JPH0196889A - Storing circuit - Google Patents

Storing circuit

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Publication number
JPH0196889A
JPH0196889A JP62253253A JP25325387A JPH0196889A JP H0196889 A JPH0196889 A JP H0196889A JP 62253253 A JP62253253 A JP 62253253A JP 25325387 A JP25325387 A JP 25325387A JP H0196889 A JPH0196889 A JP H0196889A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inverter
circuit
input
memory
inverters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62253253A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fumio Shioda
塩田 文雄
Kenji Shito
志藤 賢司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Telecom System Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Telecom System Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Telecom System Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP62253253A priority Critical patent/JPH0196889A/en
Publication of JPH0196889A publication Critical patent/JPH0196889A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To prevent a large current during the transient period of a circuit from flowing by providing an inverter buffer circuit enabled and controlled by a writing signal in the selecting circuit of a recording circuit having a storing element formed by two sets of inverters. CONSTITUTION:The bit data of the buffer inverter 22 is written through a C-MOS inverter 25 in a memory formed of the storing element of the inverters 9, 10 to which the output and the input of the storing circuit of a bit unit are connected when switching transistors (TR) 27, 28 turned on by a NAND gate 13 operating in response to the row and column selecting signals 52, 57 of the address symbol of the selecting circuit 3 are enabled. When the address signal is not stabilized but the inverter 25 is enabled during the unstable period of the circuit such as the transient state at the time of charging a power, a pulling between the inverters 22 and 10 is not generated which is different from the use of a gate circuit according to the existence of the inverter 25. Accordingly, the large current during the transient period of the circuit is prevented from flowing.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は記憶回路に関し、特に書込みと読出ししを同時
にかつ非同期にて行い得るFIFO(First in
 First 0ut)メモリ等の記憶回路に関する。
Detailed Description of the Invention Technical Field The present invention relates to a memory circuit, and in particular to a FIFO (First in
First Out) relates to storage circuits such as memory.

従来技術 従来のこの種の記憶回路の一例を第3図に示9ており、
簡単化するために2行1列の2ビット分の回路を示す。
Prior Art An example of a conventional memory circuit of this type is shown in FIG.
For simplicity, a circuit for 2 bits arranged in 2 rows and 1 column is shown.

図において、ビット単位の各記憶回路1及び2は、書込
み選択回路3及び4と、メモリ5及び6と、読出し選択
回路7及び8とから夫々なっている。。
In the figure, each bit-based storage circuit 1 and 2 consists of write selection circuits 3 and 4, memories 5 and 6, and read selection circuits 7 and 8, respectively. .

各メモリ5及び6は1対のインバータ9.10及び11
.12から夫々なり、インバータ9の出力がインバータ
10の入力に接続され、インバータ10の出力がインバ
ータ9の入力に接続されている。メモリ6についても同
様な接続関係となっている。
Each memory 5 and 6 has a pair of inverters 9, 10 and 11
.. 12, the output of inverter 9 is connected to the input of inverter 10, and the output of inverter 10 is connected to the input of inverter 9. The memory 6 also has a similar connection relationship.

各書込み選択回路3及び4は、2人力ナンドゲート13
及び16と、インバータ14及び17と、トランスファ
ゲート15及び18とから夫々なっている。
Each write selection circuit 3 and 4 has two manual NAND gates 13
and 16, inverters 14 and 17, and transfer gates 15 and 18, respectively.

ナントゲート13は行書込みアドレス信@52と列書込
みアドレス信号57とを2人力とし、このゲート出力と
、インバータ14によるその反転出力とによりトランス
71ゲート15がオンオフ制御される。古込み選択回路
4についても同様な接続関係となっている。
The Nant gate 13 receives a row write address signal @52 and a column write address signal 57, and the transformer 71 gate 15 is on/off controlled by this gate output and its inverted output by the inverter 14. The old selection circuit 4 also has a similar connection relationship.

各読出し選択回路7及び8はトランスファゲート1つ及
び20からなり、列読出しアドレス信号54とインバー
タ21によるその反転出力とによりこれ等両トラスファ
ゲートはオンオフ制御される。
Each read selection circuit 7 and 8 consists of one transfer gate and 20, and these transfer gates are controlled on and off by the column read address signal 54 and its inverted output from the inverter 21.

入力データ51はインバータ22及び23を介して各ト
ランスファゲート15及び18へ夫々入力され、これ等
各トランスファケート15及び18の各出力がメモリ5
及び6の対応するインバータ9及び11の各入力となっ
ている。各メモリ5及び6の出力データは対応するトラ
ンスファゲート19及び20を介して読出しデータ55
及び56として出力されるのである。
Input data 51 is input to each transfer gate 15 and 18 via inverters 22 and 23, respectively, and each output of each of these transfer gates 15 and 18 is input to memory 5.
and 6 are inputs to corresponding inverters 9 and 11. The output data of each memory 5 and 6 is read data 55 through the corresponding transfer gates 19 and 20.
and 56.

かかる構成において、電源投入直後等の過渡時に、回路
が正常動作状態に入るまでの間、アドレス信号が特定の
値に定まらない状態が続くことがある。その様な状態で
は、行書込みアドレス信号52.53及び列書込みアド
レス信号57の値が定まらず、ナントゲート13.16
の出力は共にローレベルとなる可能性がある。その際、
トランスファゲート15.18がオンとなるために、イ
ンバータ9,10とインバータ23とがいわゆる引合い
を生じて、多大な電流が流れることになる。
In such a configuration, during a transition such as immediately after power is turned on, the address signal may remain in a state where it is not determined to a specific value until the circuit enters a normal operating state. In such a state, the values of the row write address signal 52.53 and the column write address signal 57 are not determined, and the Nant gate 13.16
Both outputs may become low level. that time,
Since the transfer gates 15 and 18 are turned on, inverters 9 and 10 and inverter 23 are attracted to each other, causing a large amount of current to flow.

インバータ11.12とインバータ23との間にも同様
に大電流が流れることになり、結果的に入力段インバー
タ23には極めて大きな電流が流れる危険性がある。
Similarly, a large current will flow between the inverters 11, 12 and the inverter 23, and as a result, there is a risk that an extremely large current will flow through the input stage inverter 23.

発明の目的 本発明は回路の過渡期に大電流が流れることのない記憶
回路を提供することを目的としている。
OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a memory circuit in which a large current does not flow during the transition period of the circuit.

11Ω11 本発明によれば、第1のインバータの出力を第2のイン
バータの入力に接続し、前記第2のインバータの出力を
前記第1のインバータの入力に接続して構成される記憶
素子を有する記憶回路であって、前記第1のインバータ
の入力とデータ入力端子との間に接続されたインバータ
バッファ回路と、書込み制御信号に応じて前記インバー
タバッファ回路をイネーブル制御するイネーブル制御回
路とを含むことを特徴としている。
11Ω11 According to the present invention, the memory element includes a memory element configured by connecting an output of a first inverter to an input of a second inverter, and connecting an output of the second inverter to an input of the first inverter. A storage circuit including an inverter buffer circuit connected between an input of the first inverter and a data input terminal, and an enable control circuit that enables and controls the inverter buffer circuit in response to a write control signal. It is characterized by

実流例 以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。Actual flow example Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の実施例を示す回路図であり、第3図と
同等部分は同一符号により示している。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and parts equivalent to those in FIG. 3 are indicated by the same symbols.

従来例の第3図における書込み選択回路内のトランスフ
ァゲート15及び18の部分を、C−MOSトランジス
タによるインバータ25及び26と、このインバータを
イネーブル(活性化)制御するスイッチングトランジス
タ27.28及び29゜30とに置換したものである。
The transfer gates 15 and 18 in the write selection circuit in FIG. 3 of the conventional example are replaced by inverters 25 and 26 made of C-MOS transistors, and switching transistors 27, 28 and 29 for enabling (activating) the inverters. 30.

すなわち、PチャネルトランジスタT1とNチャネルト
ランジスタT2とからなるC−MOSインバータ25の
入力(トランジスタT1.T2の共通ゲート)に入力デ
ータがインバータ22を介して印加され、インバータ出
力(共通ドレイン)から出力データが導出される。トラ
ンジスタT1のソースと正電源との間にスイッチング用
のPチャネルMOSトランジスタ27が直列に接続され
ており、トランジスタT2のソースとアースとの間にス
イッチング用のNチャネルトランジスタ28が直列接続
されている。そして、これ等スイッチングトランジスタ
27及び28の各ゲートに、ナントゲート13の出力及
びその反転出力が夫々印加されている。
That is, input data is applied to the input (common gate of transistors T1 and T2) of a C-MOS inverter 25 consisting of a P-channel transistor T1 and an N-channel transistor T2 via the inverter 22, and is output from the inverter output (common drain). Data is derived. A P-channel MOS transistor 27 for switching is connected in series between the source of the transistor T1 and the positive power supply, and an N-channel transistor 28 for switching is connected in series between the source of the transistor T2 and the ground. . The output of the Nandt gate 13 and its inverted output are applied to the gates of these switching transistors 27 and 28, respectively.

他の書込み選択回路4についても同様な構成となってい
る。
The other write selection circuits 4 have similar configurations.

このような構成において、行書込みアドレス信@52.
53及び列アドレス信号57、列読出しアドレス信号5
4がすべてローレベルであれば、両記憶回路7及び8は
共に入力データ51が変化しても占込みや読出しは行わ
れない。
In such a configuration, the row write address signal @52.
53 and column address signal 57, column read address signal 5
4 are all at low level, both memory circuits 7 and 8 are not occupied or read even if the input data 51 changes.

この状態で、行書込みアドレス信号52及び列書込みア
ドレス信号57が選択されハイレベルとなると、スイッ
チングトランジスタ27及び28はオンとなり、よって
C−MOSインバータ25はイネーブル化されることに
なる。よって、入力データ51がインバータ22及びC
−MOSインバータ25を介してメモリ5へ書込まれる
のである。このとき、行書込みアドレス信号53はロー
レベルにあるので、C−MOSインバータ26はアイス
イネーブル(不活性)状態にあり、よって、メモリ6へ
のデータの書込みはなされない。
In this state, when the row write address signal 52 and the column write address signal 57 are selected and become high level, the switching transistors 27 and 28 are turned on, and the C-MOS inverter 25 is enabled. Therefore, input data 51 is input to inverter 22 and C
- It is written into the memory 5 via the MOS inverter 25. At this time, since the row write address signal 53 is at a low level, the C-MOS inverter 26 is in an ice enabled (inactive) state, and therefore no data is written to the memory 6.

回路が過渡状態等の不安定な場合、アドレス信号が定ま
らないが、このときスイッチングトランジスタ27.2
8や29.30が共にオンとなってC−MOSインバー
タ25.26がイネーブル状態となっても、C−MOS
インバータの存在のために、入力インバータ22とメモ
リ用インバータ10との間の引合いは生じない。また、
他のメモリ用インバータ12との間の引合いも生じない
ことになる。
If the circuit is unstable such as in a transient state, the address signal is not determined, but in this case the switching transistor 27.2
Even if C-MOS inverters 25, 26 and 8 and 29.30 are both turned on and the C-MOS inverter 25.26 is enabled, the C-MOS
Due to the presence of the inverter, no interaction occurs between the input inverter 22 and the memory inverter 10. Also,
Inquiries with other memory inverters 12 will not occur.

この様に、書込み選択回路に、トランスファゲートの代
りとしてオンオフ制御自在なインバータバッファと、こ
のインバータバッファを書込み選択信号に応じてオンオ
フ制御するイネーブル制御回路を用いるようにし、個々
のメモリと当該メモリ対応に設けられたインバータバッ
ファとを接続する構成とすることにより、入力インバー
タと全メモリとの間の大電流を防止することができる。
In this way, the write selection circuit uses an inverter buffer that can be freely controlled on and off in place of the transfer gate, and an enable control circuit that controls the inverter buffer on and off according to the write selection signal, and allows each memory to be By connecting the inverter buffer provided in the input inverter to the inverter buffer provided in the input inverter, it is possible to prevent a large current between the input inverter and all the memories.

個々のメモリと当該メモリ対応のインバータバッファと
の間で引合いが生じても、小電流であり、また、メモリ
の各インバータは反転するので、瞬時に引合いはなくな
る。
Even if an inquiry occurs between an individual memory and an inverter buffer corresponding to the memory, the current is small and each inverter of the memory is inverted, so the inquiry disappears instantly.

第2図は本発明の他の実施例の回路図であり、第1図と
同等部分は同一符号により示している。
FIG. 2 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention, in which parts equivalent to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

尚、本例では、1ビツトの記憶回路1のみについて示し
ているが、他のビットの記憶回路2についても同様にな
っていることは明白である。
In this example, only the 1-bit memory circuit 1 is shown, but it is obvious that the same applies to the other bit memory circuits 2.

本実施例の場合は、C−MOSインバータを構成するト
ランジスタT、T2と、スイッチング用トランジスタ2
7.28との直列接続関係が第1図の実施例とは逆にな
っている点を除けば、他は同等である。すなわち、C−
MOSインバータ用トランジスタT、T2を電源、アー
ス側に夫々接続し、スイットング用トランジスタ27,
28をインバータ出力側に夫々接続した構成である。
In the case of this embodiment, the transistors T and T2 constituting the C-MOS inverter and the switching transistor 2 are
7.28, except that the series connection relationship with the embodiment of FIG. 1 is reversed. That is, C-
MOS inverter transistors T and T2 are connected to the power supply and ground sides, respectively, and switching transistors 27,
28 are respectively connected to the inverter output side.

本例でも、第1図の例と全く同様の作用効果を有するこ
とは明らかである。
It is clear that this example also has the same effects as the example shown in FIG.

尚、上記実施例では、C−MOSインバータを用いてメ
モリから入力データ側への流れを断とするようにしてい
るが、要は外部制御信号によりイネーブル制御可能なバ
ッファを用いれば良く、またMOS t−ランジスタの
みならず、回路全体の使用素子に応じたトランジスタ(
電界効果トランジスタやバイポーラトランジスタ等)を
用いて構成できるものである。
In the above embodiment, a C-MOS inverter is used to cut off the flow from the memory to the input data side, but in short, it is sufficient to use a buffer whose enable can be controlled by an external control signal. Not only the T-transistor, but also the transistor (
It can be constructed using field effect transistors, bipolar transistors, etc.).

発明の効果 叙上の如く、本発明によれば、書込み選択回路において
、トランスファゲートの代りに一方向性のイネーブル制
御可能なインバータバッファを用いることにより、メモ
リのインバータと入力データ側のインバータとの間の引
合いがなくなり、多大な電流の防止が可能となるという
効果がある。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, in the write selection circuit, a unidirectional enable controllable inverter buffer is used instead of a transfer gate, so that the inverter of the memory and the inverter on the input data side can be connected. This has the effect of eliminating the tension between the two and making it possible to prevent a large amount of current.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例の回路図、第2図は本発明の他
の実施例の一部回路図、第3図は従来の記憶回路を示す
図である。 主要部分の符号の説明 1.2・・・・・・ビット単位の記憶回路3.4・・・
・・・書込み選択回路 5.6・・・・・・メモリ
FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the invention, FIG. 2 is a partial circuit diagram of another embodiment of the invention, and FIG. 3 is a diagram showing a conventional memory circuit. Explanation of symbols of main parts 1.2... Bit unit storage circuit 3.4...
...Write selection circuit 5.6...Memory

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)第1のインバータの出力を第2のインバータの入
力に接続し、前記第2のインバータの出力を前記第1の
インバータの入力に接続して構成される記憶素子を有す
る記憶回路であって、前記第1のインバータの入力とデ
ータ入力端子との間に接続されたインバータバッファ回
路と、書込み制御信号に応じて前記インバータバッファ
回路をイネーブル制御するイネーブル制御回路とを含む
ことを特徴とする記憶回路。
(1) A memory circuit having a memory element configured by connecting an output of a first inverter to an input of a second inverter, and connecting an output of the second inverter to an input of the first inverter. and an inverter buffer circuit connected between the input of the first inverter and a data input terminal, and an enable control circuit that enables and controls the inverter buffer circuit in response to a write control signal. memory circuit.
(2)前記インバータバッファ回路は、入力に書込みデ
ータが印加され出力に前記前記第1のインバータの入力
が接続され、かつ互いに逆導電型の第1及び第2の電界
効果トランジスタからなるインバータであり、前記イネ
ーブル制御回路は、前記第1及び第2の電界効果トラン
ジスタに夫々直列に接続されて前記書込み制御信号に応
じてオンオフ制御される第1及び第2のスイッチングト
ランジスタからなることを特徴とする特許請求の範囲第
1項の記憶回路。
(2) The inverter buffer circuit is an inverter having an input to which write data is applied, an output connected to the input of the first inverter, and comprising first and second field effect transistors of opposite conductivity types. , the enable control circuit is characterized by comprising first and second switching transistors connected in series with the first and second field effect transistors and controlled to be turned on and off according to the write control signal. A memory circuit according to claim 1.
JP62253253A 1987-10-07 1987-10-07 Storing circuit Pending JPH0196889A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5303188A (en) * 1992-04-28 1994-04-12 Nec Corporation Semiconductor memory device regulable in access time after fabrication thereof

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57113482A (en) * 1980-12-29 1982-07-14 Seiko Epson Corp Semiconductor storage device
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