JPS6269172A - Test instrument for integrated circuit - Google Patents
Test instrument for integrated circuitInfo
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- JPS6269172A JPS6269172A JP60209739A JP20973985A JPS6269172A JP S6269172 A JPS6269172 A JP S6269172A JP 60209739 A JP60209739 A JP 60209739A JP 20973985 A JP20973985 A JP 20973985A JP S6269172 A JPS6269172 A JP S6269172A
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- Japan
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- error
- self
- program
- time
- execution
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマイクロプロセッサの自己診断法による機能試
験において、エラー表示、エラーのカウントおよび自己
診断プログラムの実行再開全可能にした試験装置K関す
るものである。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a test device K that is capable of displaying errors, counting errors, and resuming execution of a self-diagnosis program in a functional test using a self-diagnosis method for a microprocessor. It is.
一般に行われているマイクロプロセッサの機能試験では
種々の命令を実行させながらすべての出力端子の論理が
期待値と一致するかどうかでチェックがなされる。この
方法では不良検出率の高い機能試験が可能であるが大形
の試験装置を必要とし簡便な試験には適さない。In a commonly performed functional test of a microprocessor, various instructions are executed while checking whether the logic of all output terminals matches expected values. Although this method allows functional testing with a high defect detection rate, it requires a large testing device and is not suitable for simple testing.
一方従来の自己診断法によるマイクロプロセッサの機能
試験では試験機の価格、試験機の重量、取扱いの容易さ
の点で極めてすぐれているが実用性に乏しいという欠点
がある。自己診断プログラムの実行中にエラーが発生す
ると七の後意図しないプログラム番地ヘジャンプしたり
、命令を取り違えて実行し7たりする可能性があるため
、一度工2−を起すと正常なプログラムの流れにもどれ
なくなる場合が多い。そのためエラーが発生したこと’
xマイクロプロセッサの外部に知らせることも、自己診
断プログラムを再起動させることもできない。On the other hand, the conventional self-diagnosis method for microprocessor function testing is extremely superior in terms of the cost of the test machine, the weight of the test machine, and the ease of handling, but it has the disadvantage of being impractical. If an error occurs during execution of the self-diagnosis program, it may jump to an unintended program address or execute the wrong command. There are many cases where you can't go back. That's why the error occurred.'
x It is not possible to notify the outside world of the microprocessor or to restart the self-diagnosis program.
以上のよう(て従来の自己診断法による機能試験ではエ
ラーの発生後はエラー表示、工2−のカウント、プログ
ラムの再開ができなかっンtため実用住に乏しかつ念。As mentioned above, in the conventional self-diagnosis function test, it is not possible to display the error, count the number of steps, or restart the program after an error occurs, so it is not practical.
本発明の目的は、従来の自己診断法によるマイクロプロ
セッサの機能試験で問題となっているエラー発生後のエ
ラー表示、エラーカウント、プログラムの再開全可能に
する試験装置全提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a complete test device that enables error display, error counting, and program restart after an error occurs, which are problems in microprocessor function tests using conventional self-diagnosis methods.
本発明はマイクロプロセッサの自己診断法による最能試
−において自己診断プログラムの実行時間を暗視するこ
とによりエラーの有無全識別することを特徴とする。本
発明により従来の方法ではエラーが発生しでもマイクロ
プロセッサの外部にエラーの有無を知らせることができ
なかつ九点を解決できる・
〔実施例〕
第1図に本発明の実施例を示す。クロック発生回路で発
生したクロックパルス全タイマと−rイクロプロセッサ
に入力する。タイマの計測時間はエラーが発生しない場
合に必要とする自己診断プログラムの実行時間に設定す
る。lはタイマのリセット入力端子、コはマイクログロ
セyすのリセット入力端子あるいはインタラブド入力端
子である。The present invention is characterized in that the presence or absence of errors is completely identified by observing the execution time of the self-diagnosis program in the best possible test using the self-diagnosis method of the microprocessor. According to the present invention, even if an error occurs, the conventional method cannot notify the outside of the microprocessor of the presence or absence of an error, and nine points can be solved. [Embodiment] FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The clock pulses generated by the clock generation circuit are input to all timers and the -r microprocessor. The measurement time of the timer is set to the execution time of the self-diagnosis program required if no error occurs. 1 is a reset input terminal of the timer, and ko is a reset input terminal or an interconnected input terminal of the microgrossing device.
λにパルスが入力された時点で自己診断プログラムの実
行が開始されるようにプログラミングしておく。プログ
ラムメモリは自己診断プログラムをストアするメモリで
ある。3はタイマの時間計測信号の出力端子で、≠は自
己診断プログラムの実行終了信号の出力端子である。!
はエラー信号出力端子である。3の端子に時間計測信号
が出力されている時点でヌの端子に終了信号が出力され
ない場合にエラー発生と判定し、インバータ回路とAN
D回路により夕の端子にエラー全検出を発生させる。Programming is performed so that execution of the self-diagnosis program starts when a pulse is input to λ. The program memory is a memory that stores a self-diagnosis program. 3 is an output terminal for a time measurement signal of a timer, and ≠ is an output terminal for an execution end signal of a self-diagnosis program. !
is an error signal output terminal. If the end signal is not output to the terminal No. 3 while the time measurement signal is output to the terminal No. 3, it is determined that an error has occurred, and the inverter circuit and AN
The D circuit generates error detection at the evening terminal.
このエラー信号をエラーカウンタおよびエラー表示回路
に入力しエラーのカウントとエラーの表示を行う。計測
信号を0几回路を通して/、 2の端子に入力し、タ
イマのリセットと自己診断プログラムの再開全起動する
。各信号の時間関係は同図(blに示すようになる。乙
は自己診断プログラムの実行開始時点である。7はエラ
ー発生時の信号である。This error signal is input to an error counter and an error display circuit to count and display errors. Input the measurement signal to terminal 2 through the 0 circuit, reset the timer and restart the self-diagnosis program. The time relationship of each signal is as shown in FIG.
第1図の実施例の回路では終了信号のパルス幅を時間計
測信号のパルス幅より少j〜広くしておく必要がある。In the circuit of the embodiment shown in FIG. 1, it is necessary to make the pulse width of the end signal a little wider than the pulse width of the time measurement signal.
rのスイッチは自己診断プログラムの実行開始を手動で
行う場合のスイッチである。The switch r is used to manually start execution of the self-diagnosis program.
自己診断プログラムを7回だけ実行させたい場合は時間
計測信号をリセット信号にもどす必要はない。If you want to run the self-diagnosis program only seven times, there is no need to return the time measurement signal to the reset signal.
一般((エラーが発生した場合には意図しないプログラ
ム番地ヘジャンプしたう、命令を取違えて実行したシす
るため当然自己診断プログラムの実行時間が変化するは
ずであるが、エラー発生時に確実に正常なプログラムの
流れを変えるため自己診断プログラムの中でエラー全検
出した時点でジャンプ命令等で故意にプログラムの実行
項番を変化させるのが望ましい。General ((If an error occurs, the execution time of the self-diagnosis program will naturally change because the program jumps to an unintended program address or executes the wrong command.) In order to change the flow of the program, it is desirable to intentionally change the execution item number of the program using a jump instruction or the like when all errors are detected in the self-diagnosis program.
自己診断プログラムの実行時間内でカウントするエラー
数は最大1回である。このため自己診断プログラムを複
数個のブロックに分けてエラー検出能力を高めることも
できる。このときはマイクロプロセッサのリセット信号
が入る毎に実行されるプログラムのブロックが7個づつ
シフトするように設定する必要がある。各ブロックの実
行時間に合せてタイマの方もブリセノメブルにして順次
設定時間を変える必要がある。あるいは実行時間が不足
するブロックに余分な命令を追加することによりすべて
のブロックの実行時間が同じになるようにしタイマの設
定時間を固定することもできる。The maximum number of errors that can be counted within the execution time of the self-diagnosis program is one. Therefore, the self-diagnosis program can be divided into a plurality of blocks to improve the error detection ability. In this case, it is necessary to set the program blocks to be executed by seven blocks each time the microprocessor reset signal is input. It is also necessary to change the setting time of the timer in accordance with the execution time of each block by changing the timer to a brise scale. Alternatively, by adding an extra instruction to a block that lacks execution time, the execution time of all blocks can be made the same, and the set time of the timer can be fixed.
以上はマイクロプロセッサの@能試験について説明した
が、基本的考え方は各種コンピュータ、各種プロセッサ
の試験にも適用することが可能である。The above explanation has been about microprocessor tests, but the basic idea can also be applied to tests of various computers and various processors.
以上説明し之ように、本発明の試験装置では実用性が極
めて乏しかった従来のマイクロプロセッサの自己診断法
による試験装置をわずかな部品類の追加で、エラー表示
、エラーのカウント、エラー発生時のプログラムの再開
が可能となりたため、簡便な試験装置として満足できる
性能が得られるようになった。As explained above, the test device of the present invention improves the conventional test device based on the self-diagnosis method for microprocessors, which was extremely impractical, by adding only a few parts, and is capable of displaying errors, counting errors, and detecting errors when they occur. Since it is now possible to restart the program, it has become possible to obtain satisfactory performance as a simple test device.
第7図は本発明の実施例である。(alは試験回路、(
blは各信号のタイミングである。
/・・・タイマのリセット入力端子、λ・・・マイクロ
プロセッサのリセット入力端子あるいはインタラブド入
力端子、3・・・タイマの時間計測信号の出力端子、弘
・・自己診断プログラムの実行終了信号の出力端子、!
・・・エラー信号出力端子、6・・・自己診断プログラ
ムの実行開始時点、7・・・エラー発生時の信号、g・
・・自己診断プログラムの手動による起動スイッチ。FIG. 7 shows an embodiment of the present invention. (al is the test circuit, (
bl is the timing of each signal. /...Timer reset input terminal, λ...Microprocessor reset input terminal or interwoven input terminal, 3...Timer time measurement signal output terminal, Hiro...Self-diagnosis program execution end signal output Terminal!
...Error signal output terminal, 6.At the start of execution of the self-diagnosis program, 7.Signal when an error occurs, g.
...Manual start switch for self-diagnosis program.
Claims (1)
て、自己診断プログラムの実行中にエラーが発生した場
合にプログラムの実行順番が変化するようにプログラミ
ングされた自己診断プログラムと、該プログラムの実行
時間終了時にマイクロプロセッサの外部に終了信号を出
力する手段と、プログラムの実行開始からの時間を計測
しエラーが発生しない場合の該プログラムの実行時間分
だけ経過した時点で時間計測信号を出力する時間計測手
段と、前記時間計測信号が出力された時点で終了信号が
出力されなかった場合にエラーをカウントする手段と、
時間計測信号出力後に時間計測回路をリセットし自己診
断プログラムの実行を再開する手段を有することを特徴
とする集積回路の試験装置。In a functional test using a microprocessor self-diagnosis method, a self-diagnosis program is programmed to change the execution order of the programs if an error occurs during execution of the self-diagnosis program, and a microprocessor means for outputting an end signal to the outside of the program; time measuring means for measuring time from the start of execution of the program and outputting a time measurement signal when the execution time of the program has elapsed when no error occurs; means for counting an error when an end signal is not output at the time the time measurement signal is output;
1. An integrated circuit testing device comprising means for resetting a time measurement circuit and restarting execution of a self-diagnosis program after outputting a time measurement signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60209739A JPS6269172A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Test instrument for integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60209739A JPS6269172A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Test instrument for integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6269172A true JPS6269172A (en) | 1987-03-30 |
Family
ID=16577834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60209739A Pending JPS6269172A (en) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | Test instrument for integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6269172A (en) |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP60209739A patent/JPS6269172A/en active Pending
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