JPS6276319A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JPS6276319A
JPS6276319A JP60215314A JP21531485A JPS6276319A JP S6276319 A JPS6276319 A JP S6276319A JP 60215314 A JP60215314 A JP 60215314A JP 21531485 A JP21531485 A JP 21531485A JP S6276319 A JPS6276319 A JP S6276319A
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JP
Japan
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input
channel
gate
transistor
inverter
Prior art date
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Pending
Application number
JP60215314A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Emoto
江本 三浩
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To select the input level of an input circuit by connecting the gate of a MOSFET constituting an inverter to the input of other inverter via a selection cut-off element. CONSTITUTION:Assuming the channel widths WP of P-channel MOS transistors (TRs) 5, 10 as respectively '1', '9', and the channel width WN of an N-channel MOS TR 6 as '5'. The channel width ratio WP/WN when the selection cut-off element 11 is not cut off goes to '2' and the input level goes to 2.5V. When the element 11 is turned off, the TR 10 is made nonconductive. Thus, the channel width ratio W>=P/WN goes to 0.2 and the input level goes to 1.6V. Then the inverter 7 acts like an input circuit of TTL level.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路に関し、特にCMOSトランジ
スタ構造を有する半導体集積回路装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to a semiconductor integrated circuit device having a CMOS transistor structure.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は従来のCR,,10S構造を有する具債回路の
入力回路の一例を示す回路図7ある。Pチャンネル型も
、tosトランジスタ5及びNチャンネル型MOSトラ
ンジスタ6のゲート及びドレインはそれぞれ共通接続さ
れ、インパーク7を構成し、インバータ7の人力は抵抗
3を介して入力端子1に接読される。Pチャンネル型M
OSトランジスタ5及びNチャンネルQMO8トランジ
スタロのソースはそれぞれ電源端子8及び接地端子9に
接、伏される。インバータ7の出力は出力4子2に接続
され、出力端子2はさらに集積回路装置の内部ゲ−トに
接続される。ダイオード4のアノードは接地端子9に接
続され、カソードは抵抗3を介して入力端子1に接続さ
れる抵抗3及びダイオード4は入力端子1に異常な入力
、例えば靜′1気などが印加された時インバータフの入
力ゲートを保護するだめの保護抵抗及び保護ダイオード
である。
FIG. 3 is a circuit diagram 7 showing an example of an input circuit of a conventional hardware circuit having a CR, 10S structure. In the case of the P-channel type as well, the gates and drains of the TOS transistor 5 and the N-channel MOS transistor 6 are connected in common, forming an impark 7, and the human power of the inverter 7 is read directly to the input terminal 1 via the resistor 3. . P channel type M
The sources of the OS transistor 5 and the N-channel QMO 8 transistor are connected to the power supply terminal 8 and the ground terminal 9, respectively. The output of the inverter 7 is connected to the output terminal 2, and the output terminal 2 is further connected to the internal gate of the integrated circuit device. The anode of the diode 4 is connected to the ground terminal 9, and the cathode is connected to the input terminal 1 through the resistor 3.The resistor 3 and the diode 4 are connected to the input terminal 1 when an abnormal input, such as 靜'1 qi, is applied to the input terminal 1. A protection resistor and a protection diode are used to protect the input gate of the inverter.

CMOS構造を有する集積回路における入力レベル(以
下CMOSレベルと記す)は電源電圧を5Vとすると2
.5Vに設定され、一方TTL構造を有する集積回路に
おける入力レベル(以下TTLI・ベルと記す)は電源
電圧を5Vとすると1.5v付近に設定されることが多
い。電源電圧をvDDとLPチャンネル型MOSトラン
ジスタのチξわし長をLp  、チャンネル幅をWp、
(、きい電圧をVTP及び正孔移動度をIPとし、Nチ
ャンネル型MOSトランジスタのチャンネル長をLN、
  チャンネル@をWN、Lきい電圧をVTN及び電子
移動度を)lN とすると、Pチャンネル型MOSトラ
ンジスタ及びNチャンネルfiMO8トランジスタのド
レイン電流Inp及びIDNはで 表すことができる。(1) 、 +2)式中のεoxは
ゲート酸化膜の誘電率、 faxはゲート酸化膜の膜厚
である。ここでCMO8+、ベルの入力回路を構成しよ
うとした時、入力レベルが2.515・VDD、つまり
πVnulC>イテIE)p = II)N トfx 
O(1) −(2)式ヨTl)・・・・ (3) となりチャンネル幅の比Wp/Wsは次式で表せられる
The input level in an integrated circuit having a CMOS structure (hereinafter referred to as CMOS level) is 2 when the power supply voltage is 5V.
.. On the other hand, the input level (hereinafter referred to as TTLI/Bell) in an integrated circuit having a TTL structure is often set to around 1.5V, assuming that the power supply voltage is 5V. The power supply voltage is vDD, the length of the LP channel type MOS transistor is Lp, the channel width is Wp,
(, the threshold voltage is VTP, the hole mobility is IP, the channel length of the N-channel MOS transistor is LN,
When the channel @ is WN, the L threshold voltage is VTN, and the electron mobility is )lN, the drain currents Inp and IDN of the P-channel MOS transistor and the N-channel fiMO8 transistor can be expressed as follows. In the equations (1) and +2, εox is the dielectric constant of the gate oxide film, and fax is the thickness of the gate oxide film. Here, when trying to configure an input circuit for CMO8+ and Bell, the input level is 2.515 VDD, that is, πVnulC>ite IE) p = II) N fx
O(1) - (2) Equation yoTl)... (3) Therefore, the channel width ratio Wp/Ws is expressed by the following equation.

一方TTLレベルの入力回路を構成しようとし九時、入
力レベルが1.515−Von Vc>イー7−5ID
P = IDN となりチャンネル幅の比W P/W 
Nはで表すことが出来る。(4) 、 (5)式のLp
、Vtp、j/p。
On the other hand, when I tried to configure a TTL level input circuit, the input level was 1.515-Von Vc>E7-5ID
P = IDN and the channel width ratio W P/W
N can be expressed as. (4), Lp in equations (5)
, Vtp, j/p.

Ls、VTs、)lpi及びvDDを一定値にしておけ
ば入力1ノベルはチャンネル幅の比Wp/WNを変える
ことで設定することが出来る。一般にCMOSレベルの
入力回路を構成する時にはチャンネル幅の比はWP/W
N中2.TTL+/ベルの入力回路を構成する時にはチ
ャンネル幅の比はWp7’NN中0.2となルJ: ウ
K Lp、Vrp、j/p、LN、VrNJ/N’を設
定スル。
If Ls, VTs, )lpi and vDD are set to constant values, one input novel can be set by changing the channel width ratio Wp/WN. Generally, when configuring a CMOS level input circuit, the channel width ratio is WP/W.
N middle school 2. When configuring a TTL+/Bell input circuit, the channel width ratio should be 0.2 in Wp7'NN. Set Lp, Vrp, j/p, LN, and VrNJ/N'.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来の半導体集積回路は、設計で@まる一つに
固定された入力レベルしか有していないし、管理上の手
間もかかるという欠点がある。
The conventional semiconductor integrated circuit described above has the disadvantage that it has only one input level that is completely fixed in design, and that it requires a lot of management effort.

本発明の目的は、二通りの入力1/ベルのうちいずれか
一つを選択できる半導体集積回路を提供することにある
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit that can select one of two types of input 1/bell.

〔問題点を解決するだめの手段〕[Failure to solve the problem]

本発明の半導体集積回路装置は、入力端子を第1の抵抗
を介して第1導′を型の第1のMOSトランジスタのゲ
ートに接成し、前記第1のMOSトランジスタのソース
及びドレインをそれぞれ第1の・電源端子及び出力端子
に接続し、第2導′r!を型の第2のAlO3トランジ
スタのゲート、ドレイン及びソースをそれぞれ前記第1
のMOSトランジスタのそれぞれゲート、ドレイン及び
第2の″を源臨子に接続し、第1導を型(又は第2導電
型)の第3のMOSトランジスタのソース、ドレイン及
びゲートをそれぞれ前記第1の電源端子(又は第2の電
源端子)、前記出力端子及び第2の抵抗を介してそのソ
ースに接続し、前記第1及び@2のMOSトランジスタ
のゲートの共通接続点と前記第3のMOSトランジスタ
のゲートとの間に選択切断素子を接続してなる入力回路
を含んで構成される。
In the semiconductor integrated circuit device of the present invention, the input terminal is connected to the gate of the first MOS transistor of the type with the first conductor through the first resistor, and the source and drain of the first MOS transistor are connected to each other. The first conductor 'r! is connected to the power supply terminal and the output terminal, and the second conductor 'r! The gate, drain and source of the second AlO3 transistor of the type are respectively connected to the first
The gate, drain and second MOS transistor of the first conductivity type (or second conductivity type) are respectively connected to the source transistor, and the source, drain and gate of the third MOS transistor of the first conductivity type (or second conductivity type) are respectively connected to the first (or a second power supply terminal), the output terminal and the source thereof via the second resistor, and the common connection point of the gates of the first and @2 MOS transistors and the third MOS transistor. The input circuit includes an input circuit having a selective cutting element connected between the gate of the transistor and the gate of the transistor.

〔実TA例〕[Actual TA example]

次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention.

第1のMOSトランジスタであるPチャンネル型MO8
トランジスタ5及び第2のMO8I−ランジスタである
NチャンネルmMOSトランジスタ6のゲート及びド1
ツインはそれぞれ接続されてインバータ7を構成し、イ
ンバータ7の入力は第1の抵抗である抵抗3を介して入
力端子1に接続される。Pチャンネル型MOSトランジ
スタ5及びNチャンネル型MOSトランジスタ6のソー
スはそれぞれ第1の電源端子8及び兎2の畦原端子であ
る接続端子9に接続される。インバータ7の出力は出力
端子2に接続され、出力端子2’t″iさらに集積回路
装置の内部ゲートに接続される。第3のMOSトランジ
スタであるPチャンネル1iVOSトランジスタ10の
ソースは第1の電源端子8に接続され、ドレインはイン
バータ7の出力に接続され、ゲートは第2の抵抗である
プルアップ抵抗12を介して$1の電源端子8、及び選
択切断素子11を介してインバータ7の入力に接続され
る。
P-channel type MO8 which is the first MOS transistor
The gate and gate of transistor 5 and second MO8I-transistor N-channel mMOS transistor 6
The twins are connected to form an inverter 7, and the input of the inverter 7 is connected to the input terminal 1 via a resistor 3, which is a first resistor. The sources of the P-channel MOS transistor 5 and the N-channel MOS transistor 6 are connected to a first power supply terminal 8 and a connection terminal 9, which is a ridge terminal of the rabbit 2, respectively. The output of the inverter 7 is connected to the output terminal 2, which is further connected to the internal gate of the integrated circuit device.The source of the P-channel 1iVOS transistor 10, which is the third MOS transistor, is connected to the first power supply The drain is connected to the output of the inverter 7, the gate is connected to the power supply terminal 8 of $1 through a second resistor, a pull-up resistor 12, and the input of the inverter 7 through a selective disconnection element 11. connected to.

ダイオード4のアノードは接地端子9に接続されカソー
ドは抵抗3を介して入力端子1に接続される。インパー
ク7及びPチャンネル型MO8トランジスタ10はイン
バータ13を構成している。
The anode of the diode 4 is connected to the ground terminal 9, and the cathode is connected to the input terminal 1 via the resistor 3. Impark 7 and P-channel MO8 transistor 10 constitute an inverter 13.

この回路において、Pチャンネル型MO8トランジスタ
5,10のチャンネルlj4 WPをそれぞれ1.9と
し、トJチャンネル型fJ OS トランジスタ6のチ
ャンネル幅WNを5とする。選択切断素子11が切断さ
れていない場合でのチャンネル幅の比Wp、1Wnh(
1,+9 )15=2となF)、入力レベルはVマTH
= 2.5 Vとなる。故にインバータ13はCMO8
+、ベルの入力回路になる。ここで選択切断素子11を
切断した場合、PチャンネルfiMO8トランジスタl
0H1そのゲートがプルアップ抵抗12により電源側に
クランプされるので、非導通となる。従って、チャンネ
ル幅の比Wp/Wpt h 1 / 5 = 0.2と
なり、入力レベルはVIT)(= 1.6 Vトfxル
。故にイ7バータ7HT’l’Lレベルの入力回路にな
る。なお、選択切断素子11はヒエーズ型PROMT用
いられるN i −Cr膜ヒユーズを用いればよい。
In this circuit, the channels lj4 WP of the P-channel MO8 transistors 5 and 10 are each 1.9, and the channel width WN of the J-channel fJ OS transistor 6 is 5. Channel width ratio Wp, 1Wnh (when the selected cutting element 11 is not cut)
1,+9)15=2F), the input level is VmaTH
= 2.5V. Therefore, inverter 13 is CMO8
+, becomes the bell input circuit. If the selective cutting element 11 is cut here, the P-channel fiMO8 transistor l
0H1 Since its gate is clamped to the power supply side by the pull-up resistor 12, it becomes non-conductive. Therefore, the channel width ratio Wp/Wpt h 1 / 5 = 0.2, and the input level is VIT) (= 1.6 V torfxl. Therefore, it becomes an input circuit of the i7verter 7HT'l'L level. Note that the selective cutting element 11 may be a Ni--Cr film fuse used in a Hierez-type PROMT.

第2図は本発明の第2の実施例の回路図であり。FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the present invention.

図中の第1図と同じ番号の端子及び素子は第1図と同等
のものである。Nチャンネル型MO8トランジスタ14
のソースは接地端子9に接続され、ドレインはインバー
タ7の出力に接続され、ゲートはプルダウン抵抗16を
介して接地端子9及び選択切断素子15を介してインバ
ータ7の入力にそれぞれ接続される。
Terminals and elements in the drawings with the same numbers as in FIG. 1 are equivalent to those in FIG. 1. N-channel type MO8 transistor 14
The source is connected to the ground terminal 9, the drain is connected to the output of the inverter 7, and the gate is connected to the ground terminal 9 via a pull-down resistor 16 and to the input of the inverter 7 via a selective disconnection element 15, respectively.

この回路において、Pチャンネル型MOSトランジスタ
5のチャンネル幅Wpを2とじNチャン 。
In this circuit, the channel width Wp of the P-channel type MOS transistor 5 is 2 and N-channel.

ネル型MO8I−ランジスタロ、14のチャンネル@W
Nを1,9とする。選択切断素子15が切断されていな
い場合、チャンネル幅の比WP/wNは2/(1+9)
となり、入力1/ベルはVrtH=1.6vとなる。故
にインバータ17はTTLレベルの入力回路になる。こ
こで選択切断素子15を切断した場合、Nチャンネルf
iMO8トランジスタ14は、ゲートがプルダウン抵抗
16により接地側にクランプされるので、非導通となる
。従ってチャンネル幅の比W p7’N Nは2/1=
2となり。
Nell type MO8I-Langistaro, 14 channels @W
Let N be 1 and 9. If the selected cutting element 15 is not cut, the channel width ratio WP/wN is 2/(1+9)
Therefore, input 1/bell becomes VrtH=1.6v. Therefore, the inverter 17 becomes a TTL level input circuit. If the selected cutting element 15 is cut here, N channel f
Since the gate of the iMO8 transistor 14 is clamped to the ground side by the pull-down resistor 16, the iMO8 transistor 14 becomes non-conductive. Therefore, the channel width ratio W p7'N N is 2/1=
It becomes 2.

入力1/ベルはVxrH= 2.5 Vとなる。故にイ
ンバータ7はCz4 OSレベルの入力回路になる。
Input 1/bell becomes VxrH=2.5V. Therefore, the inverter 7 becomes a Cz4 OS level input circuit.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は1選択切断素子を切断する
か否かにより、CMO8構造の集積回路又はTTL構造
の集積回路のどちらで駆動されるか用途に応じて入力回
路の入力レベルを選択でき、又管理上の手間も省ける効
果がある。
As explained above, the present invention allows the input level of the input circuit to be selected depending on the application, whether it is driven by a CMO8 structure integrated circuit or a TTL structure integrated circuit, depending on whether or not to cut the 1-select cutting element. This also has the effect of saving administrative effort.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図及び第2図はそれぞれ本発明の第1及び第2の実
施例の回路図、第3図は従来の半導体集積回路の一例の
回路図である。 1・−・・・・入力端子、2・・・−・出力端子、3・
・・・・・抵抗、4・・・・・・ダイオード、5・−・
・・・PチャンネルMOSトランジスタ、6・・・・−
・NチャンネルMO8トランジスタ、7・・・・・・イ
ンバータ、8−・・・−・電源端子、9・−・・−・接
地端子、10−・−・PチャンネルMO8トランジスタ
、11・・・・・・選択切断素子、12・・・・・・抵
抗、13・・−・−・インバー 9 、  l 4・−
・・・−N−1−ヤンネルMOSトランジスタ、15−
・・−・選択切断素子、16・−・−・・抵抗、17・
・・・・・インバータ。 茅 1 区 第 21fJ
1 and 2 are circuit diagrams of first and second embodiments of the present invention, respectively, and FIG. 3 is a circuit diagram of an example of a conventional semiconductor integrated circuit. 1・−・・Input terminal, 2・−・Output terminal, 3・
...Resistance, 4...Diode, 5...
...P-channel MOS transistor, 6...-
・N-channel MO8 transistor, 7... Inverter, 8--- Power supply terminal, 9-- Ground terminal, 10-- P-channel MO8 transistor, 11... ...Selection cutting element, 12...Resistance, 13...--Invar 9, l4-
...-N-1-Yannel MOS transistor, 15-
...-Selective cutting element, 16.--Resistor, 17.
...Inverter. Kaya 1 Ward 21fJ

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 入力端子を第1の抵抗を介して第1導電型の第1のMO
Sトランジスタのゲートに接続し、前記第1のMOSト
ランジスタのソース及びドレインをそれぞれ第1の電源
端子及び出力端子に接続し、第2導電型の第2のMOS
トランジスタのゲート、ドレイン及びソースをそれぞれ
前記第1のMOSトランジスタのそれぞれゲート、ドレ
イン及び第2の電源端子に接続し、第1導電型(又は第
2導電型)の第3のMOSトランジスタのソース、ドレ
イン及びゲートをそれぞれ前記第1の電源端子(又は第
2の電源端子)、前記出力端子及び第2の抵抗を介して
そのソースに接続し、前記第1及び第2のMOSトラン
ジスタのゲートの共通接続点と前記第3のMOSトラン
ジスタのゲートとの間に選択切断素子を接続してなる入
力回路を含むことを特徴とする半導体集積回路装置。
The input terminal is connected to the first MO of the first conductivity type via the first resistor.
a second MOS transistor of a second conductivity type;
the gate, drain and source of the transistor are respectively connected to the gate, drain and second power supply terminal of the first MOS transistor, and the source of a third MOS transistor of the first conductivity type (or second conductivity type); A drain and a gate are respectively connected to the first power supply terminal (or a second power supply terminal), the output terminal and the source thereof via the second resistor, and the gates of the first and second MOS transistors are connected to the common A semiconductor integrated circuit device comprising an input circuit having a selective disconnection element connected between a connection point and the gate of the third MOS transistor.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60117820A (en) * 1983-11-29 1985-06-25 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Input circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60117820A (en) * 1983-11-29 1985-06-25 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Input circuit

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