JPS6251225A - 光化学反応方法 - Google Patents

光化学反応方法

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JPS6251225A
JPS6251225A JP18960085A JP18960085A JPS6251225A JP S6251225 A JPS6251225 A JP S6251225A JP 18960085 A JP18960085 A JP 18960085A JP 18960085 A JP18960085 A JP 18960085A JP S6251225 A JPS6251225 A JP S6251225A
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JP
Japan
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wafer
light
temperature
chamber
substrate
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JP18960085A
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JPH0521336B2 (ja
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Kenji Shibata
芝田 健二
Yasuhiro Mochizuki
康弘 望月
Hiroyuki Shichida
七田 弘之
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Hitachi Ltd
Mitsubishi Power Ltd
Original Assignee
Babcock Hitachi KK
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光化学反応方法に係シ、特に基板上に存在する
有機物層を迅速に気化1分解させ、これを除去する方法
に関する。
〔発明の背景〕
ウェハ上に存在する感光性樹脂を除去する方法として種
々の方法が実施されているが、自動化が容易、メンテナ
ンスが簡単、ウニノ飄の損傷が少いといった有利点から
、UVオゾン法が注目されている。以下第3図を用いて
UVオゾン法の1例を示す。チャンバ1内にはウェハ3
を置くためのサセプタ2.サセプタ2を介してウニノ・
3を加熱するための抵抗式ヒータ7があり、チャンバ1
内にガス供給ノズル4から酸素ガスを供給した状態で。
ウェハ3上に低圧水銀灯5によシ紫外光(UV)を照射
できるようになっている。低圧水銀灯5は波長185n
m及び254nmの強度の強いものを用いる。この装置
でサセプタ2上に感光性樹脂を塗布したウェハ3を置き
、紫外線を照射すると。
所定晴間経過後にはウニノ13上の感光性樹脂層が気化
2分解して除去される。この原理は感光性樹脂層中の分
子結合(例えばC−C,C−H結合)が紫外線のエネル
ギにより分解する反応と、酸素に紫外線を照射すること
によシ生成したオゾンや酸素ラジカルが、これら結合を
解かれた炭素原子や水素原子等と反応し、二酸化炭素や
水等を生じる気化反応とによって生じると考えられてい
る。
第4図は感光性樹脂の気化分解速度Rに及ぼすウェハ温
度Twの影響を実験により求めたものである。FlはT
wにより強く影響を受け、Twを高くすればRは飛躍的
に大きくなる。しかしTwを300Cとしだ時は、ウェ
ハ上の感光性樹脂の大部分は第4図に示すような高速で
気化分解しだが。
局部的に非常に分解し難い成分が残り、この成分を全て
分解しようとすればTwが150Cのときよシも却って
長時間を要することが判った。
第5図はこのようにして厚さ1μmの感光性樹脂層の残
膜厚さの最大値tが、紫外光の照射時間Tに伴って減少
する経過を、ウェハ温度Twが150と3000との時
で比較したものである。
Twが3000のときは、当初は高い気化分解速度のた
め膜厚さtは急速に減少するが、難分解性成分の気化分
解に多くの時間がかかり、結局Twが150Cのときよ
りも長時間を要することがわかる。
ウェハ温度Twを300CKした時に難分解性成分が生
じた理由は明らかではないが、ウェハ上の局所的な温度
分布によって感光性樹脂の熱膨張量に差が生じ、感光性
樹脂のたい積現象が生じるためではないかと考えられる
。なお難分解性成分が生じる温度は、感光性樹脂の種類
により異なる。
このように従来技術では、ウェハ温度が高い時に感光性
樹脂の気化分解速度が大きいという効果を活用しきれず
、これよりも低い温度で長時間を要する運用をせざるを
得なかった。
なお、関連する技術としてけ6 UV Re5ist −Stripping for 
High−8peedand ])amage −pr
ee Process/Exten andAbstr
acts of the 15 th Cont、 o
n 5olidState I)evices and
 Materials Tokyo 1933゜[fy
oshi Ozawa etal 、 /Fujits
u I、ab、 Ltd。
に記載がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、このような従来技術の欠点をなりシ、
高速で有機物層を気化分解できる方法を提供するにある
〔発明の概要〕
本発明は、基板上への光の照射に伴って基板の温度を上
昇させることによシ、基板上に存在する有機物層の気化
分解反応を進行させ、該有機物層の除去に要する時間を
短縮するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
第1図に本発明になる方法を実施するのに好適な、感光
性樹脂除去装置の1例を示す。チャシバ11にはウェハ
13を設置するためのサセプタ12があり、チャンバ1
1内にガス供給ノズル14からOfガスを供給した状態
で、ウェハ13上に光源15より光を照射する。光源1
5には低圧水銀灯を用いるが、紫外域の波長の光を放射
す゛る他の光源を用いてもよい。ウェハは抵抗式ヒータ
17によって加熱する。抵抗式ヒータ17の出力は、ウ
ェハ温度調節装置19によって調節される。このような
装置で予め抵抗式ヒータ17によj)150CK加熱さ
れたサセプタ12上にウェハ13を置き、酸素雰囲気中
で紫外線を照射する。
ウェハ13が紫外線の照射を受は始めたことを示す信号
は1図示されない発信器によりウェハ温度調節装置19
に入力され、序め組込まれたシーケンスに基づいて抵抗
式ヒータ17の出力が徐々に増加する。シーケンスには
、これに先立って行われた実験にもとづいで、感光性樹
脂層の厚さが200nm程度になる頃に、ウニノ為温度
Twが300Cとなるように設定しておく。
第2図はこのようにして実験しだ結果の1例であり、抵
抗式ヒータ出力の増加パターン、ウェハ温度Tw及びウ
ェハ上の感光性樹脂層厚さtの移シ変わシを、ウェハ面
への紫外線照射時間に対して示す。図中には比較のため
TVを150.及び300tll’に一定に保ったとき
のデータも示した。
第2図から明らかなように、感光性樹脂層の除去に要す
る時間は従来法(Tw=150tll”)のときの約1
/3に短縮することができ1本法による効果を確認した
第6図は本発明の応用例で、有機物からなる保護膜(ワ
ックス等)の基体からの除去に用いた例であろうチャン
バ21には保護膜の付着した基体23゛があり、ガス供
給ノズル24から酸素を供給した状態で、基体23に紫
外線を照射することができる。基体23の加熱には複数
個のランプ式ヒ−夕27を用いておシ、ラレプ式ヒータ
の点滅は。
基体温度調節装置29に予め組込まれであるシーケンス
に従って調節される。
第7図はこのようにして保護膜を気化分解し。
基体からの除去に用いたシーケンスの例であり。
保護膜の残膜厚さt、基体の表面温度TIIm及びラン
プ式ヒータの点灯数の移り変わりと、基体面への紫外線
照射時間に対して示している。基体がチャンバ21内に
入った当初全ランプ式ヒーター27が点灯して急速に基
体表面を加熱する。表面が一定の温度に達したらランプ
式ヒータ27の一部を一旦消灯し、この後保護膜厚さt
の減少に伴ってランプ式ヒータの点灯数を逐次増加する
。このシーケンスにより基体23の表面温度はステップ
状に変化するが1本発明による効果は同様に発揮される
。第7図中には基体温度を一定とした場合の処理例を示
したが、これに対して本実施例の処理時間は約1/4で
あった。本実施例の特有の効果としては、基体が平板で
ない形状のものにも適用できること、基体表面温度をラ
ンプ式ヒータの点滅によシ調節したことにより温度調節
のシーケンスが簡略化できること、及び有機物性保護膜
の気化分解にも適用できることである。
〔発明の効果〕
本発明を実施することにより、有機物層の除去に要する
時間を、従来法の1/3〜1/4に短縮することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は置を示す
断面図、第4図は感光性樹脂の気化分解速度とウェハ温
度の関係線図、第5図はウェハ温度が異なる場合の感光
性樹脂層厚さの経時変化の違いを示す線図、第6図は本
発明の応用例の装置の断面図、第7図は第6図に示す装
置を用いて行った実験結果を示す線図である。 1・・・チャンバ、2・・・サセプタ、3・・・ウェハ
、4・・・ガス供給ノズル、5・・・低圧水銀灯、6・
・・ガス排出ノズル、11・・・チャンバ、12・・・
サセプタ、13・・・ウェハ、14・・・ガス供給ノズ
ル、15・・・光源。 16・・・ガス排出ノズル、17・・・抵抗式ヒータ。 21・・・チャンバ、23・・・基体、24・・・ガス
供給ノズル、25・・・低圧水銀灯、26・・・ガス排
出ノズル、29・・・基体温度調節装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、有機物層の存在する基板を酸素を含む気体中に置き
    、紫外光を照射して該有機物層を酸化、分解させる光化
    学反応方法において、該基板が該光源からの光照射を受
    けた時間に対応して、該基板の温度を上昇せしめること
    を特徴とした光化学反応方法。
JP18960085A 1985-08-30 1985-08-30 光化学反応方法 Granted JPS6251225A (ja)

Priority Applications (1)

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JP18960085A JPS6251225A (ja) 1985-08-30 1985-08-30 光化学反応方法

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JP18960085A JPS6251225A (ja) 1985-08-30 1985-08-30 光化学反応方法

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Publication Number Publication Date
JPS6251225A true JPS6251225A (ja) 1987-03-05
JPH0521336B2 JPH0521336B2 (ja) 1993-03-24

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ID=16244023

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63276225A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Tokyo Electron Ltd アッシング装置
CN106896194A (zh) * 2017-04-17 2017-06-27 武汉华星光电技术有限公司 一种监控涂布显影设备灯箱内臭氧含量的装置及方法
JP2022009989A (ja) * 2017-11-13 2022-01-14 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法、及び記憶媒体

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JPS6049630A (ja) * 1983-08-29 1985-03-18 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法

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