JPS6263824A - 光スペクトル幅測定装置 - Google Patents
光スペクトル幅測定装置Info
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- JPS6263824A JPS6263824A JP17710085A JP17710085A JPS6263824A JP S6263824 A JPS6263824 A JP S6263824A JP 17710085 A JP17710085 A JP 17710085A JP 17710085 A JP17710085 A JP 17710085A JP S6263824 A JPS6263824 A JP S6263824A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 29
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 40
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 239000010902 straw Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光の波長のスペクトル幅を測定する光スペク
トル幅測定装置の改良に関するものである。
トル幅測定装置の改良に関するものである。
（従来の技術）
従来、レーザ光の波長のスペクトル幅を測定する装置と
しては、回折格子やプリズムを用いた分光器、あるいは
ファブリ・ベロー・エタロンを用いたものが知られてい
るが、前者の分解能はせいぜい０．１ｎｍ（約５０ＧＨ
ｚ）Ｌ、かなり、侵者ではミラー間隔数１０ｃｍのもの
を使えば数Ｍ１−１２の可能性はあるが、調整が非常に
難しいし波長が変動する場合は測定できない。
しては、回折格子やプリズムを用いた分光器、あるいは
ファブリ・ベロー・エタロンを用いたものが知られてい
るが、前者の分解能はせいぜい０．１ｎｍ（約５０ＧＨ
ｚ）Ｌ、かなり、侵者ではミラー間隔数１０ｃｍのもの
を使えば数Ｍ１−１２の可能性はあるが、調整が非常に
難しいし波長が変動する場合は測定できない。
第５図は最近、菊池氏らにより提案され各所で採用され
た遅延自己ヘテロダイン方式に基づくレーデスペクトル
幅測定装置を示す構成説明図である（電子通信学会技術
研究報告０ＱＥ８０−５０゜１／６）。レーザ光源１か
ら出射した光はビームスプリッタ２で２つの光路に分離
され、一方の光は単一モードファイバ５に入射する。ビ
ームスプリッタ２から出力する他方の光は音響光学変調
器３によって周波数シフトｆ、が与えられる。４は音響
光学変調器３を励振する発振器である。ビームスプリッ
タ２からの出力光と音響光学変［ｔ３からの出力光は再
びビームスプリッタ６で結合され、受光素子７の受光面
上で干渉する。単一モードファイバ５における光の遅延
［１１はレーザ光出力のコヒーレンス長より充分長くと
っであるので、２つの光路を通った光の間には相関がな
くなり、しかも両者の雑音の統計的性質は等しいので、
スペクトルアナライザ８で受光素子７の出力のパワース
ペクトルを測定することにより、被測定レーザ光のパワ
ースペクトルを求めることができる。
た遅延自己ヘテロダイン方式に基づくレーデスペクトル
幅測定装置を示す構成説明図である（電子通信学会技術
研究報告０ＱＥ８０−５０゜１／６）。レーザ光源１か
ら出射した光はビームスプリッタ２で２つの光路に分離
され、一方の光は単一モードファイバ５に入射する。ビ
ームスプリッタ２から出力する他方の光は音響光学変調
器３によって周波数シフトｆ、が与えられる。４は音響
光学変調器３を励振する発振器である。ビームスプリッ
タ２からの出力光と音響光学変［ｔ３からの出力光は再
びビームスプリッタ６で結合され、受光素子７の受光面
上で干渉する。単一モードファイバ５における光の遅延
［１１はレーザ光出力のコヒーレンス長より充分長くと
っであるので、２つの光路を通った光の間には相関がな
くなり、しかも両者の雑音の統計的性質は等しいので、
スペクトルアナライザ８で受光素子７の出力のパワース
ペクトルを測定することにより、被測定レーザ光のパワ
ースペクトルを求めることができる。
この方式によれば、位相ゆらぎによって生じるレーザ光
のスペクトルの拡がりを数１０ＫＨ２の分解能で測定で
きる。
のスペクトルの拡がりを数１０ＫＨ２の分解能で測定で
きる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、第５図装置において高価な単一モードフ
ァイバを使用しており、分解能はその長さと対応するの
で、分解能を上げようとすると装置がコスト高となると
いう欠点がある。またビームスプリッタを２個使用し構
成が複雑でアラインメントが難しい。
ァイバを使用しており、分解能はその長さと対応するの
で、分解能を上げようとすると装置がコスト高となると
いう欠点がある。またビームスプリッタを２個使用し構
成が複雑でアラインメントが難しい。
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
、分解能に対するコストを低減した光スペクトル幅測定
装置を小形かつ簡単な構成で実現することを目的とする
。
、分解能に対するコストを低減した光スペクトル幅測定
装置を小形かつ簡単な構成で実現することを目的とする
。
（問題点を解決するための手段）
本発明の光スペクトル幅測定装置は入力光を２方向に分
割するビームスプリッタと、このビームスプリッタの一
方の出力光を入力するファイバと、このファイバ内の光
の周波数をシフｌ−ｆｌる変調手段と、このファイバの
出力光に関連した光と前記ビームスプリッタの他方の出
力光に関連した光を入射する受光素子と、この受光素子
の出力が接続してその周波数スベク１ヘルを測定する周
波数分析手段とを備えたことを特徴とする。
割するビームスプリッタと、このビームスプリッタの一
方の出力光を入力するファイバと、このファイバ内の光
の周波数をシフｌ−ｆｌる変調手段と、このファイバの
出力光に関連した光と前記ビームスプリッタの他方の出
力光に関連した光を入射する受光素子と、この受光素子
の出力が接続してその周波数スベク１ヘルを測定する周
波数分析手段とを備えたことを特徴とする。
（作用）
上記のような構成の装置によれば、ファイバで変調を行
うことにより、ビームスプリッタを１つ用いた、簡単な
構成の光スベク１〜ル幅測定装置を実現できる。
うことにより、ビームスプリッタを１つ用いた、簡単な
構成の光スベク１〜ル幅測定装置を実現できる。
（実施例）
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第１図は本発明に係わる光スペクトル幅測定装置の一実
施例を示す構成説明図である。第５図と同一の部分には
同じ記号を付しである。１１は被測定光を光ファイバで
入力する光コネクタ、１２はこの光コネクタ１７からの
入射光を平行光にするレンズ、１３はレンズ１２を通っ
た光を通過させる一方逆方向の光を阻止する光アイソレ
ータ、２は光アイソレータ１３を通過した光を２方向に
分離するビームスプリッタ、１４はこのビームスプリッ
タ２で反射された一方の出力光〈図の上方向の光）を集
光するレンズ、５はこのレンズ１４で集光された光を入
射する単一モードファイバ、５１はアルミニウムなどの
金属を蒸着してミラーを構成した前記単一モードファイ
バ５の端面、３１はＰＺＴなどの電歪材料で構成され前
記ファイバ５が巻かれる円筒、４１はこの円筒３１の内
外面に形成された電極を介して周波数ｆｍで励振する発
振器、２１はこのビームスプリッタ２の底面に設けられ
ファイバ５がら出射してレンズ１４で平行光とされた後
ビームスプリッタ２を透過した光が反射されるミラー、
１５はこのミラー２１およびビームスプリッタ２で反射
された光とアイソレータ１３からの入射光がビームスプ
リッタ２を透過した光（図の右方向）を入射する偏光子
、７はアバランシェフォトダイオードなどから構成され
前記偏光子を通過した光を入射する受光素子、８はこの
受光素子７の出力を入力して光のスペクトルを測定する
スペクトルアナライザ（周波数分析手段）である。円筒
３１および発振器４１は変調手段を構成している。
施例を示す構成説明図である。第５図と同一の部分には
同じ記号を付しである。１１は被測定光を光ファイバで
入力する光コネクタ、１２はこの光コネクタ１７からの
入射光を平行光にするレンズ、１３はレンズ１２を通っ
た光を通過させる一方逆方向の光を阻止する光アイソレ
ータ、２は光アイソレータ１３を通過した光を２方向に
分離するビームスプリッタ、１４はこのビームスプリッ
タ２で反射された一方の出力光〈図の上方向の光）を集
光するレンズ、５はこのレンズ１４で集光された光を入
射する単一モードファイバ、５１はアルミニウムなどの
金属を蒸着してミラーを構成した前記単一モードファイ
バ５の端面、３１はＰＺＴなどの電歪材料で構成され前
記ファイバ５が巻かれる円筒、４１はこの円筒３１の内
外面に形成された電極を介して周波数ｆｍで励振する発
振器、２１はこのビームスプリッタ２の底面に設けられ
ファイバ５がら出射してレンズ１４で平行光とされた後
ビームスプリッタ２を透過した光が反射されるミラー、
１５はこのミラー２１およびビームスプリッタ２で反射
された光とアイソレータ１３からの入射光がビームスプ
リッタ２を透過した光（図の右方向）を入射する偏光子
、７はアバランシェフォトダイオードなどから構成され
前記偏光子を通過した光を入射する受光素子、８はこの
受光素子７の出力を入力して光のスペクトルを測定する
スペクトルアナライザ（周波数分析手段）である。円筒
３１および発振器４１は変調手段を構成している。
第２図は上記のような構成の光スベク１〜ル幅測定装置
の動作を説明するために光路を示し！、：動作説明図で
ある。周波数ｆＯの入射光はビームスプリッタ２で２方
向に分離される。ビームスプリッタ２の反射光はレンズ
１４で集光されフトイバ５に入射する。ファイバ５に入
射した光はミラー５７で反射された後ファイバ５内を再
び房って遅延時間τｄを与えられるとともに、ファイバ
内を往復する際に変調手段により周波数ｆｍで２回の周
波数シフトを受は周波数がｆＯ±２ｆｍとなる。
の動作を説明するために光路を示し！、：動作説明図で
ある。周波数ｆＯの入射光はビームスプリッタ２で２方
向に分離される。ビームスプリッタ２の反射光はレンズ
１４で集光されフトイバ５に入射する。ファイバ５に入
射した光はミラー５７で反射された後ファイバ５内を再
び房って遅延時間τｄを与えられるとともに、ファイバ
内を往復する際に変調手段により周波数ｆｍで２回の周
波数シフトを受は周波数がｆＯ±２ｆｍとなる。
ファイバ５からの出射光はレンズ１４で平行光となり、
ビームスプリッタ２を透過した光がミラー２１で反射さ
れてビームスプリッタ２に戻り、ビームスプリッタ２か
らの反射光が偏光子１５を介して受光素子７に入射する
。一方式射光の内ビームスプリッタ２を透過した光は基
準光どして周波数ｆＯのまま偏光子１５を介して受光素
子７に入射する。２つの光路を経由した光は受光素子７
で干渉し、２ｆｍ成分がスペクトルアナライザ８で表示
される。
ビームスプリッタ２を透過した光がミラー２１で反射さ
れてビームスプリッタ２に戻り、ビームスプリッタ２か
らの反射光が偏光子１５を介して受光素子７に入射する
。一方式射光の内ビームスプリッタ２を透過した光は基
準光どして周波数ｆＯのまま偏光子１５を介して受光素
子７に入射する。２つの光路を経由した光は受光素子７
で干渉し、２ｆｍ成分がスペクトルアナライザ８で表示
される。
単一モードファイバ５における光の遅延時間τｄはレー
ザ光出力のコヒーレンス長より充分長くとっであるので
、２つの光路を通った光の間には相関がなく、しかも両
者の雑音の統計的性質は等しいので、スペクトルアナラ
イザ８からは周波数２ｆｍを中心とした被瀾定レーザ光
のパワースペクトルが得られる。
ザ光出力のコヒーレンス長より充分長くとっであるので
、２つの光路を通った光の間には相関がなく、しかも両
者の雑音の統計的性質は等しいので、スペクトルアナラ
イザ８からは周波数２ｆｍを中心とした被瀾定レーザ光
のパワースペクトルが得られる。
前掲論文（菊池能）より明らかなようにスペクトルアナ
ライザ８で観測されるスペクトルの半値全幅をΔνとす
ると入力光のスペクトル幅（半値全幅）ΔνＢはΔν／
２と等しくなる。変調周波数２ｆｍはΔνの１／２すな
わちΔνＢより太きいことが必要で、これが測定できる
スペクトル幅の上限を決める。例えばｆｍ＝８０ＭＨｚ
とすると２ｆｍ＝１６０ＭＩｌｚとなり、Δν／２ｔａ
わら測定スペクトル幅ΔしＢの上限は１６０ＭＨｚとな
る。またファイバ５の長さは分ｗｌ能を決め、例えば１
．５Ｋｍのファイバを用いたｉ合理延時間は往復で１５
μｓとなり分解能は約１５ＫＨｚとなる。
ライザ８で観測されるスペクトルの半値全幅をΔνとす
ると入力光のスペクトル幅（半値全幅）ΔνＢはΔν／
２と等しくなる。変調周波数２ｆｍはΔνの１／２すな
わちΔνＢより太きいことが必要で、これが測定できる
スペクトル幅の上限を決める。例えばｆｍ＝８０ＭＨｚ
とすると２ｆｍ＝１６０ＭＩｌｚとなり、Δν／２ｔａ
わら測定スペクトル幅ΔしＢの上限は１６０ＭＨｚとな
る。またファイバ５の長さは分ｗｌ能を決め、例えば１
．５Ｋｍのファイバを用いたｉ合理延時間は往復で１５
μｓとなり分解能は約１５ＫＨｚとなる。
このような構成の光スペクトル幅測定装置によれば、フ
ァイバ自身に位相変調をかけているのでビームスプリッ
タが１つで済み、構成が簡単で小形化でき、また光学系
などのアラ・インメン１−が容易となる。
ァイバ自身に位相変調をかけているのでビームスプリッ
タが１つで済み、構成が簡単で小形化でき、また光学系
などのアラ・インメン１−が容易となる。
また遅延時間を与える際に単一モードファイバ内で光を
往復させているので、同じ分解能を得るために必要な単
一モードファイバの長さを１／２にでき、コストを安く
するとともに小形化できる。
往復させているので、同じ分解能を得るために必要な単
一モードファイバの長さを１／２にでき、コストを安く
するとともに小形化できる。
また逆に同じ長さのファイバを用いて分解能を２倍にす
ることもできる。
ることもできる。
また、変調手段の変調周波数の２倍の周波数シフトを与
えることができるので、測定できるスペクトル幅の範囲
が２倍に拡がる。
えることができるので、測定できるスペクトル幅の範囲
が２倍に拡がる。
なお上記の実施例では光コネクタ１１に光が戻ることを
防ぐために光アイソレータ１３を用いているが、測定対
象が戻り光があってもよい場合は省略できる。また入力
光が空間伝搬で平行光の場合は光コネクタ１１およびレ
ンズ１２も省略できる。
防ぐために光アイソレータ１３を用いているが、測定対
象が戻り光があってもよい場合は省略できる。また入力
光が空間伝搬で平行光の場合は光コネクタ１１およびレ
ンズ１２も省略できる。
また上記の実施例ではファイバ端面５１に金属を蒸着し
てミラーを構成しているが、別のミラーをファイバ端面
に接してもよい。
てミラーを構成しているが、別のミラーをファイバ端面
に接してもよい。
また偏光子１５は周波数ｆ。と周波数ｆ◇＋２ｆｍの光
が完全に直線偏光で偏波面か直交したときに干渉しなく
なるのを防ぐために用いるが、楕円偏光で受光素子７お
よびスペクトルアナライザ８に十分ゲインがあれば省略
できる。
が完全に直線偏光で偏波面か直交したときに干渉しなく
なるのを防ぐために用いるが、楕円偏光で受光素子７お
よびスペクトルアナライザ８に十分ゲインがあれば省略
できる。
また上記の実施例では変調手段として円筒状の電歪素子
に光ファイバを巻いたものを用いたが、これに限らず、
ファイバを電歪素子ではさんだものなど、ファイバ内の
光に位相変調（または周波数変調）を与えられるものな
ら何でも使用できる。
に光ファイバを巻いたものを用いたが、これに限らず、
ファイバを電歪素子ではさんだものなど、ファイバ内の
光に位相変調（または周波数変調）を与えられるものな
ら何でも使用できる。
また第１図装置において、ビームスプリッタ２における
反射と透過の関係を逆にして、反射光側に偏光子、受光
素子等を配置し、透過光側にファイバを配置してもよい
。
反射と透過の関係を逆にして、反射光側に偏光子、受光
素子等を配置し、透過光側にファイバを配置してもよい
。
第３図は本発明に係る第２の実施例を示す構成説明図で
、第１図と同じ部分には同一の記号を付して説明を省略
する。第１図装置と異なるのはファイバ５の端面のミラ
ーを省略して出射光を取出し、レンズ１６を介してビー
ムスプリッタ２に反対側から戻すように構成した点であ
る。第４図はその動作説明図である。アイソレータ１３
からの周波数ｆｏの入射光に対するビームスプリッタ２
の反射光はレンズ１４で集光された後ファイバ５に入射
し第１図装置と同様の変調手段により周波数シフトｆ、
を与えられる。所定の遅延時間を経た後他端から出射し
て（図の点線）レンズ１６で平行光となり、再びビーム
スプリッタ２で反射され周波数ｆ０±ｆｍで偏光子１５
を介して受光素子７に入射する。一方式射光のうちビー
ムスブリツタ２で分離された透過光は周波数がｆ。のＪ
、ま偏光子１５を介して受光素子７に入射する。上記の
２つの光は受光素子７−Ｃ：干渉し、スペクトルアナラ
イザ８で周波数ｆｍ成分が観測される。
、第１図と同じ部分には同一の記号を付して説明を省略
する。第１図装置と異なるのはファイバ５の端面のミラ
ーを省略して出射光を取出し、レンズ１６を介してビー
ムスプリッタ２に反対側から戻すように構成した点であ
る。第４図はその動作説明図である。アイソレータ１３
からの周波数ｆｏの入射光に対するビームスプリッタ２
の反射光はレンズ１４で集光された後ファイバ５に入射
し第１図装置と同様の変調手段により周波数シフトｆ、
を与えられる。所定の遅延時間を経た後他端から出射し
て（図の点線）レンズ１６で平行光となり、再びビーム
スプリッタ２で反射され周波数ｆ０±ｆｍで偏光子１５
を介して受光素子７に入射する。一方式射光のうちビー
ムスブリツタ２で分離された透過光は周波数がｆ。のＪ
、ま偏光子１５を介して受光素子７に入射する。上記の
２つの光は受光素子７−Ｃ：干渉し、スペクトルアナラ
イザ８で周波数ｆｍ成分が観測される。
変調周波数ｆ、はΔνの１／２すなわちΔνＢより大き
いことが必要で、これが測定ぐきるスペクトル幅の上限
を決める。例えばｆ ｍ−８０Ｍ Ｈ２とすると、Δν
／２すなわち測定スペクトル幅ΔνＢの上限は８０ Ｍ
Ｈｚとなる。またファイバ５の良さは分解能を決め、
例えば１．５Ｋｍのファイバを用いた場合遅延時間は７
．５ ｌｌｓとなり分解能は約３０ Ｋ ｌ−１ｚとな
る。
いことが必要で、これが測定ぐきるスペクトル幅の上限
を決める。例えばｆ ｍ−８０Ｍ Ｈ２とすると、Δν
／２すなわち測定スペクトル幅ΔνＢの上限は８０ Ｍ
Ｈｚとなる。またファイバ５の良さは分解能を決め、
例えば１．５Ｋｍのファイバを用いた場合遅延時間は７
．５ ｌｌｓとなり分解能は約３０ Ｋ ｌ−１ｚとな
る。
この様な構成の光スペクトル幅測定装置によれば、ミラ
ーが不要なので構成が簡単で小形になる。
ーが不要なので構成が簡単で小形になる。
また第３図装置において、ビームスプリッタ２における
反射と透過の関係を逆にして、反射光側に偏光子、受光
素子等を配置し、透過光側にファイバ〈の入射端）を配
置してもよい。その他の変形例・効果などは第１図装置
の場合と同様である。
反射と透過の関係を逆にして、反射光側に偏光子、受光
素子等を配置し、透過光側にファイバ〈の入射端）を配
置してもよい。その他の変形例・効果などは第１図装置
の場合と同様である。
（発明の効果）
Ｌス上述べたように本発明によれば、分解能に対する１
ス［・・を低減した光スベク１−ル幅測定装置を、アラ
インメン１−が容易で小形かつ簡＋１ｉな構成で実用す
ることができる。
ス［・・を低減した光スベク１−ル幅測定装置を、アラ
インメン１−が容易で小形かつ簡＋１ｉな構成で実用す
ることができる。
第１図は本発明に係る光スベク１−ル幅測定装置の一実
施例を示す構成説明図、第２図は第１図装置の動作を説
１ｌｌｌするための動作説明図、第５３図は本発明に係
る光スベク１−ル幅測定装置の第２の実施例を示Ｊ”構
成説明図、第４図は第３図装置の動作を説明するための
動作説明図、第５図は従来の光スペクトル幅測定装置を
示す構成説明図である。 ２・・・ビームスプリッタ、５・・・、ファイバ、７・
・・受光素子、８・・・周波数分析手段、３１．４１・
・・変調手段。 窮７図
施例を示す構成説明図、第２図は第１図装置の動作を説
１ｌｌｌするための動作説明図、第５３図は本発明に係
る光スベク１−ル幅測定装置の第２の実施例を示Ｊ”構
成説明図、第４図は第３図装置の動作を説明するための
動作説明図、第５図は従来の光スペクトル幅測定装置を
示す構成説明図である。 ２・・・ビームスプリッタ、５・・・、ファイバ、７・
・・受光素子、８・・・周波数分析手段、３１．４１・
・・変調手段。 窮７図
Claims (1)
- 入力光を２方向に分割するビームスプリッタと、このビ
ームスプリッタの一方の出力光を入力するファイバと、
このファイバ内の光の周波数をシフトする変調手段と、
このファイバの出力光に関連した光と前記ビームスプリ
ッタの他方の出力光に関連した光を入射する受光素子と
、この受光素子の出力が接続してその周波数スペクトル
を測定する周波数分析手段とを備えたことを特徴とする
光スペクトル幅測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17710085A JPS6263824A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光スペクトル幅測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17710085A JPS6263824A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光スペクトル幅測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263824A true JPS6263824A (ja) | 1987-03-20 |
Family
ID=16025140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17710085A Pending JPS6263824A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光スペクトル幅測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263824A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998043068A1 (fr) * | 1997-03-26 | 1998-10-01 | Kowa Company, Ltd. | Instrument de mesure optique |
| JP2012088174A (ja) * | 2010-10-20 | 2012-05-10 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 周波数雑音測定装置及び測定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61165627A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Mitsubishi Electric Corp | レ−ザ光源のスペクトル線幅測定装置 |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP17710085A patent/JPS6263824A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61165627A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Mitsubishi Electric Corp | レ−ザ光源のスペクトル線幅測定装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998043068A1 (fr) * | 1997-03-26 | 1998-10-01 | Kowa Company, Ltd. | Instrument de mesure optique |
| US6198540B1 (en) | 1997-03-26 | 2001-03-06 | Kowa Company, Ltd. | Optical coherence tomography have plural reference beams of differing modulations |
| JP2012088174A (ja) * | 2010-10-20 | 2012-05-10 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 周波数雑音測定装置及び測定方法 |
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