヘルツで動作させればよい。

又、所望ならば１両発光ダイオード装置１２及び１４ｆ
ｔ同じ駆動６５２ａにより駆動し且つそれぞれの光検出
器ダイオード装置６０ａ及び６０ｂの出力を同じ受信器
６０ａに供給］−でもよい。別の方法として、所望なら
ば１発光ダイオード装置１２から放ｌ１１：ｌされた光
が光検出器ダイオード装置２０によって捕えられろか又
は発光ダイオード装置１４から放出された光が光検出器
ダイオード装置１８によって捕えられろ場合に・は発光
器／受光器対１４．２０を発振器４０とは異なった発振
器から発振器４０及び７６とは異なった周波数で動作さ
せてもよい。

又、所望ならば、任意の一つの源に関連して二つ以上の
受信器を使用し、これをこの源と同じ周波数に同調させ
てもよい。これは同じ種類のひびが種種の角度で反射を
行う場合に有効である。

又、所望ならば、高輝度発光ダイオード装置の光を光フ
ァイバによって所定の方向に導き且つ反射光を捕えろた
めに光ファイバを使用１−てもよい。

又、光検出器ダイオード装置を反射方式ではなく透過方
式で動作させである種の形式の容器特徴部による光の阻
止を検出するようにしてもよい。それゆえ、この発明は
限定ではなく例示の目的で開示されており、この発明の
範囲を決定するためには各請求項の記載を参照するべき
である。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明乞具体ｆと（−だ検査装置及び容器の
上面図である。 第２図は容器及び第１図の検査装置の一つの発光器／受
信器対の側面図である。 第３図は第１図の検査装置の電子制御器内の二つの発光
器／受信器対のための回路部の構成図である。 第４図は第１図の電子制御器内のもう一つの発光器／受
信器対のための回路部の構成図である。 第５図は第１図の容器から反射された一つの発光器σ）
光を図解したものである。 これらの図面において、１０は検査装置、１２゜１４．
１６は発光ダイオード装置、１８，２０．２２は光検出
器装置、３０は電子制御器、３２は容器。 ４０は発振器、　５２ａ、５２ｂ、５２ｃは電流駆動器
、６０ａ　、　６０ｂは受信器、６２ａ、６２ｂ、６２
ｃは復調器。 ６４ａ、６４ｂ、６４ｃはシきい値検出器、７０は排除
検出器、７３は発振器、７４は受信器を示していＦＩＧ
、１ ４ｂ ＦＩＧ・５４５４ ｔ ／−ｆ　−／ 手　　続　　補　　正　　書 特許庁長官　　小　川　邦　夫　殿 １、事件の表示 昭和６２年特許Ｕ第２４９６６９号 ２、発明の名称 検査装置 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住所 名称　エムハート・インダストリーズ・インコーホレー
テッド ４、代　理　人 （別紙） （１）明細書の［特許請求の範囲］を次の通りに補正す
る。 「（１）容器の第１領域を可視光で照明するように配置
されたｆｊＳｉ全Ｓｉイオードと、前記の第１発光ダイ
オードをパルス化方式により第１基本周波数で駆動する
ための第１駆動器装置と、 前記のｍ１ｆｉ域におけるひびから反射される前記第１
発光ダイオードの光を受けるように配置された第１光検
出器装置と、 前記の第１光検出器装置から検査情報を引き出すために
前記の第１光検出器装置に結合され且つ前記の第１基本
周波数に同調している第１受信器・復調器装置と、 前記の容器の第２領域を可視光で照明するように配置さ
れた第２発光ダイオードと、 前記の第２発光ダイオードをパルス化方式により第２基
本周波数で駆動するための第２駆動器装置と、 前記の第２１ｉ域におけるひびから反射される前記第２
発光ダイオードの光を受けるように配置された第２光検
出器装置と、 前記の第２光検出器装置から検査情報を引き出すために
前記の第２光検出器装置に結合され且っ前記の第２基本
周波数に同調している第２受信器・復調器装置と、 を備えている、ガラス容器を検査するための装置。 （２）前記の容器の第３領域を可視光で照明するように
配置された第３発光ダイオードと、前記の第３発光ダイ
オードをパルス化方式により第１基本周波数で駆動する
ための第３装置と、前記の第３発光ダイオードの光を避
けながら前記のＮｆＪ３領域におけるひびから反射され
る前記第３発光ダイオードの光を受けるように配置され
た第３光検出器装置と、及び 前記の第３光検出器装置から検査情報を引き出すために
前記の第３光検出器装置に結合され且つ前記の第１基本
周波数に同調している第３受信器・復調器装置と、 を更に備えている、特許請求の範囲第１項に記載の装置
。 （３）検査中に中心軸の回りに容器を回転するための装
置を含むことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
装置。 （４）前記第１及び第２ｇ４域は前記容器の仕上げ部で
ある、特許請求の範囲第１項記載の装置。」以　　　上

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、容器の第１領域を照明するように配置された第１光
   源、 前記の第１光源をパルス化方式により第１基本周波数で
   駆動するための第１駆動器装置、前記の容器の前記の第
   １領域を照明する前記の第１光源の光を受けるように配
   置された第１光検出器装置、 前記の第１光検出器装置から検査情報を引き出すために
   前記の第１光検出器装置に結合され且つ前記の第１基本
   周波数に同調していろ第１受信器・復調器装置、 前記の容器の第２領域を照明するように配置された第２
   光源、 前記の第２光源をパルス化方式により第２基本周波数で
   駆動するための第２駆動器装置、前記の容器の前記の第
   ２領域を照明する前記の第２光源の光を受けるように配
   置された第２光検出器装置、及び 前記の第２光検出器装置から検査情報を引き出すために
   前記の第２光検出器装置に結合され且つ前記の第２基本
   周波数に同調している第２受信器・復調器装置、 を備えている、容器を検査するための装置。 ２、前記の第１光源が第１の発光ダイオードからなり且
   つ前記の第２光源が第２の発光ダイオードからなってい
   る、請求項１に記載の装置。 ３、前記の第１及び第２の発光ダイオードが可視光を放
   出する、請求項２に記載の装置。 ４、前記の容器の第３領域を照明するように配置された
   第３光源、 前記の第３光源をパルス方式により前記の第１基本周波
   数で駆動するための第３装置、 前記の第１光源の光を避けながら前記の容器の前記の第
   ３領域を照明する前記の第３光源の光を受けるように配
   置された第３光検出器装置、及び 前記の第３光検出器装置から検査情報を引き出すために
   前記の第３光検出器装置に結合され且つ前記の第１基本
   周波数に同調している第３受信器・復調器装置、 を更に備えている、請求項１に記載の装置。 ５、前記の第１光検出器装置が前記の容器の前記の第１
   領域におけるひびから反射した光を受けるように配置さ
   れており、且つ 前記の第２光検出器装置が前記の容器の前記の第２領域
   におけるひびから反射した光を受けるように配置されて
   いる、 請求項１に記載の装置。 ６、ガラス容器を照明するように配置された第１発光ダ
   イオード、 前記の第１発光ダイオードを第１被変調方式で駆動する
   ための第１駆動器装置、 前記の容器を照明する前記の第１発光ダイオードの元を
   受けるように配置された第１光検出器装置、 前記の第１光検出器装置の出力を復調するための第１復
   調器装置、 前記の容器を照明するように配置された第２発光ダイオ
   ード、 前記の第２発光ダイオードを第２被変調方式で駆動する
   ための第２駆動器装置、 前記の容器を照明する前記の第２発光ダイオードの光を
   受けるように配置された第２光検出器装置、及び 前記の第１発光ダイオードと前記の第２発光ダイオード
   との間のクロストークが最小化されるように前記の第２
   光検出器装置の出力を復調するための第２復調器装置、 を備えている、ガラス容器を検査するための装置。 ７、前記の第１発光ダイオードが前記の容器の第１領域
   を照明するように配置されており、 前記の第１光検出器装置が前記の容器の前記の第１領域
   におけるひびから反射した光を受けるように配置されて
   おり、 前記の第２発光ダイオードが前記の容器の第２領域を照
   明するように配置されており、且つ前記の第２光検出器
   装置が前記の容器の前記の第２領域におけるひびから反
   射した光を受けるように配置されている、 請求項６に記載の装置。 ８、ガラス容器の第１領域を第１被変調光で照明する段
   階、 前記の第１領域における第１のきずから反射した前記の
   第１被変調光を検出して対応する第１出力信号を発生す
   る段階、 前記の第１出力信号を復調して前記の第１のきずを検出
   する段階、 前記の容器の第２領域を第２被変調光で照明する段階、 前記の第２領域における第２のきずから反射した前記の
   第２被変調光を検出して対応する第２出力信号を発生す
   る段階、及び 前記の第２出力信号を復調して前記の第２領域における
   前記の第２のきずを検出する段階、を含んでいる、ガラ
   ス容器のきずを検査するための方法。