JPS627119A - 多層構造アモルフアスシリコンカ−バイド膜 - Google Patents

多層構造アモルフアスシリコンカ−バイド膜

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Publication number
JPS627119A
JPS627119A JP60144740A JP14474085A JPS627119A JP S627119 A JPS627119 A JP S627119A JP 60144740 A JP60144740 A JP 60144740A JP 14474085 A JP14474085 A JP 14474085A JP S627119 A JPS627119 A JP S627119A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amorphous silicon
films
optical
gas
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP60144740A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruo Ito
晴夫 伊藤
Juichi Shimada
嶋田 寿一
Shinichi Muramatsu
信一 村松
Sunao Matsubara
松原 直
Nobuo Nakamura
信夫 中村
Shigeru Kokuuchi
滋 穀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60144740A priority Critical patent/JPS627119A/ja
Publication of JPS627119A publication Critical patent/JPS627119A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/12Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/15Structures with periodic or quasi periodic potential variation, e.g. multiple quantum wells, superlattices
    • H01L29/151Compositional structures
    • H01L29/152Compositional structures with quantum effects only in vertical direction, i.e. layered structures with quantum effects solely resulting from vertical potential variation
    • H01L29/154Compositional structures with quantum effects only in vertical direction, i.e. layered structures with quantum effects solely resulting from vertical potential variation comprising at least one long range structurally disordered material, e.g. one-dimensional vertical amorphous superlattices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はP型アモルファスシリコンカーバイド膜に係り
、特に光学ギャップが広く、光導霞度の大きなP型アモ
ルファスシリコンカーバイド膜に関する。
〔発明の背景〕
結晶成長技術や非晶質薄膜成長技術の進歩によって材料
中の電子波長と同程度の膜厚10〜300Aを持ついわ
ゆる超薄膜が形成可能となり、薄膜材料に二次元性が現
われ、この特徴を利用することが活発に研究開発されて
いる(特開昭59−147957号公報および特開昭5
9−1475J1号公報参照)、この特徴を生かし人工
的に超薄膜を多層化していわゆる超格子を形成し、その
特徴を利用する種々の応用が考えられている。この場合
、不純物ドーピングによる超格子構造の形成や、超格子
構造への電導型制御用不純物深い準位形成用不純物、発
光中心形成用不純物のドーピングが活用されている。
しかし超薄膜内や超格子各層内での不純物の分布の最適
化については配慮されていなかった。せいぜい膜厚方向
のバンド構造表現での電位分布を制御するための不純物
分布を考慮するものが全てであり、空乏層の制御等が目
的であった。
また、せいぜい超奪膜や超格子のポテンシャル井戸内で
の量子化準位の制御が行なわれているにすぎなかった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、光学ギャップが広く光導霞度の大きな
P型で多層構造のアモルファスシリコンカーバイド層を
提供することにある。
〔発明の概要〕
通常、アモルファスシリコン太陽電池の光入射側P層に
はBをドープしたSiCが用いられているが、従来、該
P−8iCはC量とB量により光学ギャップと光導霞度
が制御され、光学ギャップが広いものは光導霞度が小さ
いという問題点があった。太陽電池の短絡電流密度を増
加させるにはP層の光学ギャップを広くするか、2層膜
厚を薄くする必要がある。該2層膜厚を薄くしすぎると
開放電圧が低くなるため光学ギャップを広くすることは
太陽電池の高効率化にとって必須である。
しかし、光学ギャップを広くするためにカーボン添加量
を増すとボロンのドーピング効率が低下し光導霞度が小
さくなり、太陽電池の曲線因子が小さくなり光電変換効
率が低下する。
したがって、光学ギャップが広くかつ光導霞度の大きな
P型膜が望まれていたが、C添加量が多い膜と少ない膜
を交互に重ねることにより作製した多層薄膜構造P型ア
モルファスシリコンカーバイド膜の光学ギャップが広く
、光導霞度が大きいことを見いだした。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図〜第2図により説明する
実施例1゜ ガラス基板lo上にモノシラン(SiH,)ガス、メタ
ン(CH,)ガスおよびジボラン(BAH,)ガスの混
合ガスの高周波プラズマ分解法により多層薄膜構造のP
型SiC膜11〜18を形成した。
B、H,の添加量は0 、5 ppmとした。11,1
3゜15および17のP−8iC膜の膜厚は20人、1
2.14.16および18の膜厚は30人、Xは0.8
 とした、該P−8iC膜は全体として光学ギャップ2
,05eV、光導霞度2 X 10−’Ω−13−1を
示した。
実施例2゜ ガラス基板20上にモノシラン(S x H4)ガスと
メタン(GH,)ガスの混合ガスの高周波プラズマ分解
法により多層薄膜構造の5iCFs21〜28を形成し
た。21,23,25.27および29のSiC膜の膜
厚は20人、Xは0.2 。
B、H,添加量はlPP−とし、22,24,28およ
び28のSiC膜厚は20人、Xは0.8  とした、
該SiCは全体として光導霞度I X 10−’Ω−1
3−1、光学ギャップ2.’lsV を示し、P型であ
った。
(発明の効果〕 本発明によれば、多層薄膜構造(超襦造)の特長を生か
すことができるので、光学ギャップが広く、光導霞度の
大きな、性能の秀れたP型アモルファスシリコンカーバ
イド層が得られるとの効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1および第2図はガラス基板上の多層薄膜構造のa−
8iC膜の縦断面図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、10〜100Aの厚さの膜を2層以上重ねたアモル
    ファスシリコンカーバイド多層薄膜において、C量大な
    る層と小なる層を交互に重ねたことを特徴とする多層構
    造アモルファスシリコンカーバイド膜。 2、上記C量小なる層にのみボロンドーピングを行なう
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の多層構造
    アモルファスシリコンカーバイド膜。 3、上記多層薄膜の各層をSi_1_−_xC_xで表
    わせば、C量大なる層はx>0.5、C量小なる層はx
    <0.5であることを特徴とする特許請求の範囲第1も
    しくは2項のいずれかに記載の多層構造アモルフアスシ
    リコンカーバイド膜。
JP60144740A 1985-07-03 1985-07-03 多層構造アモルフアスシリコンカ−バイド膜 Pending JPS627119A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0276002A2 (en) * 1987-01-23 1988-07-27 Hosiden Corporation Thin film transistor
JPH01280366A (ja) * 1988-05-06 1989-11-10 Mitsui Toatsu Chem Inc 光起電力素子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0276002A2 (en) * 1987-01-23 1988-07-27 Hosiden Corporation Thin film transistor
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