JPS6256836A - レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 - Google Patents

レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置

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JPS6256836A
JPS6256836A JP60197099A JP19709985A JPS6256836A JP S6256836 A JPS6256836 A JP S6256836A JP 60197099 A JP60197099 A JP 60197099A JP 19709985 A JP19709985 A JP 19709985A JP S6256836 A JPS6256836 A JP S6256836A
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JP
Japan
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laser diode
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photodiode
counter
converter
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JP60197099A
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Takuya Hosoda
細田 卓谷
Shoji Adachi
足立 正二
Atsushi Kudo
淳 工藤
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Ando Electric Co Ltd
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Ando Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)発明の技術分野 この発明は、レーザダイオードの発光特性測定装置につ
いてのものであり、さらに詳しくいえばレーザダイオー
ドの発光出力をホトダイオードで受光して測定する場合
に、レーザダイオードがオフのときのホトダイオードに
流れる暗電流を補正し、同時にその暗電流を測定するよ
うにした測定装置に関するものである。
(b)従来技術と問題点 最初に、レーザダイオードの駆動電流対先出力特性図を
第2図に示す。
第2図の曲線が不自然な状態で凹凸になっていればレー
ザダイオードの特性不良が考えられる。
また、第2図の特性から、レーザダイオードの閾値電流
、光電気変換効率などのきわめて基本的なパラメータが
まとまり、レーザダイオードの良否を判別することがで
きる。
第2図の特性を測定するには、ステップ状に増加する電
流をレーザダイオードに加え、この電流によるレーザダ
イオードの光出力を測定すればよい。
しかし、レーザダイオードに電流を印加しないのにレー
ザダイオードの光出力を受光するホトダイオードには、
普通暗電流が流れている。
この暗電流を補正して01i位にしておかないと、測定
誤差の原因になる。
また、ホトダイオードの@電流の値を知ることはホトダ
イオードの評価にもつながる。
(c)発明の目的 この発明は、レーザダイオードにステップ状の3[流を
印加してレーザダイオードの駆動電流対先出力を測定す
る場合に、レーザダイオードが発光していないときにホ
トダイオードに流れる暗電流を補正すると同時に、その
暗電流を測定するようにした測定装置の提供を目的とす
る。
(d)発明の実施例 まず、この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の1はレーザダイオード、2は1!源、3はホト
ダイオード、4はフンパレータ、5はホトカプラ、6は
カウンタ、7は信号バス、8はホトカプラ、9は信号バ
ス、10はDA変換器である。
電源2はレーザダイオード1にステップ状の電流を加え
、ホトダイオード3はレーザダイオード1の光出力を検
出する。
ホトダイオード3の出力はコンパレータ4の一端に入り
、コンパレータ4の基準電圧と比較される。
コンパレータ4の基準電圧側入力は0電位に接続されて
いる。
コンパレータ4の出力はホトカプラ5を経由してカウン
タ6に入る。
カウンタ6は入力の極性に応してアップカウントをした
り、ダウンカウントをしたりする。
カウンタ6には例えば12ビツトのものを使用し、カウ
ンタ6の出力は信号バス7を経由してホトカプラ8に入
る。
ホトカプラ8はカウンタ6のビット数に対応して配置さ
れており、ホトカブラ日の出力は信号バス9を経由して
DA変換器10に入る。
ホトカプラ5とホトカプラ8はカウンタ6をフンパレー
タ4とDA変換器10側から電気的に絶縁状態にするた
めのもので、信号の授受に関しては特別な作用はしてい
ない。
カウンタ6のカウント値からホトダイオード3の暗電流
を測定することができる。
DA変換器10はカウンタ8に対応したビット数をもっ
ており、カウンタ6のディジタル出力をアナログ出力に
変換する。
DA変換器10の出力はホトダイオード3の出力にフィ
ードバックされる。
第1図では、ホトダイオード3の出力はコンパレータ4
、カウンタ6およびDA変換器10をとおって元に戻っ
てくるが、DA変換器10の出力はコンパレータ4の出
力が小さくなるような極性で接続されているので、ホト
ダイオード3の出力は0電位に近づいていく。
したがって、電源2をオフにしてレーザダイオード1が
発光していない状態にしたとき、ホトダイオード3に流
れる暗電流をキャンセルすることができると同時に暗電
流を測定することができる。
また、この発明は、通常市販されているようなモニター
用ホトダイオード内蔵レーザダイオードにおけるモニタ
ー用ホトダイオードにも適用することができる。
fe)発明の効果 この発明によれば、ホトダイオード3、カウンタ6およ
びDA変換器10でフィードバックループを形成してい
るので、ホトダイ寸−ド3の暗電流を補正することがで
きると同時に暗電流の測定ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図はレー
ザダイオードの出力特性図。 1・・・・・・レーザダイオード、2・・・・・・電源
、3・・・・・・ホトダイオード、4・・・・・・コン
パレータ、5・・・・・・ホトカプラ、6・・・・・・
カウンタ、7・・自・・信号バス、8・・・・・・ホト
カプラ、9・・・・・・信号バス、10・・・・・・D
A変換器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 レーザダイオードにステップ状の直流電流またはパ
    ルス電流を加え、前記レーザダイオードの光出力をホト
    ダイオードで受光し、前記ホトダイオード出力から前記
    レーザダイオードの光出力を測定するレーザダイオード
    の発光特性測定装置において、 前記ホトダイオードの出力に接続するコンパレータと、
    前記コンパレータ出力に接続するカウンタと、前記カウ
    ンタの出力に接続するDA変換器とを備え、 前記DA変換器出力を前記コンパレータの入力に接続し
    、前記ホトダイオードの暗電流を補正し、前記暗電流を
    測定することを特徴とするレーザダイオードの発光特性
    測定装置。
JP60197099A 1985-09-06 1985-09-06 レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 Granted JPS6256836A (ja)

Priority Applications (1)

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JP60197099A JPS6256836A (ja) 1985-09-06 1985-09-06 レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置

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JP60197099A JPS6256836A (ja) 1985-09-06 1985-09-06 レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6256836A true JPS6256836A (ja) 1987-03-12
JPH0262171B2 JPH0262171B2 (ja) 1990-12-25

Family

ID=16368708

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JP60197099A Granted JPS6256836A (ja) 1985-09-06 1985-09-06 レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008249623A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Advantest Corp ループバックモジュールおよび試験装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008249623A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Advantest Corp ループバックモジュールおよび試験装置

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Publication number Publication date
JPH0262171B2 (ja) 1990-12-25

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