JPS6253066B2 - - Google Patents
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- JPS6253066B2 JPS6253066B2 JP21128481A JP21128481A JPS6253066B2 JP S6253066 B2 JPS6253066 B2 JP S6253066B2 JP 21128481 A JP21128481 A JP 21128481A JP 21128481 A JP21128481 A JP 21128481A JP S6253066 B2 JPS6253066 B2 JP S6253066B2
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- JP
- Japan
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- condom
- metal mold
- electrode
- air
- voltage
- Prior art date
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- Expired
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 3
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004816 latex Substances 0.000 description 1
- 229920000126 latex Polymers 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
- G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
従来のコンドームのピンホールの検査は、コン
ドームを金属の型にはめ込み、それを水に浸けて
金属の型と水との間の漏電状態を判別することに
より行なつていた。
ドームを金属の型にはめ込み、それを水に浸けて
金属の型と水との間の漏電状態を判別することに
より行なつていた。
このような従来の検査方法によると、金属の型
とコンドームとの間に空気層が存在して、密着性
が悪い場合には、ピンホールが存在しても空気層
で絶縁されるので、検査もれを生ずることがあ
り、また、水で濡れたコンドームを乾燥するため
に多くの熱エネルギーを要するという問題があつ
た。
とコンドームとの間に空気層が存在して、密着性
が悪い場合には、ピンホールが存在しても空気層
で絶縁されるので、検査もれを生ずることがあ
り、また、水で濡れたコンドームを乾燥するため
に多くの熱エネルギーを要するという問題があつ
た。
そこで、このような水を使用する湿式の検査方
法に対し、乾式の検査方法として、コンドームを
はめ込んだ金属の型に対向した電極を設け、金属
の型と電極との間に高電圧を印加してピンホール
によるブレークダウンの有無を検知することによ
りピンホールを検査することも考えられるが、コ
ンドームの材料であるテツクスは絶縁耐圧が低
く、良品を放電によつて破損することがあり、ま
た、破損しない程度の印加電圧ではピンホールの
検査もれを生ずるという問題もあつた。
法に対し、乾式の検査方法として、コンドームを
はめ込んだ金属の型に対向した電極を設け、金属
の型と電極との間に高電圧を印加してピンホール
によるブレークダウンの有無を検知することによ
りピンホールを検査することも考えられるが、コ
ンドームの材料であるテツクスは絶縁耐圧が低
く、良品を放電によつて破損することがあり、ま
た、破損しない程度の印加電圧ではピンホールの
検査もれを生ずるという問題もあつた。
そこで、この発明は、コンドームをはめ込んだ
金属の型と対向した電極との間の空気を電離状態
にすることにより、印加電圧を下げて乾式の検査
を可能にし、従来のピンホールの検査方法が有し
ていた問題点を解決したものである。
金属の型と対向した電極との間の空気を電離状態
にすることにより、印加電圧を下げて乾式の検査
を可能にし、従来のピンホールの検査方法が有し
ていた問題点を解決したものである。
図面に示すように、でき上つたコンドーム４を
はめ込む金属の型１と、この型１に対向した電極
２と、この型１と電極２との間の空気１０を電離
するための放射線源３とを備えている。
はめ込む金属の型１と、この型１に対向した電極
２と、この型１と電極２との間の空気１０を電離
するための放射線源３とを備えている。
そして、図面に示すように、金属の型１と電極
２との間に電流検知器５を介して電源９より電圧
を印加する。この電流検知器５としては、数10μ
Ａでもグロー放電して発光するネオン管６のよう
な冷陰極放電管を採用し、このネオン管６の発光
を光電変換素子７で電気信号に変換し、増幅器８
で増幅した信号により不良コンドームを排除する
機構を駆動するように構成すると共に、電源９に
は、ネオン管６の放電開始電圧以上の電圧を発生
するものを採用する。
２との間に電流検知器５を介して電源９より電圧
を印加する。この電流検知器５としては、数10μ
Ａでもグロー放電して発光するネオン管６のよう
な冷陰極放電管を採用し、このネオン管６の発光
を光電変換素子７で電気信号に変換し、増幅器８
で増幅した信号により不良コンドームを排除する
機構を駆動するように構成すると共に、電源９に
は、ネオン管６の放電開始電圧以上の電圧を発生
するものを採用する。
このとき、コンドーム４の内側の型１と外側の
電離された空気１０は、コンドーム４を介して電
気的に絶縁されているはずであるが、コンドーム
４にピンホールが存在すると、そのピンホールを
介して、コンドーム４の内側の型１と外側の空気
１０とが電気的に導通させられ、電極２より電流
が流れるので、その漏洩電流を電流検知器５によ
つて検知することにより、コンドーム４のピンホ
ールの有無を検査することができる。
電離された空気１０は、コンドーム４を介して電
気的に絶縁されているはずであるが、コンドーム
４にピンホールが存在すると、そのピンホールを
介して、コンドーム４の内側の型１と外側の空気
１０とが電気的に導通させられ、電極２より電流
が流れるので、その漏洩電流を電流検知器５によ
つて検知することにより、コンドーム４のピンホ
ールの有無を検査することができる。
以上で説明したように、この発明の検査装置に
よると、コンドーム４の検査に際して水を使用し
ないので、乾燥のための熱エネルギーが不要にな
り、また、放射線源３によつて空気１０を電離す
る際に、放射線がコンドーム４にも照射されるか
ら、コンドーム４の殺菌効果があり、しかも、コ
ンドーム４の材料であるラテツクスの加流を促進
して強靭化する効果などの検査目的以外の優れた
効果を奏することができる。
よると、コンドーム４の検査に際して水を使用し
ないので、乾燥のための熱エネルギーが不要にな
り、また、放射線源３によつて空気１０を電離す
る際に、放射線がコンドーム４にも照射されるか
ら、コンドーム４の殺菌効果があり、しかも、コ
ンドーム４の材料であるラテツクスの加流を促進
して強靭化する効果などの検査目的以外の優れた
効果を奏することができる。
図面は、この発明のコンドーム検査装置の一実
施例を示す概略図である。 １……金属の型、２……電極、３……放射線
源、４……コンドーム、５……電流検知器、９…
…電源、１０……電離された空気。
施例を示す概略図である。 １……金属の型、２……電極、３……放射線
源、４……コンドーム、５……電流検知器、９…
…電源、１０……電離された空気。
Claims (1)
- １ コンドームをはめ込む金属の型と、該金属の
型に対向して設けられた電極と、上記金属の型と
上記電極との間の空気を電離するための放射線源
と、上記金属の型と上記電極との間に電圧を印加
する電源と、上記金属の型と上記電極との間の通
電電流を検出する手段と、を具備することを特徴
とするコンドームのピンホールの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21128481A JPS58111748A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | コンド−ムのピンホ−ルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21128481A JPS58111748A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | コンド−ムのピンホ−ルの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58111748A JPS58111748A (ja) | 1983-07-02 |
| JPS6253066B2 true JPS6253066B2 (ja) | 1987-11-09 |
Family
ID=16603378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21128481A Granted JPS58111748A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | コンド−ムのピンホ−ルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58111748A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105004760B (zh) * | 2013-10-08 | 2018-01-05 | 青岛双蝶集团股份有限公司 | 用于避孕套生产的干式电检设备 |
| CN113219049B (zh) * | 2021-05-07 | 2022-08-05 | 浙江鸿昌机械有限公司 | 安全套高精度电检装置 |
-
1981
- 1981-12-25 JP JP21128481A patent/JPS58111748A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58111748A (ja) | 1983-07-02 |
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