SU610122A1 - Apparatus for determining electronic circuitry reliability - Google Patents

Apparatus for determining electronic circuitry reliability

Info

Publication number
SU610122A1
SU610122A1 SU762375710A SU2375710A SU610122A1 SU 610122 A1 SU610122 A1 SU 610122A1 SU 762375710 A SU762375710 A SU 762375710A SU 2375710 A SU2375710 A SU 2375710A SU 610122 A1 SU610122 A1 SU 610122A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
circuit
unit
failure
state
elements
Prior art date
Application number
SU762375710A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Иванович Зайков
Евгений Николаевич Митичкин
Анатолий Николаевич Свердлик
Original Assignee
Военный Инженерный Краснознаменный Институт Им.А.Ф.Можайского
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Военный Инженерный Краснознаменный Институт Им.А.Ф.Можайского filed Critical Военный Инженерный Краснознаменный Институт Им.А.Ф.Можайского
Priority to SU762375710A priority Critical patent/SU610122A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU610122A1 publication Critical patent/SU610122A1/en

Links

Landscapes

  • Selective Calling Equipment (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ за ueiioL: эмиттер-коллектор, база-эмиттер, база-колл1 тгор). Вре.м  испытани  схемы разбито на п интервалов , и в процессе испытаний фиксируетс  число отказов схемы на каждом из п интервалов . Таким образом, после испытаний в качестве окончательного результата получают совокупность из п чисел, характеризующих распределение времени исправной работы схемы. На каждом интервале в случайном пор дке опрашиваютс  элементы схемы и устанавливаетс  их состо ние. Если при опросе очерел,ной элемент отказал, то в зависимости от вида отказа измен етс  состо ние элемента (напри .мер, размыкаетс  или за.мыкаетс  электрическа  цепь) и провер етс  исправность схемы. При отказе схемы увеличиваетс  на единицу число отказов на данном интервале, и испытание прекращаетс . Если схема исправна, то опрашиваетс  следующий элемент. Переход к опросу следующего элемента осуществл етс  аналогично, если в результате опроса элемента установлено, что он исправен. Ранее отказавшие элементы при опросе опускаютс . После опроса последнего элемента анализируетс  работа схемы на следующем интервале. По окончании испытани  схема приводитс  в исходное состо ние (все элементы привод тс  в исправное состо ние), и начинаетс  новое испытание с анализа работы схемы на нервом временном интервале. В таком режиме устройство выполн ет заданное число испытаний. На чертеже представлена структурна  схе .ма предложенного устройства. Оно содержит блок управлени  1, блок опроса 2, блок 3 .моделировани  отказов элементов , блок сравнени  4 и блок пуска-и индикации 5. Согласованную работу всего устройства обес печивает блок управлени , вырабатывающий необходимую последовательность управл юЩИ|Х сигналов. В этом блоке подсчитываетс  число выполненных циклов, которое сравниваетс  с заданным числом испытаний. Блок опроса на каждом такте работы устройства осуществл ет последовательный просмотр всех элементов схемы. Дл  исключени  статистической зависимости моментов отказов элементов опрос в случайной последовательности осуществл етс  ранее отказывавших элементов. Состо ние опрашиваемого элемента определ етс  статистически по его характеристикам надежности в блоке .моделировани  отказо;. дме .ментов. Испытуемую схему выбирают из элементов , размещенных на наборном поле блока сравнени . При каждом изменении состо ни  схемы провер етс  ее работоспособность, и при отказе увеличиваетс  на единицу содержимое одного из п счетчиков отказов, вход щих в состав блока сравнени . Блок индикации служит дл  отображени  состо ни  элементов испытуемой схе.мы: состо ни  схемы, номера такта работы машины, числа оставшихс  циклов работы устройства и числа отказов на каждом такте работы. Устройство работает в следующих режимах: в автоматическом I (останов происходит после выполнени  заданного числа циклов работы мащины), в циклическом II (останов происходит по окончании цикла работы машины), в однотактном III (останов происходит по окончании такта работы машины) и в одиночном IV (останов происходит после опроса одного элемента). Устройство работает следующим образом. На наборных пол хблока моделировани  отказов элементов задаютс  характеристики падежности элементов, а на наборном поле блока сравнени  набираетс  исследуема  схема. На блок управлени  поступает сигнал со в.хода 6 начала работы. Блок управлени  на первом выходе вырабатывает сигнал номера такта,- который поступает в блок моделировани  отказов элементов и блок сравнени  дл  определени  характеристик надежности элементов и счета числа отказов, соответствующих данному такту рабо.ть1 машины. Этот же сигнал поступает на блок индикации. По сигналу с четвертого выхода блока управлени  включаетс  в работу блок опроса, который определ ет номер первого опращиваемого элемента. Сигнал номера элемента со второго выхода блока опроса поступает в блок моделировани  отказов элементов и блок сравнени , где используетс  дл  определени  состо ни  опрашиваемого элемента и фиксации его состо ни  при отказе. Следуюшим сигналом с первого выхода блока управлени  опрашиваетс  блок моделировани  отказов элементов, который определ ет состо ние опрашиваемого элемента. Если элемент исправен, то из блока моделировани  отказов элементов на первый вход блока управлени  поступает сигнал, по которому этОт блок снова вырабатывает сигналы на первом и четвертом выходах. Эти сигналы обеспечивают выбор следующего элемента и определение его состо ни . Процесс продолжаетс  до тех пор, пока либо опрашиваемый элемент не окажетс  в состо нии отказа,либо не будет опрошен последний элемент схемы. Если в результате опроса установлено, что элемент отказал, то на блок моделировани  отказов элементов и на третий вход блока сравнени  поступает сигнал вида отказа (обрыв или замыкание), который совместно с сигналом номера элемента на втором выходе блока опроса используетс  дл  фиксации отказа опращиаемого элемента. После изменени  состо ни  лемента в блоке сравнени  анализируетс  работоспособность испытуемой схемы. Результат анализа выдаетс  блоком сравнени  по первому выходу и поступает в блок управлени  и блок индикации. Кроме того, при отказе схемы результат анализа фиксируетс  на счетчике отказов в блоке сравнени , соответствующем данному такту работы устройства. Одновременно с сигналом на первом выходе блока сравнени  вырабатываютс  сигналы состо ни  элемен тов и сигнал состо ни  счетчиков отказов соответственно на втором и третьем выходах блока сравнени . Эти сигналы поступают на(54) DEVICE FOR DETERMINING THE RELIABILITY OF ELECTRONIC CIRCUITS for ueiioL: emitter-collector, base-emitter, base-call1 torch). The test times of the circuit are divided into n intervals, and during the tests the number of circuit failures at each of the n intervals is recorded. Thus, after the tests, a set of π numbers characterizing the time distribution of the correct operation of the circuit is obtained as the final result. At each interval, the circuit elements are polled in random order and their state is established. If the interrogation of a clear element fails, then, depending on the type of failure, the state of the element changes (for example, the circuit is open or closed.) And the circuit is working. If a circuit fails, the number of failures in a given interval increases by one, and the test is terminated. If the circuit is valid, the next item is polled. The transition to the next item is polled in the same way, if the item is determined as a result of the item polling. Previously failed items are dropped during polling. After polling the last element, the operation of the circuit is analyzed in the next interval. At the end of the test, the circuit is returned to its original state (all elements are put in good condition), and a new test begins with an analysis of the operation of the circuit on the nerve over a time interval. In this mode, the device performs the specified number of tests. The drawing shows the structural scheme of the proposed device. It contains the control unit 1, the polling unit 2, the unit 3 modeling the element failures, the comparison unit 4 and the start-up and indication unit 5. The control unit generating the necessary control sequence | X signals ensures the coordinated operation of the entire device. In this block, the number of cycles performed is calculated, which is compared with a given number of tests. The polling unit on each operation cycle of the device performs a sequential review of all circuit elements. In order to eliminate the statistical dependence of the moments of failure of elements, a survey in a random sequence is carried out of previously failed elements. The state of the element being surveyed is determined statistically by its reliability characteristics in the model of the failure model ;. dme. The test circuit is selected from the elements placed on the dial field of the comparison unit. With each change in the state of the circuit, its operability is checked, and in the event of a failure, the content of one of the n fault counters included in the comparison block is increased by one. The display unit is used to display the state of the elements of the circuit under test: the state of the circuit, the number of machine operation cycles, the number of remaining device operation cycles and the number of failures on each operation cycle. The device operates in the following modes: in automatic I (it stops after a specified number of machine operation cycles), in cyclic II (it stops at the end of the machine’s cycle), in one-cycle III (it stops at the end of the machine’s cycle) and in single IV (stop occurs after polling one item). The device works as follows. On the typesetting field of the element failure simulation block, the characteristics of the elements are set, and the scheme under study is typed on the typesetting field of the comparison unit. The control unit receives a signal from the start run 6. The control unit at the first output generates a clock number signal, which enters the element failure simulation block and the comparison block to determine the reliability characteristics of the elements and the count of the number of failures corresponding to the given machine clock cycle1. The same signal goes to the display unit. The signal from the fourth output of the control unit includes a polling unit that determines the number of the first survey element. The element number signal from the second output of the interrogation unit enters the element failure simulation unit and the comparison unit, where it is used to determine the state of the interrogated element and fix its state in case of failure. The following signal from the first output of the control unit interrogates the element failure simulation block, which determines the state of the element being polled. If the element is in good condition, then from the block of modeling the failures of elements to the first input of the control unit, a signal is received, through which this unit again generates signals at the first and fourth outputs. These signals provide the selection of the next element and the determination of its state. The process continues until either the element being polled is in a state of failure or the last element of the scheme is not polled. If, as a result of the survey, it is determined that the element failed, then the element failure modeling block and the third input of the comparison unit receive a signal of failure type (open or short), which, together with the element number signal at the second output of the interrogation unit, is used to fix the failure of the element under survey. After a change in the state of the element in the comparison unit, the operability of the circuit under test is analyzed. The result of the analysis is given by the comparison unit at the first output and fed to the control unit and the display unit. In addition, in case of a circuit failure, the analysis result is recorded on the failure counter in the comparison unit corresponding to the given device operation cycle. Simultaneously with the signal at the first output of the comparator unit, the state signals of the elements and the state signal of the failure counters are generated, respectively, at the second and third outputs of the comparator unit. These signals arrive at

SU762375710A 1976-06-23 1976-06-23 Apparatus for determining electronic circuitry reliability SU610122A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762375710A SU610122A1 (en) 1976-06-23 1976-06-23 Apparatus for determining electronic circuitry reliability

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762375710A SU610122A1 (en) 1976-06-23 1976-06-23 Apparatus for determining electronic circuitry reliability

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU610122A1 true SU610122A1 (en) 1978-06-05

Family

ID=20666817

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762375710A SU610122A1 (en) 1976-06-23 1976-06-23 Apparatus for determining electronic circuitry reliability

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU610122A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4139147A (en) Asynchronous digital circuit testing and diagnosing system
EP0113393A2 (en) A self-clocked signature analyser
US4168467A (en) Measurement of pulse duration
SU610122A1 (en) Apparatus for determining electronic circuitry reliability
SU1078430A1 (en) Device for checking digital units
SU942025A1 (en) Device for discrete object checking and diagnostics
SU920733A1 (en) Device for checking completness of tests
SU732970A1 (en) Device for monitoring psychophysiological characteristics of operators
SU660053A1 (en) Microprocessor checking arrangement
SU1183972A1 (en) Device for simulating failures of digital equipment
SU970283A1 (en) Device for locating malfunctions in logic assemblies
SU1485267A1 (en) Unit for analysing connectivity of nodes in probabilistic graph
SU607166A1 (en) Arrangement for conducting matrix testing by statistical technique
SU1190383A2 (en) Device for checking digital units
SU149262A1 (en) Device for finding faulty electronic digital computer components
SU1683051A1 (en) Trainer for operators
SU877547A1 (en) Device for diagnostic checking
SU754365A1 (en) Device for monitoring discrete objects
SU1041949A2 (en) Phasometer checking device
SU1411753A2 (en) Device for testing programs for fail-safety
SU511623A1 (en) Device for identifying single time signals
SU408354A1 (en) DEVICE FOR DETERMINATION OF CHANGE CODE CORNER CONVERTER - CODE
SU1513450A1 (en) Signature analyzer
SU441532A1 (en) Device for detecting faults in logic circuits
SU900286A1 (en) Device for checking digital systems