JPS63108596A - Read only memory device - Google Patents
Read only memory deviceInfo
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- JPS63108596A JPS63108596A JP61254990A JP25499086A JPS63108596A JP S63108596 A JPS63108596 A JP S63108596A JP 61254990 A JP61254990 A JP 61254990A JP 25499086 A JP25499086 A JP 25499086A JP S63108596 A JPS63108596 A JP S63108596A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は読み出し専用メモリ装置に係わり、特にMOS
)ランジスタて構成された読み出し専用メモリ装置に関
する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a read-only memory device, and in particular to a MOS
) A read-only memory device configured with transistors.
[従来の技術]
従来、この種の読み出し専用メモリ装置は第3図に示さ
れているようなものが知られている。第3図において、
1〜Nは入力端子であり、これらの入力端子1〜Nはソ
ースを接地されたMOSトランジスタQll〜QINの
ゲートに接続されている。QOはMOS)ランジスタて
構成された抵抗であり、MO3抵抗QOのソースは電源
電位Vddに接続されている。データの記憶はMOS)
ランジスタQll〜QINのドレインをMOS抵抗QO
のドレインに接続するか否かによりなされる。すなわち
、M OS )ランジスタQll〜QINのドレインが
MO5抵抗QOのドレインに接続されていると、入力端
子1〜Nが高レベルに移行した時、電源電位Vddから
MO5抵抗QOとMOS)ランジスタQll〜QINを
介して電流が流れるので、MO5抵抗QOのドレイン電
圧は低レベルになる。これに対して、MOSトランジス
タQll〜QINのドレインとMO5抵抗QOのドレイ
ンとが接続されていないと、MO3抵抗QOのドレイン
は高レベルを維持し、かかるMOS抵抗のドレイン電圧
によりMOS)ランジスタQ11〜QINに書き込まれ
ているデータD1を知ることができる。[Prior Art] Conventionally, this type of read-only memory device as shown in FIG. 3 is known. In Figure 3,
1 to N are input terminals, and these input terminals 1 to N are connected to the gates of MOS transistors Qll to QIN whose sources are grounded. QO is a resistor configured as a MOS transistor, and the source of the MO3 resistor QO is connected to the power supply potential Vdd. Data storage is MOS)
The drains of transistors Qll to QIN are connected to MOS resistors QO
This depends on whether or not it is connected to the drain of the That is, if the drains of the MOS) transistors Qll~QIN are connected to the drains of the MO5 resistors QO, when the input terminals 1~N shift to high level, the MO5 resistors QO and the MOS) transistors Qll~ Since current flows through QIN, the drain voltage of MO5 resistor QO will be at a low level. On the other hand, if the drains of the MOS transistors Qll~QIN and the drains of the MO5 resistors QO are not connected, the drains of the MO3 resistors QO maintain a high level, and the drain voltage of the MOS resistors causes the drains of the MOS transistors Q11~ Data D1 written in QIN can be known.
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、上記従来例にあっては記憶しているデー
タによってはデータの読み出し期間中、常時電源電位V
ddと接地端子との間に電流通路が形成されるので、メ
モリ装置の消費電力が大きくなるという問題点があった
。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the above-mentioned conventional example, depending on the stored data, the power supply potential V is constantly maintained during the data read period.
Since a current path is formed between dd and the ground terminal, there is a problem in that the power consumption of the memory device increases.
本発明の目的は消費電力の少ない読み出し専用メモリ装
置を提供することである。An object of the present invention is to provide a read-only memory device with low power consumption.
[問題点を解決するための手段、作用及び効果]本発明
に係わる読み出し専用メモリ装置は複数の入力端子と、
ソースを第1基準電圧源に接続され上記入力端子に供給
される信号により選択されるとオンする複数の記憶素子
と、ソースを第2基準電圧源に接続された電流供給トラ
ンジスタ手段とを有し、記憶させるべきデータに対応さ
せて上記記憶素子と電流供給トランジスタ手段のドレイ
ンとを選択的に接続した読み出し専用メモリ装置におい
て、上記電流供給トランジスタ手段なドレインとゲート
とを互いに交差接続しドレインが第1基準電圧になると
オフする1対のトランジスタで構成し、上記記憶素子の
ドレインを記憶させるべきデータに対応させて上記1対
のトランジスタの何れかのドレインに接続したことを特
徴としている。[Means, actions and effects for solving the problems] A read-only memory device according to the present invention has a plurality of input terminals,
a plurality of storage elements having a source connected to a first reference voltage source and turned on when selected by a signal supplied to the input terminal; and current supply transistor means having a source connected to a second reference voltage source. , in a read-only memory device in which the storage element and the drain of the current supply transistor means are selectively connected in accordance with data to be stored, the drain and gate of the current supply transistor means are cross-connected to each other, and the drain is connected to the drain of the current supply transistor means; It is characterized in that it is composed of a pair of transistors that turn off when a reference voltage reaches one, and that the drain of the storage element is connected to the drain of one of the pair of transistors in correspondence with the data to be stored.
した、かって、入力端子に信号を供給して所望の記憶素
子にアクセスすると、該記憶素子はオンしてそのドレイ
ンは第1基準電圧になる。その結果、1対の交差接続さ
れたトランジスタの内、アクセスされた記憶素子のドレ
インに接続された方のトランジスタのドレインは第1基
準電圧になるとともにオフする。一方、アクセスされた
記憶素子に接続されていない方のトランジスタのドレイ
ンは第2基準電圧を維持するので、これら1対のトラン
ジスタの電圧差に基づきアクセスされた記憶素子に記憶
されているデータを知ることができる。Once a signal is supplied to the input terminal to access a desired storage element, the storage element is turned on and its drain becomes the first reference voltage. As a result, of the pair of cross-connected transistors, the drain of the transistor connected to the drain of the accessed storage element reaches the first reference voltage and is turned off. On the other hand, since the drain of the transistor not connected to the accessed storage element maintains the second reference voltage, the data stored in the accessed storage element can be determined based on the voltage difference between the pair of transistors. be able to.
このように、本発明に係わる読み出し専用メモリ装置で
は記憶素子へのアクセス開始直後にアクセスされた記憶
素子に接続されているトランジスタをオフさせるので、
データの読み出し期間中第1基準電圧源と第2基準電圧
源との間に電流経路が形成されることがなく、消費電力
を減少させることができる。In this way, in the read-only memory device according to the present invention, the transistor connected to the accessed storage element is turned off immediately after the start of access to the storage element.
No current path is formed between the first reference voltage source and the second reference voltage source during the data read period, thereby reducing power consumption.
[実施例] 以下本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1実施例の構成を示す電気回路図で
あり、ソースを電源電位に接続された1対のPチャンネ
ルMO5)ランジスタQl、 Q2とゲートを入力端
子1〜Nにそれぞれ接続されたNチャンネルMOS)ラ
ンジスタQll〜QINを有している。MOS)ランジ
スタQl、Q2のドレインはMOS)ランジスタQ2.
Qlのゲートにそれぞれ交差接続されており、MOS)
ランジスタQl、Q2の1対のドレインがデータの出力
ノードを構成している。従って、上記M OS )ラン
ジスタQl、Q2は全体として電流供給トランジスタ手
段を構成している。FIG. 1 is an electric circuit diagram showing the configuration of a first embodiment of the present invention, in which a pair of P-channel MO5) transistors Ql and Q2 whose sources are connected to a power supply potential and whose gates are connected to input terminals 1 to N, respectively. It has connected N-channel MOS) transistors Qll to QIN. The drains of MOS) transistors Ql and Q2 are MOS) transistors Q2.
Ql gates are cross-connected to each other (MOS)
A pair of drains of transistors Ql and Q2 constitute a data output node. Therefore, the above-mentioned MOS transistors Ql and Q2 constitute current supply transistor means as a whole.
データの記憶はMOS)ランジスタQll〜QINのド
レインをMOSトランジスタQl、 Q2の何れのド
レインに接続するかによりなされる。Data is stored by connecting the drains of MOS transistors Qll to QIN to which drain of MOS transistors Ql and Q2.
すなわち、例えばMOS)ランジスタQllのドレイン
がMOS)ランジスタQ1のドレインに接続されている
と、入力端子1が高レベルに移行したときMOS)ラン
ジスタQ1のドレインは接地されて低レベルに移行する
もののMOS)ランジスタQ1はオフとなりもはや電流
は流れない。一方、N10SトランジスタQ2のゲート
は低レベルとなり、そのドレインは高レベルを維持する
。That is, for example, if the drain of the MOS transistor Qll is connected to the drain of the MOS transistor Q1, when the input terminal 1 goes high, the drain of the MOS transistor Q1 is grounded and goes low; ) The transistor Q1 is turned off and current no longer flows. On the other hand, the gate of the N10S transistor Q2 is at a low level, and its drain remains at a high level.
これに対して、MOS)ランジスタQllのドレインが
MOS)ランジスタQ2のドレインに接続されていると
、入力端子1が高レベルに移行したときMOS)ランジ
スタQ2のドレインは接地されて低レベルに移行するも
ののMOS)ランジスタQ2はオフとなりもはや電流は
流れないが、MOS)ランジスタQ1のドレインは高レ
ベルを維持する。したがって、MOS)ランジスタQl
。On the other hand, if the drain of MOS transistor Qll is connected to the drain of MOS transistor Q2, when input terminal 1 goes high, the drain of MOS transistor Q2 is grounded and goes low. Although the MOS transistor Q2 is turned off and current no longer flows, the drain of the MOS transistor Q1 remains at a high level. Therefore, MOS) transistor Ql
.
Q2のドレイン電圧によりMOS)ランジスタQ11〜
QINに記憶されているデータを知ることができ、しか
も読み出し期間中電流経路が形成される訳ではないので
、消費電力も軽減する。Due to the drain voltage of Q2, MOS) transistor Q11~
The data stored in QIN can be known, and since no current path is formed during the read period, power consumption is also reduced.
第2図は本発明の第2実施例を示す電気回路図であり、
第1実施例を縦続接続して構成されている。したがって
、第2実施例では1つの入力端子の指定によりN1ビッ
トのデータを読み出すことができる。FIG. 2 is an electrical circuit diagram showing a second embodiment of the present invention,
The first embodiment is constructed by cascading the first embodiment. Therefore, in the second embodiment, N1 bits of data can be read by designating one input terminal.
第1図は本発明の第1実施例の構成を示す電気回路図、
第2図は本発明の第2実施例の構成を示す電気回路図、
第3図は従来例を示す電気回路図である。
1〜N・・・・・・・・入力端子、
Ql、Q2・・・・・・MOS)ランジスタ(電流供給
トランジスタ
手段)、
Qll〜QMN・・・・MOS)ランジスタ(記憶素子
)、
G・・・・・・・・・・接地端子
(第1基準電圧源)、
Vdd・・・・・・・・電源電位
(第2基準電圧源)。
特許出願人 日本電気株式会社
代理人 弁理士 桑 井 清 −
−(N
$
1 区
1へ
派
T−へFIG. 1 is an electric circuit diagram showing the configuration of a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an electric circuit diagram showing the configuration of a second embodiment of the invention, and FIG. 3 is an electric circuit diagram showing a conventional example. be. 1 to N...Input terminal, Ql, Q2...MOS) transistor (current supply transistor means), Qll to QMN...MOS) transistor (storage element), G. ...... Ground terminal (first reference voltage source), Vdd... Power supply potential (second reference voltage source). Patent Applicant NEC Corporation Representative Patent Attorney Kiyoshi Kuwai - - (N $ 1 Ward 1 to T-
Claims (1)
れ上記入力端子に供給される信号により選択されるとオ
ンする複数の記憶素子と、ソースを第2基準電圧源に接
続された電流供給トランジスタ手段とを有し、記憶させ
るべきデータに対応させて上記記憶素子と電流供給トラ
ンジスタ手段のドレインとを選択的に接続した読み出し
専用メモリ装置において、上記電流供給トランジスタ手
段をドレインとゲートとを互いに交差接続しドレインが
第1基準電圧になるとオフする1対のトランジスタで構
成し、上記記憶素子のドレインを記憶させるべきデータ
に対応させて上記1対のトランジスタの何れかのドレイ
ンに接続したことを特徴とする読み出し専用メモリ装置
。a plurality of input terminals, a plurality of storage elements having sources connected to a first reference voltage source and turned on when selected by a signal supplied to the input terminals; and a current supply having sources connected to a second reference voltage source. In a read-only memory device comprising a transistor means, the storage element and the drain of the current supply transistor means are selectively connected in accordance with data to be stored, the current supply transistor means having its drain and gate connected to each other. It is composed of a pair of transistors that are cross-connected and turn off when the drain reaches a first reference voltage, and the drain of the storage element is connected to the drain of one of the pair of transistors in correspondence with the data to be stored. A read-only memory device with special features.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61254990A JPS63108596A (en) | 1986-10-27 | 1986-10-27 | Read only memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61254990A JPS63108596A (en) | 1986-10-27 | 1986-10-27 | Read only memory device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63108596A true JPS63108596A (en) | 1988-05-13 |
Family
ID=17272675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61254990A Pending JPS63108596A (en) | 1986-10-27 | 1986-10-27 | Read only memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63108596A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01134792A (en) * | 1987-10-20 | 1989-05-26 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | Cmos read-only electrnic memory operating stationally |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57127335A (en) * | 1981-01-29 | 1982-08-07 | Sharp Corp | Output circuit of constant value level |
JPS60125998A (en) * | 1983-12-12 | 1985-07-05 | Fujitsu Ltd | Semiconductor storage device |
-
1986
- 1986-10-27 JP JP61254990A patent/JPS63108596A/en active Pending
Patent Citations (2)
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US4928261A (en) * | 1987-10-20 | 1990-05-22 | Sgs-Thomson Microelectronics Srl | CMOS read-only memory with static operation |
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