JPS6283716A - レ−ザ描画装置の焦点位置調整装置 - Google Patents

レ−ザ描画装置の焦点位置調整装置

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JPS6283716A
JPS6283716A JP60224065A JP22406585A JPS6283716A JP S6283716 A JPS6283716 A JP S6283716A JP 60224065 A JP60224065 A JP 60224065A JP 22406585 A JP22406585 A JP 22406585A JP S6283716 A JPS6283716 A JP S6283716A
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laser
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Akira Suzuki
章 鈴木
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Toshiba Machine Co Ltd
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    • H04N1/024Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
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    • HELECTRICITY
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    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/113Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、レーザビームを偏向装置で偏向した後、F−
eレンズを介して被描画面上に焦点を結ばせたレーザビ
ームのON−OFFによって被描画面上に描画するレー
ザ描画装置に”おいて、被描画材の厚みが変化したため
にずれたレーザビームの焦点位置を調整するレーザ描画
装置における焦点位flll整装置の改良に関する。
(発明の技術的背景とその問題点) 従来のレーザ描画装置における焦点位置調整方法を第5
図を参照して説明図する。
図示しないレーザ発IJi源から発振したレーザビーム
1は偏向手段であるガルバノミラ−2で直角方向に偏向
(走査)された後、F−eレンズ3で被描画材6の平面
上の点4(走査方向を考慮すると線)上に焦慮合せされ
る。
なお、このレーザビーム1はミラー5で曲げられた後、
前記被描画材6の上に到達する。
一方、被描画材6は、ベース7上を走行するステージ8
上に固定され、図示されない通常の駆動機構により矢印
Aの方向に走行する。
これにより、レーザビーム1は相対的に被描画材6の上
面を順次走査(ラスタースキャン)し、これにレーザビ
ーム1の画像形成信号に応じたON−OFFが加わるこ
とにより、被描画材6上に図形を描くことができる。
このようなレーザ描画装置において、被描画材6の厚さ
tが変化して焦点位置が変化するような場合には、ホル
ダ9を回転してねじ10により台11に対して相対的に
F−eレンズ3の位置を変えることにより焦点4の位置
をずらし、厚さく高さ)の変った″m描ii[jU6の
上面に焦点が合うように調整していた。
この調整方法によると、ガルバノミラ−2とF−eレン
ズ3との距離が変わるため、被描画材6上でのレーザビ
ーム1の撮り幅が変わり1、これを所定の撮り幅にする
ためにはガルバノミラ−2の撮り速度を微妙に変更する
など作業が極めて面倒であった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記事情に基づきなされたもので、その目的
とするところは、被描画材の厚さが変った場合の焦点修
正およびこれに関連した修正を容易に行ない得るレーザ
描画装置の焦点位置調整装置を提供しようとするもので
ある。
〔発明の概要〕
本発明は、上記目的を達成すべく、レーザビームを偏向
装置で偏向した後、F−eレンズを介して被描画面上に
焦点を結ばせたレーザビームのON−OFFによって被
描画面上に描画するレーザ描画装置において、F−eレ
ンズを通過した優のビームを、その走査平面とほぼ直交
する方向にミラーによって屈折するとともに被描画材の
厚さに比例した量だけ前記ミラーの位置を変えることに
よって焦点位置を調整するようにしたしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第4図を参照し
て説明する。
なお、上述の従来例と同一部分は同一の符号を付して詳
細な説明を省略する。
第1図は本発明の方法を示し、厚さtの被描画材6を厚
さt′の被描画材6′とした場合、焦点位置はt’ −
t (−b)だけずらず必要が生じる。
そこで、ミラー5の位置を5′の位置までずらし光軸上
でbだけ伸ばしてやればF−θレンズ3から被描画材6
′の面までの実質寸法を厚さ変更前と同一にでき焦点修
正がされる。もちろん、このとき光路長は変化しないた
め、被描画材6′上でのレーザビーム1の振り幅は変ら
ない。
この修正に伴ってステージ8の端面よりC寸法でステー
ジ8上に固定されていた被描画材6′の端面から、さら
に、aだけ内側の位置に描画されていた図形は、被描画
材6′の厚さが変っても被描画材6′をステージ8上で
同じ位置に固定した場合には、被描画材6′の端面から
a+bの位置に描かれることになる。一般にこれは不都
合なので、第2図に示すように被描画材6′の固定位置
を前記Cからc+bに変えるか、または固定位置を変え
ずにステージ8の位置に対して描画データを送り出す時
期を変えてやり、厚さtの時に比べbだけステージ8の
位置がずれた所にしてやれば、被描画材6′の端面から
aの位置に同一図形が描ける。
一般にこの種装置では、ステージ8の位置は正確に制御
しているので、この変更は何の困難もな〈実施でき、偏
向幅の変化も生じない。
第1図のミラー5の移動車は、描画すべき被描画材(P
C板)6′が決まれば厚さも決まるので、その時点で描
画するために必要な他のデータとともに図示しない制御
盤から、その被描画材6′の厚さを入力することにより
設定することができる。
また、第2図は描g!li#Jに被描画材6′の厚さを
測定するための装置で、ステージ8がレーザご一ム17
の下の描画点に達する前に固定アーム13に支えられた
リニアスケール(たとえばマグネスケール型測長器)な
どの測長器14の接触子15を被描画材6′の表面に接
触させて被描画材6′の厚さt′を測定し、その値によ
って焦点位置を調整ミラー5′の位置を調整することも
できる。
第3図および第4図はミラー5の位置調整装置の例で、
ミラー5を取付けたベース16は脚17を介して取付け
られた摺動子18によって、定盤19上をスライドでき
る。
前記ベース16上には固定バー20が焦点位置調整方向
21に対しeだけ傾けて取付けてあり、その一端は前記
定盤19上に固定された2つのローラ22.22によっ
て挟持され、また他端もローラ23.23により挟持さ
れている。台24はその一部である凸部25にパルスモ
ータ26が固定されており、また、前記ロー523.2
3の回転中心軸およびベアリング27の外輪も固定した
状態で定119に固定している。
固定バー20には、ボールナツト28が固定され、これ
にねじ込まれたボールねじ29は前記ベアリング27に
支えられるとともにカップリング30を介してパルスモ
ータ26に結合されている。
ここでパルスモータ26を回転するとボールねじ30に
よって固定バー20の方向にベース16゜ミラー5等が
βだけ移動したとするとミラー5は焦点位1ftm整方
向に対してgcoseだけ移動する。
eを60”〜88°程度に選ぶと綱長いミラーに対して
、その長手方向に配した駆動系全体をコンパクトに構成
できるとともにλに比し、焦点位置移動方向の移動量が
小さいためパルスモータ26によっても数μmの高分解
能の移動ができる。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したように、レーザビームを偏向装置
で偏向した債、F−eレンズを介して被描画面上に焦点
を結ばせたレーザビームのON−OFFによって被描画
面上に描画するレーザ描画装置において、F−eレンズ
を通過した後のビームを、その走査平面とほぼ直交する
方向にミラーによって屈折するとともに被描画材の厚さ
に比例した量だけ前記ミラーの位置を変えることによっ
て焦点位置を調整するようにしたしたものである。
したがって、被描画材の厚さが変った場合の焦点修正お
よびこれに関連した修正を容易に行ない得るを提供でき
るといった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成説明図、第2図は
描画の舶に被描画材の厚さを測る装置を示す図、第3図
は本発明の一実施例の要部であるミラーの位置調整装置
を示す概略的平面図、第4図は第3図の矢印Z方向より
見た側面図、第5図は従来の焦点位置調整方法を説明す
るための説明図である。 1・・・レーザビーム、2・・・偏向装置(ガルバノミ
ラ−)、3・・・F−9レンズ、4・・・焦点、5・・
・ミラー、6・・・被描画材。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザビームを偏向装置で偏向した後、F−■レ
    ンズを介して被描画面上に焦点を結ばせたレーザビーム
    のON−OFFによつて被描画面上に描画するレーザ描
    画装置において、F−■レンズを通過した後のビームを
    、その走査平面とほぼ直交する方向にミラーによつて屈
    折するとともに被描画材の厚さに比例した量だけ前記ミ
    ラーの位置を変えることによって焦点位置を調整するよ
    うにしたことを特徴とするレーザ描画装置の焦点位置調
    整装置。
  2. (2)焦点調整用ミラーの位置を、制御系に入力された
    被描画材の厚さで設定することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のレーザ描画装置の焦点位置調整装置。
  3. (3)焦点調整用ミラーの位置を、被描画材の厚さの測
    定値によつて設定することを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のレーザ描画装置の焦点位置調整装置。
  4. (4)焦点調整用ミラーの位置に比例した量だけ被描画
    材を搭載したステージの位置がずれた状態で描画データ
    が供給されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のレーザ描画装置の焦点位置調整装置。
  5. (5)焦点調整用ミラーが、焦点位置調整方向に対して
    60°〜88°の方向に移動して焦点位置の調整を行な
    うようになっていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載のレーザ描画装置の焦点位置調整装置。
JP60224065A 1985-10-08 1985-10-08 レ−ザ描画装置の焦点位置調整装置 Expired - Lifetime JPH0668581B2 (ja)

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